JP2733710B2 - 電子顕微鏡 - Google Patents

電子顕微鏡

Info

Publication number
JP2733710B2
JP2733710B2 JP2320831A JP32083190A JP2733710B2 JP 2733710 B2 JP2733710 B2 JP 2733710B2 JP 2320831 A JP2320831 A JP 2320831A JP 32083190 A JP32083190 A JP 32083190A JP 2733710 B2 JP2733710 B2 JP 2733710B2
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
current
center
image data
voltage
image
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Expired - Lifetime
Application number
JP2320831A
Other languages
English (en)
Other versions
JPH04192244A (ja
Inventor
弘幸 小林
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Hitachi Ltd
Original Assignee
Hitachi Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Hitachi Ltd filed Critical Hitachi Ltd
Priority to JP2320831A priority Critical patent/JP2733710B2/ja
Priority to US07/797,028 priority patent/US5243191A/en
Priority to EP19910120274 priority patent/EP0488214A3/en
Publication of JPH04192244A publication Critical patent/JPH04192244A/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP2733710B2 publication Critical patent/JP2733710B2/ja
Anticipated expiration legal-status Critical
Expired - Lifetime legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01JELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
    • H01J37/00Discharge tubes with provision for introducing objects or material to be exposed to the discharge, e.g. for the purpose of examination or processing thereof
    • H01J37/26Electron or ion microscopes; Electron or ion diffraction tubes
    • H01J37/261Details
    • H01J37/265Controlling the tube; circuit arrangements adapted to a particular application not otherwise provided, e.g. bright-field-dark-field illumination

Landscapes

  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Analytical Chemistry (AREA)
  • Electron Sources, Ion Sources (AREA)

Description

【発明の詳細な説明】 (産業上の利用分野) 本発明は、電子顕微鏡に係り、特に、照射レンズ系と
結像レンズ系との光軸調整を自動的に行うのに適した電
子顕微鏡に関するものである。
(従来技術) 一般に、照射レンズ系の光軸が結像レンズ系の光軸に
対して傾いているときは、電流軸合せまたは電圧軸合せ
と呼ばれる光軸調整が行われる。
電流軸合せとは、対物レンズ電流を増減させると第3
図(a)に示したように拡大像がある位置(電流中心)
を中心にして円周方向に動くことを利用して行われるも
ので、対物レンズ電流を増減して拡大像を円周方向へ動
かしたときの電流中心をオペレータが見出だし、該電流
中心が視野の中心となるように偏向器を調整する軸合せ
方法である。
一方、電圧軸合せとは、電子銃の加速電圧を増減させ
ると第3図(b)に示したように拡大像がある位置(電
圧中心)を中心にして放射状に動くことを利用して行わ
れるもので、加速電圧を増減して拡大像を放射状に動か
したときの電圧中心をオペレータが見出だし、該電圧中
心が視野の中心となるように偏向器を調整する軸合せ方
法がある。
ところが、このような軸合せでは、拡大像の動きと共
に拡大像がボケてしまうので、電流(電圧)中心を正確
に見出だすことが困難であり、オペレータに相当の熟練
を要する。
そこで、このような問題点を解決するために、従来技
術では、例えば特願昭61-237967号(特開昭63-94544
号)公報に記載されるように、対物レンズ電流または加
速電圧の増減に応じて、最終像を画像メモリに記憶させ
てこれらを積算もしくは平均したものを像として表示さ
せる技術が提案されている。
このようにすれば、像のボケ具合によってオペレータ
が電流中心または電圧中心を容易に見出だすことができ
るようになるので、軸合せが簡単かつ正確に行えるよう
になる。
さらに、前記した従来技術では、像を表示する際にマ
ーカも同様に表示させ、マーカと最終像の電流中心また
は電圧中心とを一致させるようにすることによって光軸
を合せる技術も提案されている。
また、特開昭62-143351号公報では、試料に照射させ
る電荷量を検出し、該電荷量が最大値を示すように、レ
ンズ系を光軸と垂直方向に移動させることによって自動
的に光軸を調整する技術が提案されている。
(発明が解決しようとする課題) 特願昭61-237967(特開昭63-94544号)に記載された
従来技術では、電流中心または電圧中心を見出だす際に
はオペレータの判断が必要になってしまうために、自動
化を図ることができなかった。
また、特開昭62-143351号公報に記載された従来技術
では、電荷量を検出するための検出器が必要となるため
に構成が複雑になってしまうという問題があった。
しかも、電荷量が最大値を示す位置を検出するために
は、レンズ系を光軸と垂直方向に十分に走査しなければ
ならないので、長時間を要してしまうという問題があっ
た。
本発明の目的は、上記した従来技術の問題点を解決
し、簡単な構成で、軸調整を自動的にかつ短時間で行う
ことの可能な電子顕微鏡を提供することにある。
(課題を解決するための手段) 上記した目的を達成するために、本発明では、画像メ
モリの各座標ごとに、対物レンズ電流または加速電圧を
変動させる前の画像データと変動させた後の画像データ
との差分を求め、画像メモリの各座標ごとの差分を代表
する3次元の近似関数を算出する。そして、前記近似関
数に基づいて差分が最小値を示す画像メモリの座標を演
算によって求め、該座標を電流(電圧)中心とするよう
にした。
(作用) m×nの画像メモリ上の座標(i、j)[1≦i≦
m、1≦j≦n]での、任意の対物レンズ電流(または
加速電圧)における画像データと対物レンズ電流(また
は加速電圧)を変化させた後の画像データとの差分デー
タをDijとし、座標(i、j)と差分データDijとの関係
を表す近似関数Dij=F(i、j)を求めれば、該近似
関数F(i、j)が極小値を示す座標が電流(電圧)中
心となるので、オペレータの熟練度にかかわらず、常に
正確な電流(電圧)中心を求めることができるようにな
る。
(実施例) 初めに、本発明による軸合せの基本概念について、電
流軸合せを例にして説明する。
本発明では、画像メモリ上の各座標(i、j)での、
任意の対物レンズ電流における各画像データをSij、対
物レンズ電流を変化させた後の各画像データをTij、各
差分データ(Sij-Tij)をDijとし、以下のようにして、
初めに座標(i、j)と差分データDijとの関係を表す
近似関数Dij=F(i、j)を以下のようにして求め
る。
すなわち、3次元関数をz=F(x、y)とすると、
F(x、y)は一般的に次式(1)で表される。
F(x、y)=a1x+a2x2+a3x3+… +b1y+b2y2+b3y3+… +c …(1) ここで、係数a1、a2、…、b1、b2、…、cを求めるた
めに、各座標(i、j)に関して、 ΔDij=F(i、j)−Dij …(2) を算出し、Σ(ΔDij)が最小値を示す前記係数a1、a
2、…、b1、b2、…cを、例えば次式(3)〜(5)に
示す最小二乗法の基準方程式を解くことによって算出す
る。
前記したように、画像データSijと画像データTijとの
差分データDijは、電流中心ではほぼ0となり、電流中
心から離れるにしたがって大きくなるので、関数F
(i、j)が極小値を示す座標が電流中心の座標とな
る。
したがって、以上のようにして近似関数F(i、j)
が求まると、次式(6)、(7)に示したように関数F
(i、j)をiおよびjで偏微分し、近似関数F(i、
j)が極小値を示す座標を求める。
また、本発明では、偏向器3の制御量δX、δYに対
する電流中心の移動量dX、dYを予め実験的に求めてお
く。そして、前記のようにして電流中心が求まり、電流
中心と視野の中心とのずれがΔX、ΔYであれば、X軸
に関してはδX・ΔX/dX、Y軸に関してはδY・ΔY/dY
なる制御量で偏向器3を制御すれば、軸合せが自動的に
行われるようになる。
第1図は本発明の一実施例である電子顕微鏡の主要部
のブロック図、第2図はその動作を説明するためのフロ
ーチャートである。
図において、電子銃1から放出された電子線17は、照
射レンズ系を構成する第1コンデンサレンズ2aおよび第
2コンデンサレンズ2bによって収束され、さらに偏向器
3で偏向されて試料4に照射される。
試料4を透過した電子線は、結像レンズ系を構成する
対物レンズ5a、中間レンズ5b、投射レンズ5cによって拡
大され、蛍光板6上には最終像が結合される。
結合された最終像はテレビカメラ10によって撮像さ
れ、制御器11を介して映像信号に変換される。この映像
信号はA/D変換器12、バス80を介して、m×nの画像デ
ータとして画像メモリ14a〜14cにデジタル化されて記憶
される。
前記電子銃1の加速電圧は、D/A変換器7aの出力信号
を昇圧回路8で昇圧して供給される。各電子レンズ2a、
2b、5a、5b、5cのレンズ電流は、それぞれD/A変換器7
b、7c、7e、7f、7gの出力昇圧で制御される電源回路9
a、9b、9d、9e、9fから供給される。偏向器3の偏向電
流は、D/A変換器7dの出力信号で制御される電源回路9c
から供給される。各D/A変換器7a〜7gは、CPU16、メモリ
15、演算装置13と共にバス80に接続されている。
メモリ15には、当該電子顕微鏡の各種制御プログラ
ム、前記偏向器3の制御量δX、δYに対する電流中心
の移動量dX、dY、および前記近似関数F(i、j)を求
めるためのプログラム等が記憶されている。
このような構成において、電流軸合せを行う場合、ス
テップS10では任意の対物レンズ電流におけるm×n個
の各画像データSijが画像メモリ14aに蓄積され、ステッ
プS11では、対物レンズ電流が適宜に増加または減少さ
れて拡大像が電流中心を中心にして回転され、その後、
ステップS12では前記回転したm×n個の各画像データT
ijが画像メモリ14bに蓄積される。
ステップS13では対物レンズ電流が元に戻され、ステ
ップS14では画像メモリ14aの各画像データから画像メモ
リ14bの各画像データが減ぜられて各座標の差分データD
ij(=Sij−Tij)が算出され、該差分データDijが画像
メモリ14cに蓄積される。
ステップS15では、CPU16に制御された演算装置13によ
って前記近似関数F(i、j)が算出され、ステップS1
6では近似関数F(i、j)の極小値に基づいて電流中
心の座標が求められる。
ステップS17では、前記電流中心の座標と拡大像の中
心位置座標とのずれΔX、ΔYが算出され、偏向器3の
X軸に関する制御量δX・ΔX/dXおよびY軸に関する制
御量δY・ΔY/dYが算出される。
ステップS18では、CPU16が前記制御量に基づいて偏向
器3を制御し、軸合せが行われる。
本実施例によれば、電流中心がオペレータの観察によ
らず演算によって算出されるので、専用の検出器等を設
けることなく、またオペレータの熟練度にかかわらず、
常に正確な電流(電圧)中心を求めることができるよう
になる。
また、偏向器3の制御量δX、δYに対する電流中心
の移動量dX、dYを予め実験的に求め、上記のようにして
求められた電流中心と視野の中心とのずれΔX、ΔYに
基づいて偏向器を制御すれば、光軸合せが自動的に行え
るようになる。
なお、上記した実施例では本発明を電流軸合せを例に
して説明したが、当業者には明らかなように、電圧軸合
せにも同様に適用することができる。また、上記した実
施例では本発明を透過電子顕微鏡を例にして説明した
が、本発明は走査電子顕微鏡にも適用することができ
る。
(発明の効果) 以上の説明から明らかなように、本発明によれば、次
のような効果が達成される。
(1)画像メモリ上の各座標(i、j)での、任意の対
物レンズ電流における画像データSij、対物レンズ電流
を変化させた後の画像データをTij、両者の差分データD
ijとし、座標(i、j)と差分データDijとの関係を表
す近似関数Dij=F(i、j)を求め、該近似関数F
(i、j)が極小値を示す座標に基づいて電流(電圧)
中心を求めるようにしたので、オペレータの熟練度にか
かわらず、常に正確な電流(電圧)中心を求めることが
できるようになる。
(2)偏向器の制御量に対する電流(電圧)中心の移動
量を予め実験的に求め、近似関数F(i、j)が極小値
を示す座標に基づいて求められた電流(電圧)中心と視
野の中心とのずれΔX、ΔYに基づいて偏向器を制御す
れば、光軸合せが自動的に行えるようになる。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明の一実施例のブロック図、第2図は第1
図の動作を説明するためのフローチャート、第3図は電
流軸合せおよび電圧軸合せを説明するための図である。 1……電子銃、2a……第1コンデンサレンズ、2b……第
2コンデンサレンズ、3……偏向器、4……試料、5a…
…対物レンズ、5b……中間レンズ、5c……投射レンズ、
6……蛍光板、7a〜7g……D/A変換器、8……昇圧回
路、9a〜9f……電源回路、10……テレビカメラ、11……
制御器、12……A/D変換器、13……演算装置、14a〜14c
……画像メモリ、15……メモリ、16……CPU、80……バ

Claims (3)

    (57)【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】電流中心および電圧中心のいずれか一方が
    視野の中心となるように電子線を偏向して光軸合せを行
    う電子顕微鏡において、 電子源から放出された電子線を収束する照射レンズ系
    と、 試料を透過した電子線を拡大して拡大像を結像する結像
    レンズ系と、 照射レンズ系の光軸と結像レンズ系の光軸とを合せるた
    めの電子線偏向手段と、 拡大像をデジタル画像データに変換して記憶する画像メ
    モリと、 対物レンズの励磁電流を増減して画像データを変化させ
    たときの該変化前後における各座標での画像データの差
    分、および電子銃の加速電圧を増減して画像データを変
    化させたときの該変化前後における各座標での画像デー
    タの差分の少なくとも一方を求める差分検出手段と、 画像メモリの各座標ごとに求められた前記各差分を代表
    する3次元の近似関数を算出する関数算出手段と、 前記近似関数に基づいて、差分が最小値を示す画像メモ
    リの座標を求める電流/電圧中心検出手段とを具備した
    ことを特徴とする電子顕微鏡。
  2. 【請求項2】前記光軸検出手段は、前記近似関数を座標
    に関して偏微分して極小値を求め、該極小値を示す座標
    を算出することを特徴とする特許請求の範囲第1項記載
    の電子顕微鏡。
  3. 【請求項3】前記電子線偏向手段の単位制御量に対する
    電流/電圧中心の単位移動量を記憶した記憶手段と、視
    野の中心位置と前記電流/電圧中心とのいずれ量を検出
    する手段と、 前記単位移動量およびずれ量に基づいて、視野の中心位
    置が前記電流/電圧中心と一致するように、前記電子線
    偏向手段を制御する手段をさらに具備したことを特徴と
    する特許請求の範囲第1項または第2項記載の電子顕微
    鏡。
JP2320831A 1990-11-27 1990-11-27 電子顕微鏡 Expired - Lifetime JP2733710B2 (ja)

Priority Applications (3)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2320831A JP2733710B2 (ja) 1990-11-27 1990-11-27 電子顕微鏡
US07/797,028 US5243191A (en) 1990-11-27 1991-11-25 Electron microscope
EP19910120274 EP0488214A3 (en) 1990-11-27 1991-11-27 Electron microscope

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2320831A JP2733710B2 (ja) 1990-11-27 1990-11-27 電子顕微鏡

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JPH04192244A JPH04192244A (ja) 1992-07-10
JP2733710B2 true JP2733710B2 (ja) 1998-03-30

Family

ID=18125726

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2320831A Expired - Lifetime JP2733710B2 (ja) 1990-11-27 1990-11-27 電子顕微鏡

Country Status (3)

Country Link
US (1) US5243191A (ja)
EP (1) EP0488214A3 (ja)
JP (1) JP2733710B2 (ja)

Families Citing this family (10)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE4328649A1 (de) * 1993-08-26 1995-03-02 Zeiss Carl Fa Elektronenoptisches Abbildungssystem mit regelbaren Elementen
JP3390541B2 (ja) * 1994-09-06 2003-03-24 株式会社日立製作所 荷電粒子投射装置
JP3400608B2 (ja) * 1995-06-01 2003-04-28 株式会社日立製作所 走査電子顕微鏡
US5747814A (en) * 1996-12-06 1998-05-05 International Business Machines Corporation Method for centering a lens in a charged-particle system
US6278114B1 (en) 1997-12-19 2001-08-21 Kabushiki Kaisha Toshiba Method and apparatus for measuring dimensions of a feature of a specimen
JP3522121B2 (ja) * 1998-09-02 2004-04-26 日本電子株式会社 電子顕微鏡
US6476398B1 (en) * 1999-03-05 2002-11-05 Applied Materials, Inc. Beam automation in charged-particle-beam systems
EP1670028B1 (en) * 2004-12-07 2017-02-08 JEOL Ltd. Apparatus for automatically correcting a charged-particle beam
JP4891736B2 (ja) * 2006-11-17 2012-03-07 日本電子株式会社 ロンチグラム中心の決定方法
JP2010198826A (ja) * 2009-02-24 2010-09-09 Jeol Ltd 透過型電子顕微鏡のアライメント装置

Family Cites Families (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS58152354A (ja) * 1982-03-05 1983-09-09 Hitachi Ltd 電子顕微鏡の軸調整装置
NL8304217A (nl) * 1983-12-07 1985-07-01 Philips Nv Automatisch instelbare electronenmicroscoop.
US4680469A (en) * 1984-08-17 1987-07-14 Hitachi, Ltd. Focusing device for a television electron microscope
JPS61168852A (ja) * 1985-01-23 1986-07-30 Hitachi Ltd 透過形電子顕微鏡の焦点合せ装置
JPS62143351A (ja) * 1985-12-17 1987-06-26 Matsushita Electric Ind Co Ltd 自動光軸調整装置
JPH073774B2 (ja) * 1986-10-08 1995-01-18 株式会社日立製作所 電子顕微鏡

Also Published As

Publication number Publication date
EP0488214A2 (en) 1992-06-03
US5243191A (en) 1993-09-07
JPH04192244A (ja) 1992-07-10
EP0488214A3 (en) 1992-07-15

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US10976536B2 (en) Image-forming device, and dimension measurement device
US6936818B2 (en) Charged particle beam apparatus
JP4261743B2 (ja) 荷電粒子線装置
JP2877624B2 (ja) 走査電子顕微鏡の対物レンズアライメント制御装置及び制御方法
US20050151078A1 (en) Method for determining depression/protrusion of sample and charged particle beam apparatus therefor
JP2733710B2 (ja) 電子顕微鏡
US4788425A (en) Optical axis adjusting apparatus for electron microscope
US5302829A (en) Automatic focusing method for scanning electron microscopy
JP3970656B2 (ja) 透過電子顕微鏡による試料観察方法
JP4538472B2 (ja) 画像形成方法、及び電子顕微鏡
JPH08149522A (ja) 位置検出装置及び画像補正装置
JP3021917B2 (ja) 電子ビーム装置における自動焦点合わせと非点収差補正方法
JP4634324B2 (ja) 透過電子顕微鏡
JP2001210261A (ja) 透過電子顕微鏡
JP3581242B2 (ja) 並列画像処理プロセッサを備えた荷電粒子ビーム装置
JP4397730B2 (ja) 電子顕微鏡の絞り補正方法及び装置
JP2946857B2 (ja) 荷電粒子線装置
JP2006190693A (ja) 荷電粒子線装置
JP3101089B2 (ja) 走査電子顕微鏡における輝度補正方法
JPH08148108A (ja) 自動焦点調整方法
JP4728137B2 (ja) 電子顕微鏡
JP3790629B2 (ja) 走査型荷電粒子ビーム装置及び走査型荷電粒子ビーム装置の動作方法
JPS5914222B2 (ja) 走査電子顕微鏡等用倍率制御装置
JPH06231716A (ja) イオンマイクロビーム装置
JPH0139393Y2 (ja)