JP2726634B2 - 移動機構 - Google Patents

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【産業上の利用分野】本発明は、回転自在に連結した上
アームと下アームとによって移動対象物を任意の位置に
移動させる移動機構に関するものである。

【０００２】

【従来の技術】従来、ハイブリッドＩＣなどを搭載した
プリント基板の試験を行う場合、プリント基板上の所定
のパターンに多数のピンを接触させて信号を入力あるい
は取り出していた。この多数のピンをプリント基板上の
所定の位置のパターンに接触させるために、接触させた
い位置にバネに伸張するピンを多数設けた基板を専用の
治具でプリント基板上に対向させた位置に押し当ててい
た。

【０００３】

【発明が解決しようとする課題】従来は上述したよう
に、プリント基板上の所定のパターンに多数のピンを接
触させて信号を入力および取り出して試験を行う場合、
多数のピンを伸張するバネを介して基板上の所定位置に
多数設け、これをプリント基板に対向して配置し、これ
ら多数のピンをプリント基板の所定パターンに接触させ
ていた。このため、被試験対象のプリント基板が変わる
毎に専用の移動機構を作成して対処していたため、測定
治具の汎用性がないと共に、丁度接触する位置まで移動
させるように調整することが困難であるなどの問題が発
生していた。

【０００４】本発明は、これらの問題を解決するため、
上アームと下アームおよびアームの長さを自在に調整し
て停止位置を任意に設定可能とし、試験用の多数のピン
を載せた基板などをハイブリッドＩＣ基板などの対象物
の所定位置に所定圧力に容易に調整可能にすることを目
的としている。

【０００５】

【課題を解決するための手段】図１を参照して課題を解
決するための手段を説明する。図１において、固定機構
１は、図示外の移動対象物に上アーム２を回転自在に固
定するものである。

【０００６】上アーム２は、下アーム５と回転機構４で
回転自在に接続したものである。ストローク調整ナット
３は、長さ調整機構の具体例であって、上アーム２の位
置を調整するものであり、下限１１、上限１２、あるい
は上限を過ぎた位置（トグル位置）１３を相対的位置に
調整するものである。

【０００７】下アーム５は、上アーム２と回転機構４で
回転自在に接続したものである。固定・回転機構６は、
下アーム５を台９に回転自在に固定すると共に、下アー
ム５を回転するものである。

【０００８】ストッパ７は、上限を過ぎた位置１３で上
アーム２あるいは下アーム５を安定した位置で停止させ
るものである。台９は、固定した台である。

【０００９】

【作用】本発明は、図１に示すように、上アーム２と下
アーム５とを回転機構４によって回転自在に接続すると
共に、下アーム５を固定・回転機構６によって固定した
台９に回転自在に固定、および上アーム２を固定機構１
を介して図示外の移動対象物に回転自在に固定する。こ
の状態で、固定・回転機構６によって、下アーム５を回
転させ、これに伴い回転機構４に回転自在に接続された
上アーム２を回転させて上限を過ぎた位置（トグル位
置）１３で停止させ、図示外の移動対象物を下限１１の
位置から上限１２の位置、更に若干下限の方向に戻った
上限を過ぎた位置（トグル位置）１３で安定に停止す
る。この際、上アーム２に取り付けたストローク調整ナ
ット３を用いて上アーム２の長さを任意に調整し、下限
１１、上限１２あるいは上限を過ぎた位置（トグル位
置）１３を所望の位置に調整するようにしている。

【００１０】また、図示外の移動対象物が所定方向に移
動する図示外の案内機構を設けるようにしている（図
３、図４を用いて後述する）。また、移動対象物をバネ
で突出するピンを多数配置した基板とし、当該基板のピ
ンを被試験対象のプリント基板の所定位置に対し、バネ
の力で所定圧力で押圧するように、上記長さ調整機構に
よって任意に調整するようにしている。

【００１１】従って、上アーム２と下アーム５、および
下アーム５の長さを自在に調整して停止位置を任意に設
定可能とし、試験用の多数のピンを載せた基板などをハ
イブリッドＩＣ基板などの対象物の所定位置に所定圧力
に容易に調整することが可能となった。

【００１２】

【実施例】次に、図１から図４を用いて本発明の実施例
の構成および動作を順次詳細に説明する。

【００１３】図１は、本発明の１実施例構成図を示す。
図１の（ａ）は下限の位置のときの側面図を示し、図１
の（ｂ）は上限を過ぎた位置（トグル位置）のときの側
面図を示す。

【００１４】図１の（ａ）および（ｂ）において、固定
機構１は、図示ように、上アーム２の回転自在な機構
（例えばベアリング）を介して図示外の移動対象物に固
定するものである。

【００１５】上アーム２は、回転機構１とストローク調
整ナート３を介して回転機構４と接続し、ここでは、長
さを調整し得るようになっている。ストローク調整ナッ
ト３は、回転させて上アーム２の長さを任意に調整する
ものである。

【００１６】回転機構４は、上アーム２と下アーム５と
を回転自在に固定する機構（例えばベアリング）であ
る。下アーム５は、回転機構４を介して上アーム２と回
転自在に固定すると共に、固定・回転機構６を介して台
９に固定すると共に、図示外のレバーによって回転され
るものである。

【００１７】固定・回転機構６は、下アーム５を固定し
た台９に回転自在に固定すると共に、図示外のレバーを
回転させたときに連動して下アーム５を回転させるもの
である。

【００１８】ストッパ７は、上アーム２と下アーム５と
が上限を若干通り過ぎた位置（トグル位置）で停止させ
るものである。下ストッパ８は、上アーム２と下アーム
５とが下限の位置で停止させるものである。

【００１９】台９は、固定した台である。下限１１は、
上アーム２に取り付けた固定機構１の回転中心の下限の
位置である。

【００２０】上限１２は、上アーム２に取り付けた固定
機構１の回転中心の上限（上アーム２と下アーム５とが
丁度直線となったときの上端の位置）である。上限を過
ぎた位置（トグル位置）１３は、上アーム２および下ア
ーム５が回転して上限を若干通り過ぎた安定位置であっ
て、ストッパ７によって停止された位置である。

【００２１】次に、図２のフローチャートに示す順序に
従い、図１の構成の動作を詳細に説明する。図２におい
て、Ｓ１は、試験モジュールを装着する。これは、図１
の固定機構１に固定した図示外の移動対象物に対向し、
当該移動対象物からバネで突出するように構成されたピ
ンを接触させて各種試験を行う試験モジュール（試験対
象のプリント基板）を搭載する（図４参照）。

【００２２】Ｓ２は、下限から上限を過ぎたストッパ位
置（トグル位置）になるまで下アーム５を回転させる。
これは、図１の（ａ）の下限の状態から、図１の（ｂ）
の上限を過ぎた位置（トグル位置）１３まで固定・回転
機構６のレバーを回転させる。

【００２３】Ｓ３は、上アーム２のストローク調整ナッ
ト３を回転することにより試験モジュールへのピン接触
圧を調整する。これは、図１の（ｂ）の下アーム５をス
トッパ７の位置まで回転させた状態で、上アーム２の長
を調整するストローク調整ナット３を回転させ、回転機
構１に接続した移動対象物の基板に取り付けたバネでピ
ンを突出させて、試験モジュールのプリント基板の所定
位置に所定のピン接触圧で接触するように、調整する。
これにより、ピンが確実に所定圧で試験モジュールの所
定位置に接触するように調整できたこととなる。

【００２４】Ｓ４は、試験を行う。これは、Ｓ３で移動
対象物の基板に取り付けたピンがバネの力で試験モジュ
ールのプリント基板の所定位置に接触しているので、こ
の接触した位置から信号を取り出したり、信号を入力し
たり、試験モジュールの動作試験を行う。

【００２５】Ｓ５は、下アーム５を逆回転させ下限位置
に戻る。これは、図１の（ｂ）の状態から図１の（ａ）
の状態に下アーム５を逆回転させて下限１１に戻す。Ｓ
６は、試験モジュールを取り外す。

【００２６】以上によって、図１の回転機構１に取り付
けた図示外の移動対象物にバネで突出するピンを取付
け、このピンで試験モジュールのプリント基板の所定位
置に所定接触圧で接触するように、上アーム２に設けた
ストローク調整ナット３を回転して調整した後、試験モ
ジュールから信号を取り出したり、入力したりし、試験
を行うことができ、簡単な構成で確実に所定位置に移動
対象物を移動、および任意の位置に容易に調整できる移
動機構を実現できた。

【００２７】図３は、本発明の具体例説明図を示す。図
３の（ａ）は、上アーム２、下アーム５の寸法による上
限と下限の移動距離の例を示す。ここでは、図３の（ａ
−１）に示す下限の位置において、 ・上アーム２の長さ：５０ｍｍ（ＡからＢまでの長さ） ・下アーム５の長さ：５０ｍｍ（ＢからＣまでの長さ） ・下アーム５の回転角度：３０° とすると、これを上限を僅か通り過ぎたストッパ７の位
置まで回転させると、図３の（ｂ）に示すように、下限
の位置から上限の位置まで１３．４ｍｍ上方向に移動し
たこととなる。この場合、実験によれば、移動位置の精
度は±０．０１ｍｍ程度が容易に得られた。この移動距
離、下限の位置、上限の位置は、図１の上アーム２に設
けたストローク調整ナット３を回転させて任意に調整で
きる。

【００２８】図３の（ｂ）は、上アーム２に設けたスト
ローク調整ナット３の構成例を示す。この場合には、ス
トローク調整ネット３は、図示のように、上半分にＭ３
の右ナットおよび下半分にＭ３の左ナットとし、これに
合わせて、上方向からＭ３の右ネジを回転して挿入し、
および下方向からＭ３の左ネジを回転して挿入した状態
にする。そして、ストローク調整ナット３を回転させ
て、上アーム２を伸ばしたり、縮ませたりし、任意の長
さに調整する。

【００２９】図３の（ｃ）は、レバー位置を示す。図中
のレバー１０は、図１の固定・回転機構６の軸に固定し
たものであって、下アーム５を回転させるためのもので
あり、ここでは、レバーの位置を左側あるいは右側のい
ずれにも設けることができる様子を示す。

【００３０】図３の（ｄ）は、案内機構の例を示す。案
内機構は、図３の（ａ）のＡ点に回転自在に固定した移
動対象物が、ここでは、直線方向にのみ移動するように
したものであって、図示のように、移動対象物にボール
スライダ１４を取り付け、台９と試験台１６との間に固
定したリニアシャフト１５に沿って移動するようになっ
ている。このボールスライダ１４の摩擦係数は通常０．
００２〜０．００３μ程度であり、移動精度が良く、ス
トローク抵抗もまったくないといえる位い、スムーズに
移動させることができる。

【００３１】図４は、本発明の具体例構成図を示す。こ
こで、２、５、７、８、９、１４、１５、１６は、図１
あるいは図３の番号と同じものであるので説明を省略す
る。この図４の構成は、リニアシャフト１５と、ボール
スライダ１４によって移動対象物が上下方向に精密に移
動できるようになっている。移動対象物は、上アーム２
の固定機構１に固定され、当該上アーム２と回転機構４
によって固定された下アーム５をレバー１０によって、
ここでは、反時計方向に回転させてストッパ７の上限を
通り過ぎた安定したトグル位置で停止させると、上方に
所定距離（図３の（ａ）、（ｂ）で説明した移動距離）
だけ移動し、試験台１６の方に近づくこととなる。これ
により、移動対象物の上にバネでピンを突出させる試験
用ボードを固定し、対向した試験台１６の部分に被試験
用のボードを取り付けることにより、試験用ボードのピ
ンが丁度、ボードのパターンなどに所定圧で接触し、信
号を取り出したり、信号を入力したりし、試験を行うこ
とができる。これにより、試験用ボード上に多数（数百
本）のバネ付のピンを所定位置に配置し、被試験用のボ
ード上の数百点の位置に一度に精度良く接触させ、試験
を行うことが可能となった。

【００３２】

【発明の効果】以上説明したように、本発明によれば、
上アーム２と下アーム５、および下アーム５の長さを自
在に調整して停止位置を任意に設定可能とする構成を採
用しているため、移動対象物を精度よく所定位置に容易
に移動させることができる。特に、試験用の多数（例え
ば数百本）のピンを載せた基板などをハイブリッドＩＣ
基板などの対象物の所定位置に所定圧力に容易に調整
し、これら多数のピンから信号を取り出したり、信号を
入力したりし、試験を迅速かつ確実に行うことが可能と
なった。

【図面の簡単な説明】

【図１】本発明の１実施例構成図である。

【図２】本発明の動作説明フローチャートである。

【図３】本発明の具体例説明図（その１）である。

【図４】本発明の具体例説明図（その２）である。

【符号の説明】

１：固定機構 ２：上アーム ３：ストローク調整ナット ４：回転機構 ５：下アーム ６：固定・回転機構 ７：ストッパ ８：下ストッパ ９：台 １０：レバー １１：下限 １２：上限 １３：上限を過ぎた位置（トグル位置） １４：ボールスライダ １５：リニアシャフト １６：試験台

Claims (3)

(57)【特許請求の範囲】
1. 【請求項１】回転自在に連結した上アームと下アーム、
   および少なくともいずれか一方のアームの長さを調整す
   る長さ調整機構と、 上記上アームあるいは下アームの一方を台に回転自在に
   固定して回転させる固定・回転機構と、 上記上アームあるいは下アームの他方を移動対象物に回
   転自在に固定する固定機構と、 上記固定・回転機構によってアームを回転させて上アー
   ムおよび下アームを完全に伸びた状態から若干過ぎたト
   グル位置で停止させるストッパとを備え、 上記長さ調整機構によってアームの長さを調整し、上記
   トグル位置あるいは／および上記上アームと下アームと
   が一番伸びた上限位置を任意に調整することを特徴とす
   る移動機構。
2. 【請求項２】上記移動対象物が所定方向に移動する案内
   機構を設けたことを特徴とする請求項１に記載の移動機
   構。
3. 【請求項３】上記移動対象物をバネで突出するピンを多
   数配置した基板とし、当該基板のピンを被試験対象のプ
   リント基板の所定位置に対し、バネの力で所定圧力で押
   圧するように、上記長さ調整機構によって任意に調整す
   ることを特徴とする請求項１あるいは請求項２記載の移
   動機構。