SU849002A2 - Устройство дл аттестации штриховых мер - Google Patents

Description

Изобретение относитс  к контроль но-измерительной технике, в частности к устройствам дл  аттестации штриховых мер. По основному авт.св. №771463 наиболее близким к изобретению по технической сущности  вл етс  устройство дл  аттестации штриховых мер ме тодом компарировани , содержащее последовательно расположенные источник света, оптическую систему, включающую оптический элемент, образцову диафрагму с двум  щел ми, рассто ние мезвду серединами которых выбираетс  из услови  )-: Lo4Cb3-2to где L, - эталон длины - единица масштаба аттестуемой меры максимально возможное зн чениё ширины штриха , максимс1льно возможное ми нусовое отклонение едини цы интервала аттестуемой меры от эталонной; f - коэффициент увеличени  единицы масштаба аттесту мой меры. Ширина щелей ,.Г. фотоэлект1Т1Сл% рический узел выполнен в виде димического фотоэлектрического микрюскопа , рабоча  зона фотокатода которого перекрывает плоскости щелей образцовой диафрагмы. Блок обработки сигнала с фотоприемного узла выполнен в виде схемы управлени , вход которой св зан с выходом динамического фотоэлектрического микроскопа, схемы кварцевого генератора, соединенной со схемой управлени , схемы коррекции и вычислительного узла, соединенного со схемой кварцевого генератора и схемой коррекции 1. Недостатком известного устройства  вл етс  ограниченный диапазон выбора рассто ни  LO между серединами обеих щелей образцовой диафрагмы. Цель изобретени  - расширение диапазона выбора рассто ни  LO между серединами обеих щелей образцовой диафрагмы , Поставленна  цель достигаетс  тем, что рассто ние Lg между серединами обеих.щелей образцовой диафрагмы выбираетс  из услови  ( ,.г. bov( Ц-сгъ д,-1Д- г, где L - эталон длины - «диниц масштаба аттестуемой меры;

(х максимально возможное

значение ширина штриха;

uj-3 г максимально возможное по

ложительное отклонение

единицы интервала аттестуемой меры от эталонной; максимально возможное

минусовое отклонение единицы интервала аттестуемой меры от эталонной} Г коэффициент увеличени 

единицы масштаба аттестуемой меры.

На чертеже изображена принципиальна  схема предлагаемого устс ройства .

Устройство содержит последователь1 но расположенные источник 1 света, оптическую систему, включаквлую оптический элемент 2 и объектив 3, образцовую диафрагму 4 с двум  щел ми, фотоэлектрический узел в виде динамического фотоэлектрического микроскопа 5, ра;боча  зона фотокатода б которого перекрывает плоскости щелей образцовой диафрагмы 4, и блок обработки сигнала с фотоприемного узла в виде схемы 7 управлени , вход которой св зан с выходом динамического фотоэлектрического микроскопа 5, схемы 8 кварцевого генератора, соединенного со схемой 7 управлени , схемы 9 коррекции и вычислительного узла 10, соединенного со схемой 8 кварцевого генератора и схемой 9 коррекции.

Рассто ние между серединами щелей диафрагмы выбираетс  из услови 

,),(,). Г,

а ширина щелей В .

Устройство работает следующим образом .

Источник света 1 через оптический элемент 2 освещает аттестуемою меру 11 со штрихами 12 световые изображени  которых перенос тс  объективом 3 в плоскости щелей образцовой диафрагмы 4, за которой расположен фотокатод 6 динамического фотоэлектрического микроскопа 5. Рассто ние между серединами двух щелей образцовой диафрагмы 4 выбираетс  из услови 

Ч 2 тах- п.(,НЛ- п ахО-Г,

исключающего -возможность одновременного по влени  оптических изображений штрихов в обеих щел х образцовой диафрагмы 4-, что дает возможность использовать один канал фотоэлектронной обработки, применение в котором диналшческого фотоэлектрического микроскопа 5 позвол ет производить аттестацию при непрерывном со стабилизированной скоростью V перемещени  аттестуемой штриховой меры 11. Динамический фотоэлектрический микроскоп 5 выдел ет середины оптических изображений штрихов 12 в плоскост х щелей образцовой диафрагмы 4 и в виде дельта-импульсов подает их на схему 7 управлени , котора  выдел ет те дельта-импульсы, f рассто ние между которыми соответствует разности длин единиц (шагов) аттестуемых интервалов в плоскост х щелей образцовой диафрагмы 4 L, х Г, где - пор дковый номер единицы

аттестуемого интервала и рассто ни  между серединами щелей образцовой диафрагмы L . Вычислительный узел 10 по командам со схемы 7 управлени  подсчитывает временной интервал между этими дельта-импульсами дл  заданной стабилизированной скорости V перемещени  штриховой меры 11) с частотой f кварцевого генератора. Схема 7 управлени  дает команду на схему 9 коррекции, котора  вводит ,

0 nonpaBky в предыдущее вычисление на разность длин единицы масштаба аттестуемой меры Lg и интервала между серединами щелей образцовой диафрагмы 4, приведенного к плоскости штрихов -р- . Следовательно, процесс вычислени  разности длин каждой i-й единицы аттестуемого интервала и . единицы масштаба аттестуемой меры Ц,

приведенных к плоскости штрихов, выгл дит таким образом

LO-Ц-Г /LO

35 а его временной эквивалент t; ,.J.c..n,.r,

); п. где а - знак разности

число импульсов, подсчитанныхвычислительным узлом за врем  ц- счастотой кварцевого генератора (с периодом г) на i-OM единичном интервале .

Таким образом, электронныманалогом длины {1э-Ц )  вл етс 

(,

После чего вычислительный узел алгебраически пересчитывает отклонение каждого измеренного единичного интервала от единицы масштаба аттестуемой меры на отклонение его относительно первого (нулевого) штриха. Эта окончательна  операци  аттестации , в результате которой определ етс  величина и знак отклонени  на каждом i-том аттестуемом интервале штриховой меры 11, выражаетс  форМУЛОЙ .

i-H 1-1 .г vs-лгде N - номер последнего интервала

штриховой меры (число аттастуемых интервалов меры).

Изобретение может быть использовано дл  аттестации как линейных, так и круговых штриховых мер (дл  этого в приведенных формулах нужно заменить единицы длины на угловые единицы , а линейную скорость - на угловую ) .

Изобретение обеспечивает простоту устройства, высокую точность, про иэводительность, надежность и широкий диапазон единиц аттестуемых интервалов (от долей микрометра до миллиметров).

Claims (1)

1. Айторское свидетельство СССР 7714бЗ. кл. G 01 В 11/00, 1978 (прототип)..

Ю