JP2762479B2 - マグネトロン型スパッタリング装置 - Google Patents
マグネトロン型スパッタリング装置Info
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- JP2762479B2 JP2762479B2 JP63234183A JP23418388A JP2762479B2 JP 2762479 B2 JP2762479 B2 JP 2762479B2 JP 63234183 A JP63234183 A JP 63234183A JP 23418388 A JP23418388 A JP 23418388A JP 2762479 B2 JP2762479 B2 JP 2762479B2
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- Prevention Of Fouling (AREA)
- Crystals, And After-Treatments Of Crystals (AREA)
- Physical Vapour Deposition (AREA)
- Electrodes Of Semiconductors (AREA)
- Internal Circuitry In Semiconductor Integrated Circuit Devices (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】 [産業上の利用分野] 本発明は、半導体基板上に複数層のスパッタリング膜
を形成する際に各スパッタリング膜間での汚染を防止し
たマグネトロン型スパッタリング装置に関する。
を形成する際に各スパッタリング膜間での汚染を防止し
たマグネトロン型スパッタリング装置に関する。
[従来の技術] 従来のマグネトロンス型スパッタリング装置において
は、複数個のチャンバが設けられており、各チャンバ内
に1種類のターゲットが配設されている。そして、一の
チャンバ内で特定のターゲットを使用してスパッタリン
グした後、ウエハを他のチャンバ内に移動させることに
より、この他のチャンバ内で他のターゲットを使用して
スパッタリングする。このようにして、ウエハを各チャ
ンバ内で移動させることにより、ウエハ上に多層膜を形
成していた。
は、複数個のチャンバが設けられており、各チャンバ内
に1種類のターゲットが配設されている。そして、一の
チャンバ内で特定のターゲットを使用してスパッタリン
グした後、ウエハを他のチャンバ内に移動させることに
より、この他のチャンバ内で他のターゲットを使用して
スパッタリングする。このようにして、ウエハを各チャ
ンバ内で移動させることにより、ウエハ上に多層膜を形
成していた。
[発明が解決しようとする課題] しかしながら、上述したように従来のマグネトロン型
スパッタリング装置では、コンタミネーションフリーの
多層膜を得るためには、マルチチャンバー化が必要であ
る。このため、従来は、装置が大きく、且つ、複雑にな
ると共に、高価になるという欠点がある。
スパッタリング装置では、コンタミネーションフリーの
多層膜を得るためには、マルチチャンバー化が必要であ
る。このため、従来は、装置が大きく、且つ、複雑にな
ると共に、高価になるという欠点がある。
即ち、シングルチャンバで多層膜を形成しようとする
と、一層をスパッタリング形成した後、チャンバ内の真
空をやぶり、別の種類のターゲットを交換する必要があ
り、この間にウエハ表面にコンタミネーションが発生し
てしまう。
と、一層をスパッタリング形成した後、チャンバ内の真
空をやぶり、別の種類のターゲットを交換する必要があ
り、この間にウエハ表面にコンタミネーションが発生し
てしまう。
本発明はかかる問題点に鑑みてなされたものであっ
て、シングルチャンバの装置であってもコンタミネーシ
ョンがない多層膜を形成することができるマグネトロン
型スパッタリング装置を提供することを目的とする。
て、シングルチャンバの装置であってもコンタミネーシ
ョンがない多層膜を形成することができるマグネトロン
型スパッタリング装置を提供することを目的とする。
[課題を解決するための手段] 本発明に係るマグネトロン型スパッタリング装置は、
スパッタリングチャンバと、このスパッタリングチャン
バ内に配設され複数種類のターゲットを支持する支持手
段と、前記スパッタリングチャンバ内に配設され各ター
ゲットを所定のスパッタリング位置に順次的に位置させ
る駆動手段と、前記スパッタリングチャンバ内に配設さ
れ前記所定のスパッタリング位置に位置したターゲット
にウエハを正対させるウエハ正対手段と、前記スパッタ
リングチャンバに接続されウエハをプリエッチングする
エッチングチャンバと、前記エッチングチャンバから前
記スパッタリングチャンバにウエハを大気に曝すことな
く移動させる移動手段とを有し、ウエハをプリエッチン
グした後、大気に曝すことなく、多層膜を形成すること
を特徴とする。
スパッタリングチャンバと、このスパッタリングチャン
バ内に配設され複数種類のターゲットを支持する支持手
段と、前記スパッタリングチャンバ内に配設され各ター
ゲットを所定のスパッタリング位置に順次的に位置させ
る駆動手段と、前記スパッタリングチャンバ内に配設さ
れ前記所定のスパッタリング位置に位置したターゲット
にウエハを正対させるウエハ正対手段と、前記スパッタ
リングチャンバに接続されウエハをプリエッチングする
エッチングチャンバと、前記エッチングチャンバから前
記スパッタリングチャンバにウエハを大気に曝すことな
く移動させる移動手段とを有し、ウエハをプリエッチン
グした後、大気に曝すことなく、多層膜を形成すること
を特徴とする。
[作用] 本発明においては、支持手段に支持された複数種類の
ターゲットのうち、特定のものを駆動手段により所定の
スパッタリング位置に位置させ、ウエハ正対手段によ
り、ウエハをこのターゲットに正対させる。そして、こ
のターゲットをスパッタリングすることによりウエハ上
にターゲットの構成元素の膜を被着させる。次いで、駆
動手段により、他のターゲットを前記所定のスパッタリ
ング位置に位置させ、同様にスパッタリングすることに
より、この他のターゲットの構成元素の膜をウエハ上に
被着させる。このようにして、同一チャンバ内で異なる
種類の多層膜をウエハ上に形成することができる。
ターゲットのうち、特定のものを駆動手段により所定の
スパッタリング位置に位置させ、ウエハ正対手段によ
り、ウエハをこのターゲットに正対させる。そして、こ
のターゲットをスパッタリングすることによりウエハ上
にターゲットの構成元素の膜を被着させる。次いで、駆
動手段により、他のターゲットを前記所定のスパッタリ
ング位置に位置させ、同様にスパッタリングすることに
より、この他のターゲットの構成元素の膜をウエハ上に
被着させる。このようにして、同一チャンバ内で異なる
種類の多層膜をウエハ上に形成することができる。
[実施例] 次に、本発明の実施例について添付の図面を参照して
説明する。
説明する。
第1図は本発明の実施例に係るマグネトロン型スパッ
タリング装置を示す平面断面図、第2図は同じくその縦
断面図である。
タリング装置を示す平面断面図、第2図は同じくその縦
断面図である。
アンローダ及びローダ14からウエハ1がその面を水平
にしてバッファチャンバ13内に装入され、また、バッフ
ァチャンバ13内のウエハ1はアンローダ及びローダ14を
介してチャンバ外に排出されるようになっている。バッ
ファチャンバ13内は適宜の真空排気手段により、真空状
態にされる。ウエハ1はこのバッファチャンバ13とエッ
チングチャンバ12との間を仕切る扉(図示せず)を開に
することにより、両チャンバ12,13間で移動させること
ができる。
にしてバッファチャンバ13内に装入され、また、バッフ
ァチャンバ13内のウエハ1はアンローダ及びローダ14を
介してチャンバ外に排出されるようになっている。バッ
ファチャンバ13内は適宜の真空排気手段により、真空状
態にされる。ウエハ1はこのバッファチャンバ13とエッ
チングチャンバ12との間を仕切る扉(図示せず)を開に
することにより、両チャンバ12,13間で移動させること
ができる。
エッチングチャンバ12内には、エッチング装置15が設
置されており、このエッチング装置15は高周波電源16か
ら高周波電力を供給されてウエハ1の表面をエッチング
する。
置されており、このエッチング装置15は高周波電源16か
ら高周波電力を供給されてウエハ1の表面をエッチング
する。
エッチングチャンバ12とスパッタリングチャンバ11と
の間も扉(図示せず)により仕切られており、この扉を
開けることにより、エッチングチャンバ12とスパッタリ
ングチャンバ11との間でウエハ1を受け渡しすることが
できる。
の間も扉(図示せず)により仕切られており、この扉を
開けることにより、エッチングチャンバ12とスパッタリ
ングチャンバ11との間でウエハ1を受け渡しすることが
できる。
スパッタリングチャンバ11内にはウエハ1をその面が
垂直になるように起立させるウエハピックアップ装置2
が設置されており、エッチングチャンバ12からその面を
水平にしてスパッタリングチャンバ11内に搬入されたウ
エハ1をこのピックアップ装置2によりその所定のスパ
ッタリング位置にて起立させるようになっている。
垂直になるように起立させるウエハピックアップ装置2
が設置されており、エッチングチャンバ12からその面を
水平にしてスパッタリングチャンバ11内に搬入されたウ
エハ1をこのピックアップ装置2によりその所定のスパ
ッタリング位置にて起立させるようになっている。
スパッタリングチャンバ11内には、ターゲット3の支
持装置4も配設されている。このターゲット支持装置4
はその下部に回転テーブル5がその回転軸を鉛直にして
設置されており、回転テーブル5には4枚のシールド板
6がその面を垂直にして取付られている。各シールド板
6は回転テーブル5の回転軸を中心にする4等配の位置
に配設されている。
持装置4も配設されている。このターゲット支持装置4
はその下部に回転テーブル5がその回転軸を鉛直にして
設置されており、回転テーブル5には4枚のシールド板
6がその面を垂直にして取付られている。各シールド板
6は回転テーブル5の回転軸を中心にする4等配の位置
に配設されている。
各シールド板6の中央には円形の孔7が開口されてお
り、この孔7にはシールド板6の回転テーブル5側の面
(以下、背面という)からターゲット3が嵌め込まれて
設置されている。従って、所定のスパッタリング位置に
て、起立したウエハ1に対し、シールド板6が正対した
ときは、シールド板6に設けられた孔7を介してターゲ
ット3もウエハ1に正対する。
り、この孔7にはシールド板6の回転テーブル5側の面
(以下、背面という)からターゲット3が嵌め込まれて
設置されている。従って、所定のスパッタリング位置に
て、起立したウエハ1に対し、シールド板6が正対した
ときは、シールド板6に設けられた孔7を介してターゲ
ット3もウエハ1に正対する。
回転テーブル5は適宜の駆動源により回転駆動され、
4枚のターゲット3を順次ウエハ1に正対させる。な
お、各ターゲット3の背面にはターゲット3を冷却する
冷却装置8が設けられている。
4枚のターゲット3を順次ウエハ1に正対させる。な
お、各ターゲット3の背面にはターゲット3を冷却する
冷却装置8が設けられている。
このように構成されたスパッタリング装置において
は、先ず、ウエハ1をその表面を水平にしてアンローダ
及びローダ14から大気圧下のバッファチャンバ13内に装
入する。そして、バッファチャンバ13内を真空に排気し
た後、ウエハ1を高真空のエッチングチャンバ12内に移
す。ウエハ1はこのエッチングチャンバ12内でプリエッ
チングされてその表面のコンタミネーション層が除去さ
れる。その後、ウエハ1をエッチングチャンバ12からス
パッタリングチャンバ11内に移す。
は、先ず、ウエハ1をその表面を水平にしてアンローダ
及びローダ14から大気圧下のバッファチャンバ13内に装
入する。そして、バッファチャンバ13内を真空に排気し
た後、ウエハ1を高真空のエッチングチャンバ12内に移
す。ウエハ1はこのエッチングチャンバ12内でプリエッ
チングされてその表面のコンタミネーション層が除去さ
れる。その後、ウエハ1をエッチングチャンバ12からス
パッタリングチャンバ11内に移す。
このスパッタリングチャンバ11内において、ピックア
ップ装置2によりウエハ1が起立され、ウエハ1は所定
のスパッタリング位置にてその膜形成面を垂直にして固
定される。適宜の駆動手段により、回転駆動された回転
テーブル5は、ウエハ1上に形成すべき膜の構成元素か
らなるターゲット3をウエハ1との正対位置に回転移動
させ、シールド板6の孔7を介してウエハ1と所望のタ
ーゲット3とを相互に平行になるようにした正対させ
る。そして、冷却装置8によりターゲット3を冷却しつ
つ、ターゲット3をスパッタリングすることにより、ウ
エハ1の膜形成面に第1層を被着させる。
ップ装置2によりウエハ1が起立され、ウエハ1は所定
のスパッタリング位置にてその膜形成面を垂直にして固
定される。適宜の駆動手段により、回転駆動された回転
テーブル5は、ウエハ1上に形成すべき膜の構成元素か
らなるターゲット3をウエハ1との正対位置に回転移動
させ、シールド板6の孔7を介してウエハ1と所望のタ
ーゲット3とを相互に平行になるようにした正対させ
る。そして、冷却装置8によりターゲット3を冷却しつ
つ、ターゲット3をスパッタリングすることにより、ウ
エハ1の膜形成面に第1層を被着させる。
次いで、回転テーブル5を回転駆動することにより、
他の構成元素からなるターゲット3を同様にしてウエハ
1に正対させ、このターゲット3をスパッタリングする
ことによりウエハ1の第1層上に第2層を被着させる。
他の構成元素からなるターゲット3を同様にしてウエハ
1に正対させ、このターゲット3をスパッタリングする
ことによりウエハ1の第1層上に第2層を被着させる。
このようにして、4種のターゲット3を順次ウエハ1
に正対させてスパッタリングすることにより、4層の薄
膜をウエハ1上に積層させて堆積させる。これにより、
同一のチャンバ11内において、即ち途中でウエハ1をこ
のチャンバ11内から外部に取り出すことなく、4種類の
材料からなる多層膜を形成することができる。
に正対させてスパッタリングすることにより、4層の薄
膜をウエハ1上に積層させて堆積させる。これにより、
同一のチャンバ11内において、即ち途中でウエハ1をこ
のチャンバ11内から外部に取り出すことなく、4種類の
材料からなる多層膜を形成することができる。
多層膜形成後のウエハ1はスパッタリングチャンバ11
からエッチングチャンバ12を介してバッファチャンバ13
に戻され、このバッファチャンバ13にて大気圧雰囲気に
した後、アンローダ及びローダ14を介して外部に取り出
される。
からエッチングチャンバ12を介してバッファチャンバ13
に戻され、このバッファチャンバ13にて大気圧雰囲気に
した後、アンローダ及びローダ14を介して外部に取り出
される。
なお、3層膜又は2層膜の場合には、前述の4種のタ
ーゲット3の一部のみを使用すればよいことは勿論であ
る。また、材料が異なる5層以上の多層膜を形成する場
合は、チャンバ11内に5種類以上のターゲット3を設置
すればよい。
ーゲット3の一部のみを使用すればよいことは勿論であ
る。また、材料が異なる5層以上の多層膜を形成する場
合は、チャンバ11内に5種類以上のターゲット3を設置
すればよい。
第3図は本発明の他の実施例を示す平面断面図であ
る。第3図において、第1図及び第2図と同一物には同
一符号を付して説明を省略する。
る。第3図において、第1図及び第2図と同一物には同
一符号を付して説明を省略する。
本実施例においては、回転テーブル5の周囲に角筒を
構成するように配置された4個のシールド板6に対し、
その内の3個のシールド板と面して夫々スパッタリング
チャンバ11a,11b,11cが配設されている。各スパッタリ
ングチャンバ11a,11b,11c内には各シールド板6に嵌合
されたターゲット3にウエハ1を正対させるウエハピッ
クアップ装置2が設けられている。
構成するように配置された4個のシールド板6に対し、
その内の3個のシールド板と面して夫々スパッタリング
チャンバ11a,11b,11cが配設されている。各スパッタリ
ングチャンバ11a,11b,11c内には各シールド板6に嵌合
されたターゲット3にウエハ1を正対させるウエハピッ
クアップ装置2が設けられている。
そして、各スパッタリングチャンバ11a,11b,11cに
は、夫々エッチングチャンバ12a,12b,12cと、バッファ
チャンバ13a,13b,13cと、アンローダ及びローダ14a,14
b,14cとが夫々この順に連結されており、前述の第1の
実施例と同様にしてウエハ1はスパッタリングチャンバ
11a,11b,11cに搬入される。そして、同様にして3枚の
ウエハ1上には夫々対向するターゲット3のスパッタリ
ングにより同時に金属膜が堆積される。
は、夫々エッチングチャンバ12a,12b,12cと、バッファ
チャンバ13a,13b,13cと、アンローダ及びローダ14a,14
b,14cとが夫々この順に連結されており、前述の第1の
実施例と同様にしてウエハ1はスパッタリングチャンバ
11a,11b,11cに搬入される。そして、同様にして3枚の
ウエハ1上には夫々対向するターゲット3のスパッタリ
ングにより同時に金属膜が堆積される。
本実施例によれば、第1図及び第2図に示す実施例の
1カセット処理に対し、同時に3カセット処理すること
が可能に構成したものであり、装置は若干大きく複雑に
なるものの、スパッタリング処理のスループットを前述
の実施例の約3倍に高めることができる。
1カセット処理に対し、同時に3カセット処理すること
が可能に構成したものであり、装置は若干大きく複雑に
なるものの、スパッタリング処理のスループットを前述
の実施例の約3倍に高めることができる。
[発明の効果] 以上説明したように本発明によれば、同一のチャンバ
内にウエハを保持したまま、複数個のターゲットを所定
のスパッタリング位置に順次的に位置させてスパッタリ
ングするから、コンタミネーションフリーの多層膜をシ
ングルチャンバの簡素な構造の装置により形成すること
ができる。
内にウエハを保持したまま、複数個のターゲットを所定
のスパッタリング位置に順次的に位置させてスパッタリ
ングするから、コンタミネーションフリーの多層膜をシ
ングルチャンバの簡素な構造の装置により形成すること
ができる。
第1図は本発明の実施例に係るスパッタリング装置を示
す平面断面図、第2図は同じくその縦断面図、第3図は
本発明の他の実施例に係るスパッタリング装置を示す平
面断面図である。 1;ウエハ、2;ウエハピックアップ装置、3;ターゲット、
5;回転テーブル、6;シールド板、7;孔、8;冷却装置、1
1,11a,11b,11c;スパッタリングチャンバ、12,12a,12b,1
2c;エッチングチャンバ、13,13a,13b,13c;バッファチャ
ンバ、14,14a,14b,14c;アンローダ及びローダ、15;エッ
チング装置
す平面断面図、第2図は同じくその縦断面図、第3図は
本発明の他の実施例に係るスパッタリング装置を示す平
面断面図である。 1;ウエハ、2;ウエハピックアップ装置、3;ターゲット、
5;回転テーブル、6;シールド板、7;孔、8;冷却装置、1
1,11a,11b,11c;スパッタリングチャンバ、12,12a,12b,1
2c;エッチングチャンバ、13,13a,13b,13c;バッファチャ
ンバ、14,14a,14b,14c;アンローダ及びローダ、15;エッ
チング装置
Claims (1)
- 【請求項1】スパッタリングチャンバと、このスパッタ
リングチャンバ内に配設され複数種類のターゲットを支
持する支持手段と、前記スパッタリングチャンバ内に配
設され各ターゲットを所定のスパッタリング位置に順次
的に位置させる駆動手段と、前記スパッタリングチャン
バ内に配設され前記所定のスパッタリング位置に位置し
たターゲットにウエハを正対させるウエハ正対手段と、
前記スパッタリングチャンバに接続されウエハをプリエ
ッチングするエッチングチャンバと、前記エッチングチ
ャンバから前記スパッタリングチャンバにウエハを大気
に曝すことなく移動させる移動手段とを有し、ウエハを
プリエッチングした後、大気に曝すことなく、多層膜を
形成することを特徴とするマグネトロン型スパッタリン
グ装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP63234183A JP2762479B2 (ja) | 1988-09-19 | 1988-09-19 | マグネトロン型スパッタリング装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP63234183A JP2762479B2 (ja) | 1988-09-19 | 1988-09-19 | マグネトロン型スパッタリング装置 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH0285364A JPH0285364A (ja) | 1990-03-26 |
JP2762479B2 true JP2762479B2 (ja) | 1998-06-04 |
Family
ID=16966978
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP63234183A Expired - Lifetime JP2762479B2 (ja) | 1988-09-19 | 1988-09-19 | マグネトロン型スパッタリング装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP2762479B2 (ja) |
Families Citing this family (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2688555B2 (ja) * | 1992-04-27 | 1997-12-10 | 株式会社日立製作所 | マルチチャンバシステム |
JPH07258839A (ja) * | 1994-03-18 | 1995-10-09 | Hitachi Ltd | スパッタリング装置 |
JP4788880B2 (ja) * | 2005-07-22 | 2011-10-05 | 独立行政法人物質・材料研究機構 | バルブ金属酸化物ナノ構造体の製造方法 |
Family Cites Families (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS644472A (en) * | 1987-06-25 | 1989-01-09 | Toshiba Corp | Sputtering device |
-
1988
- 1988-09-19 JP JP63234183A patent/JP2762479B2/ja not_active Expired - Lifetime
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JPH0285364A (ja) | 1990-03-26 |
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