JP3178133B2 - 熱分析装置 - Google Patents
熱分析装置Info
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Description
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明は熱機械分析装置、示差熱
分析装置又は示差走査熱量計などの熱分析装置に関し、
特にそのデータ処理装置に特徴を有する熱分析装置に関
するものである。
分析装置又は示差走査熱量計などの熱分析装置に関し、
特にそのデータ処理装置に特徴を有する熱分析装置に関
するものである。
【０００２】
【従来の技術】熱分析装置のうち、熱機械分析装置は、
試料を加熱したときの試料の伸びを温度の関数として測
定するものである。熱機械分析装置における全膨張測定
を模式的に表したものが図１であり、支持管２の底面に
試料４をおき、試料４の上面に検出棒６の先端を接触さ
せ、試料４の温度を変化させて検出棒６により試料４の
膨張量を測定する。温度を上昇させると、試料４の膨張
量Ｌ（伸び）が図２に示されるように変化したとする
と、膨張量は（Ｌ2−Ｌ1）／（Ｔ2−Ｔ1）として求めら
れる。しかし、温度が上昇するにつれて支持管２や検出
棒６を含む測定系も伸びるため、測定データには誤差が
生じる。すなわち、測定系の温度を上昇させると、試料
４とともに検出棒６も支持管２も伸びる。支持管２と検
出棒６の材質が同じである場合には検出棒６の部分では
誤差が発生しないが、試料４の長さ部分ｘについては試
料４の伸びと支持管２の伸びの差が誤差としてデータに
含まれることになる。その誤差を補正する方法として、
温度の測定範囲をＴ1〜Ｔ2とすれば、その間の温度Ｔ0
における測定系の膨張量を、膨張量が既知の試料を測定
することによって求め、Ｔ1とＴ2の間で求められた膨張
量をＴ0での測定系の補正値により補正している。
試料を加熱したときの試料の伸びを温度の関数として測
定するものである。熱機械分析装置における全膨張測定
を模式的に表したものが図１であり、支持管２の底面に
試料４をおき、試料４の上面に検出棒６の先端を接触さ
せ、試料４の温度を変化させて検出棒６により試料４の
膨張量を測定する。温度を上昇させると、試料４の膨張
量Ｌ（伸び）が図２に示されるように変化したとする
と、膨張量は（Ｌ2−Ｌ1）／（Ｔ2−Ｔ1）として求めら
れる。しかし、温度が上昇するにつれて支持管２や検出
棒６を含む測定系も伸びるため、測定データには誤差が
生じる。すなわち、測定系の温度を上昇させると、試料
４とともに検出棒６も支持管２も伸びる。支持管２と検
出棒６の材質が同じである場合には検出棒６の部分では
誤差が発生しないが、試料４の長さ部分ｘについては試
料４の伸びと支持管２の伸びの差が誤差としてデータに
含まれることになる。その誤差を補正する方法として、
温度の測定範囲をＴ1〜Ｔ2とすれば、その間の温度Ｔ0
における測定系の膨張量を、膨張量が既知の試料を測定
することによって求め、Ｔ1とＴ2の間で求められた膨張
量をＴ0での測定系の補正値により補正している。
【０００３】示差熱分析装置（ＤＴＡ）では、試料と基
準物質を炉内で同じ条件で加熱し、両者の温度差を測定
する。このときに試料に起こる結晶化や融解などの現象
を基準物質との温度差からピークとして検出し、その面
積から吸熱量や発熱量を求める。例えば図３に示される
ようにそのデータ曲線のピークの面積Ｓを求め、それに
比例定数Ｋをかけて熱量ΔＨを求める。
準物質を炉内で同じ条件で加熱し、両者の温度差を測定
する。このときに試料に起こる結晶化や融解などの現象
を基準物質との温度差からピークとして検出し、その面
積から吸熱量や発熱量を求める。例えば図３に示される
ようにそのデータ曲線のピークの面積Ｓを求め、それに
比例定数Ｋをかけて熱量ΔＨを求める。
【０００４】示差走査熱量計（ＤＳＣ）の場合は、試料
と基準物質が同一温度で上昇するようにそれぞれに加熱
用の電流を流し、その通電量から試料の発熱量や吸熱量
を求める。この場合もデータ曲線としては図３のような
ピークが得られる。データ曲線のピーク面積Ｓを熱量に
変換する比例定数Ｋは温度の関数であり、従来は温度に
関する二次式の形で表わし、ピークの頂点を補正点Ｔ0
として選び、そのＴ0における比例定数Ｋを面積Ｓにか
けている。Ｋの温度に対する各項の係数を求めるため
に、融解熱の知られている高純度金属を試料として測定
し、その結果から係数を求めている。
と基準物質が同一温度で上昇するようにそれぞれに加熱
用の電流を流し、その通電量から試料の発熱量や吸熱量
を求める。この場合もデータ曲線としては図３のような
ピークが得られる。データ曲線のピーク面積Ｓを熱量に
変換する比例定数Ｋは温度の関数であり、従来は温度に
関する二次式の形で表わし、ピークの頂点を補正点Ｔ0
として選び、そのＴ0における比例定数Ｋを面積Ｓにか
けている。Ｋの温度に対する各項の係数を求めるため
に、融解熱の知られている高純度金属を試料として測定
し、その結果から係数を求めている。
【０００５】
【発明が解決しようとする課題】熱機械分析において、
図２に示されるように測定温度範囲Ｔ1〜Ｔ2の間の１点
Ｔ0のみで補正を行なうとすれば、得られた解析結果の
定量性が乏しくなる。示差熱分析装置や示差走査熱量計
で図３のようにピークトップの温度で補正を行なう場合
には、ピークの形状によっては補正点が面積の重心と異
なる場合が生じる。そのときには誤差が生じる。本発明
はこのような熱分析装置のデータ処理を行なう際に、簡
単な操作で正確な補正を行なえるデータ処理装置を備え
た熱分析装置を提供することを目的とするものである。
図２に示されるように測定温度範囲Ｔ1〜Ｔ2の間の１点
Ｔ0のみで補正を行なうとすれば、得られた解析結果の
定量性が乏しくなる。示差熱分析装置や示差走査熱量計
で図３のようにピークトップの温度で補正を行なう場合
には、ピークの形状によっては補正点が面積の重心と異
なる場合が生じる。そのときには誤差が生じる。本発明
はこのような熱分析装置のデータ処理を行なう際に、簡
単な操作で正確な補正を行なえるデータ処理装置を備え
た熱分析装置を提供することを目的とするものである。
【０００６】
【課題を解決するための手段】図４に本発明を熱機械分
析装置に適用した場合のデータ処理装置を示す。１０は
熱膨張量が既知の試料を測定したときの既知量と実測値
との差から求められた各温度における補正値を記憶する
全膨張測定補正データ記憶手段であり、１２は熱膨張量
未知の試料を測定したときの各温度の測定データを全膨
張測定補正データ記憶手段１０に記憶された補正値によ
り補正するデータ補正手段である。
析装置に適用した場合のデータ処理装置を示す。１０は
熱膨張量が既知の試料を測定したときの既知量と実測値
との差から求められた各温度における補正値を記憶する
全膨張測定補正データ記憶手段であり、１２は熱膨張量
未知の試料を測定したときの各温度の測定データを全膨
張測定補正データ記憶手段１０に記憶された補正値によ
り補正するデータ補正手段である。
【０００７】図５に本発明を示差熱分析装置又は示差走
査熱量計に適用した場合のデータ処理装置を示す。１４
は吸熱量又は発熱量が既知の試料を測定したときの既知
量と実測値との熱量の差から求められたデータ曲線の補
正係数を記憶する補正係数記憶手段であり、１６は吸熱
量又は発熱量が未知の試料を測定したときのデータ曲線
を補正係数記憶手段１４に記憶された補正係数を用いて
各温度ごとに補正するデータ曲線補正手段、１８はその
補正されたデータ曲線のピーク面積から吸熱量又は発熱
量を算出する面積算出手段である。
査熱量計に適用した場合のデータ処理装置を示す。１４
は吸熱量又は発熱量が既知の試料を測定したときの既知
量と実測値との熱量の差から求められたデータ曲線の補
正係数を記憶する補正係数記憶手段であり、１６は吸熱
量又は発熱量が未知の試料を測定したときのデータ曲線
を補正係数記憶手段１４に記憶された補正係数を用いて
各温度ごとに補正するデータ曲線補正手段、１８はその
補正されたデータ曲線のピーク面積から吸熱量又は発熱
量を算出する面積算出手段である。
【０００８】
【作用】熱機械分析を示す図１において、温度Ｔにおけ
る試料の熱膨張測定値をＬo(Ｔ）、真の熱膨張値をＬst
(Ｔ）、支持管２の熱膨張をＬsys(Ｔ）とし、測定系の
温度分布によるバックグラウンドをＬｂとすれば、全膨
張測定では次の関係式（１）から（３）が成立する。 Ｌo(Ｔ）＝Ｌst(Ｔ）−（Ｌsys(Ｔ）＋Ｌb） （１） Ｌsys(Ｔ）＋Ｌｂ＝Ｌst(Ｔ）−Ｌo(Ｔ） （２） Ｌst(Ｔ）＝Ｌo(Ｔ）＋（Ｌsys(Ｔ）＋Ｌb） （３） この（３）式の関係を模式的に示したのが図６である。
る試料の熱膨張測定値をＬo(Ｔ）、真の熱膨張値をＬst
(Ｔ）、支持管２の熱膨張をＬsys(Ｔ）とし、測定系の
温度分布によるバックグラウンドをＬｂとすれば、全膨
張測定では次の関係式（１）から（３）が成立する。 Ｌo(Ｔ）＝Ｌst(Ｔ）−（Ｌsys(Ｔ）＋Ｌb） （１） Ｌsys(Ｔ）＋Ｌｂ＝Ｌst(Ｔ）−Ｌo(Ｔ） （２） Ｌst(Ｔ）＝Ｌo(Ｔ）＋（Ｌsys(Ｔ）＋Ｌb） （３） この（３）式の関係を模式的に示したのが図６である。
【０００９】熱機械分析に適用した本発明は、熱膨張量
が既知の試料を用いて求めた測定系の伸び（Ｌsys(Ｔ）
＋Ｌb）を補正データとして記憶しておき、試料を測定
したときにその測定データＬo(Ｔ）の各温度に対し記憶
されている補正データを加えることによって、図７に示
されるように各温度における真の熱膨張Ｌst(Ｔ）を求
めるものである。熱機械分析に適用した本発明で、補正
データの記憶の動作を図８に、試料の測定の動作を図９
に示す。図８に示されるように、補正係数（熱膨張量）
が文献値などで分かっている試料を熱機械分析装置で測
定し、そのときの測定値Ｌo(Ｔ）を求められる。その試
料の理論上の伸びをＬst(Ｔ）とすると、Ｌst(Ｔ）から
Ｌo(Ｔ）が引かれることによって補正値（Ｌsys(Ｔ）＋
Ｌb）が求められる。その値が各温度ごとの補正データ
として全膨張測定補正データ記憶手段１０に記憶され
る。
が既知の試料を用いて求めた測定系の伸び（Ｌsys(Ｔ）
＋Ｌb）を補正データとして記憶しておき、試料を測定
したときにその測定データＬo(Ｔ）の各温度に対し記憶
されている補正データを加えることによって、図７に示
されるように各温度における真の熱膨張Ｌst(Ｔ）を求
めるものである。熱機械分析に適用した本発明で、補正
データの記憶の動作を図８に、試料の測定の動作を図９
に示す。図８に示されるように、補正係数（熱膨張量）
が文献値などで分かっている試料を熱機械分析装置で測
定し、そのときの測定値Ｌo(Ｔ）を求められる。その試
料の理論上の伸びをＬst(Ｔ）とすると、Ｌst(Ｔ）から
Ｌo(Ｔ）が引かれることによって補正値（Ｌsys(Ｔ）＋
Ｌb）が求められる。その値が各温度ごとの補正データ
として全膨張測定補正データ記憶手段１０に記憶され
る。
【００１０】熱膨張量が未知の試料を測定するときは、
図９に示されるように、その測定データＬo(Ｔ）に対
し、データ補正手段１２によって、全膨張測定補正デー
タ記憶手段１０に記憶されている補正データ（Ｌsys
(Ｔ）＋Ｌb）の各温度ごとの補正値が加えられ、その試
料の真の熱膨張量Ｌst(Ｔ）が求められる。示差熱分析
装置又は示差走査熱量計においては、例えば図１０
（Ａ）のようなデータ曲線が得られたとする。ベースラ
インが傾いている場合は従来からも行なわれているよう
にベースライン補正が行なわれることにより、（Ｂ）の
ようにベースラインが水平になるように補正される。し
かし、ベースライン補正はピーク面積の補正ではない。
そこで、本発明によりこのデータ曲線の各温度における
各データが補正されることによって、（Ｃ）に示される
ようにピーク面積が補正される。
図９に示されるように、その測定データＬo(Ｔ）に対
し、データ補正手段１２によって、全膨張測定補正デー
タ記憶手段１０に記憶されている補正データ（Ｌsys
(Ｔ）＋Ｌb）の各温度ごとの補正値が加えられ、その試
料の真の熱膨張量Ｌst(Ｔ）が求められる。示差熱分析
装置又は示差走査熱量計においては、例えば図１０
（Ａ）のようなデータ曲線が得られたとする。ベースラ
インが傾いている場合は従来からも行なわれているよう
にベースライン補正が行なわれることにより、（Ｂ）の
ようにベースラインが水平になるように補正される。し
かし、ベースライン補正はピーク面積の補正ではない。
そこで、本発明によりこのデータ曲線の各温度における
各データが補正されることによって、（Ｃ）に示される
ようにピーク面積が補正される。
【００１１】一般的に、示差熱分析装置及び示差走査熱
量計の出力信号は、 −ａＲ（Ｃｓ−Ｃｒ） （４） として表わされる。ここで、ａは昇温速度、Ｒは熱伝達
係数、Ｃｓは試料の熱容量、Ｃｒは基準物質の熱容量で
ある。本発明ではこの熱伝達係数Ｒを温度Ｔの二次関数
で近似し、 Ｒ＝αＴ2＋βＴ＋γ （５） と表わす。その各項の係数α，β，γを補正データとす
る。図１１に示されるように、吸熱量又は発熱量が既知
の試料として例えば高純度金属を用いてその融解熱を測
定し、そのデータ曲線から補正係数α，β，γが求めら
れ、補正データとして補正係数記憶手段１４に記憶され
る。
量計の出力信号は、 −ａＲ（Ｃｓ−Ｃｒ） （４） として表わされる。ここで、ａは昇温速度、Ｒは熱伝達
係数、Ｃｓは試料の熱容量、Ｃｒは基準物質の熱容量で
ある。本発明ではこの熱伝達係数Ｒを温度Ｔの二次関数
で近似し、 Ｒ＝αＴ2＋βＴ＋γ （５） と表わす。その各項の係数α，β，γを補正データとす
る。図１１に示されるように、吸熱量又は発熱量が既知
の試料として例えば高純度金属を用いてその融解熱を測
定し、そのデータ曲線から補正係数α，β，γが求めら
れ、補正データとして補正係数記憶手段１４に記憶され
る。
【００１２】次に、吸熱量や発熱量が未知の試料を測定
するときは、図１２に示されるように、得られたデータ
曲線についてデータ曲線補正手段１６で補正データを用
いて各温度でのデータの補正が行なわれ、補正後のデー
タ曲線がＣＲＴ上などに表示される。その補正されたデ
ータ曲線のピーク面積が面積算出手段１８で算出され
る。そのピーク面積は吸熱量や発熱量に対応した値とな
る。
するときは、図１２に示されるように、得られたデータ
曲線についてデータ曲線補正手段１６で補正データを用
いて各温度でのデータの補正が行なわれ、補正後のデー
タ曲線がＣＲＴ上などに表示される。その補正されたデ
ータ曲線のピーク面積が面積算出手段１８で算出され
る。そのピーク面積は吸熱量や発熱量に対応した値とな
る。
【００１３】
【実施例】図１３は熱機械分析装置、示差熱分析装置又
は示差走査熱量計などの熱分析装置のデータ処理装置を
概略的に表わしたものである。ＣＰＵ２０のバス２２に
は、測定装置からの温度データをデジタル信号に変換し
て取り込むＡ／Ｄコンバータ２４、測定装置の膨張量や
試料と基準物質との温度差、又は試料側と基準側への通
電量の差などをデータとして取り込み、デジタル信号に
変換するＡ／Ｄコンバータ２６、取り込まれた温度やデ
ータを記憶するハードディスク装置２８、ＣＰＵ２０の
処理プログラムなどを記憶しているＲＯＭなどのメモリ
装置３０、分析結果などを表示するＣＲＴ３２、及び操
作や条件を入力するキーボード３４などが接続されてい
る。ＣＰＵ２０は測定に必要な処理を制御するととも
に、得られたデータの計算などの処理を行なう。
は示差走査熱量計などの熱分析装置のデータ処理装置を
概略的に表わしたものである。ＣＰＵ２０のバス２２に
は、測定装置からの温度データをデジタル信号に変換し
て取り込むＡ／Ｄコンバータ２４、測定装置の膨張量や
試料と基準物質との温度差、又は試料側と基準側への通
電量の差などをデータとして取り込み、デジタル信号に
変換するＡ／Ｄコンバータ２６、取り込まれた温度やデ
ータを記憶するハードディスク装置２８、ＣＰＵ２０の
処理プログラムなどを記憶しているＲＯＭなどのメモリ
装置３０、分析結果などを表示するＣＲＴ３２、及び操
作や条件を入力するキーボード３４などが接続されてい
る。ＣＰＵ２０は測定に必要な処理を制御するととも
に、得られたデータの計算などの処理を行なう。
【００１４】ＣＰＵ２０からの制御に従って所定の温度
プログラムに従って加温し又は降温する。Ａ／Ｄコンバ
ータ２４，２６からはそれぞれ温度と測定データが時間
データとともにハードディスク装置２８に格納されてい
く。格納されたデータはＣＰＵ２０によって補正量が加
算されたり、補正係数がかけられたりして、各温度ごと
に補正されたデータがＣＲＴ３２上に表示される。ＣＲ
Ｔ３２上に表示されたデータがＣＰＵ２０によって解析
され、膨張量が算出されたり、面積計算から発熱量や吸
熱量が計算されてＣＲＴ３２上に表示される。
プログラムに従って加温し又は降温する。Ａ／Ｄコンバ
ータ２４，２６からはそれぞれ温度と測定データが時間
データとともにハードディスク装置２８に格納されてい
く。格納されたデータはＣＰＵ２０によって補正量が加
算されたり、補正係数がかけられたりして、各温度ごと
に補正されたデータがＣＲＴ３２上に表示される。ＣＲ
Ｔ３２上に表示されたデータがＣＰＵ２０によって解析
され、膨張量が算出されたり、面積計算から発熱量や吸
熱量が計算されてＣＲＴ３２上に表示される。
【００１５】
【発明の効果】本発明による熱分析装置では、熱機械分
析装置の全膨張測定において、測定系の伸びが補正デー
タとして記憶されており、正確に試料の伸びを補正する
ことができる。また測定系の伸びを示す補正データは測
定された温度域にわたって連続的であるため、補正点を
何点も設定するわずらわしさがない。本発明を示差熱分
析装置又は示差走査熱量計に適用すれば、データ曲線自
身に補正係数をかけてより正確なデータ曲線を得ること
ができるため、従来のように補正を行なうピークトップ
の温度と面積の重心がずれて正しく補正ができなくなる
というような問題はなく、常に正しい熱量を求めること
ができるようになり、熱量解析に対する定量性が増す。
析装置の全膨張測定において、測定系の伸びが補正デー
タとして記憶されており、正確に試料の伸びを補正する
ことができる。また測定系の伸びを示す補正データは測
定された温度域にわたって連続的であるため、補正点を
何点も設定するわずらわしさがない。本発明を示差熱分
析装置又は示差走査熱量計に適用すれば、データ曲線自
身に補正係数をかけてより正確なデータ曲線を得ること
ができるため、従来のように補正を行なうピークトップ
の温度と面積の重心がずれて正しく補正ができなくなる
というような問題はなく、常に正しい熱量を求めること
ができるようになり、熱量解析に対する定量性が増す。
【図１】熱機械分析装置の測定部分を概略的に示す正面
図である。
図である。
【図２】従来の熱機械分析における補正方法を示す図で
ある。
ある。
【図３】従来の示差熱分析におけるピーク面積の補正方
法を示す図である。
法を示す図である。
【図４】本発明の熱機械分析装置のデータ処理装置を示
すブロック図である。
すブロック図である。
【図５】本発明の示差熱分析装置又は示差走査熱量計に
おけるデータ処理装置を示すブロック図である。
おけるデータ処理装置を示すブロック図である。
【図６】本発明を熱機械分析に適用した場合の真の値と
測定値の関係を示す図である。
測定値の関係を示す図である。
【図７】本発明の熱機械分析における補正方法を示す図
である。
である。
【図８】本発明の熱機械分析における補正データ作成の
フローチャート図である。
フローチャート図である。
【図９】本発明の熱機械分析での試料測定時の補正方法
を示すフローチャート図である。
を示すフローチャート図である。
【図１０】本発明を示差熱分析装置又は示差走査熱量計
に適用する場合の補正を示す図である。
に適用する場合の補正を示す図である。
【図１１】本発明の示差熱分析装置又は示差走査熱量計
における補正データの作成方法を示すフローチャート図
である。
における補正データの作成方法を示すフローチャート図
である。
【図１２】本発明の示差熱分析装置又は示差走査熱量計
における補正方法を示すフローチャート図である。
における補正方法を示すフローチャート図である。
【図１３】一実施例のデータ処理装置を示すブロック図
である。
である。
２ 支持管 ４ 試料 ６ 検出棒 １０ 全膨張測定補正データ記憶手段 １２ データ補正手段 １４ 補正係数記憶手段 １６ データ曲線補正手段 １８ 面積算出手段 ２０ ＣＰＵ ２８ ハードディスク装置 ３０ メモリ装置
フロントページの続き (58)調査した分野(Int.Cl.7，ＤＢ名) G01N 25/16 G01N 25/20
Claims (2)
- 【請求項１】 支持管の底面に試料をおき、試料の上面
に検出棒の先端を接触させ、試料の温度を変化させて検
出棒により試料の膨張量を測定する全膨張測定による熱
機械分析装置において、そのデータ処理装置に、熱膨張
量が既知の試料を測定したときの既知量と実測値との差
から求められた各温度における補正値を記憶する全膨張
測定補正データ記憶手段と、熱膨張量未知の試料を測定
したときの各温度の測定データを前記補正値により補正
するデータ補正手段と、を備えたことを特徴とする熱分
析装置。 - 【請求項２】 試料と基準物質を加熱し、両者の吸熱量
または発熱量の差に基づいてデータ曲線を得、そのピー
ク面積から吸熱量又は発熱量を求める示差熱分析装置又
は示差走査熱量計において、そのデータ処理装置に、吸
熱量又は発熱量が既知の試料を測定したときの既知量と
実測値との熱量の差から求められたデータ曲線の補正係
数を記憶する補正係数記憶手段と、吸熱量又は発熱量が
未知の試料を測定したときのデータ曲線を前記記憶手段
の補正係数を用いて各温度ごとに補正するデータ曲線補
正手段と、その補正されたデータ曲線のピーク面積から
吸熱量又は発熱量を算出する面積算出手段と、を備えた
ことを特徴とする熱分析装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP36001992A JP3178133B2 (ja) | 1992-12-30 | 1992-12-30 | 熱分析装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP36001992A JP3178133B2 (ja) | 1992-12-30 | 1992-12-30 | 熱分析装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH06201621A JPH06201621A (ja) | 1994-07-22 |
| JP3178133B2 true JP3178133B2 (ja) | 2001-06-18 |
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ID=18467480
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP36001992A Expired - Fee Related JP3178133B2 (ja) | 1992-12-30 | 1992-12-30 | 熱分析装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP3178133B2 (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| KR20140137778A (ko) * | 2013-05-24 | 2014-12-03 | 삼성전기주식회사 | 열팽창계수 측정방법 및 열기계 분석장치 |
Families Citing this family (5)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2759770B2 (ja) * | 1995-03-03 | 1998-05-28 | 理学電機株式会社 | 熱機械分析装置における試料測長方法および熱膨張測定方法 |
| JP5335728B2 (ja) * | 2010-03-29 | 2013-11-06 | アズビル株式会社 | 発熱量算出式作成システム、発熱量算出式の作成方法、発熱量測定システム、及び発熱量の測定方法 |
| JP2016095196A (ja) * | 2014-11-13 | 2016-05-26 | サムソン エレクトロ−メカニックス カンパニーリミテッド． | 熱膨張係数の測定方法および熱機械分析装置 |
| DE102015008654B3 (de) * | 2015-07-03 | 2016-01-14 | Netzsch-Gerätebau GmbH | Verfahren und Vorrichtung zur thermomechanischen Analyse einer Probe |
| CN110443006B (zh) * | 2019-08-29 | 2022-11-29 | 江西理工大学 | 一种通过测量面积计算金属材料两相转变体积比例的方法 |
-
1992
- 1992-12-30 JP JP36001992A patent/JP3178133B2/ja not_active Expired - Fee Related
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| KR20140137778A (ko) * | 2013-05-24 | 2014-12-03 | 삼성전기주식회사 | 열팽창계수 측정방법 및 열기계 분석장치 |
| KR102069624B1 (ko) * | 2013-05-24 | 2020-01-23 | 삼성전기주식회사 | 열팽창계수 측정방법 및 열기계 분석장치 |
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| JPH06201621A (ja) | 1994-07-22 |
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