JP2803440B2 - Xy微動ステージ - Google Patents

Xy微動ステージ

Info

Publication number
JP2803440B2
JP2803440B2 JP5206192A JP5206192A JP2803440B2 JP 2803440 B2 JP2803440 B2 JP 2803440B2 JP 5206192 A JP5206192 A JP 5206192A JP 5206192 A JP5206192 A JP 5206192A JP 2803440 B2 JP2803440 B2 JP 2803440B2
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
blocks
stage
fine movement
wafer
movement stage
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Expired - Lifetime
Application number
JP5206192A
Other languages
English (en)
Other versions
JPH05259263A (ja
Inventor
穣治 岩田
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
NEC Corp
Original Assignee
NEC Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by NEC Corp filed Critical NEC Corp
Priority to JP5206192A priority Critical patent/JP2803440B2/ja
Publication of JPH05259263A publication Critical patent/JPH05259263A/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP2803440B2 publication Critical patent/JP2803440B2/ja
Anticipated expiration legal-status Critical
Expired - Lifetime legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • GPHYSICS
    • G03PHOTOGRAPHY; CINEMATOGRAPHY; ANALOGOUS TECHNIQUES USING WAVES OTHER THAN OPTICAL WAVES; ELECTROGRAPHY; HOLOGRAPHY
    • G03FPHOTOMECHANICAL PRODUCTION OF TEXTURED OR PATTERNED SURFACES, e.g. FOR PRINTING, FOR PROCESSING OF SEMICONDUCTOR DEVICES; MATERIALS THEREFOR; ORIGINALS THEREFOR; APPARATUS SPECIALLY ADAPTED THEREFOR
    • G03F7/00Photomechanical, e.g. photolithographic, production of textured or patterned surfaces, e.g. printing surfaces; Materials therefor, e.g. comprising photoresists; Apparatus specially adapted therefor
    • G03F7/70Microphotolithographic exposure; Apparatus therefor
    • G03F7/70691Handling of masks or workpieces

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Exposure And Positioning Against Photoresist Photosensitive Materials (AREA)
  • Container, Conveyance, Adherence, Positioning, Of Wafer (AREA)
  • Exposure Of Semiconductors, Excluding Electron Or Ion Beam Exposure (AREA)
  • Control Of Position Or Direction (AREA)
  • Details Of Measuring And Other Instruments (AREA)

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】本発明はXY微動ステージに関
し、特に半導体の製造においてサブミクロン単位の微細
な位置決め動作を短時間に反復して行うためのXY微動
ステージに関する。
【0002】
【従来の技術】近年の超LSIの製造工程のうち、露光
工程においては、ウエハとマスクとを0.1μmの精度
で反復して位置決めする必要があり、このため、生産性
を上げるために大口径化しているウエハを搭載して位置
決めを行うウエハステージには、大まかな位置決めを高
速で行う粗動ステージと、20〜30μmの距離を0.
01μm以下の分解能で位置決めを行うXY微動ステー
ジとの両者が必要である。0.01μm以下の分解能で
ウエハの位置を測定する手段としては、ウエハの近傍に
大型の平面ミラーを搭載し、この平面ミラーの位置を、
レーザ光の反射によって測定するレーザ測長器が一般的
に用いられている。また、ウエハを保持すウエハチャッ
クも、大型になっているウエハの平面度を保証するため
に大型になってきている。このようにXY微動ステージ
の上には、大型のウエハチャックや大型の平面ミラーが
搭載されるため、XY微動ステージは、大面積でしかも
高精度の平面度が必要である。
【0003】図2は、上述のような従来のXY微動ステ
ージに使用している一軸ステージの一例を示す斜視図で
あり、従来のXY微動ステージは、このような一軸の微
動直線ステージを直角方向に2台積重ねて構成してい
る。
【0004】図2の一軸ステージは、ステージ2を平行
に設けた4枚の薄肉の可撓部3によって基板1に支持
し、この4枚の可撓部3の弾性変形によってステージ2
を矢印A方向に平行運動させるようにしたものである。
ステージ2と基板1との間には、2個のヒンジ6によっ
て連結された予圧部4が設けてあり、予圧部4の上面の
中央には、圧電素子5がアクチュエータとして圧入され
ている。
【0005】
【発明が解決しようとする課題】このように、この一軸
ステージは、圧電素子5によって駆動し、4枚の薄肉の
可撓部3によって基板1の運動を案内しているため、位
置決めの精度が高く、また分解能も優れているが、これ
を直角方向に2台積重ねてXY微動ステージを構成する
と、下側の軸の駆動点とステージの重心とが離れるた
め、高速の位置決め動作を行うとき位置決めの精度が低
下するという欠点がある。更に、大型のウエハステージ
にこれを搭載すると、このXY微動ステージの上に大型
のウエハチャックや大型の平面ミラーが搭載されるた
め、更に重心が離れ、所望の位置決めの精度を満足させ
るためには、ステージ2の厚さを厚くしてその剛性を高
くする必要があり、全体が大がたとなるという問題点も
有している。
【0006】
【課題を解決するための手段】本発明のXY微動ステー
ジは、X軸サーボモータおよびY軸サーボモータによっ
て互いに直角をなす方向に駆動されて粗動ステージとな
るベースプレートと、前記ベースプレートの上に搭載さ
れ正方形の4辺のそれぞれにブロックを有する中間可動
部と、前記中間可動部の上に搭載されレーザ光を反射さ
せるためのミラーとウエハを搭載して保持するためのウ
エハチャックとを搭載するステージとを備えており、4
個の前記ブロックが、それぞれ2個の可撓部によって両
端部を前記中間可動部の隅部に連結され、前記4個のブ
ロックの中の直交する2個のブロックの中央部と前記中
間可動部の中央部との間に圧電素子を保持しており、前
記4つのブロックの中の対向する2つのブロックが前記
可撓部を介して前記隅部に支持される方向と前記圧電素
子の変位方向とが互いに直交し、前記4個のブロックの
中の対向する位置にある2個のブロックが前記ベースプ
レートに固定されており、前記4個のブロックの中の残
余の対向する位置にある2個のブロックが前記ステージ
に固定されているものである。
【0007】
【実施例】次に、本発明の実施例について図面を参照し
て説明する。
【0008】図1は本発明の一実施例を示す分解斜視図
である。
【0009】図1のXY微動ステージは、X軸サーボモ
ータ11およびY軸サーボモータ12によって、ボール
ねじを介して互いに直角をなす方向に駆動されて粗動ス
テージとなるベースプレート10と、ベースプレート1
0の上に搭載された中間可動部20と、中間可動部20
の上に搭載されたステージ40とを備えている。
【0010】ステージ40の上には、レーザ光を反射さ
せるためのL型ミラー43と、ウエハを搭載して保持す
るためのウエハチャック42が搭載されている。
【0011】中間可動部20は、正方形の板の4辺にそ
れぞれブロック23〜26を有しており、各ブロック2
3〜26は、それぞれ対応する2個の可撓部23a・2
3b〜26a・26bによってそれらの両端部を中間可
動部20の隅部に連結されている。また直交する2個の
ブロック23および24の中央部は、それぞれ弾性予圧
部30および31によって中間可動部20の中央部に連
結されている。弾性予圧部30および31の上面には、
それぞれ圧電素子32および33が圧入されており、こ
れらはアクチュエータとして動作する。対向する位置に
あるブロック23および25は、ベースプレート10に
固定されており、一方、対向する位置にあるブロック2
4および26は、ステージ40に固定されている。従っ
て4個の可撓部23a・23bおよび25a・25bが
中間可動部20およびステージ40のX軸方向の運動の
案内となり、4個の可撓部24a・24bおよび26a
・26bが中間可動部20およびステージ40のY軸方
向の運動の案内となっている。
【0012】このように構成したXY微動ステージは、
圧電素子32に制御電圧を印加すると、圧電素子32は
微小な変位を発生し、この微小な変位は、中間可動部2
0およびステージ40に対してX軸方向の微小な変位を
与える。同様に、圧電素子33に制御電圧を印加する
と、圧電素子33は微小な変位を発生し、この微小な変
位は、中間可動部20およびステージ40に対してY軸
方向の微小な変位を与える。圧電素子32および33
は、極めて応答性のよい微小な変位を発生できるため、
上述のような4個の可撓部による弾性案内と組合わせる
ことにより、直進の精度に優れ、しかも高速に位置決め
できる微動ステージを構成することが可能となる。ま
た、アクチュエータである圧電素子32および33をウ
エハチャック42の近傍に配設できるため、可動部の重
心を低くでき、従って、位置決め動作のために複雑な制
御機能を付加しないでも、容易に位置決めの精度を確保
することができる。
【0013】ステージ40の動作は、まずベースプレー
ト10を、X軸サーボモータ11およびY軸サーボモー
タ12によってそれぞれX軸方向およびY軸方向に2μ
mの分解能で位置決めを行い、次に、ステージ40に搭
載したL型ミラー43の変位をX軸方向およびY軸方向
からそれぞれレーザ測長器44おおび45によって測定
して目標位置との差を求め、この差に比例した制御電圧
を圧電素子32および33に印加してステージ40に微
動を与える。これによってウエハチャック42に搭載し
たウエハを0.02μm以下の精度で短時間に位置決め
できる。
【0014】
【発明の効果】以上説明したように、本発明のXY微動
ステージは、X軸方向およびY軸方向微動可能なように
それぞれ4個の平行な薄肉の可撓部によって中間可動部
を保持し、この中間可動部のうえにウエハを搭載するス
テージを設け、中間可動部を2個の圧電素子によて直角
方向に駆動するように構成することにより、直進の精度
に優れ、しかも高速に位置決めできるXY微動ステージ
を得ることができるという効果がある。また、可動部の
重心を低くできるため、複雑な制御機能を付加しないで
も容易に位置決めの精度を確保することができるという
効果がある。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の一実施例を示す分解斜視図である。
【図2】従来のXY微動ステージに使用している一軸ス
テージの一例を示す斜視図である。
【符号の説明】
1 基板 2 ステージ 3 可撓部 4 予圧部 5 圧電素子 6 ヒンジ 10 ベースプレート 11 X軸サーボモータ 12 Y軸サーボモータ 20 中間可動部 23〜26 ブロック 23a・23b〜26a・26b 可撓部 30・31 弾性予圧部 32・33 圧電素子 40 ステージ 42 ウエハチャック 43 L型ミラー 44・45 レーザ測長器

Claims (1)

    (57)【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 X軸サーボモータおよびY軸サーボモー
    タによって互いに直角をなす方向に駆動されて粗動ステ
    ージとなるベースプレートと、前記ベースプレートの上
    に搭載され正方形の4辺のそれぞれにブロックを有する
    中間可動部と、前記中間可動部の上に搭載されレーザ光
    を反射させるためのミラーとウエハを搭載して保持する
    ためのウエハチャックとを搭載するステージとを備えて
    おり、4個の前記ブロックが、それぞれ2個の可撓部に
    よって両端部を前記中間可動部の隅部に連結され、前記
    4個のブロックの中の直交する2個のブロックの中央部
    と前記中間可動部の中央部との間に圧電素子を保持して
    おり、前記4つのブロックの中の対向する2つのブロッ
    クが前記可撓部を介して前記隅部に支持される方向と前
    記圧電素子の変位方向とが互いに直交し、前記4個のブ
    ロックの中の対向する位置にある2個のブロックが前記
    ベースプレートに固定されており、前記4個のブロック
    の中の残余の対向する位置にある2個のブロックが前記
    ステージに固定されていることを特徴とするXY微動ス
    テージ。
JP5206192A 1992-03-11 1992-03-11 Xy微動ステージ Expired - Lifetime JP2803440B2 (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP5206192A JP2803440B2 (ja) 1992-03-11 1992-03-11 Xy微動ステージ

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP5206192A JP2803440B2 (ja) 1992-03-11 1992-03-11 Xy微動ステージ

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JPH05259263A JPH05259263A (ja) 1993-10-08
JP2803440B2 true JP2803440B2 (ja) 1998-09-24

Family

ID=12904303

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP5206192A Expired - Lifetime JP2803440B2 (ja) 1992-03-11 1992-03-11 Xy微動ステージ

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP2803440B2 (ja)

Families Citing this family (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR20030037575A (ko) * 2001-11-06 2003-05-14 삼성전자주식회사 노광 설비의 웨이퍼 스테이지 유닛
CN101790783B (zh) * 2007-08-28 2012-05-23 株式会社爱发科 机台装置
JP6318960B2 (ja) * 2014-08-05 2018-05-09 日本精工株式会社 テーブル装置、測定装置、半導体製造装置、フラットパネルディスプレイ製造装置、及び工作機械
CN105551529B (zh) * 2016-02-26 2017-11-03 中国计量学院 平行双圆柱体相对空间位置及其转角的精密定位装置
JP7065008B2 (ja) * 2018-10-01 2022-05-11 日立Geニュークリア・エナジー株式会社 X-y駆動機構及びそれを備えた作業システム
CN109256174B (zh) * 2018-11-08 2023-06-06 江南大学 高精度空间平动微定位平台
CN109296629B (zh) * 2018-11-26 2020-08-11 中国科学院光电技术研究所 一种柔性铰链结构

Family Cites Families (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS5972135A (ja) * 1982-10-18 1984-04-24 Hitachi Ltd 超精密xy移動装置
JPH01244512A (ja) * 1988-03-26 1989-09-28 Omron Tateisi Electron Co 可動体の位置決め制御方法

Also Published As

Publication number Publication date
JPH05259263A (ja) 1993-10-08

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US7271879B2 (en) Decoupled planar positioning system
US4694477A (en) Flexure stage alignment apparatus
JPH0212381B2 (ja)
JPH07106516B2 (ja) 位置決めステージ
US4778233A (en) Steering mirror
JPH09219353A (ja) ステージ装置、及びこれを用いた露光装置やデバイス生産方法
JPS59101835A (ja) 変位装置
JP2003256050A (ja) 振動制御装置及び振動制御方法及び露光装置及びデバイスの製造方法
JP2803440B2 (ja) Xy微動ステージ
JPH10327588A (ja) マイクロアクチュエータおよびその製造方法
US6860020B2 (en) Ultra-precision feeding apparatus
JPH0434166B2 (ja)
US5714860A (en) Stage device capable of applying a damping force to a movable member
US4768064A (en) Conveyor device for alignment
JP2002022868A (ja) X−yステージの可動テーブルの支持構造
US4595257A (en) Support mechanism utilizing flexual pivots
KR100381974B1 (ko) 무마찰탄성베어링과 액튜에이터의 차동구동을 이용한3축스테이지 제어장치
JPH0449675B2 (ja)
JPH0360937A (ja) 微動ステージ装置
JP2005123287A (ja) 位置決め装置
JPH0560935A (ja) 光フアイバ光線入射位置調整装置
JP4962780B2 (ja) ステージ装置およびその浮上制御方法と、ステージ装置を用いた露光装置
JPH01246036A (ja) 微動ステージ装置
JPH05335199A (ja) 微細位置決め装置
JPH05228762A (ja) 微動装置

Legal Events

Date Code Title Description
A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

Effective date: 19980616