JP2721757B2 - 位置決め制御方法及び装置 - Google Patents

位置決め制御方法及び装置

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JP2721757B2
JP2721757B2 JP3120034A JP12003491A JP2721757B2 JP 2721757 B2 JP2721757 B2 JP 2721757B2 JP 3120034 A JP3120034 A JP 3120034A JP 12003491 A JP12003491 A JP 12003491A JP 2721757 B2 JP2721757 B2 JP 2721757B2
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祐一 岡崎
伸 浅野
崇之 後藤
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Mitsubishi Heavy Industries Ltd
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    • G05B19/02Programme-control systems electric
    • G05B19/18Numerical control [NC], i.e. automatically operating machines, in particular machine tools, e.g. in a manufacturing environment, so as to execute positioning, movement or co-ordinated operations by means of programme data in numerical form
    • G05B19/19Numerical control [NC], i.e. automatically operating machines, in particular machine tools, e.g. in a manufacturing environment, so as to execute positioning, movement or co-ordinated operations by means of programme data in numerical form characterised by positioning or contouring control systems, e.g. to control position from one programmed point to another or to control movement along a programmed continuous path
    • G05B19/39Numerical control [NC], i.e. automatically operating machines, in particular machine tools, e.g. in a manufacturing environment, so as to execute positioning, movement or co-ordinated operations by means of programme data in numerical form characterised by positioning or contouring control systems, e.g. to control position from one programmed point to another or to control movement along a programmed continuous path using a combination of the means covered by at least two of the preceding groups G05B19/21, G05B19/27 and G05B19/33
    • GPHYSICS
    • G05CONTROLLING; REGULATING
    • G05DSYSTEMS FOR CONTROLLING OR REGULATING NON-ELECTRIC VARIABLES
    • G05D3/00Control of position or direction
    • G05D3/12Control of position or direction using feedback
    • G05D3/14Control of position or direction using feedback using an analogue comparing device
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  • Automatic Control Of Machine Tools (AREA)

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は位置決め制御方法及び装
置に関し、大移動量で高精度な位置決めを必要とする位
置決め装置及び移動装置に適用して有用なものである。
【0002】
【従来の技術】図8、図9、図10は、粗動機構と微動
機構を組み合わせて大移動量を高精度に位置決めする為
の位置決め装置における、従来技術に係る制御装置を示
すブロック線図である。
【0003】図8に示す制御装置では、コンピュータあ
るいはシグナルジェネレータ等で構成される信号発生器
4からの移動指令Aが、微動機構2の粗動機構1に対す
る相対変位量Gと、粗動機構1の固定位置に対する絶対
変位量Fとを加え合わせた位置決め対象の固定位置に対
する絶対変位量Hを、例えばレーザ測長器等の位置検出
手段5により検出した変位量Bから差し引き、ここで発
生した偏差信号Cを、例えばコンピュータあるいはアナ
ログ回路により構成した入力切換手段3に送るようにな
っている。
【0004】ここで、偏差信号Cが、微動機構2の可動
範囲に比べ大きい場合、入力切換手段をaに接続し、粗
動機構1へ粗動移動指令信号Dを入力し、粗動機構1を
偏差信号Cにより、微動機構の可動範囲内にはいるまで
移動する。そして、偏差信号Cが微動機構2の可動範囲
内にはいると、入力切換手段3をbに接続し、微動機構
2へ微動移動指令信号Eを入力し、微動機構2を偏差信
号Cがほとんど零になるように移動することによって、
位置決め対象の固定位置に対する絶対変位量Hを移動指
令信号Aに一致させて位置決めを行なう。
【0005】また、図9に示す制御装置では、信号発生
器14からの移動指令信号A1が、微動機構12の粗動
機構11に対する相対変位量G1と粗動機構11の固定
位置に対する絶対変位量F1とを加え合わせた、位置決
め対象の固定位置に対する絶対変位量H1を、位置検出
手段15により検出した変位量B1から差し引き、ここ
で発生した偏差信号C1を位置決め対象のゲイン特性及
び位相特性を補償する補償回路16へ送り、補償偏差信
号J1を得る。補償偏差信号J1は粗動機構11、微動
機構12へ同時に送られるが、微動機構12へ送られた
補償偏差信号J1は、リミッタ17を通り、粗動機構1
1へ送られた補償偏差信号J1は、不感帯18を通るこ
とによって微動機構12の可動範囲内の特定の偏差区間
内−α以上α以下に対しては微動機構12が応答し、偏
差区間外α以上−α以下に対しては粗動機構11が応答
するようになっている。
【0006】したがって、偏差信号C1が、特定の偏差
区間外にある時には粗動機構11が長い距離を移動し、
ある特定の偏差区間内にはいると微動機構12は、偏差
C1をほぼ零とするように移動することで移動指令信号
A1に対し、位置決め対象の固定位置に対する絶対変位
量H1が、ほぼ一致し、位置決めがなされる(中川、鳥
居、久保田:「粗・微動複合型超精密サーボ技術の開発
−複合型1軸テーブルの試作と評価−」,1990年
度、精密工学会秋季大会学術講演会講演論文集,P10
55(1990)参照)。
【0007】さらに、図10に示す制御装置では、信号
発生器24より移動指令信号として、図11に示すよう
な微動ステップhmを分解能とする微動移動指令信号A
3を微動機構22の移動指令信号として送るとともに、
図12に示すような、例えば図11の微動ステップhm
が3回発生するごとに粗動ステップhc(=3×hm)
を発生するような粗動移動指令信号A2を粗動機構21
の移動指令信号として送る。
【0008】まず、微動移動指令信号A3の微動ステッ
プhmが3回発生する時間t1までは、粗動機構21へ
の粗動移動指令信号A2は零であり、粗動機構21は移
動しない。これに対し、微動機構22は微動移動指令信
号A3から位置決め対象の固定位置に対する絶対変位量
H2を検出する位置検出手段25aからの変位信号B3
を差し引いた偏差信号C3が、位置決め対象のゲイン特
性、位相特性を補償するコンピュータあるいはアナログ
回路で構成された補償回路29を介して得られた微動補
償偏差信号E2を受け、微動移動指令信号A3にほぼ一
致するように移動する。
【0009】微動移動指令信号A3における微動ステッ
プhmが3回発生する時間t1になると、粗動移動指令
信号A2は微動ステップhmの3倍の変位に相当する粗
動ステップhcを発生する。粗動機構21はこの粗動移
動指令信号A2から固定位置に対する粗動機構21の絶
対変位量を検出する位置検出手段25bからの変位信号
B2を差し引いた偏差信号C2が、補償回路29を介し
て得られた粗動補償偏差信号D2を受け、粗動移動指令
信号A2と一致するように移動する。
【0010】一方、微動機構22も時間t1までの時と
同様な移動を行なう為、時間t1の時点において微動機
構移動量G2は、G2=3hmとなり、また粗動機構移
動量F2は、F2=hc=3hmとなる。
【0011】したがって、位置決め対象の固定位置に対
する絶対変位量H2は、H2=F2+G2=6hmとな
り、この時位置検出手段25により検出された変位信号
B3を微動移動指令信号A3から差し引くことで、微動
機構22には偏差C3=A3−B3=3hm−6hm=
−3hm=−F2が入力され、微動機構22は粗動機構
移動量F2だけ後退する。
【0012】図10に示す制御装置では、以上の動作を
繰り返すことで、長い距離にわたり、高精度に位置決め
がなされる(佐久田、小川、上田:「超精密位置制御に
関する研究−粗・微動の連動制御−」,1990年度精
密工学会春季大会学術講演会講演論文集,P795,
(1990),佐久田、小川、上田:「粗・微動連動に
よる位置制御」,1991年度精密工学会春季大会学術
講演会講演論文集,P229,(1991)参照)。
【0013】
【発明が解決しようとする課題】長い距離にわたって、
目標とする軌跡に対して、高精度に位置決め対象を追従
させる軌跡制御を行なう場合、大移動量を有するが位置
決め精度の低い粗動機構と、小移動量ではあるが位置決
め精度の高い微動機構から成り、さらに微動機構の上に
位置決め対象を搭載した位置決め装置では、微動機構の
精度に相当する精度を有する移動指令が入力される。
【0014】かかる場合、図8に示した制御装置におい
ては偏差信号Cの大きさによって、微動機構2、粗動機
構1への入力の切換えが入力切換手段3によりなされる
為、微動機構2の可動範囲内にある時は、移動指令信号
Aに対し、位置決め対象の固定位置に対する絶対変位量
Hはほぼ一致しているが、微動機構22が可動範囲まで
移動してしまうと、微動機構2は移動できなくなる為、
偏差信号Cが次第に大きくなっていく。この偏差信号C
が粗動機構1へ入力が切換えられる大きさに達すると、
粗動機構1がこの偏差信号Cを受けて移動する。
【0015】したがって、以降の軌跡制御では微動機構
2は移動できず、粗動機構1だけが上記手順にしたがっ
て、移動する為、高精度な軌跡制御は行えない。
【0016】また、図9の制御装置においては、偏差信
号C1を補償回路16に通して得られた補償偏差信号J
1に対し、その大きさに従ってリミッタ17及び不感帯
18により、微動補償偏差信号E1と粗動補償偏差信号
D1に振り分ける。
【0017】この時、上述したように、高精度な軌跡制
御を行なう場合、その移動指令信号A1は微動機構12
の有する精度に相当する精度で入力される為、微動機構
12の可動範囲までは、微動機構12が移動し、位置決
め対象の絶対変位量H1は、移動指令信号A1にほぼ一
致する。しかし、移動指令信号A1が微動機構12の可
動範囲を超えた指令信号となると、補償偏差信号J1
は、微動機構12へ入力されるにもかかわらず、移動す
ることができなくなる。したがって、偏差信号C1は次
第に大きくなる為、補償偏差信号J1も大きくなってい
く。そして、この補償偏差J1がリミッタ17及び不感
帯18で設定された偏差区間−α以上α以下を越える
と、粗動機構11へ補償偏差信号J1が送られて粗動機
構11が移動する。
【0018】かくして、以降の軌跡制御に対して微動機
構12は既に可動範囲を越えた状態にある為移動でき
ず、粗動機構11だけが移動していくことになり高精度
な軌跡制御は行えない。
【0019】さらに、図10の制御装置においては、高
精度な軌跡制御を行なう場合、微動機構22へは、図1
1に示すように、微動機構22の精度に相当する微動ス
テップhmを有する微動移動指令A3を送るとともに、
粗動機構21へは、図12に示すように、粗動機構21
の移動できる分解能以上で、しかも微動ステップhmの
整数倍、例えば3倍の高さを有する粗動ステップhcを
微動移動指令信号A3が微動ステップhmを3回発生し
た時間t1あるいはt2と同時に送る。
【0020】この時、前述のように粗動機構移動量F2
だけ微動機構22が後退することによって、位置決めが
なされる。
【0021】ところが、粗動機構21は、一般に位置決
め精度が悪い為、粗動移動指令信号A2に対し、粗動機
構移動量F2には必らず位置決め誤差が生じる。したが
って、微動機構22はこの位置決め誤差分も補正するよ
うに移動する為、上記の制御方法を繰り返す度に、粗動
機構22の位置決め誤差が累積し、いずれは微動機構2
2の可動範囲を越え、微動機構22は動けなくなり、以
後は高精度は軌跡制御を行なうことができない。
【0022】このように、図8〜図10に示すいずれの
制御装置にあっても、位置決め対象を長い距離にわたっ
て高精度に位置決めする場合、微動機構は必らず可動範
囲を越え、移動できなくなり、それ以降の移動指令信号
に対して、高精度に位置決めできなくなるという問題が
あった。
【0023】また、いずれの装置においても、大移動量
かつ高精度な軌跡制御及び、位置決め対象の出発点と最
終位置決め点との2点間を高速に移動させ、該最終位置
決め点に位置決めさせるような点から点への移動の両者
を同一の制御で行なう事は不可能であり、目的とする移
動方式に対し、制御方法を使いわけなければならないと
いう問題があった。
【0024】本発明は、上述の如き従来技術に鑑み、微
動機構が可動範囲を越えることなく、常に移動できるよ
うにすることで、大移動量を高精度に位置決めでき、し
かも点から点への高速位置決めを同一の制御法で行える
ようにした位置決め制御方法及び装置を提供することを
目的とする。
【0025】
【課題を解決するための手段】上記目的を達成する本発
明の構成は、
【0026】大移動量を有するが位置決め精度の低い粗
動機構と、小移動量ではあるが位置決め精度の高い微動
機構とから成る移動装置の前記微動機構上に搭載した位
置決め対象の位置を制御する位置決め制御方法におい
て、位置決め対象の固定位置に対する変位量を表わす変
位量信号と移動指令信号との差から成る偏差信号を、微
動機構の粗動機構に対する相対変位量に加え合わせて粗
動移動指令信号を生成し、この粗動移動指令信号を粗動
機構へ入力するとともに、前記偏差信号を微動機構へ入
力することを特徴とする。
【0027】また、大移動量を有するが位置決め精度の
低い粗動機構と、小移動量ではあるが位置決め精度の高
い微動機構とから成る移動装置の前記微動機構上に搭載
した位置決め対象の位置を制御する位置決め制御装置に
おいて、前記位置決め対象の移動指令信号を発生する信
号発生器と、前記位置決め対象の固定位置に対する絶対
位置を検出してこのときの変位量を表わす変位信号を送
出する絶対位置検出手段と、前記微動機構の前記粗動機
構に対する相対変位量を検出する相対位置検出手段と、
前記移動指令信号と変位信号との差を表わす偏差信号に
基づき制御される微動機構と、前記偏差信号に前記相対
位置検出手段の出力信号を加算した粗動移動指令信号に
基づき制御される粗動機構とを有することを特徴とす
る。
【0028】
【作用】上記構成の本発明によれば、微動機構の粗動機
構に対する相対変位量を相対位置検出手段により検出し
偏差信号を前記相対変位量に加え合わせた粗動移動指令
信号で、粗動機構を移動することによって、粗動機構は
微動機構の移動量を常に観測しながら移動指令信号に、
一致するように移動する。このため、微動機構は粗動機
構の移動によって生じた位置決め対象の固定位置に対す
る変位量と移動指令信号との差から成る偏差を補償する
ように移動し、高精度な位置決めが可能となる。しか
も、微動機構がある特定の移動量に達すると、粗動機構
が微動機構の移動量にほぼ相当するだけ移動するため、
微動機構は粗動機構の移動量だけ後退する。
【0029】かかる動作を繰り返すことで、微動機構を
可動範囲内に常に保ちながら大移動量を高精度に移動で
きる。
【0030】
【実施例】以下本発明の実施例を図面に基づき詳細に説
明する。
【0031】図1は本発明の第1の実施例を示すブロッ
ク線図である。同図に示す信号発生器104は、位置決
め対象の移動指令信号A4を発生するもので、コンピュ
ータ若しくはアナログ回路で構成してある。絶対位置検
出手段105は、例えばレーザ干渉計で形成したセンサ
であり、位置決め対象の固定位置に対する変位である絶
対変位量H4に基づき絶対位置を検出してこのときの変
位量を表わす変位信号B4を送出するものである。相対
位置検出手段133は、例えば静電容量型変位計で形成
したセンサであり、粗動機構101に対する微動機構1
02の相対変位を検出し、その出力信号K4を制御演算
部134に供給する。制御演算部134は、積分器のよ
うなゲイン及び周波数特性を調整するもので、出力信号
L4を送出する。
【0032】粗動機構101は、駆動源として、例えば
DCサーボモータ、ステッピングモータ等のアクチュエ
ータを用い、案内要素として、例えば転がり、摩擦を用
いたもので、応答速度は比較的遅く、位置決め精度は比
較的低いが、移動量は大きなものとなっている。この粗
動機構101は、粗動補償回路132の出力信号である
粗動補償指令信号D4に基づき粗動変位量F4だけ移動
する。粗動補償回路132は、移動指令信号Aと変位信
号B4との偏差信号C4に、相対変位量G4に基づく出
力信号L4を加算して生成される粗動移動指令信号M4
に基づき前記粗動補償指令信号D4を生成する。
【0033】微動機構102は、駆動源として高速応答
が可能で、高変位分解能、大発生力を有する、例えば圧
電素子、磁歪素子等のアクチュエータを用い、案内要素
として、例えばヒンジバネ、板バネ等を用いたもので、
応答速度は速く、位置決め精度は高いが、移動量は数十
μm程度と小さい。この微動機構102は、微動補償回
路131の出力信号である微動補償指令信号E4に基づ
き微動変位量だけ移動する。この微動変位量が相対変位
量G4となる。微動補償回路131は、前記偏差信号C
4に基づき前記微動補償指令信号E4を生成する。
【0034】かかる実施例によれば、移動指令信号A4
から変位信号B4を差し引いて偏差信号C4を生成し、
この偏差信号C4を微動補償回路131及び粗動補償回
路132側へ夫々供給する。
【0035】粗動補償回路132側へ供給された偏差信
号C4は、微動機構102の粗動機構101に対する相
対変位量を検出する相対位置検出手段133からの出力
信号K4に基づく出力信号L4に加え合わせて粗動移動
指令信号M4(=C4+L4)を生成し、その後粗動移
動指令信号M4が粗動補償回路132を通ることで粗動
補償指令信号D4を発生する。一方微動補償回路131
に送られた偏差信号C4は、この微動補償回路131を
通過後、微動補償指令信号E4を発生する。かくして、
粗動補償指令信号D4及び微動補償指令信号E4によ
り、粗動機構101及び微動機構102を、それぞれ粗
動変位量F4及び微動変位量だけ移動する。
【0036】粗動機構101は、粗動補償指令信号D4
を受け、移動指令信号A4に対して一致するように粗動
変位量F4だけ、常に移動しようとするが、粗動機構1
01では精度が悪い為、移動指令信号A4と指令信号A
4と変位信号B4との偏差である偏差信号C4を零にで
きず、完全な位置決めができずに残った偏差を、微動機
構102が微動移動量G4だけ移動することで位置決め
対象の固定位置に対する絶対変位量H4がH4=F4+
G4となり大移動量から高精度に位置決めされる。
【0037】さらに、絶対変位量H4は、絶対位置検出
手段105によって検出され、このときの検出信号であ
る変位信号B4を信号発生器104の移動指令信号A4
から差し引くことで偏差信号C4を生成し、クローズド
フィードバック制御を行なう。
【0038】また、本実施例では、微動機構102が移
動することによって蓄積していく微動変位量G4を、相
対位置検出手段133で微動機構102と粗動機構の相
対変位として検出し、この出力信号K4を制御演算部1
34に通し、発生した出力信号L4を偏差信号C4に加
え合わせ、この結果生成される粗動移動指令信号M4を
粗動補償回路132に供給している。この結果、生成さ
れた粗動補償指令信号D4によって、粗動機構101が
移動する。このため、粗動機構101が、常に微動変位
量G4を観測し、微動機構102がある特定の変位にな
ると移動する結果、微動機構102は常にある特定の範
囲内で移動できる。この際の微動機構102の可動範囲
の設定は制御演算部132のゲイン調整により行われ
る。かくして、微動機構102は、常時可動範囲内で動
くことが可能となる。
【0039】図2は、5nmの精度の階段状の移動指令
信号A4を入力したときの粗動機構101と微動機構1
02との変位を示す特性図である。同図を参照すれば、
粗動機構101が微動機構102の可動範囲を超えない
ように動くとともに、微動機構102が粗動機構101
の誤差を補正していることがわかる。
【0040】図3は500μmの距離を5nmステップ
で往復させた信号を移動指令信号A4として加えた時
の、位置決め対象の固定位置に対する絶対変位量H4
を、図4には図3の一部を拡大したグラフをそれぞれ示
す。両図に示すように、この場合微動機構102が可動
範囲を超えることなく位置決め対象は500μmの範囲
にわたって5nmステップで移動していることが分か
る。
【0041】図5は、1mmのステップ状の移動指令を
加えた時の位置決め対象の動きを示すグラフである。同
図を参照すれば、残留振動が残っているものの、点から
点への長い距離を移動させるような移動指令信号A4に
対し、位置決め対象の動きは移動指令信号A4に一致し
て、移動する事が可能であることがわかる。
【0042】図6は本発明の第2の実施例を示すブロッ
ク線図である。同図に示すように、本実施例は、偏差信
号C5のゲインを調整するゲイン調整器135の出力信
号N5から相対位置検出手段133の出力信号K4を差
し引いた偏差信号P5を生成し、この偏差信号P5を微
動補償回路131に供給するようにしたもので、他の構
成は図1に示す第1の実施例と同一である。そこで、図
1と同一部分には同一番号を付し、重複する説明は省略
する。
【0043】本実施例によれば、500μmの距離を5
nmの精度で往復させるような移動指令信号A4に対し
て、位置決め対象の移動速度は第1の実施例と比較し
て、約5倍向上させる事ができる。また、1mmのステ
ップ状の移動指令信号A4を入力した時の位置決め対象
の動きを図7に示す。同図を参照すれば、図5に示す残
留振動がなくなっており、したがって本実施例により、
過渡応答を改善する事も可能であることが分かる。
【0044】
【発明の効果】以上実施例とともに具体的に説明したよ
うに、本発明によれば、微動機構の粗動機構に対する相
対変位量を相対位置検出手段により検出し、この検出結
果を表わす信号を、移動指令信号と、位置決め対象の固
定位置に対する変位量である絶対変位量に基づく変位信
号との差である偏差信号に加算し、この加算結果を表わ
す信号によって粗動機構を移動させるようにしたので、
大移動量で、高精度を必要とする軌跡制御に対し、微動
機構の可動範囲を超えることなく、常に高精度の移動が
可能となるばかりでなく、2点間を移動させる移動指令
に対しても位置決め対象を高精度に位置決めすることが
できる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の第1の実施例を示すブロック線図であ
る。
【図2】図1に示す実施例における粗動機構及び微動機
構の、移動指令信号に対する移動特性を示すグラフであ
る。
【図3】図1に示す実施例の位置決め特性(500μm
の距離を5nmのステップで往復させた移動指令信号に
対する絶対変位量)を示すグラフである。
【図4】図3を一部を抽出・拡大して示すグラフであ
る。
【図5】図1に示す実施例における位置決め対象の移動
特性(1mmのステップ状の移動指令信号に対する位置
決め対象の動き)を示すグラフである。
【図6】本発明の第2の実施例を示すブロック線図であ
る。
【図7】図6に示す実施例における位置決め対象の図5
と同様の移動特性を示すグラフである。
【図8】従来技術に係る第1の位置決め制御装置を示す
ブロック線図である。
【図9】従来技術に係る第2の位置決め制御装置を示す
ブロック線図である。
【図10】従来技術に係る第3の位置決め制御装置を示
すブロック線図である。
【図11】図10に示す制御装置の微動機構に対する移
動指令信号を示す波形図である。
【図12】図10に示す制御装置の粗動機構に対する移
動指令信号を示す波形図である。
【符号の説明】
101 粗動機構 102 微動機構 104 信号発生器 105 絶対位置検出手段 133 相対位置検出手段 A4 移動指令信号 B4 変位信号 C4 偏差信号 F4 粗動変位量 G4 相対変位量 H4 絶対変位量 M4 粗動移動指令信号
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 後藤 崇之 神奈川県横浜市金沢区幸浦一丁目8番地 1 三菱重工業株式会社 基盤技術研究 所内 審査官 下原 浩嗣 (56)参考文献 特開 昭62−95741(JP,A) 特開 昭60−146650(JP,A) 特開 平2−204808(JP,A)

Claims (2)

    (57)【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 大移動量を有するが位置決め精度の低い
    粗動機構と、小移動量ではあるが位置決め精度の高い微
    動機構とから成る移動装置の前記微動機構上に搭載した
    位置決め対象の位置を制御する位置決め制御方法におい
    て、 位置決め対象の固定位置に対する変位量を表わす変位量
    信号と移動指令信号との差から成る偏差信号を、微動機
    構の粗動機構に対する相対変位量に加え合わせて粗動移
    動指令信号を生成し、この粗動移動指令信号を粗動機構
    へ入力するとともに、前記偏差信号を微動機構へ入力す
    ることを特徴とする位置決め制御方法。
  2. 【請求項2】 大移動量を有するが位置決め精度の低い
    粗動機構と、小移動量ではあるが位置決め精度の高い微
    動機構とから成る移動装置の前記微動機構上に搭載した
    位置決め対象の位置を制御する位置決め制御装置におい
    て、 前記位置決め対象の移動指令信号を発生する信号発生器
    と、 前記位置決め対象の固定位置に対する絶対位置を検出し
    てこのときの変位量を表わす変位信号を送出する絶対位
    置検出手段と、 前記微動機構の前記粗動機構に対する相対変位量を検出
    する相対位置検出手段と、 前記移動指令信号と変位信号との差を表わす偏差信号に
    基づき制御される微動機構と、 前記偏差信号に前記相対位置検出手段の出力信号を加算
    した粗動移動指令信号に基づき制御される粗動機構とを
    有することを特徴とする位置決め制御装置。
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