JP2775101B2 - インクリメンタルエンコーダを使用した位置決めシステムにおける偏差方向判別回路 - Google Patents

インクリメンタルエンコーダを使用した位置決めシステムにおける偏差方向判別回路

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JP2775101B2 JP63258545A JP25854588A JP2775101B2 JP 2775101 B2 JP2775101 B2 JP 2775101B2 JP 63258545 A JP63258545 A JP 63258545A JP 25854588 A JP25854588 A JP 25854588A JP 2775101 B2 JP2775101 B2 JP 2775101B2
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Description

【発明の詳細な説明】 a. 産業上の利用分野 本発明はインクリメンタルエンコーダを使用した位置
決めシステムにおける偏差方向判別回路に関する。
インクリメンタルエンコーダを使用した位置決めシス
テムにおいては、位置センサであるインクリメンタルエ
ンコーダからのパルスを計数することにより位置を検出
し、その計数値が位置決め設定値に等しくなるようにス
テッピングモータ等を制御する。
このために、現在位置に対応する上記計数値と位置決
め設定値の差の正負に対応する偏差方向判別信号を発生
する偏差方向判別回路が使用される。上記偏差方向判別
信号は設定位置に到達した時の位置の安定化のために、
偏差が正値から負値に変化する時と負値から正値に変化
する時に目標位置を中心として1パルス分のヒステリシ
スを持つ必要がある。
第4図は、検出位置信号aが設定位置信号a0を通過す
る時の、偏差方向判別信号のヒステリシス特性を示すタ
イムチャートである。検出位置信号aが増加しながらa0
を通過する時はタイムチャートd+となり、減少しなが
らa0を通過する時はタイムチャートd−となる。
b. 従来の技術 第5図は従来技術による偏差方向判別回路の一例の回
路図である。
デジタル計数回路Cがインクリメンタルエンコーダか
らパルス信号Eを計数し、その計数値と位置決め信号P
の差に対応するデジタル差信号Ddを発生する。該デジタ
ル差信号Ddをデジタル/アナログ変換回路D/Aを用いて
アナログ差信号Daに変換する。該アナログ差信号Daの正
負をヒステリシス特性を有する比較回路COMPで判別す
る。アナログ差信号Daが第6図に示すように位置決め設
定値に対する偏差に対して階段波形であり、比較回路CO
MPのしきい値がp,qである時、比較回路COMPの出力は第
7図に示すようにヒステリシス特性を有する偏差方向判
別回路となる。
c. 発明が解決しようとする課題 従来技術による時、デジタル/アナログ変換回路D/A
と比較回路COMPの中間の演算増幅器OPのオフセット電圧
のずれ、ノイズ等による誤動作があり、ヒステリシスの
幅を正確に±1LSBに合わせることが困難であった。ここ
においてLSBとは、上記計数回路の最下位のビットを意
味する。
本発明は、アナログ回路を用いることなく、上記計数
回路の出力から偏差方向判別信号を直接に得ることがで
きる偏差方向判別回路を提案することを課題とする。
d. 課題を解決するための手段 上記課題は、インクリメンタルエンコーダからのエン
コーダパルスを計数し、その計数値と設定位置に対応す
る位置指令信号の差に対応する差信号を発生するデジタ
ル計数回路の出力から、偏差の正負に対応する信号であ
って、偏差が正値から負値に変化する時の負値から正値
に変化する時に目標位置を中心として1パルス分のヒス
テリシスを有する信号である偏差方向判別信号を発生す
る偏差方向判別回路において、上記デジタル計数回路の
出力のMSB信号とデジタル計数回路の出力がゼロである
ことを示すZ信号を2入力とし、デジタル計数回路の出
力がゼロから1に変化する時にステートが変化するゲー
ト回路と、MSB信号と該ゲート回路の出力信号またはそ
の反転信号をR入力信号,S入力信号とするRSフリップフ
ロップ回路を備え、RSフリップフロップ回路の出力を偏
差方向判別信号とすることを特徴とする、インクリメン
タルエンコーダを使用した位置決めシステムにおける偏
差方向判別回路によって解決された。
e. 作用 N−1まで計数できるデジタル計数回路は、計数値が
N−1から0に変化する時に、最上位のビット(MSB)
信号のステートが変化する。
またデジタル計数回路の出力がゼロであることを示す
ゼロ(Z)信号は、計数値が0の時にのみステートが変
化する。したがって、計数値がN−1から0に変化する
時と、0から1に変化する時にステートが変化する。
これ故、MSB信号とZ信号をANDゲート,NANDゲート等
のゲート回路の2入力とすることにより、デジタル計数
回路の出力が0から1に変化する時にのみステートが変
化する信号を作ることができる。
このゲート回路の出力信号またはその反転信号と、MS
B信号またはその反転信号を適宜組合わせてR信号,S信
号としたRSフリップフロップ回路は、デジタル計数回路
の出力がN−1から0に変化する時はステートが変化せ
ず、0から1に変化する時にステートが変化し、逆に1
から0に変化する時はステートが変化せず、0からN−
1に変化する時ステートが変化するヒステリシス特性を
有する。
f. 実施例 第1図は本発明に係る偏差方向判別回路の好ましい実
施例の回路図であり、第2図は第1図の主要点における
信号のタイムチャート、第3図は第1図のRSフリップフ
ロップ回路の真理値を表わす図である。
インクリメンタルエンコーダ(図示せず)からの信号
aはデジタル計数回路DCにおいて計数され、設定位置に
対応する信号a0との差がデジタル出力端子(MSB……LS
B)に出力される。ここにおいてMSBは出力の最上位のビ
ット信号,LSBは出力の最下位のビット信号を表わす。
該デジタル計数回路DCは、上記デジタル出力以外に、
該出力が0であることを表わすゼロ信号を発生する。
デジタル計数回路DCの出力がN−1から0に変化する
時に、MSB信号bがLOWからHIGHに変化し、上記出力が0
の時にのみZ信号cがLOWになる場合、MSB信号bとZ信
号cを2入力とするNANDゲート回路の出力はデジタル計
数回路DCの出力が0から1に変化する時にHIGHからLOW
に変化する。またMSB信号bとNANDゲート回路の出力d
をR入力信号,S入力信号とするRSフリップフロップ回路
FFの出力eは、ヒステリシス特性を有する。
なおRSフリップフロップ回路は、S入力端子とR入力
端子が共にHIGH(1)の時は出力が変化しない。また、
S入力端子がLOW(0),R入力端子がHIGH(1)の時、
出力はHIGH(1)となり、S入力端子がHIGH(1),R入
力端子がLOW(0)の時、出力はLOW(0)になる。
g. 発明の効果 (i)デジタル回路とアナログ回路を組合わせる必要が
ないので、調整工数が減少し、製造コストが低減する。
(ii)オペレーションアンプのオフセット変化による誤
動作が無くなる。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明に係る偏差方向判別回路の好ましい実施
例の回路図であり、第2図は第1図の主要点における信
号のタイムチャート、第3図は第1図のRSフリップフロ
ップ回路の真理値を表わす図、第4図は偏差方向判別信
号のタイムチャート、第5図は従来技術による偏差方向
判別回路の一例の回路図、第6図は第5図のD/A変換回
路の出力信号の波形図、第7図は第5図の比較回路のヒ
ステリシス特性を示す波形図である。 DC……デジタル計数回路、 NAND……NANDゲート、 FF……フリップフロップ回路。
フロントページの続き (56)参考文献 特開 昭55−33308(JP,A) 特開 昭55−43697(JP,A) 特開 昭61−289409(JP,A) 特開 昭60−93310(JP,A) 実開 昭63−67819(JP,U) (58)調査した分野(Int.Cl.6,DB名) G05D 3/12 303 G01D 5/36 G01D 5/245 102

Claims (1)

    (57)【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】インクリメンタルエンコーダからのエンコ
    ーダパルスを計数し、その計数値と設定位置に対応する
    位置指令信号の差に対応する差信号を発生するデジタル
    計数回路の出力から、偏差の正負に対応する信号であっ
    て、偏差が正値から負値に変化する時と負値から正値に
    変化する時に目標位置を中心として1パルス分のヒステ
    リシスを有する信号である偏差方向判別信号を発生する
    偏差方向判別回路において、上記デジタル計数回路の出
    力のMSB信号とデジタル計数回路の出力がゼロであるこ
    とを示すZ信号を2入力とし、デジタル計数回路の出力
    がゼロから1に変化する時にステートが変化するゲート
    回路と、MSB信号と該ゲート回路の出力信号またはその
    反転信号をR入力信号,S入力信号とするRSフリップフロ
    ップ回路を備え、RSフリップフロップ回路の出力を偏差
    方向判別信号とすることを特徴とする、インクリメンタ
    ルエンコーダを使用した位置決めシステムにおける偏差
    方向判別回路。
JP63258545A 1988-10-14 1988-10-14 インクリメンタルエンコーダを使用した位置決めシステムにおける偏差方向判別回路 Expired - Fee Related JP2775101B2 (ja)

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US6294796B1 (en) 1982-04-13 2001-09-25 Seiko Epson Corporation Thin film transistors and active matrices including same

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* Cited by examiner, † Cited by third party
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JPH0677222B2 (ja) * 1985-06-18 1994-09-28 三菱電機株式会社 位置決め制御装置
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