JPH0285364A - マグネトロン型スパッタリング装置 - Google Patents
マグネトロン型スパッタリング装置Info
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- JPH0285364A JPH0285364A JP23418388A JP23418388A JPH0285364A JP H0285364 A JPH0285364 A JP H0285364A JP 23418388 A JP23418388 A JP 23418388A JP 23418388 A JP23418388 A JP 23418388A JP H0285364 A JPH0285364 A JP H0285364A
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- 238000004544 sputter deposition Methods 0.000 title claims abstract description 51
- 238000005530 etching Methods 0.000 abstract description 15
- 238000011109 contamination Methods 0.000 abstract description 6
- 239000000470 constituent Substances 0.000 abstract description 5
- XLYOFNOQVPJJNP-UHFFFAOYSA-N water Substances O XLYOFNOQVPJJNP-UHFFFAOYSA-N 0.000 abstract 2
- 235000012431 wafers Nutrition 0.000 description 46
- 239000010408 film Substances 0.000 description 21
- 238000001816 cooling Methods 0.000 description 4
- 238000001755 magnetron sputter deposition Methods 0.000 description 2
- 239000000463 material Substances 0.000 description 2
- 230000015572 biosynthetic process Effects 0.000 description 1
- 238000000151 deposition Methods 0.000 description 1
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 1
- 239000002184 metal Substances 0.000 description 1
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 description 1
- 239000000758 substrate Substances 0.000 description 1
- 239000010409 thin film Substances 0.000 description 1
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- Prevention Of Fouling (AREA)
- Crystals, And After-Treatments Of Crystals (AREA)
- Physical Vapour Deposition (AREA)
- Electrodes Of Semiconductors (AREA)
- Internal Circuitry In Semiconductor Integrated Circuit Devices (AREA)
- Physical Deposition Of Substances That Are Components Of Semiconductor Devices (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
[産業上の利用分野]
本発明は、半導体基板上に複数層のスパッタリング膜を
形成する際に各スパッタリング膜間での汚染を防止した
マグネトロン型スパッタリング装置に関する。
形成する際に各スパッタリング膜間での汚染を防止した
マグネトロン型スパッタリング装置に関する。
[従来の技術]
従来のマグネトロン型スパッタリング装置においては、
複数個のチャンバが設けられており、各チャンバ内に1
種類のターゲットが配設されている。そして、−のチャ
ンバ内で特定のターゲットを使用してスパッタリングし
た後、ウェハを他のチャンバ内に移動させることにより
、この他のチャンバ内で他のターゲットを使用してスパ
ッタリングする。このようにして、ウェハを各チャンバ
間で移動させることにより、ウェハ上に多層膜を形成し
ていた。
複数個のチャンバが設けられており、各チャンバ内に1
種類のターゲットが配設されている。そして、−のチャ
ンバ内で特定のターゲットを使用してスパッタリングし
た後、ウェハを他のチャンバ内に移動させることにより
、この他のチャンバ内で他のターゲットを使用してスパ
ッタリングする。このようにして、ウェハを各チャンバ
間で移動させることにより、ウェハ上に多層膜を形成し
ていた。
[発明が解決しようとする課題]
しかしながら、上述したように従来のマグネトロン型ス
パッタリング装置では、コンタミネーションフリーの多
層膜を得るためには、マルチチャンバー化が必要である
。このため、従来は、装置が大きく、且つ、複雑になる
と共に、高価になるという欠点がある。
パッタリング装置では、コンタミネーションフリーの多
層膜を得るためには、マルチチャンバー化が必要である
。このため、従来は、装置が大きく、且つ、複雑になる
と共に、高価になるという欠点がある。
即ち、シングルチャンバで多層膜を形成しようとすると
、−層をスパッタリング形成した後、チャンバ内の真空
をやぶり、別の種類のターゲットを交換する必要があり
、この間にウェハ表面にコンタミネーションが発生して
しまう。
、−層をスパッタリング形成した後、チャンバ内の真空
をやぶり、別の種類のターゲットを交換する必要があり
、この間にウェハ表面にコンタミネーションが発生して
しまう。
本発明はかかる問題点に鑑みてなされたものであって、
シングルチャンバの装置であってもコンタミネーション
がない多層膜を形成することができるマグネトロン型ス
パッタリング装置を提供することを目的とする。
シングルチャンバの装置であってもコンタミネーション
がない多層膜を形成することができるマグネトロン型ス
パッタリング装置を提供することを目的とする。
[課題を解決するための手段]
本発明に係るマグネトロン型スパッタリング装置は、チ
ャンバ内に配設され複数種類のターゲットを支持する支
持手段と、各ターゲットを所定のスパッタリング位置に
順次的に位置させる駆動手段と、前記所定のスパッタリ
ング位置に位置したターゲットにウェハを正対させ、る
ウェハ正対手段と、を有し、前記ウェハに対し同一チャ
ンバ内でスパッタリングにより多層膜を形成することを
特徴とする。
ャンバ内に配設され複数種類のターゲットを支持する支
持手段と、各ターゲットを所定のスパッタリング位置に
順次的に位置させる駆動手段と、前記所定のスパッタリ
ング位置に位置したターゲットにウェハを正対させ、る
ウェハ正対手段と、を有し、前記ウェハに対し同一チャ
ンバ内でスパッタリングにより多層膜を形成することを
特徴とする。
[作用コ
本発明においては、支持手段に支持された複数種類のタ
ーゲットのうち、特定のものを駆動手段により所定のス
パッタリング位置に位置させ、ウェハ正対手段により、
ウェハをこのターゲットに正対させる。そして、このタ
ーゲットをスパッタリングすることによりウェハ上にタ
ーゲットの構成元素の膜を被着させる0次いで、駆動手
段により、他のターゲットを前記所定のスパッタリング
位置に位置させ、同様にスパッタリングすることにより
、この他のターゲットの構成元素の膜をウェハ上に被着
させる。このようにして、同一チャンバ内で異なる種類
の多層膜をウェハ上に形成することができる。
ーゲットのうち、特定のものを駆動手段により所定のス
パッタリング位置に位置させ、ウェハ正対手段により、
ウェハをこのターゲットに正対させる。そして、このタ
ーゲットをスパッタリングすることによりウェハ上にタ
ーゲットの構成元素の膜を被着させる0次いで、駆動手
段により、他のターゲットを前記所定のスパッタリング
位置に位置させ、同様にスパッタリングすることにより
、この他のターゲットの構成元素の膜をウェハ上に被着
させる。このようにして、同一チャンバ内で異なる種類
の多層膜をウェハ上に形成することができる。
[実施例]
次に、本発明の実施例について添付の図面を参照して説
明する。
明する。
第1図は本発明の実施例に係るマグネトロン型スパッタ
リング装置を示す平面断面図、第2図は同じくその縦断
面図である。
リング装置を示す平面断面図、第2図は同じくその縦断
面図である。
アンローダ及びローダ14がらウェハ1がその面を水平
にしてバッファチャンバ13内に装入され、また、バッ
ファチャンバ13内のウェハ1はアンローダ及びローダ
14を介してチャンバ外に排出されるようになっている
。バッファチャンバ13内は適宜の真空排気手段により
、真空状態にされる。ウェハ1はこのバッファチャンバ
13とエツチングチャンバ12との間を仕切る扉(図示
せず)を開にすることにより、両チャンバ12゜13間
で移動させることができる。
にしてバッファチャンバ13内に装入され、また、バッ
ファチャンバ13内のウェハ1はアンローダ及びローダ
14を介してチャンバ外に排出されるようになっている
。バッファチャンバ13内は適宜の真空排気手段により
、真空状態にされる。ウェハ1はこのバッファチャンバ
13とエツチングチャンバ12との間を仕切る扉(図示
せず)を開にすることにより、両チャンバ12゜13間
で移動させることができる。
エツチングチャンバ12内には、エツチング装置15が
設置されており、このエツチング装置15は高周波電源
16から高周波電力を供給されてウェハ1の表面をエツ
チングする。
設置されており、このエツチング装置15は高周波電源
16から高周波電力を供給されてウェハ1の表面をエツ
チングする。
エツチングチャンバ12とスパッタリングチャンバ11
との間も扉(図示せず)により仕切られており、この扉
を開けることにより、エツチングチャンバ12とスパッ
タリングチャンバ11との間でウェハ1を受は渡しする
ことができる。
との間も扉(図示せず)により仕切られており、この扉
を開けることにより、エツチングチャンバ12とスパッ
タリングチャンバ11との間でウェハ1を受は渡しする
ことができる。
スパッタリングチャンバ11内にはウェハ1をその面が
垂直になるように起立させるウェハピックアップ装置2
が設置されており、エツチングチャンバ12からその面
を水平にしてスパッタリングチャンバ11内に搬入され
たウェハ1をこのピックアップ装置2によりその所定の
スパッタリング位置にて起立させるようになっている。
垂直になるように起立させるウェハピックアップ装置2
が設置されており、エツチングチャンバ12からその面
を水平にしてスパッタリングチャンバ11内に搬入され
たウェハ1をこのピックアップ装置2によりその所定の
スパッタリング位置にて起立させるようになっている。
スパッタリングチャンバ11内には、ターゲット3の支
持装置4も配設されている。このターゲット支持装置4
はその下部に回転テーブル5がその回転軸を鉛直にして
設置されており、回転テーブル5には4枚のシールド板
6がその面を垂直にして取付られている。各シールド板
6は回転テーブル5の回転軸を中心にする4等配の位置
に配設されている。
持装置4も配設されている。このターゲット支持装置4
はその下部に回転テーブル5がその回転軸を鉛直にして
設置されており、回転テーブル5には4枚のシールド板
6がその面を垂直にして取付られている。各シールド板
6は回転テーブル5の回転軸を中心にする4等配の位置
に配設されている。
各シールド板6の中央には円形の孔7が開口されており
、この孔7にはシールド板6の回転テーブル5側の面(
以下、背面という)がらターゲット3が嵌め込まれて設
置されている。従って、所定のスパッタリング位置にて
、起立したウェハ1に対し、シールド板6が正対したと
きは、シールド板6に設けられた孔7を介してターゲッ
ト3もウェハ1に正対する。
、この孔7にはシールド板6の回転テーブル5側の面(
以下、背面という)がらターゲット3が嵌め込まれて設
置されている。従って、所定のスパッタリング位置にて
、起立したウェハ1に対し、シールド板6が正対したと
きは、シールド板6に設けられた孔7を介してターゲッ
ト3もウェハ1に正対する。
回転テーブル5は適宜の駆動源により回転駆動され、4
枚のターゲット3を順次ウェハ1に正対させる、なお、
各ターゲット3の背面にはターゲット3を冷却する冷却
装置8が設けられている。
枚のターゲット3を順次ウェハ1に正対させる、なお、
各ターゲット3の背面にはターゲット3を冷却する冷却
装置8が設けられている。
このように構成されたスパッタリング装置においては、
先ず、ウェハ1をその面を水平にしてアンローダ及びロ
ーダ14から大気圧下のバッファチャンバ13内に装入
する。そして、バッファチャンバ13内を真空に排気し
た後、ウェハ1を高真空のエツチングチャンバ12内に
移す。ウェハ1はこのエツチングチャンバ12内でプリ
エツチングされてその表面のコンタミネーション層が除
去される。その後、ウェハ1をエツチングチャンバ12
からスパッタリングチャンバ11内に移す。
先ず、ウェハ1をその面を水平にしてアンローダ及びロ
ーダ14から大気圧下のバッファチャンバ13内に装入
する。そして、バッファチャンバ13内を真空に排気し
た後、ウェハ1を高真空のエツチングチャンバ12内に
移す。ウェハ1はこのエツチングチャンバ12内でプリ
エツチングされてその表面のコンタミネーション層が除
去される。その後、ウェハ1をエツチングチャンバ12
からスパッタリングチャンバ11内に移す。
このスパッタリングチャンバ11内において、ピックア
ップ装置2によりウェハ1が起立され、ウェハ1は所定
のスパッタリング位置にてその膜形成面を垂直にして固
定される。適宜の駆動手段により、回転駆動された回転
テーブル5は、ウェハ1上に形成すべき膜の構成元素か
らなるターゲット3をウェハ1との正対位置に回転移動
させ、シールド板6の孔7を介してウェハ1と所望のタ
ーゲット3とを相互に平行になるようにして正対させる
。そして、冷却装置8によりターゲット3を冷却しつつ
、ターゲット3をスパッタリングすることにより、ウェ
ハ1の膜形成面に第1層を被着させる。
ップ装置2によりウェハ1が起立され、ウェハ1は所定
のスパッタリング位置にてその膜形成面を垂直にして固
定される。適宜の駆動手段により、回転駆動された回転
テーブル5は、ウェハ1上に形成すべき膜の構成元素か
らなるターゲット3をウェハ1との正対位置に回転移動
させ、シールド板6の孔7を介してウェハ1と所望のタ
ーゲット3とを相互に平行になるようにして正対させる
。そして、冷却装置8によりターゲット3を冷却しつつ
、ターゲット3をスパッタリングすることにより、ウェ
ハ1の膜形成面に第1層を被着させる。
次いで、回転テーブル5を回転駆動することにより、他
の構成元素からなるターゲット3を同様にしてウェハ1
に正対させ、このターゲット3をスパッタリングするこ
とによりウェハ1の第1M上に第2層を被着させる。
の構成元素からなるターゲット3を同様にしてウェハ1
に正対させ、このターゲット3をスパッタリングするこ
とによりウェハ1の第1M上に第2層を被着させる。
このようにして、4種のターゲット3を順次ウェハ1に
正対させてスパッタリングすることにより、4層の薄膜
をウェハ1上に積層させて堆積させる。これにより、同
一のチャンバ11内において、即ち途中でウェハ1をこ
のチャンバ11内から外部に取り出すことなく、4種類
の材料からなる多層膜を形成することができる。
正対させてスパッタリングすることにより、4層の薄膜
をウェハ1上に積層させて堆積させる。これにより、同
一のチャンバ11内において、即ち途中でウェハ1をこ
のチャンバ11内から外部に取り出すことなく、4種類
の材料からなる多層膜を形成することができる。
多層膜形成後のウェハ1はスパッタリングチャンバ11
からエツチングチャンバ12を介してバッファチャンバ
13に戻され、このバッファチャンバ13にて大気圧雰
囲気にした後、アンローダ及びローダ14を介して外部
に取り出される。
からエツチングチャンバ12を介してバッファチャンバ
13に戻され、このバッファチャンバ13にて大気圧雰
囲気にした後、アンローダ及びローダ14を介して外部
に取り出される。
なお、3層膜又は2層膜の場合には、前述の4種のター
ゲット3の一部のみを使用すればよいことは勿論である
。また、材料が異なる5層以上の多層膜を形成する場合
は、チャンバ11内に5種類以上のターゲット3を設置
すればよい。
ゲット3の一部のみを使用すればよいことは勿論である
。また、材料が異なる5層以上の多層膜を形成する場合
は、チャンバ11内に5種類以上のターゲット3を設置
すればよい。
第3図は′本発明の他の実施例を示す平面断面図である
。第3図において、第1図及び第2図と同一物には同一
符号を付して説明を省略する。
。第3図において、第1図及び第2図と同一物には同一
符号を付して説明を省略する。
本実施例においては、回転テーブル5の周囲に角筒を構
成するように配置された4個のシールド板6に対し、そ
の内の3個のシールド板と面して夫々スパッタリングチ
ャンバlla、llb、11cが配設されている。各ス
パッタリングチャンバlla、llb、llc内には各
シールド板6に嵌合されたターゲット3にウェハ1を正
対させるウェハピックアップ装置2が設けられている。
成するように配置された4個のシールド板6に対し、そ
の内の3個のシールド板と面して夫々スパッタリングチ
ャンバlla、llb、11cが配設されている。各ス
パッタリングチャンバlla、llb、llc内には各
シールド板6に嵌合されたターゲット3にウェハ1を正
対させるウェハピックアップ装置2が設けられている。
そして、各スパッタリングチャンバlia、11b、l
lcには、夫々エツチングチャンバ12a、12b、1
2cと、バッファチャンバ13a。
lcには、夫々エツチングチャンバ12a、12b、1
2cと、バッファチャンバ13a。
13b、13cと、アンローダ及びローダ14a。
14b、14cとが夫々この順に連結されており、前述
の第1の実施例と同様にしてウェハ1はスパッタリング
チャンバlla、llb、llcに搬入される。そして
、同様にして3枚のウェハ1上には夫々対向するターゲ
ット3のスパッタリングにより同時に金属膜が堆積され
る。
の第1の実施例と同様にしてウェハ1はスパッタリング
チャンバlla、llb、llcに搬入される。そして
、同様にして3枚のウェハ1上には夫々対向するターゲ
ット3のスパッタリングにより同時に金属膜が堆積され
る。
本実施例によれば、第1図及び第2図に示す実施例の1
カセツト処理に対し、同時に3カセツト処理することが
可能に構成したものであり、装置は若干大きく複雑にな
るものの、スパッタリング処理のスループットを前述の
実施例の約3倍に高めることができる。
カセツト処理に対し、同時に3カセツト処理することが
可能に構成したものであり、装置は若干大きく複雑にな
るものの、スパッタリング処理のスループットを前述の
実施例の約3倍に高めることができる。
[発明の効果]
以上説明したように本発明によれば、同一のチャンバ内
にウェハを保持したまま、複数個のターゲットを所定の
スパッタリング位置に順次的に位置させてスパッタリン
グするから、コンタミネーションフリーめ多層膜をシン
グルチャンバの簡素な構造の装置により形成することが
できる。
にウェハを保持したまま、複数個のターゲットを所定の
スパッタリング位置に順次的に位置させてスパッタリン
グするから、コンタミネーションフリーめ多層膜をシン
グルチャンバの簡素な構造の装置により形成することが
できる。
第1図は本発明の実施例に係るスパッタリング装置を示
す平面断面図、第2図は同じくその縦断面図、第3図は
本発明の他の実施例に係るスパッタリング装置を示す平
面断面図である。 1;ウェハ、2;ウェハピックアップ装置、3;ターゲ
ット、5一回転テーブル、6;シールド板、7;孔、8
;冷却装置、11.lla、11b、llc;スパッタ
リングチャンバ、12,12a、12b、12c;エツ
チングチャンバ、13.13a、13b、13c ;バ
ッファチャンバ14.14a、14b、14c;アンロ
ーダ及びローダ、15;エツチング装置
す平面断面図、第2図は同じくその縦断面図、第3図は
本発明の他の実施例に係るスパッタリング装置を示す平
面断面図である。 1;ウェハ、2;ウェハピックアップ装置、3;ターゲ
ット、5一回転テーブル、6;シールド板、7;孔、8
;冷却装置、11.lla、11b、llc;スパッタ
リングチャンバ、12,12a、12b、12c;エツ
チングチャンバ、13.13a、13b、13c ;バ
ッファチャンバ14.14a、14b、14c;アンロ
ーダ及びローダ、15;エツチング装置
Claims (1)
- (1)チャンバ内に配設され複数種類のターゲットを支
持する支持手段と、各ターゲットを所定のスパッタリン
グ位置に順次的に位置させる駆動手段と、前記所定のス
パッタリング位置に位置したターゲットにウェハを正対
させるウェハ正対手段と、を有し、前記ウェハに対し同
一チャンバ内でスパッタリングにより多層膜を形成する
ことを特徴とするマグネトロン型スパッタリング装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP63234183A JP2762479B2 (ja) | 1988-09-19 | 1988-09-19 | マグネトロン型スパッタリング装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP63234183A JP2762479B2 (ja) | 1988-09-19 | 1988-09-19 | マグネトロン型スパッタリング装置 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH0285364A true JPH0285364A (ja) | 1990-03-26 |
JP2762479B2 JP2762479B2 (ja) | 1998-06-04 |
Family
ID=16966978
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP63234183A Expired - Lifetime JP2762479B2 (ja) | 1988-09-19 | 1988-09-19 | マグネトロン型スパッタリング装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP2762479B2 (ja) |
Cited By (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH05304197A (ja) * | 1992-04-27 | 1993-11-16 | Hitachi Ltd | マルチチャンバシステム |
DE19509440A1 (de) * | 1994-03-18 | 1995-09-28 | Hitachi Ltd | Sputtervorrichtung |
JP2007031731A (ja) * | 2005-07-22 | 2007-02-08 | National Institute For Materials Science | バルブ金属酸化物ナノ構造体の製造方法 |
Citations (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS644472A (en) * | 1987-06-25 | 1989-01-09 | Toshiba Corp | Sputtering device |
-
1988
- 1988-09-19 JP JP63234183A patent/JP2762479B2/ja not_active Expired - Lifetime
Patent Citations (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS644472A (en) * | 1987-06-25 | 1989-01-09 | Toshiba Corp | Sputtering device |
Cited By (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH05304197A (ja) * | 1992-04-27 | 1993-11-16 | Hitachi Ltd | マルチチャンバシステム |
DE19509440A1 (de) * | 1994-03-18 | 1995-09-28 | Hitachi Ltd | Sputtervorrichtung |
JP2007031731A (ja) * | 2005-07-22 | 2007-02-08 | National Institute For Materials Science | バルブ金属酸化物ナノ構造体の製造方法 |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JP2762479B2 (ja) | 1998-06-04 |
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