JP2791447B2 - 測定値処理方法 - Google Patents
測定値処理方法Info
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- JP2791447B2 JP2791447B2 JP3042934A JP4293491A JP2791447B2 JP 2791447 B2 JP2791447 B2 JP 2791447B2 JP 3042934 A JP3042934 A JP 3042934A JP 4293491 A JP4293491 A JP 4293491A JP 2791447 B2 JP2791447 B2 JP 2791447B2
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- JP
- Japan
- Prior art keywords
- thickness
- value
- measured value
- noodle
- measurement
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- Length-Measuring Devices Using Wave Or Particle Radiation (AREA)
- Length Measuring Devices With Unspecified Measuring Means (AREA)
Description
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明は定常状態を乱す程度の外
乱を受ける系から得られる物理量の測定値を処理する方
法に関する。
乱を受ける系から得られる物理量の測定値を処理する方
法に関する。
【０００２】
【従来技術】運転中のある系の物理量（温度や速度ある
いは厚みなど）を測定し、その測定値を処理して系の運
転状態を制御するような系がいくつか知られている。
いは厚みなど）を測定し、その測定値を処理して系の運
転状態を制御するような系がいくつか知られている。
【０００３】このような系においては、何らかの外から
の影響で予測測定値をはるかに越える測定値を示すこと
がよくある。このような場合操作すべき量を決定するた
めの測定値としてこのとび出した測定値を平均化した測
定値を使うと、制御すべき量が適当でなく正確な制御が
できなくなるおそれがある。このため、このとび出した
測定値の影響を受けないような処理が好ましい。
の影響で予測測定値をはるかに越える測定値を示すこと
がよくある。このような場合操作すべき量を決定するた
めの測定値としてこのとび出した測定値を平均化した測
定値を使うと、制御すべき量が適当でなく正確な制御が
できなくなるおそれがある。このため、このとび出した
測定値の影響を受けないような処理が好ましい。
【０００４】図１はこのような系の一例で、うどんやそ
ばのような麺帯の製造に用いられる麺帯の厚さ制御装置
である。
ばのような麺帯の製造に用いられる麺帯の厚さ制御装置
である。
【０００５】図において、１は麺帯、２は麺帯１の厚さ
を調節するための一対の圧延ローラ、３は厚さが調節さ
れた麺帯１を案内するガイドローラ、４ａ，４ｂは麺帯
１の各側近傍に配置された厚さ測定用の光学センサ、５
は麺帯１を一定長さごとに切断するカッター、６は切断
された麺帯から麺線１′を作るための切刃ロールであ
る。
を調節するための一対の圧延ローラ、３は厚さが調節さ
れた麺帯１を案内するガイドローラ、４ａ，４ｂは麺帯
１の各側近傍に配置された厚さ測定用の光学センサ、５
は麺帯１を一定長さごとに切断するカッター、６は切断
された麺帯から麺線１′を作るための切刃ロールであ
る。
【０００６】７は光学センサ４ａ及び４ｂの出力から麺
帯１の厚さ値を算出し、厚さ設定値との差分を出力する
コントローラ、８はコントローラ７から出力される厚さ
調整信号に応じて回転するモータ、９はモータ８により
回転されるスクリューであり、厚さ調整用の圧延ローラ
２はこのスクリュー９の回転量に応じた距離だけ接近ま
たは離間して麺帯１の厚さを調整するようになってい
る。
帯１の厚さ値を算出し、厚さ設定値との差分を出力する
コントローラ、８はコントローラ７から出力される厚さ
調整信号に応じて回転するモータ、９はモータ８により
回転されるスクリューであり、厚さ調整用の圧延ローラ
２はこのスクリュー９の回転量に応じた距離だけ接近ま
たは離間して麺帯１の厚さを調整するようになってい
る。
【０００７】次に図２を参照して麺帯の厚さ測定の原理
を説明する。
を説明する。
【０００８】図示したように、麺帯１（厚さｄ）の両側
でそれぞれ距離ｘ1 ，ｘ2 だけ離れた位置に光学センサ
４ａ，４ｂを配置し、各光学センサ４ａ，４ｂから麺帯
１に向けてパルス光を発光し、その反射光を受光する
と、発光と受光の時間のずれから距離ｘ1 とｘ2 を求め
ることができる。そこで両光学センサ４ａと４ｂの間の
距離をｙとすると、麺帯の厚さｄは次の式から算出でき
る。
でそれぞれ距離ｘ1 ，ｘ2 だけ離れた位置に光学センサ
４ａ，４ｂを配置し、各光学センサ４ａ，４ｂから麺帯
１に向けてパルス光を発光し、その反射光を受光する
と、発光と受光の時間のずれから距離ｘ1 とｘ2 を求め
ることができる。そこで両光学センサ４ａと４ｂの間の
距離をｙとすると、麺帯の厚さｄは次の式から算出でき
る。
【０００９】ｄ＝ｙ−（ｘ1 ＋ｘ2 ）
【００１０】図１の厚さ制御装置においては、このよう
な方法で検出した麺帯１の厚さｄを利用して厚さ調整用
圧延ローラ２の間隙を調整することにより麺帯１の厚さ
を制御しているが、麺帯１はカッター５により一定の長
さで切断されるため、その切断時の麺帯１の揺れが外乱
となって光学センサ４ａ、４ｂの出力から算出した厚さ
ｄはほぼ一定のタイミングで外乱の影響を受けて第３図
に示すようにその時点ｔ１、ｔ２、ｔ３で大きく変動す
る。そのために、コントローラ７では外乱を受けたとき
の厚さの測定値は圧延ローラ２による厚さ制御には用い
ないように信号処理する必要があるが、そのための処理
回路が必要になるし、外乱を受けるタイミングが不規則
になると信号処理が厄介になる。
な方法で検出した麺帯１の厚さｄを利用して厚さ調整用
圧延ローラ２の間隙を調整することにより麺帯１の厚さ
を制御しているが、麺帯１はカッター５により一定の長
さで切断されるため、その切断時の麺帯１の揺れが外乱
となって光学センサ４ａ、４ｂの出力から算出した厚さ
ｄはほぼ一定のタイミングで外乱の影響を受けて第３図
に示すようにその時点ｔ１、ｔ２、ｔ３で大きく変動す
る。そのために、コントローラ７では外乱を受けたとき
の厚さの測定値は圧延ローラ２による厚さ制御には用い
ないように信号処理する必要があるが、そのための処理
回路が必要になるし、外乱を受けるタイミングが不規則
になると信号処理が厄介になる。
【００１１】本発明は上記の点にかんがみてなされたも
ので、定常状態を乱す程度の外乱が不規則に与えられる
系から得られる測定値から外乱による影響を排除するこ
とを目的とする。
ので、定常状態を乱す程度の外乱が不規則に与えられる
系から得られる測定値から外乱による影響を排除するこ
とを目的とする。
【００１２】
【課題を解決するための手段】本発明において、上記目
的を達成するために、時間的に変化する物理量を測定す
る際に、予想される測定値の最大幅を適宜数にランク分
けし、短時間に連続して得られた測定値に対応するラン
クの頻度を数え、最大頻度を有するランクに相当する物
理量をこの時間の測定値と定めるようにした。
的を達成するために、時間的に変化する物理量を測定す
る際に、予想される測定値の最大幅を適宜数にランク分
けし、短時間に連続して得られた測定値に対応するラン
クの頻度を数え、最大頻度を有するランクに相当する物
理量をこの時間の測定値と定めるようにした。
【００１３】
【作用】連続して得られる複数個の測定値についてラン
クごとの頻度分布を求めることにより、短時間の外乱に
よる測定値への影響を結果として排除することができ
る。
クごとの頻度分布を求めることにより、短時間の外乱に
よる測定値への影響を結果として排除することができ
る。
【００１４】
【実施例】以下に本発明による測定値処理について第４
図を参照して説明する。
図を参照して説明する。
【００１５】実施例として麺帯の厚さを測定して得られ
る測定値の処理について説明するが、本発明は他の同種
の外乱を含む測定値の処理にも適用できることは言うま
でもない。
る測定値の処理について説明するが、本発明は他の同種
の外乱を含む測定値の処理にも適用できることは言うま
でもない。
【００１６】麺帯の厚さデータは、図１に示した系にお
いて、光学センサ４ａおよび４ｂの出力を一定ごとに処
理することにより得られる。
いて、光学センサ４ａおよび４ｂの出力を一定ごとに処
理することにより得られる。
【００１７】処理に当って、まず縦がＭ、横がＮの配列
Ｄ（Ｎ，Ｍ）を用意し（Ｆ−１）、配列の変数をＸ，Ｙ
とする（ただし０＜Ｘ≦Ｎ、０＜Ｙ≦Ｍ）。ここでＭは
測定値と予想されるばらつきとを考えて適当な数に分割
する。このＭは測定精度に関係する数である。Ｎは総測
定回数を分割した数でデータの変動の周期を考慮してき
める。区間測定回数Ｎに対してその区間の順序数ｊ（１
≦ｊ≦Ｎ）はそれまでの総測定回数Ａより Ａ＝Ｎ・ｋ＋ｊ（ただしｋは繰り返し周期の回数で０を
含む整数） として求められる。次に厚さデータを初期化するために
配列の各マス目Ｍ×Ｎ個を０とする（Ｆ−２）。
Ｄ（Ｎ，Ｍ）を用意し（Ｆ−１）、配列の変数をＸ，Ｙ
とする（ただし０＜Ｘ≦Ｎ、０＜Ｙ≦Ｍ）。ここでＭは
測定値と予想されるばらつきとを考えて適当な数に分割
する。このＭは測定精度に関係する数である。Ｎは総測
定回数を分割した数でデータの変動の周期を考慮してき
める。区間測定回数Ｎに対してその区間の順序数ｊ（１
≦ｊ≦Ｎ）はそれまでの総測定回数Ａより Ａ＝Ｎ・ｋ＋ｊ（ただしｋは繰り返し周期の回数で０を
含む整数） として求められる。次に厚さデータを初期化するために
配列の各マス目Ｍ×Ｎ個を０とする（Ｆ−２）。
【００１８】さて、測定開始後一定時間ごとに得られる
厚さデータＮ個を順次コントローラ７内のレジスタに記
憶する（Ｆ−３）。いまｊ番目の厚さデータをＳｋ
（ｊ）とし、このＳｋ（ｊ）に対する変数Ｘ，Ｙのうち
変数Ｙの値を次のようにして求める（Ｆ−４）。外乱に
よる最大予測厚さデータをＳｋ（ＭＡＸ）とすると、Ｙ
値は次の式で求めることができる。 なお、ＩＮＴ［Ｂ］は値Ｂの整数部分を求める演算であ
る。こうして求めたＹ値と測定順序を表わすＸとで配列
Ｄ（ｊ，Ｙj ）上の位置が求まる。たとえば１番目の厚
さデータＳｋ（１）を用いて上式から求めた値をＹ1 と
すると、配列上の位置（１，Ｙ1 ）が定まる（Ｆ−
５）。そしてこの位置に１を入れる。この演算をＮ番目
の厚さデータまで繰り返し行なう（Ｆ−６）。
厚さデータＮ個を順次コントローラ７内のレジスタに記
憶する（Ｆ−３）。いまｊ番目の厚さデータをＳｋ
（ｊ）とし、このＳｋ（ｊ）に対する変数Ｘ，Ｙのうち
変数Ｙの値を次のようにして求める（Ｆ−４）。外乱に
よる最大予測厚さデータをＳｋ（ＭＡＸ）とすると、Ｙ
値は次の式で求めることができる。 なお、ＩＮＴ［Ｂ］は値Ｂの整数部分を求める演算であ
る。こうして求めたＹ値と測定順序を表わすＸとで配列
Ｄ（ｊ，Ｙj ）上の位置が求まる。たとえば１番目の厚
さデータＳｋ（１）を用いて上式から求めた値をＹ1 と
すると、配列上の位置（１，Ｙ1 ）が定まる（Ｆ−
５）。そしてこの位置に１を入れる。この演算をＮ番目
の厚さデータまで繰り返し行なう（Ｆ−６）。
【００１９】いまＮ＝１０、Ｍ＝８とすると、配列Ｄ
（１０，８）は第５図に示すようなマス目となり、ステ
ップ（Ｆ−４）から（Ｆ−６）で求めたＹ値に相当する
マス目に“１”を埋めていく。
（１０，８）は第５図に示すようなマス目となり、ステ
ップ（Ｆ−４）から（Ｆ−６）で求めたＹ値に相当する
マス目に“１”を埋めていく。
【００２０】次にこうしてｊ＝１〜ＮについてＮ個の厚
みデータのＹj 値が求まり、第５図に示したＤ配列表の
マス目が埋まったところで、今度はＤ配列のマス目の各
横欄（ｋ＝１〜Ｍ）についてｊ＝１〜Ｎまでを合計し、
得られた値を第５図に示すような別に用意したＤ′配列
に格納する（Ｆ−７）。すなわち ｋ＝１〜８についてＤ′( ｋ）を求めると、上のＤ配列
の右側に並べたようになる。このＤ′配列は頻度分布を
表わす。
みデータのＹj 値が求まり、第５図に示したＤ配列表の
マス目が埋まったところで、今度はＤ配列のマス目の各
横欄（ｋ＝１〜Ｍ）についてｊ＝１〜Ｎまでを合計し、
得られた値を第５図に示すような別に用意したＤ′配列
に格納する（Ｆ−７）。すなわち ｋ＝１〜８についてＤ′( ｋ）を求めると、上のＤ配列
の右側に並べたようになる。このＤ′配列は頻度分布を
表わす。
【００２１】こうして作成されたＤ′配列の中から最大
頻度を与えるｋを求める（Ｆ−９）。上の例では、Ｄ′
配列の最大頻度「４」を与えるｋの値は「４」である。
そこでＹMAX ＝４とし（Ｆ−９）、厚さデータＳｋを次
の式から求める（Ｆ−１０）。
頻度を与えるｋを求める（Ｆ−９）。上の例では、Ｄ′
配列の最大頻度「４」を与えるｋの値は「４」である。
そこでＹMAX ＝４とし（Ｆ−９）、厚さデータＳｋを次
の式から求める（Ｆ−１０）。
【００２２】Ｓｋ＝（ＹMAX ／Ｍ）×予想最大値 この厚さデータＳｋをプロットする（Ｆ−１１）。
【００２３】その後はｊを１だけ増して（Ｆ−１２）ｊ
＝２〜１１までの厚さデータについて同様にＤ’配列を
求め、最大頻度を与えるｋの値を求め、厚さデータＳｋ
を算出し、プロットする。なお、Ｄ’配列としては、上
述したｊ＝２〜１１までの厚さデータと、ｊ＝３〜１２
までの厚さデータとをｊ＝１〜１０までの厚さデータの
Ｄ’配列に並べて示した。こうしてプロットの連続で麺
帯の厚さが得られる。測定値の精度は測定間隔を増やす
だけでなく、ばらつき幅を分割するＭの値を大きくする
ことにより上げることができる。
＝２〜１１までの厚さデータについて同様にＤ’配列を
求め、最大頻度を与えるｋの値を求め、厚さデータＳｋ
を算出し、プロットする。なお、Ｄ’配列としては、上
述したｊ＝２〜１１までの厚さデータと、ｊ＝３〜１２
までの厚さデータとをｊ＝１〜１０までの厚さデータの
Ｄ’配列に並べて示した。こうしてプロットの連続で麺
帯の厚さが得られる。測定値の精度は測定間隔を増やす
だけでなく、ばらつき幅を分割するＭの値を大きくする
ことにより上げることができる。
【００２４】図６（ａ）は本発明により処理して得られ
た麺帯の厚さを、処理しない従来の場合（ｂ）と比較し
て示しており、本発明による処理を行なった場合は外乱
の影響をほとんど受けないのに対して、処理を行なわな
い場合は外乱の影響を受けることがよくわかる。
た麺帯の厚さを、処理しない従来の場合（ｂ）と比較し
て示しており、本発明による処理を行なった場合は外乱
の影響をほとんど受けないのに対して、処理を行なわな
い場合は外乱の影響を受けることがよくわかる。
【００２５】上記実施例は、麺帯の厚さ制御に関するも
のであるが、これは一例であって、本発明は不規則な外
乱により測定値が影響を受ける系であれば、いかなる系
にも適用することができる。
のであるが、これは一例であって、本発明は不規則な外
乱により測定値が影響を受ける系であれば、いかなる系
にも適用することができる。
【００２６】
【発明の効果】以上説明したように、本発明において
は、時間的に変化する物理量を測定し、該物理量の変化
の予想最大値に対する各測定値の割合を求め、前記予想
最大値に対応させて予めランク分けした所定数のランク
のうち前記割合に該当するランクの頻度を各測定値ごと
に単位量だけ高め、連続して得られる複数個の測定値に
ついてランクごとの頻度分布を求め、最大頻度を有する
ランクに相当する物理量を測定値と定めるようにしたの
で、測定値が不規則な外乱により受ける影響を信号処理
だけで簡単に排除することができる。
は、時間的に変化する物理量を測定し、該物理量の変化
の予想最大値に対する各測定値の割合を求め、前記予想
最大値に対応させて予めランク分けした所定数のランク
のうち前記割合に該当するランクの頻度を各測定値ごと
に単位量だけ高め、連続して得られる複数個の測定値に
ついてランクごとの頻度分布を求め、最大頻度を有する
ランクに相当する物理量を測定値と定めるようにしたの
で、測定値が不規則な外乱により受ける影響を信号処理
だけで簡単に排除することができる。
【図１】本発明による測定値処理方法を適用する系の一
例としての麺帯の厚さ制御装置の要部を示す線図であ
る。
例としての麺帯の厚さ制御装置の要部を示す線図であ
る。
【図２】麺帯の厚さ測定の原理を説明する図である。
【図３】麺帯の厚さ測定値を表わす図である。
【図４】本発明による測定値処理方法のフローチャート
である。
である。
【図５】本発明で用いられるデータの配列を示す配列表
である。
である。
【図６】（ａ）は本発明方法により処理された麺帯の厚
さ、（ｂ）は従来の麺帯の厚さを示す。
さ、（ｂ）は従来の麺帯の厚さを示す。
１ 麺帯 ２ 厚さ調節ローラ ３ ガイドローラ ４ａ，４ｂ 光学センサ ５ カッター ６ 切刃ローラ ７ コントローラ ８ モータ
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (58)調査した分野(Int.Cl.6，ＤＢ名) G01D 1/14
Claims (1)
- 【請求項１】 時間的に変化する物理量を測定する際
に、測定値の変化の予想される最大幅を複数の区分枠に
区分しておき、 所定 時間内に連続して得られる複数の測定値の各々が前
記区分枠のいずれに該当するかを判断し、 前記各区分枠ごとの前記測定値の該当数を集計し、 該当数の集計値が最大となる区分枠に相当する測定値を
前記所定時間における 測定値と定めることを特徴とした
測定値処理方法。、
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP3042934A JP2791447B2 (ja) | 1991-02-15 | 1991-02-15 | 測定値処理方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP3042934A JP2791447B2 (ja) | 1991-02-15 | 1991-02-15 | 測定値処理方法 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH04259815A JPH04259815A (ja) | 1992-09-16 |
| JP2791447B2 true JP2791447B2 (ja) | 1998-08-27 |
Family
ID=12649845
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP3042934A Expired - Lifetime JP2791447B2 (ja) | 1991-02-15 | 1991-02-15 | 測定値処理方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP2791447B2 (ja) |
Families Citing this family (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH06186060A (ja) * | 1992-12-18 | 1994-07-08 | Hitachi Ltd | データの表示方法及び装置 |
| JP5613603B2 (ja) * | 2011-03-28 | 2014-10-29 | 株式会社東芝 | 原子炉内機器形状計測装置および原子炉内機器形状計測方法 |
Family Cites Families (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH0612282B2 (ja) * | 1983-01-21 | 1994-02-16 | 日本電装株式会社 | 移動体のための液量計 |
| JPH087055B2 (ja) * | 1988-04-08 | 1996-01-29 | 株式会社日立製作所 | 幅を有する測定対象部の長さ測定方法 |
-
1991
- 1991-02-15 JP JP3042934A patent/JP2791447B2/ja not_active Expired - Lifetime
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH04259815A (ja) | 1992-09-16 |
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Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 Effective date: 19980421 |