JP2738182B2 - 可変抵抗器検査装置 - Google Patents
可変抵抗器検査装置Info
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- JP2738182B2 JP2738182B2 JP3265770A JP26577091A JP2738182B2 JP 2738182 B2 JP2738182 B2 JP 2738182B2 JP 3265770 A JP3265770 A JP 3265770A JP 26577091 A JP26577091 A JP 26577091A JP 2738182 B2 JP2738182 B2 JP 2738182B2
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Description
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明は、可変抵抗器の摺動雑音
を自動的に測定しかつ良否判定を行う可変抵抗器検査装
置に関する。
を自動的に測定しかつ良否判定を行う可変抵抗器検査装
置に関する。
【０００２】
【従来の技術】従来、可変抵抗器の摺動雑音検査におい
ては、被測定可変抵抗器と基準となる低ノイズの可変抵
抗器を同一軸上に設置して回転させ、被測定可変抵抗器
からの出力電圧と、基準可変抵抗器の出力電圧を比較す
ることにより良否を判定していた。
ては、被測定可変抵抗器と基準となる低ノイズの可変抵
抗器を同一軸上に設置して回転させ、被測定可変抵抗器
からの出力電圧と、基準可変抵抗器の出力電圧を比較す
ることにより良否を判定していた。
【０００３】
【発明が解決しようとする課題】この従来の可変抵抗器
の摺動雑音検査では、基準の可変抵抗器と比較すること
により実施していた。このため基準の可変抵抗器を多数
回摺動させる必要があり、経時劣化が頻繁に発生し、保
守に多大な労力が必要な上、高信頼性の検査ができない
という欠点があった。
の摺動雑音検査では、基準の可変抵抗器と比較すること
により実施していた。このため基準の可変抵抗器を多数
回摺動させる必要があり、経時劣化が頻繁に発生し、保
守に多大な労力が必要な上、高信頼性の検査ができない
という欠点があった。
【０００４】
【課題を解決するための手段】本発明の可変抵抗器検査
装置は、可変抵抗器の摺動子を動かす制御部と、前記可
変抵抗器の両端の端子に定電圧を供給する電源部と、前
記制御部から出力される位置信号を入力し前記摺動子の
位置に相当する基準電圧を発生する基準電圧発生部と、
前記基準電圧発生部から出力される基準電圧を増幅し基
準比較電圧を出力する可変ゲイン増幅部と、前記基準比
較電圧と前記可変抵抗器の摺動子端子と両端の端子のい
ずれか一方の間に発生する摺動電圧との差をとり、摺動
雑音電圧として出力する差動増幅部と、前記摺動雑音電
圧が規格内に入っているかどうか判定する判定部とを備
えている。
装置は、可変抵抗器の摺動子を動かす制御部と、前記可
変抵抗器の両端の端子に定電圧を供給する電源部と、前
記制御部から出力される位置信号を入力し前記摺動子の
位置に相当する基準電圧を発生する基準電圧発生部と、
前記基準電圧発生部から出力される基準電圧を増幅し基
準比較電圧を出力する可変ゲイン増幅部と、前記基準比
較電圧と前記可変抵抗器の摺動子端子と両端の端子のい
ずれか一方の間に発生する摺動電圧との差をとり、摺動
雑音電圧として出力する差動増幅部と、前記摺動雑音電
圧が規格内に入っているかどうか判定する判定部とを備
えている。
【０００５】本発明の可変抵抗器検査装置は、可変抵抗
器の摺動子を動かす制御部と、摺動子端子が接地された
前記可変抵抗器の両端の端子である第１の端子と第２の
端子に定電流を供給する定電流電源部と、前記制御部か
ら出力される位置信号を入力し前記摺動子の位置に相当
する基準電圧を発生する基準電圧発生部と、前記基準電
圧発生部から出力される基準電圧を増幅し基準比較電圧
を出力する可変ゲイン増幅部と、前記第１の端子の電圧
および前記第２の端子の電圧との差を取り差摺動電圧を
出力する引算部と、前記基準比較電圧と、前記差摺動電
圧との差を取り摺動雑音電圧として出力する差動増幅部
と、前記摺動雑音電圧が規格内に入っているかどうか判
定する判定部とを備えている。
器の摺動子を動かす制御部と、摺動子端子が接地された
前記可変抵抗器の両端の端子である第１の端子と第２の
端子に定電流を供給する定電流電源部と、前記制御部か
ら出力される位置信号を入力し前記摺動子の位置に相当
する基準電圧を発生する基準電圧発生部と、前記基準電
圧発生部から出力される基準電圧を増幅し基準比較電圧
を出力する可変ゲイン増幅部と、前記第１の端子の電圧
および前記第２の端子の電圧との差を取り差摺動電圧を
出力する引算部と、前記基準比較電圧と、前記差摺動電
圧との差を取り摺動雑音電圧として出力する差動増幅部
と、前記摺動雑音電圧が規格内に入っているかどうか判
定する判定部とを備えている。
【０００６】
【実施例】次に本発明について図面を参照して説明す
る。
る。
【０００７】図１は本発明の一実施例を示すブロック図
である。
である。
【０００８】測定台１は、被測定可変抵抗器を収納し、
回転制御部２のドライブ信号ｄにより被測定可変抵抗器
の摺動子を回転させるとともに電源部３より定電圧Ｅを
受けて摺動子端子に現われる摺動電圧Ｖ0 を出力する。
回転制御部２は中央制御部８からの制御信号Ｃにより可
変抵抗摺動子を回転させるドライブ信号ｄを測定台１
へ、回転位置信号Ｐを基準電圧発生部４へ送る。
回転制御部２のドライブ信号ｄにより被測定可変抵抗器
の摺動子を回転させるとともに電源部３より定電圧Ｅを
受けて摺動子端子に現われる摺動電圧Ｖ0 を出力する。
回転制御部２は中央制御部８からの制御信号Ｃにより可
変抵抗摺動子を回転させるドライブ信号ｄを測定台１
へ、回転位置信号Ｐを基準電圧発生部４へ送る。
【０００９】基準電圧発生部４は回転制御部２から回転
位置信号Ｐを入力し、摺動子の回転位置に相当する基準
電圧Ｖs を発生する。可変ゲイン増幅部５は、基準電圧
発生部４からの基準電圧Ｖs を中央制御部８からのゲイ
ン設定信号Ｇにより増幅し、基準比較信号Ｖc を出力す
る。差動増幅部６は測定台１から摺動電圧Ｖ0 および可
変ゲイン増幅部５からの基準比較電圧Ｖc を入力し、基
準比較電圧Ｖc と摺動電圧Ｖ0 との差分をとり摺動雑音
電圧Ｖn を出力する。判定部７は、摺動雑音電圧Ｖn が
規格内に入っているかどうかを判定し判定結果ｒを中央
制御部８へ送る。また判定部７は電圧Ｖn が零である状
態も検出する。中央制御部８は制御信号Ｃにより回転制
御部２を制御し、判定部７から判定結果ｒを入力すると
ともに装置全体の制御および測定結果の出力を行う。
位置信号Ｐを入力し、摺動子の回転位置に相当する基準
電圧Ｖs を発生する。可変ゲイン増幅部５は、基準電圧
発生部４からの基準電圧Ｖs を中央制御部８からのゲイ
ン設定信号Ｇにより増幅し、基準比較信号Ｖc を出力す
る。差動増幅部６は測定台１から摺動電圧Ｖ0 および可
変ゲイン増幅部５からの基準比較電圧Ｖc を入力し、基
準比較電圧Ｖc と摺動電圧Ｖ0 との差分をとり摺動雑音
電圧Ｖn を出力する。判定部７は、摺動雑音電圧Ｖn が
規格内に入っているかどうかを判定し判定結果ｒを中央
制御部８へ送る。また判定部７は電圧Ｖn が零である状
態も検出する。中央制御部８は制御信号Ｃにより回転制
御部２を制御し、判定部７から判定結果ｒを入力すると
ともに装置全体の制御および測定結果の出力を行う。
【００１０】図２は測定台１に装着された可変抵抗器１
１と電源部３の接続図であり、可変抵抗器１１の端子Ｘ
に＋Ｅの電圧を端子Ｙに−Ｅの電圧を印加し摺動端子Ｚ
と電源部３のグランド間の電圧降下を摺動電圧Ｖ0 とし
ている。
１と電源部３の接続図であり、可変抵抗器１１の端子Ｘ
に＋Ｅの電圧を端子Ｙに−Ｅの電圧を印加し摺動端子Ｚ
と電源部３のグランド間の電圧降下を摺動電圧Ｖ0 とし
ている。
【００１１】本実施例による可変抵抗器の検査手順は、
まず摺動電圧Ｖ0 と基準電圧Ｖs の零点合わせをするた
めに基準電圧Ｖs を零に固定した状態で、判定部７に差
動増幅部６の出力である電圧Ｖn の零状態を検出させな
がら中央制御部８は制御信号Ｃにより回転制御部２を制
御して被測定可変抵抗器の摺動子を回転させ、判定部７
により電圧Ｖn が零すなわち摺動電圧Ｖ0 が零となる摺
動子の回転位置を検出し、この検出位置を零点とする摺
動子の回転位置に比例の基準電圧Ｖs を基準電圧発生部
４に発生させる。
まず摺動電圧Ｖ0 と基準電圧Ｖs の零点合わせをするた
めに基準電圧Ｖs を零に固定した状態で、判定部７に差
動増幅部６の出力である電圧Ｖn の零状態を検出させな
がら中央制御部８は制御信号Ｃにより回転制御部２を制
御して被測定可変抵抗器の摺動子を回転させ、判定部７
により電圧Ｖn が零すなわち摺動電圧Ｖ0 が零となる摺
動子の回転位置を検出し、この検出位置を零点とする摺
動子の回転位置に比例の基準電圧Ｖs を基準電圧発生部
４に発生させる。
【００１２】次に中央制御部８は制御信号Ｃにより回転
制御部２を制御して定められた摺動範囲に従って可変抵
抗器１１の摺動子を端子Ｘへ摺動させ、次に端子Ｘより
端子Ｙへ、さらに端子Ｙより零点位置へ移動させ摺動電
圧Ｖ0 を０Ｖ→＋Ｅ→０→−Ｅ→０Ｖと変化させる。こ
の時に基準電圧発生部４は、回転位置信号Ｐにより摺動
子の回転位置に相当する基準電圧Ｖs を発生する。さら
に基準電圧Ｖs は可変ゲイン増幅部５において、定めら
れた摺動範囲内で±Ｅの電圧が発生するように中央制御
部８からのゲイン設定信号Ｇにより増幅される。従って
可変ゲイン増幅部５のゲインを変化させることによっ
て、あらゆる摺動範囲に対応することができる。
制御部２を制御して定められた摺動範囲に従って可変抵
抗器１１の摺動子を端子Ｘへ摺動させ、次に端子Ｘより
端子Ｙへ、さらに端子Ｙより零点位置へ移動させ摺動電
圧Ｖ0 を０Ｖ→＋Ｅ→０→−Ｅ→０Ｖと変化させる。こ
の時に基準電圧発生部４は、回転位置信号Ｐにより摺動
子の回転位置に相当する基準電圧Ｖs を発生する。さら
に基準電圧Ｖs は可変ゲイン増幅部５において、定めら
れた摺動範囲内で±Ｅの電圧が発生するように中央制御
部８からのゲイン設定信号Ｇにより増幅される。従って
可変ゲイン増幅部５のゲインを変化させることによっ
て、あらゆる摺動範囲に対応することができる。
【００１３】さらに、差動増幅部６は測定台１から摺動
電圧Ｖ0 および可変ゲイン増幅部５から基準比較電圧Ｖ
c を入力し、基準比較電圧Ｖc と摺動電圧Ｖ0 との差分
をとり、摺動雑音電圧Ｖn を出力する。判定部７は、摺
動雑音電圧Ｖn が規格内に入っているかどうか判定し、
判定結果ｒを中央制御部８へ送る。中央制御部８は判定
結果ｒにより良否結果を作業者に知らせる。
電圧Ｖ0 および可変ゲイン増幅部５から基準比較電圧Ｖ
c を入力し、基準比較電圧Ｖc と摺動電圧Ｖ0 との差分
をとり、摺動雑音電圧Ｖn を出力する。判定部７は、摺
動雑音電圧Ｖn が規格内に入っているかどうか判定し、
判定結果ｒを中央制御部８へ送る。中央制御部８は判定
結果ｒにより良否結果を作業者に知らせる。
【００１４】図３は本発明の他の実施例を示すブロック
図である。
図である。
【００１５】図３に示す実施例において回転制御部２，
基準電圧発生部４，可変ゲイン増幅部５，差動増幅部
６，判定部７および中央制御部８は図１に示すものと同
一である。図４は図３中の測定台１２に装着される被測
定可変抵抗器１１と定電流電源部１３との接続回路図で
ある。
基準電圧発生部４，可変ゲイン増幅部５，差動増幅部
６，判定部７および中央制御部８は図１に示すものと同
一である。図４は図３中の測定台１２に装着される被測
定可変抵抗器１１と定電流電源部１３との接続回路図で
ある。
【００１６】測定台１２は電源部１３より２つの定電流
Ｉを受け可変抵抗器１１の両端の端子Ｘ，Ｙに定電流Ｉ
を供給し、可変抵抗器１１の摺動子端子Ｚを接地し、摺
動子端子Ｚと端子Ｘ，Ｙ間の摺動電圧Ｖ01，Ｖ02を出力
する。
Ｉを受け可変抵抗器１１の両端の端子Ｘ，Ｙに定電流Ｉ
を供給し、可変抵抗器１１の摺動子端子Ｚを接地し、摺
動子端子Ｚと端子Ｘ，Ｙ間の摺動電圧Ｖ01，Ｖ02を出力
する。
【００１７】引算部９は測定台１より摺動電圧Ｖ01およ
びＶ02を入力し、電圧Ｖ01とＶ02の差摺動電圧Ｖ03（Ｖ
03＝Ｖ01−Ｖ02）を差動増幅部６へ出力する。差動増幅
部６は引算部９から差摺動電圧Ｖ03および可変ゲイン増
幅部５から基準比較電圧Ｖc を入力し、基準比較電圧Ｖ
c と差摺動電圧Ｖ03との差分を取り、摺動雑音電圧Ｖn
を出力する。
びＶ02を入力し、電圧Ｖ01とＶ02の差摺動電圧Ｖ03（Ｖ
03＝Ｖ01−Ｖ02）を差動増幅部６へ出力する。差動増幅
部６は引算部９から差摺動電圧Ｖ03および可変ゲイン増
幅部５から基準比較電圧Ｖc を入力し、基準比較電圧Ｖ
c と差摺動電圧Ｖ03との差分を取り、摺動雑音電圧Ｖn
を出力する。
【００１８】本実施例による可変抵抗器の検査手順は、
まず図１に示した実施例の場合と動様に差摺動電圧Ｖ03
と基準電圧Ｖs の零点合わせを行い、差摺動電圧Ｖ03が
零となる摺動子の回転位置を零点とする摺動子の回転位
置に比例の基準電圧Ｖs を基準電圧発生部４に発生させ
る。
まず図１に示した実施例の場合と動様に差摺動電圧Ｖ03
と基準電圧Ｖs の零点合わせを行い、差摺動電圧Ｖ03が
零となる摺動子の回転位置を零点とする摺動子の回転位
置に比例の基準電圧Ｖs を基準電圧発生部４に発生させ
る。
【００１９】次に中央制御部７は制御信号Ｃにより回転
制御部２を制御して定められた摺動範囲に従って可変抵
抗器１１の摺動子を端子Ｘへ摺動させ、次に端子Ｘより
端子Ｙさらに端子Ｙより零点位置へ移動させ、差摺動電
圧Ｖ03を０Ｖより±最大値まで変化させる。この時に基
準電圧発生部４は、回転位置信号Ｐにより回転位置に相
当する基準電圧Ｖs を発生する。さらに基準電圧Ｖs は
可変ゲイン増幅部において、定められた摺動範囲内で差
摺動電圧Ｖ03の±最大値の電圧が発生するように中央制
御部８からのゲイン設定信号Ｇにより増幅される。従っ
て可変ゲイン増幅部５のゲインを変化させることによっ
て、あらゆる摺動範囲に対応することができる。
制御部２を制御して定められた摺動範囲に従って可変抵
抗器１１の摺動子を端子Ｘへ摺動させ、次に端子Ｘより
端子Ｙさらに端子Ｙより零点位置へ移動させ、差摺動電
圧Ｖ03を０Ｖより±最大値まで変化させる。この時に基
準電圧発生部４は、回転位置信号Ｐにより回転位置に相
当する基準電圧Ｖs を発生する。さらに基準電圧Ｖs は
可変ゲイン増幅部において、定められた摺動範囲内で差
摺動電圧Ｖ03の±最大値の電圧が発生するように中央制
御部８からのゲイン設定信号Ｇにより増幅される。従っ
て可変ゲイン増幅部５のゲインを変化させることによっ
て、あらゆる摺動範囲に対応することができる。
【００２０】さらに差動増幅部６は、引算部９から差摺
動電圧Ｖ03および可変ゲイン増幅部５から基準比較電圧
Ｖc を入力し、基準比較電圧Ｖc と差摺動電圧Ｖ03との
差分をとり、摺動雑音電圧Ｖn を出力する。判定部７
は、摺動雑音電圧Ｖn が規格内に入っているかどうか判
定し、判定結果ｒを中央制御部８へ送る。中央制御部８
は判定結果ｒにより良否結果を作業者に知らせる。
動電圧Ｖ03および可変ゲイン増幅部５から基準比較電圧
Ｖc を入力し、基準比較電圧Ｖc と差摺動電圧Ｖ03との
差分をとり、摺動雑音電圧Ｖn を出力する。判定部７
は、摺動雑音電圧Ｖn が規格内に入っているかどうか判
定し、判定結果ｒを中央制御部８へ送る。中央制御部８
は判定結果ｒにより良否結果を作業者に知らせる。
【００２１】
【発明の効果】以上説明したように本発明は、被測定可
変抵抗器の出力電圧を基準の可変抵抗器のものと比較す
る代わりに、可変抵抗器の接触子の回転位置に相当する
基準比較電圧を電気的に発生させて比較しているので経
時劣化がなく保守性が大幅に向上し、信頼性も高くなる
上、摺動範囲が変わっても容易に検査できるという効果
がある。
変抵抗器の出力電圧を基準の可変抵抗器のものと比較す
る代わりに、可変抵抗器の接触子の回転位置に相当する
基準比較電圧を電気的に発生させて比較しているので経
時劣化がなく保守性が大幅に向上し、信頼性も高くなる
上、摺動範囲が変わっても容易に検査できるという効果
がある。
【図１】本発明の一実施例のブロック図である。
【図２】図１中の電源部３と測定台１に装着された被測
定可変抵抗器との接続図である。
定可変抵抗器との接続図である。
【図３】本発明の他の実施例のブロック図である。
【図４】図３中の定電流電源部１３と測定台１２に装着
された被測定可変抵抗器との接続図である。
された被測定可変抵抗器との接続図である。
１ 測定台 ２ 回転制御部 ３ 電源部 ４ 基準電圧発生部 ５ 可変ゲイン増幅部 ６ 差動増幅部 ７ 判定部 ８ 中央制御部 １１ 可変抵抗器
Claims (2)
- 【請求項１】 可変抵抗器の摺動子を動かす制御部と、
前記可変抵抗器の両端の端子に定電圧を供給する電源部
と、前記制御部から出力される位置信号を入力し前記摺
動子の位置に相当する基準電圧を発生する基準電圧発生
部と、前記基準電圧発生部から出力される基準電圧を増
幅し基準比較電圧を出力する可変ゲイン増幅部と、前記
基準比較電圧と前記可変抵抗器の摺動子端子と両端の端
子のいずれか一方の間に発生する摺動電圧との差をと
り、摺動雑音電圧として出力する差動増幅部と、前記摺
動雑音電圧が規格内に入っているかどうか判定する判定
部とを備えていることを特徴とする可変抵抗器検査装
置。 - 【請求項２】 可変抵抗器の摺動子を動かす制御部と、
摺動子端子が接地された前記可変抵抗器の両端の端子で
ある第１の端子と第２の端子に定電流を供給する定電流
電源部と、前記制御部から出力される位置信号を入力し
前記摺動子の位置に相当する基準電圧を発生する基準電
圧発生部と、前記基準電圧発生部から出力される基準電
圧を増幅し基準比較電圧を出力する可変ゲイン増幅部
と、前記第１の端子の電圧および前記第２の端子の電圧
との差を取り差摺動電圧を出力する引算部と、前記基準
比較電圧と、前記差摺動電圧との差を取り摺動雑音電圧
として出力する差動増幅部と、前記摺動雑音電圧が規格
内に入っているかどうか判定する判定部とを備えている
ことを特徴とする可変抵抗器検査装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP3265770A JP2738182B2 (ja) | 1991-10-15 | 1991-10-15 | 可変抵抗器検査装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP3265770A JP2738182B2 (ja) | 1991-10-15 | 1991-10-15 | 可変抵抗器検査装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH05107284A JPH05107284A (ja) | 1993-04-27 |
| JP2738182B2 true JP2738182B2 (ja) | 1998-04-08 |
Family
ID=17421793
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP3265770A Expired - Lifetime JP2738182B2 (ja) | 1991-10-15 | 1991-10-15 | 可変抵抗器検査装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP2738182B2 (ja) |
-
1991
- 1991-10-15 JP JP3265770A patent/JP2738182B2/ja not_active Expired - Lifetime
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH05107284A (ja) | 1993-04-27 |
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Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 Effective date: 19971216 |