JPH0737786A - ステージ位置決め制御方法 - Google Patents
ステージ位置決め制御方法Info
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- JPH0737786A JPH0737786A JP18042793A JP18042793A JPH0737786A JP H0737786 A JPH0737786 A JP H0737786A JP 18042793 A JP18042793 A JP 18042793A JP 18042793 A JP18042793 A JP 18042793A JP H0737786 A JPH0737786 A JP H0737786A
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- G03F—PHOTOMECHANICAL PRODUCTION OF TEXTURED OR PATTERNED SURFACES, e.g. FOR PRINTING, FOR PROCESSING OF SEMICONDUCTOR DEVICES; MATERIALS THEREFOR; ORIGINALS THEREFOR; APPARATUS SPECIALLY ADAPTED THEREFOR
- G03F7/00—Photomechanical, e.g. photolithographic, production of textured or patterned surfaces, e.g. printing surfaces; Materials therefor, e.g. comprising photoresists; Apparatus specially adapted therefor
- G03F7/70—Microphotolithographic exposure; Apparatus therefor
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- G—PHYSICS
- G05—CONTROLLING; REGULATING
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- G05B19/00—Programme-control systems
- G05B19/02—Programme-control systems electric
- G05B19/18—Numerical control [NC], i.e. automatically operating machines, in particular machine tools, e.g. in a manufacturing environment, so as to execute positioning, movement or co-ordinated operations by means of programme data in numerical form
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- Container, Conveyance, Adherence, Positioning, Of Wafer (AREA)
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Abstract
(57)【要約】
【目的】 ステージ位置決め制御方法を、各位置決め指
令の要求される機能を必要十分に満足し、常に最適な位
置決め方法を実行できるようにする。 【構成】 ステージコントローラ10は、制御工程情報
ICPおよび指令位置情報IP が指令ユニット20から送
られてくる駆動モード制御ユニット11と、駆動モード
制御ユニット11から送られてくる駆動軸情報IA ,駆
動方法情報IM および指令位置情報IP に従ってステー
ジ部50の各軸を駆動する駆動制御ユニット12とを備
えている。なお、駆動モード制御ユニット11は、ステ
ージの位置決め指令に要求される機能に応じて複数の駆
動モードが設定されている駆動モードテーブル111 を
有する。
令の要求される機能を必要十分に満足し、常に最適な位
置決め方法を実行できるようにする。 【構成】 ステージコントローラ10は、制御工程情報
ICPおよび指令位置情報IP が指令ユニット20から送
られてくる駆動モード制御ユニット11と、駆動モード
制御ユニット11から送られてくる駆動軸情報IA ,駆
動方法情報IM および指令位置情報IP に従ってステー
ジ部50の各軸を駆動する駆動制御ユニット12とを備
えている。なお、駆動モード制御ユニット11は、ステ
ージの位置決め指令に要求される機能に応じて複数の駆
動モードが設定されている駆動モードテーブル111 を
有する。
Description
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、ステージ位置決め制御
方法に関し、特に、露光装置に使用されるステージの位
置決めを行うのに適したステージ位置決め制御方法に関
する。
方法に関し、特に、露光装置に使用されるステージの位
置決めを行うのに適したステージ位置決め制御方法に関
する。
【0002】
【従来の技術】露光装置に使用される高精度の位置決め
用のステージでは、ステージの軸が多軸になってくる
と、単軸のみの駆動を行った場合でも他軸への影響(他
軸干渉)を避けられない。その結果、機構のみによって
高精度の位置決めを達成しようとすると、以下に示すよ
うな問題が発生してくる。 (1)ステージの走り精度の所望の仕様を満足する位置
決め装置を製造するためには、各機構の精度を上げる必
要があり、製造工程におけるコストおよび納期が増加す
る。 (2)ステージの走り精度の所望の仕様を満足させる環
境条件の制約が厳しくなる。
用のステージでは、ステージの軸が多軸になってくる
と、単軸のみの駆動を行った場合でも他軸への影響(他
軸干渉)を避けられない。その結果、機構のみによって
高精度の位置決めを達成しようとすると、以下に示すよ
うな問題が発生してくる。 (1)ステージの走り精度の所望の仕様を満足する位置
決め装置を製造するためには、各機構の精度を上げる必
要があり、製造工程におけるコストおよび納期が増加す
る。 (2)ステージの走り精度の所望の仕様を満足させる環
境条件の制約が厳しくなる。
【0003】そこで、ステージの走り精度の所望の仕様
を満足する位置決め装置を製造する製造工程におけるコ
ストおよび納期などの負担を軽減し、かつ、厳しい環境
条件の制約なしに、高精度の位置決めを実現するため
に、ステージの位置決め補正制御方法が用いられてい
る。このようなステージの位置決め補正制御方法として
は、以下に示す2つの方法がある。 (1)ステージの位置決め駆動前に位置決め時に発生し
得る他軸干渉量を予め演算して、各軸の位置決め位置を
補正する、ステージの位置決め補正制御方法。 (2)位置決め駆動完了後、発生した他軸干渉量をゼロ
にするように他軸干渉補正駆動を行う、ステージの位置
決め補正制御方法。
を満足する位置決め装置を製造する製造工程におけるコ
ストおよび納期などの負担を軽減し、かつ、厳しい環境
条件の制約なしに、高精度の位置決めを実現するため
に、ステージの位置決め補正制御方法が用いられてい
る。このようなステージの位置決め補正制御方法として
は、以下に示す2つの方法がある。 (1)ステージの位置決め駆動前に位置決め時に発生し
得る他軸干渉量を予め演算して、各軸の位置決め位置を
補正する、ステージの位置決め補正制御方法。 (2)位置決め駆動完了後、発生した他軸干渉量をゼロ
にするように他軸干渉補正駆動を行う、ステージの位置
決め補正制御方法。
【0004】なお、従来は、上述した位置決め補正制御
方法を駆動ごとに行うことにより、常に高精度の位置決
めを行うことを可能としている。
方法を駆動ごとに行うことにより、常に高精度の位置決
めを行うことを可能としている。
【0005】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、露光装
置における実際の処理からみると、各軸の位置とその位
置決め方法とは、以下に示す2つに分けられる。
置における実際の処理からみると、各軸の位置とその位
置決め方法とは、以下に示す2つに分けられる。
【0006】(1)他軸干渉の影響を無視できない高精
度な位置決めを要する位置とその位置決め方法(位置決
め精度±0.01マイクロメータ程度)。
度な位置決めを要する位置とその位置決め方法(位置決
め精度±0.01マイクロメータ程度)。
【0007】この場合には、他軸干渉量の発生を防ぐた
めに、他軸干渉量を発生しない軸のみで位置決めする位
置決め方法,位置決め駆動前に、位置決め時に発生し得
る他軸干渉量を予め演算して、各軸の位置決め位置を補
正する位置決め方法,または位置決め駆動完了後、発生
した他軸干渉量をゼロにするように他軸干渉量補正駆動
を行う位置決め方法を用いることにより、他軸干渉量を
補正できるため、高精度の位置決めは達成できるが、そ
の位置決めに要する時間(以下、「位置決め時間」と称
する。)は長くなる。
めに、他軸干渉量を発生しない軸のみで位置決めする位
置決め方法,位置決め駆動前に、位置決め時に発生し得
る他軸干渉量を予め演算して、各軸の位置決め位置を補
正する位置決め方法,または位置決め駆動完了後、発生
した他軸干渉量をゼロにするように他軸干渉量補正駆動
を行う位置決め方法を用いることにより、他軸干渉量を
補正できるため、高精度の位置決めは達成できるが、そ
の位置決めに要する時間(以下、「位置決め時間」と称
する。)は長くなる。
【0008】(2)他軸干渉の影響を無視できる位置と
その位置決め方法(位置決め精度±1.0マイクロメー
タ程度)。
その位置決め方法(位置決め精度±1.0マイクロメー
タ程度)。
【0009】この場合には、他軸干渉量の演算や位置決
め駆動完了後の発生した他軸干渉量の補正駆動を行わな
いため、位置決めを高精度に行うことはできないが、そ
の位置決め時間を大幅に短縮できる。
め駆動完了後の発生した他軸干渉量の補正駆動を行わな
いため、位置決めを高精度に行うことはできないが、そ
の位置決め時間を大幅に短縮できる。
【0010】すなわち、従来では、各位置決め指令に要
求される機能に関係なく他軸干渉量補正を行って、常に
高精度な位置決めを行っているため、高精度な位置決め
よりも位置決め時間を短くすることを優先する位置決め
駆動においても、過剰ともいえる精度で位置決めを行っ
ている結果、位置決め時間を必要最小限にすることがで
きず、各位置決め指令に要求される機能を必要十分に満
足した最適な位置決め方法がとられているとはいえな
い。
求される機能に関係なく他軸干渉量補正を行って、常に
高精度な位置決めを行っているため、高精度な位置決め
よりも位置決め時間を短くすることを優先する位置決め
駆動においても、過剰ともいえる精度で位置決めを行っ
ている結果、位置決め時間を必要最小限にすることがで
きず、各位置決め指令に要求される機能を必要十分に満
足した最適な位置決め方法がとられているとはいえな
い。
【0011】本発明の目的は、各位置決め指令の要求さ
れる機能を必要十分に満足し、常に最適な位置決め方法
を実行することができるステージ位置決め制御方法を提
供することにある。
れる機能を必要十分に満足し、常に最適な位置決め方法
を実行することができるステージ位置決め制御方法を提
供することにある。
【0012】
【課題を解決するための手段】本発明のステージ位置決
め制御方法は、ステージの位置決め指令に要求される機
能に応じて複数の駆動モードを設定しておき、該設定し
た複数の駆動モードのうち、前記位置決め指令に応じた
駆動モードを選択し、該選択した駆動モードに従って前
記ステージを駆動して該ステージの位置決めを行う。
め制御方法は、ステージの位置決め指令に要求される機
能に応じて複数の駆動モードを設定しておき、該設定し
た複数の駆動モードのうち、前記位置決め指令に応じた
駆動モードを選択し、該選択した駆動モードに従って前
記ステージを駆動して該ステージの位置決めを行う。
【0013】ここで、前記ステージが露光装置に使用さ
れるものであり、前記位置決め指令が前記露光装置の制
御工程により決定されてもよく、前記位置決め指令が前
記ステージの位置決め位置により決定されてもよく、前
記位置決め指令が前記ステージの移動量により決定され
てもよい。
れるものであり、前記位置決め指令が前記露光装置の制
御工程により決定されてもよく、前記位置決め指令が前
記ステージの位置決め位置により決定されてもよく、前
記位置決め指令が前記ステージの移動量により決定され
てもよい。
【0014】
【作用】本発明のステージ位置決め制御方法では、ステ
ージの位置決め指令に要求される機能に応じて設定され
た複数の駆動モードのうち、位置決め指令に応じた駆動
モードを選択して、選択した駆動モードに従ってステー
ジを駆動してステージの位置決めを行うことにより、各
位置決め指令の要求される機能を必要十分に満足する位
置決めを行うことができる。
ージの位置決め指令に要求される機能に応じて設定され
た複数の駆動モードのうち、位置決め指令に応じた駆動
モードを選択して、選択した駆動モードに従ってステー
ジを駆動してステージの位置決めを行うことにより、各
位置決め指令の要求される機能を必要十分に満足する位
置決めを行うことができる。
【0015】
【実施例】以下、本発明の実施例について、図面を参照
して説明する。
して説明する。
【0016】図1は、本発明のステージ位置決め制御方
法の第1の実施例が実現可能なステージコントローラを
示すブロック図であり、図2は、図1に示したステージ
コントローラによりステージの位置決めが行われる露光
装置のステージ部の概略構成図である。
法の第1の実施例が実現可能なステージコントローラを
示すブロック図であり、図2は、図1に示したステージ
コントローラによりステージの位置決めが行われる露光
装置のステージ部の概略構成図である。
【0017】ステージコントローラ10は、後述する各
レーザー干渉計(X軸レーザー干渉計60X など)にお
ける計測値を処理するとともに、図2に示すステージ部
50の各軸の駆動を制御するものであり、制御工程情報
ICPおよび指令位置情報IPが指令ユニット20から送
られてくる駆動モード制御ユニット11と、駆動モード
制御ユニット11から送られてくる駆動軸情報IA ,駆
動方法情報IM および指令位置情報IP に従ってステー
ジ部50の各軸を駆動する駆動制御ユニット12とを備
えている。なお、駆動モード制御ユニット11は、ステ
ージの位置決め指令に要求される機能に応じて複数の駆
動モードが設定されている駆動モードテーブル111 を
有する。また、図には示してしないが、駆動制御ユニッ
ト12には、各レーザー干渉計における計測値が送られ
てくる。
レーザー干渉計(X軸レーザー干渉計60X など)にお
ける計測値を処理するとともに、図2に示すステージ部
50の各軸の駆動を制御するものであり、制御工程情報
ICPおよび指令位置情報IPが指令ユニット20から送
られてくる駆動モード制御ユニット11と、駆動モード
制御ユニット11から送られてくる駆動軸情報IA ,駆
動方法情報IM および指令位置情報IP に従ってステー
ジ部50の各軸を駆動する駆動制御ユニット12とを備
えている。なお、駆動モード制御ユニット11は、ステ
ージの位置決め指令に要求される機能に応じて複数の駆
動モードが設定されている駆動モードテーブル111 を
有する。また、図には示してしないが、駆動制御ユニッ
ト12には、各レーザー干渉計における計測値が送られ
てくる。
【0018】露光装置のステージ部50は、図2に示す
ように、駆動分解能と同等程度の測長分解能をもつエン
コーダまたは光学スケールなどの測長手段(不図示)を
有する粗動X軸51と、駆動分解能と同等程度の測長分
解能をもつエンコーダまたは光学スケールなどの測長手
段(不図示)を有する粗動Y軸52と、微動X軸53
と、微動Y軸54と、Zティルト軸55と、ウエハ1が
保持されるウエハチャック56と、マスク2の位置決め
用のマスク軸57と、X軸方向用のX軸レーザー干渉計
60X と、Y軸方向用のY軸レーザー干渉計60Y (不
図示)と、X軸回転方向用のX軸回転レーザー干渉計6
0RX(不図示)と、Y軸回転方向用のY軸回転レーザー
干渉計60RY(不図示)と、Z軸回転方向用のZ軸回転
レーザー干渉計60RZ(不図示)と、レーザー干渉計測
長用ミラー61とを備えている。
ように、駆動分解能と同等程度の測長分解能をもつエン
コーダまたは光学スケールなどの測長手段(不図示)を
有する粗動X軸51と、駆動分解能と同等程度の測長分
解能をもつエンコーダまたは光学スケールなどの測長手
段(不図示)を有する粗動Y軸52と、微動X軸53
と、微動Y軸54と、Zティルト軸55と、ウエハ1が
保持されるウエハチャック56と、マスク2の位置決め
用のマスク軸57と、X軸方向用のX軸レーザー干渉計
60X と、Y軸方向用のY軸レーザー干渉計60Y (不
図示)と、X軸回転方向用のX軸回転レーザー干渉計6
0RX(不図示)と、Y軸回転方向用のY軸回転レーザー
干渉計60RY(不図示)と、Z軸回転方向用のZ軸回転
レーザー干渉計60RZ(不図示)と、レーザー干渉計測
長用ミラー61とを備えている。
【0019】ここで、Zティルト軸55は、ウエハチャ
ック56を微動Y軸54に対してZ軸方向に移動させる
3本のピエゾスタック(不図示)から構成されている。
各ピエゾスタックは、XY平面内に、ウエハチャック5
6の中心を中心とした円周上に等間隔で配置されてお
り、各ピエゾスタックの駆動量を異ならせることによ
り、ウエハチャック56のウエハ1の保持面をXY平面
に対して傾けることを可能としている。ウエハチャック
56は、Z軸方向に移動可能なものである。
ック56を微動Y軸54に対してZ軸方向に移動させる
3本のピエゾスタック(不図示)から構成されている。
各ピエゾスタックは、XY平面内に、ウエハチャック5
6の中心を中心とした円周上に等間隔で配置されてお
り、各ピエゾスタックの駆動量を異ならせることによ
り、ウエハチャック56のウエハ1の保持面をXY平面
に対して傾けることを可能としている。ウエハチャック
56は、Z軸方向に移動可能なものである。
【0020】次に、ウエハチャック56の位置決め位置
について、図3を参照して説明する。
について、図3を参照して説明する。
【0021】第1乃至第4の露光ショット位置QS1〜Q
S4はそれぞれ、ウエハ1上の露光ショット位置を示して
いる。露光パターンPは、マスク2上の露光パターンを
示している。ウエハ交換位置QU は、ウエハハンド70
からウエハチャック56へのウエハ1の交換を行う場合
のウエハチャック56の中心の位置決め位置を示してい
る。プリアライメント位置QPAは、ウエハ1のプリアラ
イメントを行う場合のウエハチャック56の中心の位置
決め位置を示している。ファインアライメント位置QFA
は、第1乃至第4の露光ショット位置QS1〜QS4のうち
の一つをマスク2の露光パターンPに対して高精度に位
置決めを行う位置を示している。露光ショット領域A
は、第1乃至第4の露光ショット位置QS1〜QS4のうち
の一つをファインアライメント位置QFAに位置決めする
場合のウエハチャック56の中心が位置決めされる領域
を示している。ウエハチャック退避位置QE は、マスク
2の交換時に、ウエハチャック56の退避を行う場合の
ウエハチャック56の中心の位置決め位置を示してい
る。マスクアライメント位置QMAは、レーザー干渉計測
長用ミラー61上のマスク軸ステージ基準99に対して
マスク2上の基準マーク(不図示)を高精度に位置決め
する場合のウエハチャック56の中心の位置決め位置を
示している。
S4はそれぞれ、ウエハ1上の露光ショット位置を示して
いる。露光パターンPは、マスク2上の露光パターンを
示している。ウエハ交換位置QU は、ウエハハンド70
からウエハチャック56へのウエハ1の交換を行う場合
のウエハチャック56の中心の位置決め位置を示してい
る。プリアライメント位置QPAは、ウエハ1のプリアラ
イメントを行う場合のウエハチャック56の中心の位置
決め位置を示している。ファインアライメント位置QFA
は、第1乃至第4の露光ショット位置QS1〜QS4のうち
の一つをマスク2の露光パターンPに対して高精度に位
置決めを行う位置を示している。露光ショット領域A
は、第1乃至第4の露光ショット位置QS1〜QS4のうち
の一つをファインアライメント位置QFAに位置決めする
場合のウエハチャック56の中心が位置決めされる領域
を示している。ウエハチャック退避位置QE は、マスク
2の交換時に、ウエハチャック56の退避を行う場合の
ウエハチャック56の中心の位置決め位置を示してい
る。マスクアライメント位置QMAは、レーザー干渉計測
長用ミラー61上のマスク軸ステージ基準99に対して
マスク2上の基準マーク(不図示)を高精度に位置決め
する場合のウエハチャック56の中心の位置決め位置を
示している。
【0022】次に、露光装置のステージ部50の駆動に
関する制御工程について詳細に説明する。
関する制御工程について詳細に説明する。
【0023】(1)ウエア受け取り工程 ウエハハンド70からウエハチャック56にウエハ1を
受け取る工程である。ここで、ウエハチャック56に受
け取られたウエハ1は、プリアライメント位置QPAでZ
軸回転方向の位置決めがされたのち、露光ショット領域
A内のファインアライメント位置で露光ショットごとに
マスク2と高精度に位置合わせされる。したがって、ウ
エハチャック56の中心をウエハ交換位置QU に位置決
めする場合は、高精度に位置決めを行うことよりも、位
置決め時間を短くすることを優先するとよい。
受け取る工程である。ここで、ウエハチャック56に受
け取られたウエハ1は、プリアライメント位置QPAでZ
軸回転方向の位置決めがされたのち、露光ショット領域
A内のファインアライメント位置で露光ショットごとに
マスク2と高精度に位置合わせされる。したがって、ウ
エハチャック56の中心をウエハ交換位置QU に位置決
めする場合は、高精度に位置決めを行うことよりも、位
置決め時間を短くすることを優先するとよい。
【0024】(2)プリアライメント工程 ウエハ1のZ軸回転方向の位置決めを行う工程である。
ウエハ1のZ軸回転方向の位置決めは、ウエハチャック
56のZ軸回転方向位置決め基準(不図示)に対してウ
エハ1上の基準マーク(不図示)を位置決めすることに
より行われる。したがって、ウエハチャック56の中心
をプリアライメント位置QPAに位置決めする場合は、ウ
エハチャック56のZ軸回転方向位置決め基準とウエハ
1上の基準マークとのずれ量を検出する検出方法によ
り、Y軸方向に関しては高精度に位置決めを行うことを
優先し、X軸方向に関しては位置決め時間を短くするこ
とを優先するとよい。
ウエハ1のZ軸回転方向の位置決めは、ウエハチャック
56のZ軸回転方向位置決め基準(不図示)に対してウ
エハ1上の基準マーク(不図示)を位置決めすることに
より行われる。したがって、ウエハチャック56の中心
をプリアライメント位置QPAに位置決めする場合は、ウ
エハチャック56のZ軸回転方向位置決め基準とウエハ
1上の基準マークとのずれ量を検出する検出方法によ
り、Y軸方向に関しては高精度に位置決めを行うことを
優先し、X軸方向に関しては位置決め時間を短くするこ
とを優先するとよい。
【0025】(3)マスク交換工程 マスク2の交換を行う工程である。マスク2の交換時
は、ウエハチャック56をマスク交換時のウエハチャッ
ク退避位置QE に位置決めすることにより、マスク搬送
装置(不図示)とウエハチャック56との安全性を確保
する。したがって、ウエハチャック56の中心をウエハ
チャック退避位置QE に位置決めする場合は、高精度に
位置決めを行うことよりも、位置決め時間を短くするこ
とを優先するとよい。
は、ウエハチャック56をマスク交換時のウエハチャッ
ク退避位置QE に位置決めすることにより、マスク搬送
装置(不図示)とウエハチャック56との安全性を確保
する。したがって、ウエハチャック56の中心をウエハ
チャック退避位置QE に位置決めする場合は、高精度に
位置決めを行うことよりも、位置決め時間を短くするこ
とを優先するとよい。
【0026】(4)マスクアライメント工程 レーザー干渉計測長用ミラー61上のマスク軸ステージ
基準99に対して、マスク2上の基準マーク(不図示)
を高精度に位置合わせする。したがって、ウエハチャッ
ク56の中心をマスクアライメント位置QMAに位置決め
する場合は、高精度に位置決めを行うことを優先すると
よい。なお、マスク2の交換時のウエハチャック退避位
置QE からマスクアライメント位置QMAに位置決めする
場合は、その駆動ストロークから、粗動X軸51,粗動
Y軸52,微動X軸53および微動Y軸54を用いた位
置決めを行う。したがって、この場合には、粗動X軸5
1と粗動Y軸52とをそれぞれ駆動するため他軸干渉量
が発生するが、発生した他軸干渉量を補正することによ
り、高精度の位置決めができる。
基準99に対して、マスク2上の基準マーク(不図示)
を高精度に位置合わせする。したがって、ウエハチャッ
ク56の中心をマスクアライメント位置QMAに位置決め
する場合は、高精度に位置決めを行うことを優先すると
よい。なお、マスク2の交換時のウエハチャック退避位
置QE からマスクアライメント位置QMAに位置決めする
場合は、その駆動ストロークから、粗動X軸51,粗動
Y軸52,微動X軸53および微動Y軸54を用いた位
置決めを行う。したがって、この場合には、粗動X軸5
1と粗動Y軸52とをそれぞれ駆動するため他軸干渉量
が発生するが、発生した他軸干渉量を補正することによ
り、高精度の位置決めができる。
【0027】(5)露光ショット位置決め工程 第1乃至第4の露光ショット位置QS1〜QS4のうちの一
つをファインアライメント位置QFAに高精度に位置決め
する。したがって、この場合には、位置決めを高精度に
行うことを優先するとよい。なお、各露光ショット間の
X軸方向およびY軸方向の距離は、微動X軸53および
微動Y軸54のストロークを超えるため、粗動X軸5
1,粗動Y軸52,微動X軸53および微動Y軸54を
用いた位置決めを行う。したがって、この場合には、粗
動X軸51および粗動Y軸52をそれぞれ駆動するため
他軸干渉量が発生するが、発生した他軸干渉量を補正す
ることにより、高精度の位置決めができる。
つをファインアライメント位置QFAに高精度に位置決め
する。したがって、この場合には、位置決めを高精度に
行うことを優先するとよい。なお、各露光ショット間の
X軸方向およびY軸方向の距離は、微動X軸53および
微動Y軸54のストロークを超えるため、粗動X軸5
1,粗動Y軸52,微動X軸53および微動Y軸54を
用いた位置決めを行う。したがって、この場合には、粗
動X軸51および粗動Y軸52をそれぞれ駆動するため
他軸干渉量が発生するが、発生した他軸干渉量を補正す
ることにより、高精度の位置決めができる。
【0028】(6)ファインアライメント工程 第1乃至第4の露光ショット位置QS1〜QS4のうち一つ
をマスク2の露光パターンPに対して高精度に位置合わ
せを行う。したがって、露光パターンPに対して各露光
ショット位置QS1〜QS4を位置合わせする場合には、位
置決めを高精度に行うことを優先するとよい。なお、こ
の場合には、予めファインアライメント位置QFAに位置
決めされたのち、外部計測手段(不図示)によりマスク
2の露光パターンPに対する今回の露光ショット位置の
ずれ量を計測し、計測されたずれ量を補正するようにウ
エハチャック56を駆動することにより、ずれ量がゼロ
になるように位置決めする。すなわち、予めファインア
ライメント位置QFAに位置決めされているため、移動量
は微動X軸53および微動Y軸54のストローク内で十
分である。したがって、微動X軸53および微動Y軸5
4のみを用いて駆動を行うことにより、他軸干渉量を発
生させることなく位置決めを行うことができる。
をマスク2の露光パターンPに対して高精度に位置合わ
せを行う。したがって、露光パターンPに対して各露光
ショット位置QS1〜QS4を位置合わせする場合には、位
置決めを高精度に行うことを優先するとよい。なお、こ
の場合には、予めファインアライメント位置QFAに位置
決めされたのち、外部計測手段(不図示)によりマスク
2の露光パターンPに対する今回の露光ショット位置の
ずれ量を計測し、計測されたずれ量を補正するようにウ
エハチャック56を駆動することにより、ずれ量がゼロ
になるように位置決めする。すなわち、予めファインア
ライメント位置QFAに位置決めされているため、移動量
は微動X軸53および微動Y軸54のストローク内で十
分である。したがって、微動X軸53および微動Y軸5
4のみを用いて駆動を行うことにより、他軸干渉量を発
生させることなく位置決めを行うことができる。
【0029】(7)ウエハ受け渡し工程 ウエハチャック56からウエハハンド70へウエハ1を
受け渡す工程である。なお、ウエハチャック56をウエ
ハ交換位置QU に位置決めする場合には、高精度に位置
決めを行うことよりも、位置決め時間を短くすることを
優先するとよい。
受け渡す工程である。なお、ウエハチャック56をウエ
ハ交換位置QU に位置決めする場合には、高精度に位置
決めを行うことよりも、位置決め時間を短くすることを
優先するとよい。
【0030】以上述べたステージ50の駆動に関する制
御工程から、以下に列挙する第1乃至第4の駆動モード
が考えられる。
御工程から、以下に列挙する第1乃至第4の駆動モード
が考えられる。
【0031】(1)第1の駆動モード X軸およびY軸の位置決め駆動に関して、X軸およびY
軸ともに位置決め時間を短縮することを優先する。
軸ともに位置決め時間を短縮することを優先する。
【0032】すなわち、駆動軸を粗動X軸51および粗
動Y軸52のみにすること、および、粗動X軸51およ
び粗動Y軸52の駆動時に発生する他軸干渉量を補正し
ないことにより、X軸およびY軸ともに位置決め時間を
短縮する。このときの駆動方法は、粗動X軸51および
粗動Y軸52にそれぞれ設けられた測長手段を用いて、
粗動X軸51および粗動Y軸52による位置決めを行
う。なお、粗動X軸51および粗動Y軸52を駆動する
前に、微動X軸53および微動Y軸54をその駆動可能
ストロークの中間位置に位置決めしておく。また、粗動
X軸51および粗動Y軸52は、同時に駆動を行う。以
下、このような駆動方法を「粗動XY軸位置決め駆動方
法」という。
動Y軸52のみにすること、および、粗動X軸51およ
び粗動Y軸52の駆動時に発生する他軸干渉量を補正し
ないことにより、X軸およびY軸ともに位置決め時間を
短縮する。このときの駆動方法は、粗動X軸51および
粗動Y軸52にそれぞれ設けられた測長手段を用いて、
粗動X軸51および粗動Y軸52による位置決めを行
う。なお、粗動X軸51および粗動Y軸52を駆動する
前に、微動X軸53および微動Y軸54をその駆動可能
ストロークの中間位置に位置決めしておく。また、粗動
X軸51および粗動Y軸52は、同時に駆動を行う。以
下、このような駆動方法を「粗動XY軸位置決め駆動方
法」という。
【0033】この駆動モード(第1の駆動モード)が用
いられる例としては、ウエハチャック56の中心をウエ
ハ交換位置QU に位置決めする場合、および、ウエハチ
ャック56の中心をマスク2の交換時のウエハチャック
退避位置QE に位置決めする場合がある。第1の駆動モ
ードで行われる駆動には、粗動X軸51および粗動Y軸
52の駆動や、アッベ誤差量補正駆動なしのZティルト
軸55の駆動などがある。
いられる例としては、ウエハチャック56の中心をウエ
ハ交換位置QU に位置決めする場合、および、ウエハチ
ャック56の中心をマスク2の交換時のウエハチャック
退避位置QE に位置決めする場合がある。第1の駆動モ
ードで行われる駆動には、粗動X軸51および粗動Y軸
52の駆動や、アッベ誤差量補正駆動なしのZティルト
軸55の駆動などがある。
【0034】(2)第2の駆動モード X軸およびY軸の位置決め駆動に関して、Y軸のみ位置
決めを高精度に行うことを優先する。
決めを高精度に行うことを優先する。
【0035】すなわち、X軸の駆動軸を粗動X軸51の
みとすること、および、粗動X軸51と粗動Y軸52と
の駆動時に発生する他軸干渉量をY軸についてのみ補正
することにより、Y軸のみ位置決めを高精度に行う。な
お、このときの駆動軸は、粗動X軸51,粗動Y軸5
2,微動Y軸54および他軸干渉量を補正するためのZ
ティルト軸55とする。
みとすること、および、粗動X軸51と粗動Y軸52と
の駆動時に発生する他軸干渉量をY軸についてのみ補正
することにより、Y軸のみ位置決めを高精度に行う。な
お、このときの駆動軸は、粗動X軸51,粗動Y軸5
2,微動Y軸54および他軸干渉量を補正するためのZ
ティルト軸55とする。
【0036】このときの駆動方法は、まず、粗動X軸5
1および粗動Y軸52にそれぞれ設けられた測長手段を
用いて粗動X軸51および粗動Y軸52による位置決め
を行い、さらに、レーザー干渉計を用いて粗動Y軸52
による位置決めを行う。続いて、レーザー干渉計を用い
て微動Y軸54による位置決めを行う。なお、粗動X軸
51および粗動Y軸52の駆動前に、微動X軸53およ
び微動Y軸54をその駆動可能ストロークの中間位置に
位置決めしておく。粗動X軸51および粗動Y軸52
は、同時に駆動を行う。また、他軸干渉量の補正方法
は、位置決め駆動前に他軸干渉量を予め演算して、各軸
の位置決め位置を補正する方法と、発生した他軸干渉量
をゼロにするように他軸干渉量補正駆動を行う方法のい
ずれかまたは両方を用いる。他軸干渉量補正駆動には、
姿勢変化量補正駆動,アッベ誤差量補正駆動および粗動
XY軸他軸干渉量補正駆動などがある。以下、このよう
な駆動方法を「粗動X軸粗微動Y軸位置決め駆動方法」
という。
1および粗動Y軸52にそれぞれ設けられた測長手段を
用いて粗動X軸51および粗動Y軸52による位置決め
を行い、さらに、レーザー干渉計を用いて粗動Y軸52
による位置決めを行う。続いて、レーザー干渉計を用い
て微動Y軸54による位置決めを行う。なお、粗動X軸
51および粗動Y軸52の駆動前に、微動X軸53およ
び微動Y軸54をその駆動可能ストロークの中間位置に
位置決めしておく。粗動X軸51および粗動Y軸52
は、同時に駆動を行う。また、他軸干渉量の補正方法
は、位置決め駆動前に他軸干渉量を予め演算して、各軸
の位置決め位置を補正する方法と、発生した他軸干渉量
をゼロにするように他軸干渉量補正駆動を行う方法のい
ずれかまたは両方を用いる。他軸干渉量補正駆動には、
姿勢変化量補正駆動,アッベ誤差量補正駆動および粗動
XY軸他軸干渉量補正駆動などがある。以下、このよう
な駆動方法を「粗動X軸粗微動Y軸位置決め駆動方法」
という。
【0037】第2の駆動モードが用いられる例として
は、ウエハチャック56の中心をプリアライメント位置
QPAに位置決めする場合がある。第2の駆動モードで行
われる駆動には、粗動X軸51,粗動Y軸52および微
動Y軸54の駆動がある。
は、ウエハチャック56の中心をプリアライメント位置
QPAに位置決めする場合がある。第2の駆動モードで行
われる駆動には、粗動X軸51,粗動Y軸52および微
動Y軸54の駆動がある。
【0038】(3)第3の駆動モード X軸およびY軸の位置決め駆動に関して、X軸およびY
軸ともに位置決めを高精度に行うことを優先する。
軸ともに位置決めを高精度に行うことを優先する。
【0039】すなわち、粗動X軸51および粗動Y軸5
2の駆動時に発生する他軸干渉量を補正することによ
り、X軸およびY軸ともに位置決めを高精度に行う。な
お、このときの駆動軸は、粗動X軸51,粗動Y軸5
2,微動X軸53,微動Y軸54および他軸干渉量を補
正するためのZティルト軸55とする。
2の駆動時に発生する他軸干渉量を補正することによ
り、X軸およびY軸ともに位置決めを高精度に行う。な
お、このときの駆動軸は、粗動X軸51,粗動Y軸5
2,微動X軸53,微動Y軸54および他軸干渉量を補
正するためのZティルト軸55とする。
【0040】このときの駆動方法は、粗動X軸51およ
び粗動Y軸52にそれぞれ設けられた測長手段を用いて
粗動X軸51および粗動Y軸52の位置決めを行い、さ
らに、レーザー干渉計を用いて粗動X軸51および粗動
Y軸52の位置決めを行う。続いて、レーザー干渉計を
用いて微動X軸53および微動Y軸54の位置決めを行
う。なお、粗動X軸51および粗動Y軸52の駆動前
に、微動X軸53および微動Y軸54をその駆動可能ス
トロークの中間位置にそれぞれ位置決めする。また、粗
動X軸51および粗動Y軸52は同時に駆動するととも
に、微動X軸53および微動Y軸54も同時に駆動す
る。他軸干渉量の補正の方法は、位置決め駆動前に他軸
干渉量を予め演算して、各軸の位置決め位置を補正する
方法と、発生した他軸干渉量をゼロにするように他軸干
渉量補正駆動を行う方法のいずれかまたは両方を用い
る。他軸干渉量補正駆動には、姿勢変化量補正駆動,ア
ッベ誤差量補正駆動および粗動XY軸他軸干渉量補正駆
動などがある。以下、このような駆動方法を、「粗微動
XY軸位置決め駆動方法」という。
び粗動Y軸52にそれぞれ設けられた測長手段を用いて
粗動X軸51および粗動Y軸52の位置決めを行い、さ
らに、レーザー干渉計を用いて粗動X軸51および粗動
Y軸52の位置決めを行う。続いて、レーザー干渉計を
用いて微動X軸53および微動Y軸54の位置決めを行
う。なお、粗動X軸51および粗動Y軸52の駆動前
に、微動X軸53および微動Y軸54をその駆動可能ス
トロークの中間位置にそれぞれ位置決めする。また、粗
動X軸51および粗動Y軸52は同時に駆動するととも
に、微動X軸53および微動Y軸54も同時に駆動す
る。他軸干渉量の補正の方法は、位置決め駆動前に他軸
干渉量を予め演算して、各軸の位置決め位置を補正する
方法と、発生した他軸干渉量をゼロにするように他軸干
渉量補正駆動を行う方法のいずれかまたは両方を用い
る。他軸干渉量補正駆動には、姿勢変化量補正駆動,ア
ッベ誤差量補正駆動および粗動XY軸他軸干渉量補正駆
動などがある。以下、このような駆動方法を、「粗微動
XY軸位置決め駆動方法」という。
【0041】第3の駆動モードが用いられる例として
は、露光ショット位置をファインアライメント位置QFA
に位置決めする場合、および、ウエハチャック56の中
心をマスクアライメント位置QMAに位置決めする場合が
ある。第3の駆動モードで行われる駆動には、粗動X軸
51,粗動Y軸52,微動X軸53,微動Y軸54およ
びアッベ誤差量補正駆動ありのZティルト軸55の駆動
がある。
は、露光ショット位置をファインアライメント位置QFA
に位置決めする場合、および、ウエハチャック56の中
心をマスクアライメント位置QMAに位置決めする場合が
ある。第3の駆動モードで行われる駆動には、粗動X軸
51,粗動Y軸52,微動X軸53,微動Y軸54およ
びアッベ誤差量補正駆動ありのZティルト軸55の駆動
がある。
【0042】(4)第4の駆動モード X軸およびY軸の位置決め駆動に関して、X軸およびY
軸ともに位置決めを高精度に行うことを優先する。
軸ともに位置決めを高精度に行うことを優先する。
【0043】すなわち、駆動軸を微動X軸53および微
動Y軸54のみとすることにより、他軸干渉量が発生せ
ず、X軸およびY軸ともに位置決めを高精度に行うとと
もに、位置決め時間を短縮する。このときの駆動軸は、
微動X軸53および微動Y軸54とする。
動Y軸54のみとすることにより、他軸干渉量が発生せ
ず、X軸およびY軸ともに位置決めを高精度に行うとと
もに、位置決め時間を短縮する。このときの駆動軸は、
微動X軸53および微動Y軸54とする。
【0044】このときの駆動方法は、レーザー干渉計を
用いて微動X軸53および微動Y軸54をそれぞれ位置
決めを行う。なお、微動X軸53および微動Y軸54は
同時に駆動する。以下、このような駆動方法を「微動X
Y軸位置決め駆動方法」という。
用いて微動X軸53および微動Y軸54をそれぞれ位置
決めを行う。なお、微動X軸53および微動Y軸54は
同時に駆動する。以下、このような駆動方法を「微動X
Y軸位置決め駆動方法」という。
【0045】第4の駆動モードが用いられる例として
は、ファインアライメント位置QFAにおけるマスク2の
パターンと露光ショットとを高精度に位置決めする場合
がある。第4の駆動モードで行われる駆動には、微動X
軸53および微動Y軸54の駆動がある。
は、ファインアライメント位置QFAにおけるマスク2の
パターンと露光ショットとを高精度に位置決めする場合
がある。第4の駆動モードで行われる駆動には、微動X
軸53および微動Y軸54の駆動がある。
【0046】以上、X軸方向およびY軸方向に位置決め
を行う場合の駆動モードのみを列挙したが、他軸(たと
えば、Zティルト軸55など)の駆動モードも考えられ
る。しかしながら、ここでは省略する。
を行う場合の駆動モードのみを列挙したが、他軸(たと
えば、Zティルト軸55など)の駆動モードも考えられ
る。しかしながら、ここでは省略する。
【0047】以上説明した各制御工程と各駆動モードと
を機能の点から対応づけた制御工程・駆動モード対応表
は、表1に示すようになる。
を機能の点から対応づけた制御工程・駆動モード対応表
は、表1に示すようになる。
【0048】
【表1】 次に、図1に示した指令ユニット20からステージコン
トローラ10に指令が行われる場合の情報の流れについ
て説明する。
トローラ10に指令が行われる場合の情報の流れについ
て説明する。
【0049】制御工程情報ICPが、指令ユニット20か
らステージコントローラ10内の駆動モード制御ユニッ
ト11に送られる。駆動モード制御ユニット11では、
送られてきた制御工程情報ICPに対応する駆動モード
が、表1に示した制御工程・駆動モード対応表から選択
される。これにより、駆動モードが設定されるととも
に、設定された駆動モードに対応する駆動軸情報IA お
よび駆動方法情報IM が駆動モードテーブル111 から
読み出される。以後、駆動モードが変更されない限り、
すべての位置決め駆動が、現在設定されている駆動モー
ドに従って実行される。続いて、指令位置情報IP が、
指令ユニット20から駆動モード制御ユニット11に送
られる。現在設定されている駆動モードに対応する駆動
軸情報IA および駆動方法情報IM と指令位置情報IP
とが、駆動モード制御ユニット11から駆動制御ユニッ
ト12に送られ、位置決め駆動が実行される。
らステージコントローラ10内の駆動モード制御ユニッ
ト11に送られる。駆動モード制御ユニット11では、
送られてきた制御工程情報ICPに対応する駆動モード
が、表1に示した制御工程・駆動モード対応表から選択
される。これにより、駆動モードが設定されるととも
に、設定された駆動モードに対応する駆動軸情報IA お
よび駆動方法情報IM が駆動モードテーブル111 から
読み出される。以後、駆動モードが変更されない限り、
すべての位置決め駆動が、現在設定されている駆動モー
ドに従って実行される。続いて、指令位置情報IP が、
指令ユニット20から駆動モード制御ユニット11に送
られる。現在設定されている駆動モードに対応する駆動
軸情報IA および駆動方法情報IM と指令位置情報IP
とが、駆動モード制御ユニット11から駆動制御ユニッ
ト12に送られ、位置決め駆動が実行される。
【0050】次に、制御の流れについて、実際の露光シ
ーケンスに沿って、図4に示すフローチャートを参照し
て説明する。
ーケンスに沿って、図4に示すフローチャートを参照し
て説明する。
【0051】まず、制御工程をウエハ受け取り工程に設
定するため、ウエハ受け取り工程を示す制御工程情報I
CPが、指令ユニット20から駆動モード制御ユニット1
1に送られる。駆動モード制御ユニット11では、駆動
モードが、ウエハ受け取り工程に対応する第1の駆動モ
ード(表1参照)に設定される(以上、ステップS1
1)。なお、次に駆動モードが設定されるまでは、すべ
ての位置決め駆動は第1の駆動モードに従って実行され
る。
定するため、ウエハ受け取り工程を示す制御工程情報I
CPが、指令ユニット20から駆動モード制御ユニット1
1に送られる。駆動モード制御ユニット11では、駆動
モードが、ウエハ受け取り工程に対応する第1の駆動モ
ード(表1参照)に設定される(以上、ステップS1
1)。なお、次に駆動モードが設定されるまでは、すべ
ての位置決め駆動は第1の駆動モードに従って実行され
る。
【0052】続いて、ウエハチャック56をウエハ交換
位置QU (図3参照)に位置決めしてウエハハンド70
からウエハ1を受け取るため、ウエハ交換位置QU を示
す指令位置情報IP (図1参照)が、指令ユニット20
から駆動モード制御ユニット11に送られる。このと
き、駆動モードは第1の駆動モードに設定されているた
め、「粗動X軸51および粗動Y軸52」を示す駆動軸
情報IA と、「粗動XY軸位置決め駆動方法」を示す駆
動方法情報IM と、ウエハ交換位置QU を示す指令位置
情報IP とが、駆動モード制御ユニット11から駆動制
御ユニット12にそれぞれ送られることにより、位置決
め駆動が実行される。ウエハチャック56がウエハ交換
位置QU に位置決めされると、ウエハ1はウエハハンド
70からウエハチャック56に受け取られる(以上、ス
テップS12)。
位置QU (図3参照)に位置決めしてウエハハンド70
からウエハ1を受け取るため、ウエハ交換位置QU を示
す指令位置情報IP (図1参照)が、指令ユニット20
から駆動モード制御ユニット11に送られる。このと
き、駆動モードは第1の駆動モードに設定されているた
め、「粗動X軸51および粗動Y軸52」を示す駆動軸
情報IA と、「粗動XY軸位置決め駆動方法」を示す駆
動方法情報IM と、ウエハ交換位置QU を示す指令位置
情報IP とが、駆動モード制御ユニット11から駆動制
御ユニット12にそれぞれ送られることにより、位置決
め駆動が実行される。ウエハチャック56がウエハ交換
位置QU に位置決めされると、ウエハ1はウエハハンド
70からウエハチャック56に受け取られる(以上、ス
テップS12)。
【0053】続いて、制御工程をプリアリメント工程に
設定するため、プリアライメント工程を示す制御工程情
報ICPが、指令ユニット20から駆動モード制御ユニッ
ト11に送られる。駆動モード制御ユニット11では、
駆動モードが、プリアライメント工程に対応する第2の
駆動モード(表1参照)に設定される(以上、ステップ
S13)。なお、次に駆動モードが設定されるまでは、
すべての位置決め駆動は第2の駆動モードに従って実行
される。
設定するため、プリアライメント工程を示す制御工程情
報ICPが、指令ユニット20から駆動モード制御ユニッ
ト11に送られる。駆動モード制御ユニット11では、
駆動モードが、プリアライメント工程に対応する第2の
駆動モード(表1参照)に設定される(以上、ステップ
S13)。なお、次に駆動モードが設定されるまでは、
すべての位置決め駆動は第2の駆動モードに従って実行
される。
【0054】続いて、ウエハチャック56をプリアライ
メント位置QPA(図3参照)に位置決めしてウエハ1の
Z軸回転方向の位置合わせを行うため、プリアライメン
ト位置QPAを示す指令位置情報IP (図1参照)が、指
令ユニット20から駆動モード制御ユニット11に送ら
れる。このとき、駆動モードは第2の駆動モードに設定
されているため、「粗動X軸51,粗動Y軸52,微動
Y軸54およびZティルト軸55」を示す駆動軸情報I
A と、「粗動X軸粗微動Y軸位置決め駆動方法」を示す
駆動方法情報IM と、プリアライメント位置QPAを示す
指令位置情報I P とが、駆動モード制御ユニット11か
ら駆動制御ユニット12にそれぞれ送られることによ
り、位置決め駆動が実行される。ウエハチャック56が
プリアライメント位置QPAに位置決めされると、ウエハ
1のZ軸回転方向の位置合わせが行われる(以上、ステ
ップS14)。
メント位置QPA(図3参照)に位置決めしてウエハ1の
Z軸回転方向の位置合わせを行うため、プリアライメン
ト位置QPAを示す指令位置情報IP (図1参照)が、指
令ユニット20から駆動モード制御ユニット11に送ら
れる。このとき、駆動モードは第2の駆動モードに設定
されているため、「粗動X軸51,粗動Y軸52,微動
Y軸54およびZティルト軸55」を示す駆動軸情報I
A と、「粗動X軸粗微動Y軸位置決め駆動方法」を示す
駆動方法情報IM と、プリアライメント位置QPAを示す
指令位置情報I P とが、駆動モード制御ユニット11か
ら駆動制御ユニット12にそれぞれ送られることによ
り、位置決め駆動が実行される。ウエハチャック56が
プリアライメント位置QPAに位置決めされると、ウエハ
1のZ軸回転方向の位置合わせが行われる(以上、ステ
ップS14)。
【0055】続いて、マスク2の交換の要否が判断され
る(ステップS15)。ここで、マスク2の交換が不要
と判断された場合には、後述するステップ20(露光シ
ョット位置決め工程設定)に移行する。
る(ステップS15)。ここで、マスク2の交換が不要
と判断された場合には、後述するステップ20(露光シ
ョット位置決め工程設定)に移行する。
【0056】一方、ステップS15においてマスク2の
交換が必要と判断された場合には、制御工程をマスク交
換工程に設定するため、マスク交換工程を示す制御工程
情報ICPが、指令ユニット20から駆動モード制御ユニ
ット11に送られる。駆動モード制御ユニット11で
は、駆動モードが、マスク交換工程に対応する第1の駆
動モード(表1参照)に設定される(以上、ステップS
16)。なお、次に駆動モードが設定されるまでは、す
べての位置決め駆動は第1の駆動モードに従って実行さ
れる。
交換が必要と判断された場合には、制御工程をマスク交
換工程に設定するため、マスク交換工程を示す制御工程
情報ICPが、指令ユニット20から駆動モード制御ユニ
ット11に送られる。駆動モード制御ユニット11で
は、駆動モードが、マスク交換工程に対応する第1の駆
動モード(表1参照)に設定される(以上、ステップS
16)。なお、次に駆動モードが設定されるまでは、す
べての位置決め駆動は第1の駆動モードに従って実行さ
れる。
【0057】続いて、ウエハチャック56をマスク2の
交換時のウエハチャック退避位置Q E (図3参照)に位
置決めしてマスク2の交換を行うため、ウエハチャック
退避位置QE を示す指令位置情報IP (図1参照)が、
指令ユニット20から駆動モード制御ユニット11に送
られる。このとき、駆動モードは第1の駆動モードに設
定されているため、「粗動X軸51および粗動Y軸5
2」を示す駆動軸情報I A と、「粗動XY軸位置決め駆
動方法」を示す駆動方法情報IM と、ウエハチャック退
避位置QE を示す指令位置情報IP とが、駆動モード制
御ユニット11から駆動制御ユニット12にそれぞれ送
られることにより、位置決め駆動が実行される。ウエハ
チャック56がウエハチャック退避位置QE に位置決め
されると、マスク2が交換される(以上、ステップS1
7)。
交換時のウエハチャック退避位置Q E (図3参照)に位
置決めしてマスク2の交換を行うため、ウエハチャック
退避位置QE を示す指令位置情報IP (図1参照)が、
指令ユニット20から駆動モード制御ユニット11に送
られる。このとき、駆動モードは第1の駆動モードに設
定されているため、「粗動X軸51および粗動Y軸5
2」を示す駆動軸情報I A と、「粗動XY軸位置決め駆
動方法」を示す駆動方法情報IM と、ウエハチャック退
避位置QE を示す指令位置情報IP とが、駆動モード制
御ユニット11から駆動制御ユニット12にそれぞれ送
られることにより、位置決め駆動が実行される。ウエハ
チャック56がウエハチャック退避位置QE に位置決め
されると、マスク2が交換される(以上、ステップS1
7)。
【0058】続いて、制御工程をマスクアライメント工
程に設定するため、マスクアライメント工程を示す制御
工程情報ICPが、指令ユニット20から駆動モード制御
ユニット11に送られる。駆動モード制御ユニット11
では、駆動モードが、マスクアライメント工程に対応す
る第3の駆動モード(表1参照)に設定される(以上、
ステップS18)。なお、次に駆動モードが設定される
までは、すべての位置決め駆動は第3の駆動モードに従
って実行される。
程に設定するため、マスクアライメント工程を示す制御
工程情報ICPが、指令ユニット20から駆動モード制御
ユニット11に送られる。駆動モード制御ユニット11
では、駆動モードが、マスクアライメント工程に対応す
る第3の駆動モード(表1参照)に設定される(以上、
ステップS18)。なお、次に駆動モードが設定される
までは、すべての位置決め駆動は第3の駆動モードに従
って実行される。
【0059】続いて、ウエハチャック56の中心をマス
クアライメント位置QMAに位置決めし、レーザー干渉計
測長用ミラー61上のマスク軸ステージ基準99に対し
てマスク2上の基準マークを高精度に位置合わせするた
め、マスクアライメント位置QMAを示す指令位置情報I
P (図1参照)が、指令ユニット20から駆動モード制
御ユニット11に送られる。このとき、駆動モードは第
3の駆動モードに設定されているため、「粗動X軸5
1,粗動Y軸52,微動X軸53,微動Y軸54および
Zティルト軸55」を示す駆動軸情報IA と、「粗微動
XY軸位置決め駆動方法」を示す駆動方法情報IM と、
マスクアライメント位置QMAを示す指令位置情報IP と
が、駆動モード制御ユニット11から駆動制御ユニット
12にそれぞれ送られることにより、位置決め駆動が実
行される。ウエハチャック56の中心がマスクアライメ
ント位置QMAに位置決めされると、マスクアライメント
が行われる(以上、ステップS19)。
クアライメント位置QMAに位置決めし、レーザー干渉計
測長用ミラー61上のマスク軸ステージ基準99に対し
てマスク2上の基準マークを高精度に位置合わせするた
め、マスクアライメント位置QMAを示す指令位置情報I
P (図1参照)が、指令ユニット20から駆動モード制
御ユニット11に送られる。このとき、駆動モードは第
3の駆動モードに設定されているため、「粗動X軸5
1,粗動Y軸52,微動X軸53,微動Y軸54および
Zティルト軸55」を示す駆動軸情報IA と、「粗微動
XY軸位置決め駆動方法」を示す駆動方法情報IM と、
マスクアライメント位置QMAを示す指令位置情報IP と
が、駆動モード制御ユニット11から駆動制御ユニット
12にそれぞれ送られることにより、位置決め駆動が実
行される。ウエハチャック56の中心がマスクアライメ
ント位置QMAに位置決めされると、マスクアライメント
が行われる(以上、ステップS19)。
【0060】続いて、制御工程を露光ショット位置決め
工程に設定するため、露光ショット位置決め工程を示す
制御工程情報ICPが、指令ユニット20から駆動モード
制御ユニット11に送られる。駆動モード制御ユニット
11では、駆動モードが、露光ショット位置決め工程に
対応する第3の駆動モード(表1参照)に設定される
(以上、ステップS20)。なお、次に駆動モードが設
定されるまでは、すべての位置決め駆動は第3の駆動モ
ードに従って実行される。
工程に設定するため、露光ショット位置決め工程を示す
制御工程情報ICPが、指令ユニット20から駆動モード
制御ユニット11に送られる。駆動モード制御ユニット
11では、駆動モードが、露光ショット位置決め工程に
対応する第3の駆動モード(表1参照)に設定される
(以上、ステップS20)。なお、次に駆動モードが設
定されるまでは、すべての位置決め駆動は第3の駆動モ
ードに従って実行される。
【0061】続いて、今回の露光ショット位置(たとえ
ば、図3に示した第1の露光ショット位置QS1)をファ
インアライメント位置QFAに位置決めするため、第1の
露光ショット位置QS1がファインアライメント位置QFA
に位置決めされるときのウエハチャック56の中心の位
置を示す指令位置情報IP (図1参照)が、指令ユニッ
ト20から駆動モード制御ユニット11に送られる。こ
のとき、駆動モードは第3の駆動モードに設定されてい
るため、「粗動X軸51,粗動Y軸52,微動X軸5
3,微動Y軸54およびZティルト軸55」を示す駆動
軸情報IA と、「粗微動XY軸位置決め駆動方法」を示
す駆動方法情報IM と、ウエハチャック56の中心の位
置を示す指令位置情報IP とが、駆動モード制御ユニッ
ト11から駆動制御ユニット12にそれぞれ送られるこ
とにより、位置決め駆動が実行される(以上、ステップ
S21)。
ば、図3に示した第1の露光ショット位置QS1)をファ
インアライメント位置QFAに位置決めするため、第1の
露光ショット位置QS1がファインアライメント位置QFA
に位置決めされるときのウエハチャック56の中心の位
置を示す指令位置情報IP (図1参照)が、指令ユニッ
ト20から駆動モード制御ユニット11に送られる。こ
のとき、駆動モードは第3の駆動モードに設定されてい
るため、「粗動X軸51,粗動Y軸52,微動X軸5
3,微動Y軸54およびZティルト軸55」を示す駆動
軸情報IA と、「粗微動XY軸位置決め駆動方法」を示
す駆動方法情報IM と、ウエハチャック56の中心の位
置を示す指令位置情報IP とが、駆動モード制御ユニッ
ト11から駆動制御ユニット12にそれぞれ送られるこ
とにより、位置決め駆動が実行される(以上、ステップ
S21)。
【0062】続いて、制御工程をファインアライメント
工程に設定するため、ファインアライメント工程を示す
制御工程情報ICPが、指令ユニット20から駆動モード
制御ユニット11に送られる。駆動モード制御ユニット
11では、駆動モードが、ファインアライメント工程に
対応する第4の駆動モード(表1参照)に設定される
(以上、ステップS22)。なお、次に駆動モードが設
定されるまでは、すべての位置決め駆動は第4の駆動モ
ードに従って実行される。
工程に設定するため、ファインアライメント工程を示す
制御工程情報ICPが、指令ユニット20から駆動モード
制御ユニット11に送られる。駆動モード制御ユニット
11では、駆動モードが、ファインアライメント工程に
対応する第4の駆動モード(表1参照)に設定される
(以上、ステップS22)。なお、次に駆動モードが設
定されるまでは、すべての位置決め駆動は第4の駆動モ
ードに従って実行される。
【0063】続いて、今回の露光ショット位置(たとえ
ば、図3に示した第1の露光ショット位置QS1)とマス
ク2の露光パターンPとの高精度な位置合わせを行うた
め、外部計測手段(不図示)により、マスク2の露光パ
ターンPに対する第1の露光ショット位置QS1のずれ量
を計測し、計測されたずれ量に基づいて補正されたウエ
ハチャック56の中心の位置決め位置を示す指令位置情
報IP (図1参照)が、指令ユニット20から駆動モー
ド制御ユニット11に送られる。このとき、駆動モード
は第4の駆動モードに設定されているため、「微動X軸
53および微動Y軸54」を示す駆動軸情報IA と、
「微動XY軸位置決め駆動方法」を示す駆動方法情報I
M と、ウエハチャック56の中心の位置を示す指令位置
情報IP とが、駆動モード制御ユニット11から駆動制
御ユニット12にそれぞれ送られることにより、位置決
め駆動が実行される(以上、ステップS23)。
ば、図3に示した第1の露光ショット位置QS1)とマス
ク2の露光パターンPとの高精度な位置合わせを行うた
め、外部計測手段(不図示)により、マスク2の露光パ
ターンPに対する第1の露光ショット位置QS1のずれ量
を計測し、計測されたずれ量に基づいて補正されたウエ
ハチャック56の中心の位置決め位置を示す指令位置情
報IP (図1参照)が、指令ユニット20から駆動モー
ド制御ユニット11に送られる。このとき、駆動モード
は第4の駆動モードに設定されているため、「微動X軸
53および微動Y軸54」を示す駆動軸情報IA と、
「微動XY軸位置決め駆動方法」を示す駆動方法情報I
M と、ウエハチャック56の中心の位置を示す指令位置
情報IP とが、駆動モード制御ユニット11から駆動制
御ユニット12にそれぞれ送られることにより、位置決
め駆動が実行される(以上、ステップS23)。
【0064】続いて、露光が行われたのち(ステップS
24)、露光ショット残の有無が判断される(ステップ
S25)。ここで、露光ショット残がありと判断された
場合には、ステップS15(マスク2の交換の要否の判
断)に移行する。
24)、露光ショット残の有無が判断される(ステップ
S25)。ここで、露光ショット残がありと判断された
場合には、ステップS15(マスク2の交換の要否の判
断)に移行する。
【0065】一方、ステップS25において露光ショッ
ト残がなしと判断された場合には、制御工程をウエハ受
け渡し工程に設定するため、ウエハ受け渡し工程を示す
制御工程情報ICPが、指令ユニット20から駆動モード
制御ユニット11に送られる。駆動モード制御ユニット
11では、駆動モードが、ウエハ受け渡し工程に対応す
る第1の駆動モード(表1参照)に設定される(以上、
ステップS26)。なお、次に駆動モードが設定される
までは、すべての位置決め駆動は第1の駆動モードに従
って実行される。
ト残がなしと判断された場合には、制御工程をウエハ受
け渡し工程に設定するため、ウエハ受け渡し工程を示す
制御工程情報ICPが、指令ユニット20から駆動モード
制御ユニット11に送られる。駆動モード制御ユニット
11では、駆動モードが、ウエハ受け渡し工程に対応す
る第1の駆動モード(表1参照)に設定される(以上、
ステップS26)。なお、次に駆動モードが設定される
までは、すべての位置決め駆動は第1の駆動モードに従
って実行される。
【0066】続いて、ウエハチャック56をウエハ交換
位置QU (図3参照)に位置決めしてウエハハンド70
へウエハ1を受け渡すため、ウエハ交換位置QU を示す
指令位置情報IP (図1参照)が、指令ユニット20か
ら駆動モード制御ユニット11に送られる。このとき、
駆動モードは第1の駆動モードに設定されているため、
「粗動X軸51および粗動Y軸52」を示す駆動軸情報
IA と、「粗動XY軸位置決め駆動方法」を示す駆動方
法情報IM と、ウエハ交換位置QU を示す指令位置情報
IP とが、駆動モード制御ユニット11から駆動制御ユ
ニット12にそれぞれ送られることにより、位置決め駆
動が実行される。ウエハチャック56がウエハ交換位置
QU に位置決めされると、ウエハ1はウエハチャック5
6からウエハハンド70へ受け渡される(以上、ステッ
プS27)。
位置QU (図3参照)に位置決めしてウエハハンド70
へウエハ1を受け渡すため、ウエハ交換位置QU を示す
指令位置情報IP (図1参照)が、指令ユニット20か
ら駆動モード制御ユニット11に送られる。このとき、
駆動モードは第1の駆動モードに設定されているため、
「粗動X軸51および粗動Y軸52」を示す駆動軸情報
IA と、「粗動XY軸位置決め駆動方法」を示す駆動方
法情報IM と、ウエハ交換位置QU を示す指令位置情報
IP とが、駆動モード制御ユニット11から駆動制御ユ
ニット12にそれぞれ送られることにより、位置決め駆
動が実行される。ウエハチャック56がウエハ交換位置
QU に位置決めされると、ウエハ1はウエハチャック5
6からウエハハンド70へ受け渡される(以上、ステッ
プS27)。
【0067】続いて、次ウエハ(次に露光するウエハ)
の有無が判断される(ステップS28)。次ウエハがあ
ると判断された場合には、ステップS12(ウエハの受
け取り)に移行する。一方、次ウエハがないと判断され
た場合には、動作が終了される。
の有無が判断される(ステップS28)。次ウエハがあ
ると判断された場合には、ステップS12(ウエハの受
け取り)に移行する。一方、次ウエハがないと判断され
た場合には、動作が終了される。
【0068】次に、本発明のステージ位置決め制御方法
の第2の実施例について説明する。なお、本実施例のス
テージ位置決め制御方法は、マスクとウエハとが近接
(すなわち、マスクとウエハとの間の距離が数十マイク
ロメートル)した状態で露光が行われるプロキシミティ
露光装置において使用されるものであるが、ステージ部
の構成およびウエハチャックの位置決め位置は図2およ
び図3に示したものと同様であるので、以下の説明は図
2および図3をそれぞれ参照して行う。
の第2の実施例について説明する。なお、本実施例のス
テージ位置決め制御方法は、マスクとウエハとが近接
(すなわち、マスクとウエハとの間の距離が数十マイク
ロメートル)した状態で露光が行われるプロキシミティ
露光装置において使用されるものであるが、ステージ部
の構成およびウエハチャックの位置決め位置は図2およ
び図3に示したものと同様であるので、以下の説明は図
2および図3をそれぞれ参照して行う。
【0069】プロキシミティ露光装置において露光ショ
ット領域A内で粗動X軸51および粗動Y軸52を用い
て位置決めする場合には、マスク2とウエハ1とが干渉
しないように、粗動X軸51および粗動Y軸52の駆動
時にZティルト軸55を非干渉領域まで退避させること
により、マスク2とウエハ1との安全性を確保すること
ができる。したがって、プロキシミティ露光装置におい
て露光ショット領域A内の各露光ショット間の位置決め
を行う場合には、以下に記述する第5の駆動モードが考
えられる。
ット領域A内で粗動X軸51および粗動Y軸52を用い
て位置決めする場合には、マスク2とウエハ1とが干渉
しないように、粗動X軸51および粗動Y軸52の駆動
時にZティルト軸55を非干渉領域まで退避させること
により、マスク2とウエハ1との安全性を確保すること
ができる。したがって、プロキシミティ露光装置におい
て露光ショット領域A内の各露光ショット間の位置決め
を行う場合には、以下に記述する第5の駆動モードが考
えられる。
【0070】粗動X軸51および粗動Y軸52の駆動前
にZティルト軸55を非干渉領域に退避させるととも
に、粗動X軸51および粗動Y軸52の駆動完了後にZ
ティルト軸55を元の位置に復帰させることにより、マ
スク2とウエハ1との安全性を確保することを優先す
る。また、粗動X軸51および粗動Y軸52の駆動時に
発生する他軸干渉量を補正することにより、X軸および
Y軸ともに位置決めを高精度に行う。このときの駆動軸
は、粗動X軸51,粗動Y軸52,微動X軸53,微動
Y軸54およびZティルト軸55とする。
にZティルト軸55を非干渉領域に退避させるととも
に、粗動X軸51および粗動Y軸52の駆動完了後にZ
ティルト軸55を元の位置に復帰させることにより、マ
スク2とウエハ1との安全性を確保することを優先す
る。また、粗動X軸51および粗動Y軸52の駆動時に
発生する他軸干渉量を補正することにより、X軸および
Y軸ともに位置決めを高精度に行う。このときの駆動軸
は、粗動X軸51,粗動Y軸52,微動X軸53,微動
Y軸54およびZティルト軸55とする。
【0071】このときの駆動方法としては、以下の2つ
の駆動方法がある。
の駆動方法がある。
【0072】第1の駆動方法……Zティルト軸55を非
干渉領域に退避させ、粗動X軸51および粗動Y軸52
にそれぞれ設けられた測長手段を用いて粗動X軸51お
よび粗動Y軸52の位置決めを行ったのち、レーザー干
渉計を用いて粗動X軸51および粗動Y軸52の位置決
めを行う。続いて、レーザー干渉計を用いて微動X軸5
3および微動Y軸54の位置決めを行い、最後に、Zテ
ィルト軸55を元の位置に復帰させる。
干渉領域に退避させ、粗動X軸51および粗動Y軸52
にそれぞれ設けられた測長手段を用いて粗動X軸51お
よび粗動Y軸52の位置決めを行ったのち、レーザー干
渉計を用いて粗動X軸51および粗動Y軸52の位置決
めを行う。続いて、レーザー干渉計を用いて微動X軸5
3および微動Y軸54の位置決めを行い、最後に、Zテ
ィルト軸55を元の位置に復帰させる。
【0073】第2の駆動方法……粗動X軸51および粗
動Y軸52の位置決め完了後に、Zティルト軸55を元
の位置に復帰させ、最後に、レーザー干渉計を用いて微
動X軸53および微動Y軸54の位置決めを行う。
動Y軸52の位置決め完了後に、Zティルト軸55を元
の位置に復帰させ、最後に、レーザー干渉計を用いて微
動X軸53および微動Y軸54の位置決めを行う。
【0074】なお、第1の駆動方法および第2の駆動方
法のいずれにおいても、粗動X軸51および粗動Y軸5
2の駆動前に、微動X軸53および微動Y軸54をその
駆動可能ストロークの中間位置に位置決めする。また、
粗動X軸51および粗動Y軸52の駆動は同時に行い、
微動X軸53および微動Y軸54の駆動も同時に行う。
他軸干渉量の補正方法としては、X軸およびY軸の位置
決め駆動前に他軸干渉量を予め演算して、各軸の位置決
め位置を補正する方法と発生した他軸干渉量をゼロにす
るように他軸干渉量補正駆動を行う方法とのいずれかま
たは両方を用いる。なお、他軸干渉量補正駆動には、姿
勢変化量補正駆動,アッベ誤差量補正駆動および粗動X
Y軸他軸干渉量補正駆動などがある。以下、このような
駆動方法を「Zティルト軸退避駆動あり粗微動XY軸位
置決め駆動方法」という。
法のいずれにおいても、粗動X軸51および粗動Y軸5
2の駆動前に、微動X軸53および微動Y軸54をその
駆動可能ストロークの中間位置に位置決めする。また、
粗動X軸51および粗動Y軸52の駆動は同時に行い、
微動X軸53および微動Y軸54の駆動も同時に行う。
他軸干渉量の補正方法としては、X軸およびY軸の位置
決め駆動前に他軸干渉量を予め演算して、各軸の位置決
め位置を補正する方法と発生した他軸干渉量をゼロにす
るように他軸干渉量補正駆動を行う方法とのいずれかま
たは両方を用いる。なお、他軸干渉量補正駆動には、姿
勢変化量補正駆動,アッベ誤差量補正駆動および粗動X
Y軸他軸干渉量補正駆動などがある。以下、このような
駆動方法を「Zティルト軸退避駆動あり粗微動XY軸位
置決め駆動方法」という。
【0075】第5の駆動モードが用いられる例として
は、露光ショットをファインアライメント位置QFAに位
置決めする場合と、ウエハチャック56の中心をマスク
アライメント位置QMA(図3参照)に位置決めする場合
とがある。なお、第5の駆動モードで行われる駆動に
は、Zティルト軸退避駆動あり粗微動XY軸位置決め駆
動およびアッベ誤差量補正駆動ありZティルト軸駆動が
ある。
は、露光ショットをファインアライメント位置QFAに位
置決めする場合と、ウエハチャック56の中心をマスク
アライメント位置QMA(図3参照)に位置決めする場合
とがある。なお、第5の駆動モードで行われる駆動に
は、Zティルト軸退避駆動あり粗微動XY軸位置決め駆
動およびアッベ誤差量補正駆動ありZティルト軸駆動が
ある。
【0076】プロキシミティ露光装置における各制御工
程と各駆動モードとを機能の点から対応づけた制御工程
・駆動モード対応表は、表2に示すようになる。
程と各駆動モードとを機能の点から対応づけた制御工程
・駆動モード対応表は、表2に示すようになる。
【0077】
【表2】 次に、本実施例のステージ位置決め制御方法における制
御の流れについて、実際の露光シーケンスに沿って説明
する。
御の流れについて、実際の露光シーケンスに沿って説明
する。
【0078】『マスクアライメント工程の設定』,『マ
スクアライメント』,『露光ショット位置決め工程の設
定』および『露光ショット位置決め』以外は、上述した
本発明の第1の実施例のステージ位置決め制御方法と同
様であるので、以下、これらの制御についてのみ説明す
る。
スクアライメント』,『露光ショット位置決め工程の設
定』および『露光ショット位置決め』以外は、上述した
本発明の第1の実施例のステージ位置決め制御方法と同
様であるので、以下、これらの制御についてのみ説明す
る。
【0079】(1)マスクアライメント工程の設定 制御工程をマスクアライメント工程に設定するため、マ
スクアライメント工程を示す制御工程情報ICPが、指令
ユニット20から駆動モード制御ユニット11に送られ
る。駆動モード制御ユニット11では、駆動モードが、
マスクアライメント工程に対応する第5の駆動モード
(表2参照)に設定される(図4のステップS18に相
当)。なお、次に駆動モードが設定されるまでは、すべ
ての位置決め駆動は第5の駆動モードに従って実行され
る。
スクアライメント工程を示す制御工程情報ICPが、指令
ユニット20から駆動モード制御ユニット11に送られ
る。駆動モード制御ユニット11では、駆動モードが、
マスクアライメント工程に対応する第5の駆動モード
(表2参照)に設定される(図4のステップS18に相
当)。なお、次に駆動モードが設定されるまでは、すべ
ての位置決め駆動は第5の駆動モードに従って実行され
る。
【0080】(2)マスクアライメント ウエハチャック56の中心をマスクアライメント位置Q
MAに位置決めし、レーザー干渉計測長用ミラー61上の
マスク軸ステージ基準99に対してマスク2上の基準マ
ークを高精度に位置合わせさせるため、マスクアライメ
ント位置QMAを示す指令位置情報IP (図1参照)が、
指令ユニット20から駆動モード制御ユニット11に送
られる。このとき、駆動モードは第5の駆動モードに設
定されているため、「粗動X軸51,粗動Y軸52,微
動X軸53,微動Y軸54およびZティルト軸55」を
示す駆動軸情報IA と、「Zティルト軸退避駆動あり粗
微動XY軸位置決め駆動方法」を示す駆動方法情報IM
と、マスクアライメント位置QMAを示す指令位置情報I
P とが、駆動モード制御ユニット11から駆動制御ユニ
ット12にそれぞれ送られることにより、位置決め駆動
が実行される。ウエハチャック56の中心がマスクアラ
イメント位置QMAに位置決めされると、マスクアライメ
ントが行われる(図4のステップS19に相当)。
MAに位置決めし、レーザー干渉計測長用ミラー61上の
マスク軸ステージ基準99に対してマスク2上の基準マ
ークを高精度に位置合わせさせるため、マスクアライメ
ント位置QMAを示す指令位置情報IP (図1参照)が、
指令ユニット20から駆動モード制御ユニット11に送
られる。このとき、駆動モードは第5の駆動モードに設
定されているため、「粗動X軸51,粗動Y軸52,微
動X軸53,微動Y軸54およびZティルト軸55」を
示す駆動軸情報IA と、「Zティルト軸退避駆動あり粗
微動XY軸位置決め駆動方法」を示す駆動方法情報IM
と、マスクアライメント位置QMAを示す指令位置情報I
P とが、駆動モード制御ユニット11から駆動制御ユニ
ット12にそれぞれ送られることにより、位置決め駆動
が実行される。ウエハチャック56の中心がマスクアラ
イメント位置QMAに位置決めされると、マスクアライメ
ントが行われる(図4のステップS19に相当)。
【0081】(3)露光ショット位置決め工程の設定 制御工程を露光ショット位置決め工程に設定するため、
露光ショット位置決め工程を示す制御工程情報ICPが、
指令ユニット20から駆動モード制御ユニット11に送
られる。駆動モード制御ユニット11では、駆動モード
が、露光ショット位置決め工程に対応する第5の駆動モ
ード(表2参照)に設定される(図4のステップS20
に相当)。なお、次に駆動モードが設定されるまでは、
すべての位置決め駆動は第5の駆動モードに従って実行
される。
露光ショット位置決め工程を示す制御工程情報ICPが、
指令ユニット20から駆動モード制御ユニット11に送
られる。駆動モード制御ユニット11では、駆動モード
が、露光ショット位置決め工程に対応する第5の駆動モ
ード(表2参照)に設定される(図4のステップS20
に相当)。なお、次に駆動モードが設定されるまでは、
すべての位置決め駆動は第5の駆動モードに従って実行
される。
【0082】(4)露光ショット位置決め 今回の露光ショット位置(たとえば、図3に示した第1
の露光ショット位置Q S1)をファインアライメント位置
QFAに位置決めするため、第1の露光ショット位置QS1
がファインアライメント位置QFAに位置決めされるとき
のウエハチャック56の中心の位置を示す指令位置情報
IP (図1参照)が、指令ユニット20から駆動モード
制御ユニット11に送られる。このとき、駆動モードは
第5の駆動モードに設定されているため、「粗動X軸5
1,粗動Y軸52,微動X軸53,微動Y軸54および
Zティルト軸55」を示す駆動軸情報IA と、「Zティ
ルト軸退避駆動あり粗微動XY軸位置決め駆動方法」を
示す駆動方法情報IM と、ウエハチャック56の中心の
位置を示す指令位置情報IP とが、駆動モード制御ユニ
ット11から駆動制御ユニット12にそれぞれ送られる
ことにより、位置決め駆動が実行される(図4のステッ
プS21に相当)。
の露光ショット位置Q S1)をファインアライメント位置
QFAに位置決めするため、第1の露光ショット位置QS1
がファインアライメント位置QFAに位置決めされるとき
のウエハチャック56の中心の位置を示す指令位置情報
IP (図1参照)が、指令ユニット20から駆動モード
制御ユニット11に送られる。このとき、駆動モードは
第5の駆動モードに設定されているため、「粗動X軸5
1,粗動Y軸52,微動X軸53,微動Y軸54および
Zティルト軸55」を示す駆動軸情報IA と、「Zティ
ルト軸退避駆動あり粗微動XY軸位置決め駆動方法」を
示す駆動方法情報IM と、ウエハチャック56の中心の
位置を示す指令位置情報IP とが、駆動モード制御ユニ
ット11から駆動制御ユニット12にそれぞれ送られる
ことにより、位置決め駆動が実行される(図4のステッ
プS21に相当)。
【0083】以上説明した本発明の第1および第2の実
施例のステージ位置決め制御方法では、さらに、エラー
処理工程と組み立て調整工程と保守メンテナンス工程と
をさらに設定し、表3に示すように、これらの各工程を
第1の駆動モードと対応づけることにより、たとえば各
レーザー干渉計のエラー発生などによって高精度な位置
決めをすることができない場合でも、制御工程をエラー
処理工程に設定することにより、対応する第1の駆動モ
ードが設定され、ウエハチャック56を位置決めするこ
とができ、ウエハ1およびマスク2の回収ができる。ま
た、露光装置の組み立て調整段階において各レーザー干
渉計が使用できない場合でも、制御工程を組み立て調整
工程に設定することにより、同様にしてウエハチャック
56を位置決めすることができるため、組み立て調整を
容易に行うことができる。なお、保守メンテナンスを行
う場合も同様である。
施例のステージ位置決め制御方法では、さらに、エラー
処理工程と組み立て調整工程と保守メンテナンス工程と
をさらに設定し、表3に示すように、これらの各工程を
第1の駆動モードと対応づけることにより、たとえば各
レーザー干渉計のエラー発生などによって高精度な位置
決めをすることができない場合でも、制御工程をエラー
処理工程に設定することにより、対応する第1の駆動モ
ードが設定され、ウエハチャック56を位置決めするこ
とができ、ウエハ1およびマスク2の回収ができる。ま
た、露光装置の組み立て調整段階において各レーザー干
渉計が使用できない場合でも、制御工程を組み立て調整
工程に設定することにより、同様にしてウエハチャック
56を位置決めすることができるため、組み立て調整を
容易に行うことができる。なお、保守メンテナンスを行
う場合も同様である。
【0084】 次に、本発明の第3の実施例のステージ位置決め制御方
法について説明する。
法について説明する。
【0085】露光装置において、各位置決め駆動の指令
される領域がそれぞれ異なる場合、および、かかる領域
が互いに重なる場合には、現在位置からの移動量などか
ら駆動モードを選択することにより、指令位置を与える
だけで、自動的に最適な駆動モードを選択して駆動を行
うことができる。たとえば、現在位置からの移動量が微
動軸駆動可能ストローク内か否かを判断することによ
り、露光ショット領域に位置決めする場合でも、露光シ
ョット位置の位置決めとファインアライメント位置の位
置決めとを区別することができる。なお、現在位置から
の移動量から駆動モードを判断する場合に、微動軸駆動
可能ストロークのみならずその他一定の移動量などから
判断してもよい。
される領域がそれぞれ異なる場合、および、かかる領域
が互いに重なる場合には、現在位置からの移動量などか
ら駆動モードを選択することにより、指令位置を与える
だけで、自動的に最適な駆動モードを選択して駆動を行
うことができる。たとえば、現在位置からの移動量が微
動軸駆動可能ストローク内か否かを判断することによ
り、露光ショット領域に位置決めする場合でも、露光シ
ョット位置の位置決めとファインアライメント位置の位
置決めとを区別することができる。なお、現在位置から
の移動量から駆動モードを判断する場合に、微動軸駆動
可能ストロークのみならずその他一定の移動量などから
判断してもよい。
【0086】指令位置および現在位置からの移動量と駆
動モードとを対応づけると、表4に示すようになる。
動モードとを対応づけると、表4に示すようになる。
【0087】
【表4】 本実施例のステージ位置決め制御方法が実現可能なステ
ージコントローラ110は、図5に示すように、指令ユニ
ット120 から指令位置情報IP のみが駆動モード制御ユ
ニット111 に送られてくる点で、図1に示したステージ
コントローラ10と異なる。
ージコントローラ110は、図5に示すように、指令ユニ
ット120 から指令位置情報IP のみが駆動モード制御ユ
ニット111 に送られてくる点で、図1に示したステージ
コントローラ10と異なる。
【0088】本実施例のステージ位置決め制御方法で
は、指令位置情報IP が、指令ユニット120 から駆動モ
ード制御ユニット111 に送られる。駆動モード制御ユニ
ット111 では、送られてきた指令位置情報IP に対応す
る駆動モードが、表4に示した指令位置・駆動モード対
応表から選択されることにより、駆動モードが設定され
る。なお、表4に示したように、送られてきた指令位置
情報IP が示す指令位置が露光ショット領域の場合に
は、指令位置だけでは駆動モードを選択することができ
ないため、さらに、現在位置からの移動量によって駆動
モードが選択される。このようにして駆動モードが設定
されると、現在設定されている駆動モードに従った駆動
軸情報IA および駆動方法情報IM と指令位置情報IP
とが、駆動モード制御ユニット111 から駆動制御ユニッ
ト112 に送られることにより、位置決め駆動が実行され
る。なお、駆動モードが一旦設定されると、その後に駆
動モードが変更されない限り、すべての位置決め駆動
が、現在設定されている駆動モードに従って実行され
る。
は、指令位置情報IP が、指令ユニット120 から駆動モ
ード制御ユニット111 に送られる。駆動モード制御ユニ
ット111 では、送られてきた指令位置情報IP に対応す
る駆動モードが、表4に示した指令位置・駆動モード対
応表から選択されることにより、駆動モードが設定され
る。なお、表4に示したように、送られてきた指令位置
情報IP が示す指令位置が露光ショット領域の場合に
は、指令位置だけでは駆動モードを選択することができ
ないため、さらに、現在位置からの移動量によって駆動
モードが選択される。このようにして駆動モードが設定
されると、現在設定されている駆動モードに従った駆動
軸情報IA および駆動方法情報IM と指令位置情報IP
とが、駆動モード制御ユニット111 から駆動制御ユニッ
ト112 に送られることにより、位置決め駆動が実行され
る。なお、駆動モードが一旦設定されると、その後に駆
動モードが変更されない限り、すべての位置決め駆動
が、現在設定されている駆動モードに従って実行され
る。
【0089】次に、本実施例のステージ位置決め制御方
法における制御の流れについて、図6に示すフローチャ
ートを参照して、実際の露光シーケンスに沿って説明す
る。なお、露光装置のステージ部の構成およびステージ
部の位置決め位置はそれぞれ図2および図3に示したも
のと同様であるので、以下の説明においては、図2およ
び図3も参照する。
法における制御の流れについて、図6に示すフローチャ
ートを参照して、実際の露光シーケンスに沿って説明す
る。なお、露光装置のステージ部の構成およびステージ
部の位置決め位置はそれぞれ図2および図3に示したも
のと同様であるので、以下の説明においては、図2およ
び図3も参照する。
【0090】ウエハチャック56をウエハ交換位置QU
(図3参照)に位置決めしてウエハハンド70からウエ
ハ1を受け取るため、ウエハ交換位置QU を示す指令位
置情報IP (図5参照)が、指令ユニット120 から駆動
モード制御ユニット111 に送られる。駆動モード制御ユ
ニット111 では、送られてきた指令位置情報IP がウエ
ハ交換位置QU を示すため、駆動モードが、ウエハ交換
位置QU に対応する第1の駆動モード(表4参照)に設
定される。その結果、「粗動X軸51および粗動Y軸5
2」を示す駆動軸情報IA と、「粗動XY軸位置決め駆
動方法」を示す駆動方法情報IM と、ウエハ交換位置Q
U を示す指令位置情報IP とが、駆動モード制御ユニッ
ト111 から駆動制御ユニット112 にそれぞれ送られるこ
とにより、位置決め駆動が実行される。ウエハチャック
56がウエハ交換位置QU に位置決めされると、ウエハ
1はウエハハンド70からウエハチャック56に受け取
られる(以上、ステップS51)。
(図3参照)に位置決めしてウエハハンド70からウエ
ハ1を受け取るため、ウエハ交換位置QU を示す指令位
置情報IP (図5参照)が、指令ユニット120 から駆動
モード制御ユニット111 に送られる。駆動モード制御ユ
ニット111 では、送られてきた指令位置情報IP がウエ
ハ交換位置QU を示すため、駆動モードが、ウエハ交換
位置QU に対応する第1の駆動モード(表4参照)に設
定される。その結果、「粗動X軸51および粗動Y軸5
2」を示す駆動軸情報IA と、「粗動XY軸位置決め駆
動方法」を示す駆動方法情報IM と、ウエハ交換位置Q
U を示す指令位置情報IP とが、駆動モード制御ユニッ
ト111 から駆動制御ユニット112 にそれぞれ送られるこ
とにより、位置決め駆動が実行される。ウエハチャック
56がウエハ交換位置QU に位置決めされると、ウエハ
1はウエハハンド70からウエハチャック56に受け取
られる(以上、ステップS51)。
【0091】続いて、ウエハチャック56をプリアライ
メント位置QPA(図3参照)に位置決めしてウエハ1の
Z軸回転方向の位置合わせを行うため、プリアライメン
ト位置QPAを示す指令位置情報IP (図5参照)が、指
令ユニット120 から駆動モード制御ユニット111 に送ら
れる。駆動モード制御ユニット111 では、送られてきた
指令位置情報IP がプリアライメント位置QPAを示すた
め、駆動モードが、プリアライメント位置QPAに対応す
る第2の駆動モード(表4参照)に設定される。その結
果、「粗動X軸51,粗動Y軸52,微動Y軸54およ
びZティルト軸55」を示す駆動軸情報IA と、「粗動
X軸粗微動Y軸位置決め駆動方法」を示す駆動方法情報
IM と、プリアライメント位置QPAを示す指令位置情報
IP とが、駆動モード制御ユニット111 から駆動制御ユ
ニット112 にそれぞれ送られることにより、位置決め駆
動が実行される。ウエハチャック56がプリアライメン
ト位置QPAに位置決めされると、ウエハ1のZ軸回転方
向の位置合わせが行われる(以上、ステップS52)。
メント位置QPA(図3参照)に位置決めしてウエハ1の
Z軸回転方向の位置合わせを行うため、プリアライメン
ト位置QPAを示す指令位置情報IP (図5参照)が、指
令ユニット120 から駆動モード制御ユニット111 に送ら
れる。駆動モード制御ユニット111 では、送られてきた
指令位置情報IP がプリアライメント位置QPAを示すた
め、駆動モードが、プリアライメント位置QPAに対応す
る第2の駆動モード(表4参照)に設定される。その結
果、「粗動X軸51,粗動Y軸52,微動Y軸54およ
びZティルト軸55」を示す駆動軸情報IA と、「粗動
X軸粗微動Y軸位置決め駆動方法」を示す駆動方法情報
IM と、プリアライメント位置QPAを示す指令位置情報
IP とが、駆動モード制御ユニット111 から駆動制御ユ
ニット112 にそれぞれ送られることにより、位置決め駆
動が実行される。ウエハチャック56がプリアライメン
ト位置QPAに位置決めされると、ウエハ1のZ軸回転方
向の位置合わせが行われる(以上、ステップS52)。
【0092】続いて、マスク2の交換の要否が判断され
る(ステップS53)。ここで、マスク2の交換が不要
と判断された場合には、後述するステップ56(露光シ
ョット位置決め)に移行する。
る(ステップS53)。ここで、マスク2の交換が不要
と判断された場合には、後述するステップ56(露光シ
ョット位置決め)に移行する。
【0093】一方、ステップS53においてマスク2の
交換が必要と判断された場合には、ウエハチャック56
をマスク2の交換時のウエハチャック退避位置QE (図
3参照)に位置決めしてマスク2の交換を行うため、ウ
エハチャック退避位置QE を示す指令位置情報IP (図
5参照)が、指令ユニット120 から駆動モード制御ユニ
ット111 に送られる。駆動モード制御ユニット111 で
は、送られてきた指令位置情報IP がウエハチャック退
避位置QE を示すため、駆動モードが、ウエハチャック
退避位置QE に対応する第1の駆動モード(表4参照)
に設定される。その結果、「粗動X軸51および粗動Y
軸52」を示す駆動軸情報IA と、「粗動XY軸位置決
め駆動方法」を示す駆動方法情報IM と、ウエハチャッ
ク退避位置QE を示す指令位置情報IP とが、駆動モー
ド制御ユニット111 から駆動制御ユニット112 にそれぞ
れ送られることにより、位置決め駆動が実行される。ウ
エハチャック56がウエハチャック退避位置QE に位置
決めされると、マスク2が交換される(以上、ステップ
S54)。
交換が必要と判断された場合には、ウエハチャック56
をマスク2の交換時のウエハチャック退避位置QE (図
3参照)に位置決めしてマスク2の交換を行うため、ウ
エハチャック退避位置QE を示す指令位置情報IP (図
5参照)が、指令ユニット120 から駆動モード制御ユニ
ット111 に送られる。駆動モード制御ユニット111 で
は、送られてきた指令位置情報IP がウエハチャック退
避位置QE を示すため、駆動モードが、ウエハチャック
退避位置QE に対応する第1の駆動モード(表4参照)
に設定される。その結果、「粗動X軸51および粗動Y
軸52」を示す駆動軸情報IA と、「粗動XY軸位置決
め駆動方法」を示す駆動方法情報IM と、ウエハチャッ
ク退避位置QE を示す指令位置情報IP とが、駆動モー
ド制御ユニット111 から駆動制御ユニット112 にそれぞ
れ送られることにより、位置決め駆動が実行される。ウ
エハチャック56がウエハチャック退避位置QE に位置
決めされると、マスク2が交換される(以上、ステップ
S54)。
【0094】続いて、ウエハチャック56の中心をマス
クアライメント位置QMAに位置決めし、レーザー干渉計
測長用ミラー61上のマスク軸ステージ基準99に対し
てマスク2上の基準マークを高精度に位置合わせさせる
ため、マスクアライメント位置QMAを示す指令位置情報
IP (図5参照)が、指令ユニット120 から駆動モード
制御ユニット111 に送られる。駆動モード制御ユニット
111 では、送られてきた指令位置情報IP がマスクアラ
イメント位置QMAを示すため、駆動モードが、マスクア
ライメント位置QMAに対応する第3の駆動モード(表4
参照)に設定される。その結果、「粗動X軸51,粗動
Y軸52,微動X軸53,微動Y軸54およびZティル
ト軸55」を示す駆動軸情報IA と、「粗微動XY軸位
置決め駆動方法」を示す駆動方法情報IM と、マスクア
ライメント位置QMAを示す指令位置情報IP とが、駆動
モード制御ユニット111 から駆動制御ユニット112 にそ
れぞれ送られることにより、位置決め駆動が実行され
る。ウエハチャック56の中心がマスクアライメント位
置QMAに位置決めされると、マスクアライメントが行わ
れる(以上、ステップS55)。
クアライメント位置QMAに位置決めし、レーザー干渉計
測長用ミラー61上のマスク軸ステージ基準99に対し
てマスク2上の基準マークを高精度に位置合わせさせる
ため、マスクアライメント位置QMAを示す指令位置情報
IP (図5参照)が、指令ユニット120 から駆動モード
制御ユニット111 に送られる。駆動モード制御ユニット
111 では、送られてきた指令位置情報IP がマスクアラ
イメント位置QMAを示すため、駆動モードが、マスクア
ライメント位置QMAに対応する第3の駆動モード(表4
参照)に設定される。その結果、「粗動X軸51,粗動
Y軸52,微動X軸53,微動Y軸54およびZティル
ト軸55」を示す駆動軸情報IA と、「粗微動XY軸位
置決め駆動方法」を示す駆動方法情報IM と、マスクア
ライメント位置QMAを示す指令位置情報IP とが、駆動
モード制御ユニット111 から駆動制御ユニット112 にそ
れぞれ送られることにより、位置決め駆動が実行され
る。ウエハチャック56の中心がマスクアライメント位
置QMAに位置決めされると、マスクアライメントが行わ
れる(以上、ステップS55)。
【0095】続いて、今回の露光ショット位置(たとえ
ば、図3に示した第1の露光ショット位置QS1)をファ
インアライメント位置QFAに位置決めするため、第1の
露光ショット位置QS1がファインアライメント位置QFA
に位置決めされるときのウエハチャック56の中心の位
置を示す指令位置情報IP (図5参照)が、指令ユニッ
ト120 から駆動モード制御ユニット111 に送られる。駆
動モード制御ユニット111 では、送られてきた指令位置
情報IP が、指令位置が露光ショット領域であり、ま
た、移動量が微動X軸53および微動Y軸54の駆動可
能ストロークを超えることを示すことから、このことに
対応する第3の駆動モード(表4参照)に駆動モードが
設定される。その結果、「粗動X軸51,粗動Y軸5
2,微動X軸53,微動Y軸54およびZティルト軸5
5」を示す駆動軸情報IA と、「粗微動XY軸位置決め
駆動方法」を示す駆動方法情報IM と、ウエハチャック
56の中心の位置を示す指令位置情報IP とが、駆動モ
ード制御ユニット11から駆動制御ユニット12にそれ
ぞれ送られることにより、位置決め駆動が実行される
(以上、ステップS56)。
ば、図3に示した第1の露光ショット位置QS1)をファ
インアライメント位置QFAに位置決めするため、第1の
露光ショット位置QS1がファインアライメント位置QFA
に位置決めされるときのウエハチャック56の中心の位
置を示す指令位置情報IP (図5参照)が、指令ユニッ
ト120 から駆動モード制御ユニット111 に送られる。駆
動モード制御ユニット111 では、送られてきた指令位置
情報IP が、指令位置が露光ショット領域であり、ま
た、移動量が微動X軸53および微動Y軸54の駆動可
能ストロークを超えることを示すことから、このことに
対応する第3の駆動モード(表4参照)に駆動モードが
設定される。その結果、「粗動X軸51,粗動Y軸5
2,微動X軸53,微動Y軸54およびZティルト軸5
5」を示す駆動軸情報IA と、「粗微動XY軸位置決め
駆動方法」を示す駆動方法情報IM と、ウエハチャック
56の中心の位置を示す指令位置情報IP とが、駆動モ
ード制御ユニット11から駆動制御ユニット12にそれ
ぞれ送られることにより、位置決め駆動が実行される
(以上、ステップS56)。
【0096】続いて、今回の露光ショット位置(たとえ
ば、図3に示した第1の露光ショット位置QS1)とマス
ク2の露光パターンPとの高精度な位置合わせを行うた
め、外部計測手段により、マスク2の露光パターンPに
対する第1の露光ショット位置QS1のずれ量を計測し、
計測されたずれ量に基づいて補正されたウエハチャック
56の中心の位置を示す指令位置情報IP (図1参照)
が、指令ユニット20から駆動モード制御ユニット11
に送られる。駆動モード制御ユニット111 では、指令位
置が露光ショット領域であり、また、移動量が微動X軸
53および微動Y軸54の駆動可能ストローク内である
ことから、このことに対応する第4の駆動モード(表4
参照)に駆動モードが設定される。その結果、「微動X
軸53および微動Y軸54」を示す駆動軸情報IA と、
「微動XY軸位置決め駆動方法」を示す駆動方法情報I
M と、ウエハチャック56の中心の位置を示す指令位置
情報IP とが、駆動モード制御ユニット11から駆動制
御ユニット12にそれぞれ送られることにより、位置決
め駆動が実行される(以上、ステップS57)。
ば、図3に示した第1の露光ショット位置QS1)とマス
ク2の露光パターンPとの高精度な位置合わせを行うた
め、外部計測手段により、マスク2の露光パターンPに
対する第1の露光ショット位置QS1のずれ量を計測し、
計測されたずれ量に基づいて補正されたウエハチャック
56の中心の位置を示す指令位置情報IP (図1参照)
が、指令ユニット20から駆動モード制御ユニット11
に送られる。駆動モード制御ユニット111 では、指令位
置が露光ショット領域であり、また、移動量が微動X軸
53および微動Y軸54の駆動可能ストローク内である
ことから、このことに対応する第4の駆動モード(表4
参照)に駆動モードが設定される。その結果、「微動X
軸53および微動Y軸54」を示す駆動軸情報IA と、
「微動XY軸位置決め駆動方法」を示す駆動方法情報I
M と、ウエハチャック56の中心の位置を示す指令位置
情報IP とが、駆動モード制御ユニット11から駆動制
御ユニット12にそれぞれ送られることにより、位置決
め駆動が実行される(以上、ステップS57)。
【0097】続いて、露光が行われたのち(ステップS
58)、露光ショット残の有無が判断される(ステップ
S59)。ここで、露光ショット残がありと判断された
場合には、ステップS53(マスク2の交換の要否の判
断)に移行する。
58)、露光ショット残の有無が判断される(ステップ
S59)。ここで、露光ショット残がありと判断された
場合には、ステップS53(マスク2の交換の要否の判
断)に移行する。
【0098】一方、ステップS59において露光ショッ
ト残がなしと判断された場合には、ウエハチャック56
をウエハ交換位置QU (図3参照)に位置決めしてウエ
ハハンド70へウエハ1を受け渡すため、ウエハ交換位
置QU を示す指令位置情報I P (図5参照)が、指令ユ
ニット120 から駆動モード制御ユニット111 に送られ
る。駆動モード制御ユニット111 では、送られてきた指
令位置情報IP がウエハ交換位置QU を示すため、駆動
モードが、ウエハ交換位置QU に対応する第1の駆動モ
ード(表4参照)に設定される。その結果、「粗動X軸
51および粗動Y軸52」を示す駆動軸情報IA と、
「粗動XY軸位置決め駆動方法」を示す駆動方法情報I
M と、ウエハ交換位置QU を示す指令位置情報IP と
が、駆動モード制御ユニット11から駆動制御ユニット
12にそれぞれ送られることにより、位置決め駆動が実
行される。ウエハチャック56がウエハ交換位置QU に
位置決めされると、ウエハ1はウエハチャック56から
ウエハハンド70へ受け渡される(以上、ステップS6
0)。
ト残がなしと判断された場合には、ウエハチャック56
をウエハ交換位置QU (図3参照)に位置決めしてウエ
ハハンド70へウエハ1を受け渡すため、ウエハ交換位
置QU を示す指令位置情報I P (図5参照)が、指令ユ
ニット120 から駆動モード制御ユニット111 に送られ
る。駆動モード制御ユニット111 では、送られてきた指
令位置情報IP がウエハ交換位置QU を示すため、駆動
モードが、ウエハ交換位置QU に対応する第1の駆動モ
ード(表4参照)に設定される。その結果、「粗動X軸
51および粗動Y軸52」を示す駆動軸情報IA と、
「粗動XY軸位置決め駆動方法」を示す駆動方法情報I
M と、ウエハ交換位置QU を示す指令位置情報IP と
が、駆動モード制御ユニット11から駆動制御ユニット
12にそれぞれ送られることにより、位置決め駆動が実
行される。ウエハチャック56がウエハ交換位置QU に
位置決めされると、ウエハ1はウエハチャック56から
ウエハハンド70へ受け渡される(以上、ステップS6
0)。
【0099】続いて、次ウエハ(次に露光するウエハ)
の有無が判断される(ステップS61)。次ウエハがあ
る場合には、ステップS51(ウエハ1の受け取り)に
移行する。一方、次ウエハがない場合には、動作が終了
される。
の有無が判断される(ステップS61)。次ウエハがあ
る場合には、ステップS51(ウエハ1の受け取り)に
移行する。一方、次ウエハがない場合には、動作が終了
される。
【0100】次に、本発明のステージ位置決め制御方法
の第4の実施例について説明する。
の第4の実施例について説明する。
【0101】本実施例のステージ位置決め制御方法は、
上述した第2の実施例のステージ位置決め制御方法と同
様に、マスクとウエハとが近接(すなわち、マスクとウ
エハとの間の距離が数十マイクロメートル)した状態で
露光が行われるプロキシミティ露光装置において使用さ
れるものである。なお、ステージ部の構成およびウエハ
チャックの位置決め位置は図2および図3に示したもの
と同様であるので、以下の説明は図2および図3をそれ
ぞれ参照して行う。
上述した第2の実施例のステージ位置決め制御方法と同
様に、マスクとウエハとが近接(すなわち、マスクとウ
エハとの間の距離が数十マイクロメートル)した状態で
露光が行われるプロキシミティ露光装置において使用さ
れるものである。なお、ステージ部の構成およびウエハ
チャックの位置決め位置は図2および図3に示したもの
と同様であるので、以下の説明は図2および図3をそれ
ぞれ参照して行う。
【0102】前述したように、プロキシミティ露光装置
において露光ショット領域A内で粗動X軸51および粗
動Y軸52を用いて位置決めする場合には、マスク2と
ウエハ1とが干渉しないように、粗動X軸51および粗
動Y軸52の駆動時にZティルト軸55を非干渉領域ま
で退避させることにより、マスク2とウエハ1との安全
性を確保することができる。
において露光ショット領域A内で粗動X軸51および粗
動Y軸52を用いて位置決めする場合には、マスク2と
ウエハ1とが干渉しないように、粗動X軸51および粗
動Y軸52の駆動時にZティルト軸55を非干渉領域ま
で退避させることにより、マスク2とウエハ1との安全
性を確保することができる。
【0103】プロキシミティ露光装置における指令位置
および現在位置からの移動量と駆動モードとを対応づけ
ると、表5に示すようになる。
および現在位置からの移動量と駆動モードとを対応づけ
ると、表5に示すようになる。
【0104】
【表5】 次に、本実施例のステージ位置決め制御方法における制
御の流れについて、実際の露光シーケンスに沿って説明
する。
御の流れについて、実際の露光シーケンスに沿って説明
する。
【0105】『マスクアライメント』および『露光ショ
ット位置決め』以外は、上述した本発明の第3の実施例
のステージ位置決め制御方法と同様であるので、以下、
これらの制御についてのみ説明する。
ット位置決め』以外は、上述した本発明の第3の実施例
のステージ位置決め制御方法と同様であるので、以下、
これらの制御についてのみ説明する。
【0106】(1)マスクアライメント ウエハチャック56の中心をマスクアライメント位置Q
MAに位置決めし、レーザー干渉計測長用ミラー61上の
マスク軸ステージ基準99に対してマスク2上の基準マ
ークを高精度に位置合わせさせるため、マスクアライメ
ント位置QMAを示す指令位置情報IP (図5参照)が、
指令ユニット120 から駆動モード制御ユニット111 に送
られる。駆動モード制御ユニット111 では、送られてき
た指令位置情報IP がマスクアライメント位置QMAを示
すため、駆動モードが、マスクアライメント位置QMAに
対応する第5の駆動モード(表5参照)に設定される。
その結果、「粗動X軸51,粗動Y軸52,微動X軸5
3,微動Y軸54およびZティルト軸55」を示す駆動
軸情報IA と、「Zティルト軸退避駆動あり粗微動XY
軸位置決め駆動方法」を示す駆動方法情報IM と、マス
クアライメント位置QMAを示す指令位置情報IP とが、
駆動モード制御ユニット111 から駆動制御ユニット112
にそれぞれ送られることにより、位置決め駆動が実行さ
れる。ウエハチャック56の中心がマスクアライメント
位置QMAに位置決めされると、マスクアライメントが行
われる(図6のステップS55に相当)。
MAに位置決めし、レーザー干渉計測長用ミラー61上の
マスク軸ステージ基準99に対してマスク2上の基準マ
ークを高精度に位置合わせさせるため、マスクアライメ
ント位置QMAを示す指令位置情報IP (図5参照)が、
指令ユニット120 から駆動モード制御ユニット111 に送
られる。駆動モード制御ユニット111 では、送られてき
た指令位置情報IP がマスクアライメント位置QMAを示
すため、駆動モードが、マスクアライメント位置QMAに
対応する第5の駆動モード(表5参照)に設定される。
その結果、「粗動X軸51,粗動Y軸52,微動X軸5
3,微動Y軸54およびZティルト軸55」を示す駆動
軸情報IA と、「Zティルト軸退避駆動あり粗微動XY
軸位置決め駆動方法」を示す駆動方法情報IM と、マス
クアライメント位置QMAを示す指令位置情報IP とが、
駆動モード制御ユニット111 から駆動制御ユニット112
にそれぞれ送られることにより、位置決め駆動が実行さ
れる。ウエハチャック56の中心がマスクアライメント
位置QMAに位置決めされると、マスクアライメントが行
われる(図6のステップS55に相当)。
【0107】(2)露光ショット位置決め 今回の露光ショット位置(たとえば、図3に示した第1
の露光ショット位置Q S1)をファインアライメント位置
QFAに位置決めするため、第1の露光ショット位置QS1
がファインアライメント位置QFAに位置決めされるとき
のウエハチャック56の中心の位置を示す指令位置情報
IP (図5参照)が、指令ユニット120から駆動モード
制御ユニット111 に送られる。駆動モード制御ユニット
111 では、指令位置が露光ショット領域であり、また、
移動量が微動X軸53および微動Y軸54の駆動可能ス
トロークを超えることから、このことに対応する第5の
駆動モード(表5参照)に駆動モードが設定される。そ
の結果、「粗動X軸51,粗動Y軸52,微動X軸5
3,微動Y軸54およびZティルト軸55」を示す駆動
軸情報IA と、「Zティルト軸退避駆動あり粗微動XY
軸位置決め駆動方法」を示す駆動方法情報IM と、ウエ
ハチャック56の中心の位置を示す指令位置情報IP と
が、駆動モード制御ユニット111 から駆動制御ユニット
112 にそれぞれ送られることにより、位置決め駆動が実
行される(図6のステップS56に相当)。
の露光ショット位置Q S1)をファインアライメント位置
QFAに位置決めするため、第1の露光ショット位置QS1
がファインアライメント位置QFAに位置決めされるとき
のウエハチャック56の中心の位置を示す指令位置情報
IP (図5参照)が、指令ユニット120から駆動モード
制御ユニット111 に送られる。駆動モード制御ユニット
111 では、指令位置が露光ショット領域であり、また、
移動量が微動X軸53および微動Y軸54の駆動可能ス
トロークを超えることから、このことに対応する第5の
駆動モード(表5参照)に駆動モードが設定される。そ
の結果、「粗動X軸51,粗動Y軸52,微動X軸5
3,微動Y軸54およびZティルト軸55」を示す駆動
軸情報IA と、「Zティルト軸退避駆動あり粗微動XY
軸位置決め駆動方法」を示す駆動方法情報IM と、ウエ
ハチャック56の中心の位置を示す指令位置情報IP と
が、駆動モード制御ユニット111 から駆動制御ユニット
112 にそれぞれ送られることにより、位置決め駆動が実
行される(図6のステップS56に相当)。
【0108】
【発明の効果】本発明は、上述のとおり構成されている
ので、次の効果を奏する。
ので、次の効果を奏する。
【0109】露光装置の制御工程,ステージの位置決め
位置およびステージの移動量に応じて、複数の駆動モー
ドの中から最適な駆動モードを選択し、選択した駆動モ
ードよって駆動軸および駆動方法を決定して位置決めを
行うことができるため、各位置決め指令の要求される機
能を必要十分に満足し、常に最適化された位置決め駆動
を行うことができるとともに、安全性までも考慮された
位置決め駆動を行うことができる。その結果、露光装置
として高精度の位置決めとスループットの両立,スルー
プットの向上および安全性の確保が可能となる。
位置およびステージの移動量に応じて、複数の駆動モー
ドの中から最適な駆動モードを選択し、選択した駆動モ
ードよって駆動軸および駆動方法を決定して位置決めを
行うことができるため、各位置決め指令の要求される機
能を必要十分に満足し、常に最適化された位置決め駆動
を行うことができるとともに、安全性までも考慮された
位置決め駆動を行うことができる。その結果、露光装置
として高精度の位置決めとスループットの両立,スルー
プットの向上および安全性の確保が可能となる。
【図1】本発明のステージ位置決め制御方法の第1の実
施例が実現可能なステージコントローラを示すブロック
図である。
施例が実現可能なステージコントローラを示すブロック
図である。
【図2】図1に示したステージコントローラによりステ
ージの位置決めが行われる露光装置のステージ部の概略
構成図である。
ージの位置決めが行われる露光装置のステージ部の概略
構成図である。
【図3】図2に示したウエハチャックの位置決め位置を
説明するための図である。
説明するための図である。
【図4】図1に示したステージコントローラによる制御
の流れを説明するためのフローチャートである。
の流れを説明するためのフローチャートである。
【図5】本発明のステージ位置決め制御方法の第3の実
施例が実現可能なステージコントローラを示すブロック
図である。
施例が実現可能なステージコントローラを示すブロック
図である。
【図6】図5に示したステージコントローラによる制御
の流れを説明するためのフローチャートである。
の流れを説明するためのフローチャートである。
1 ウエハ 2 マスク 10,110 ステージコントローラ 11,111 駆動モード制御ユニット 111,1111 駆動モードテーブル 12,112 駆動制御ユニット 20,120 指令ユニット 50 ステージ部 51 粗動X軸 52 粗動Y軸 53 微動X軸 54 微動Y軸 55 Zティルト軸 56 ウエハチャック 57 マスク軸 60X X軸レーザー干渉計 61 レーザー干渉計測長用ミラー 70 ウエハハンド 99 マスク軸ステージ基準 IA 駆動軸情報 IM 駆動方法情報 ICP 制御工程情報 IP 指令位置情報 X,Y,Z 軸 QS1〜QS4 露光ショット位置 P 露光パターン QU ウエハ交換位置 QPA プリアライメント位置 A 露光ショット領域 QE ウエハチャック退避位置 QMA マスクアライメント位置 QFA ファインアライメント位置
Claims (4)
- 【請求項1】 ステージの位置決め指令に要求される機
能に応じて複数の駆動モードを設定しておき、 該設定した複数の駆動モードのうち、前記位置決め指令
に応じた駆動モードを選択し、 該選択した駆動モードに従って前記ステージを駆動して
該ステージの位置決めを行うことを特徴とするステージ
位置決め制御方法。 - 【請求項2】 前記ステージが露光装置に使用されるも
のであり、 前記位置決め指令が前記露光装置の制御工程により決定
されることを特徴とする請求項1記載のステージ位置決
め制御方法。 - 【請求項3】 前記位置決め指令が前記ステージの位置
決め位置により決定されることを特徴とする請求項1記
載のステージ位置決め制御方法。 - 【請求項4】 前記位置決め指令が前記ステージの移動
量により決定されることを特徴とする請求項1記載のス
テージ位置決め制御方法。
Priority Applications (2)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP18042793A JPH0737786A (ja) | 1993-07-21 | 1993-07-21 | ステージ位置決め制御方法 |
US08/717,802 US5760561A (en) | 1993-07-21 | 1996-09-24 | Method of controlling a stage and a system such as an exposing apparatus using the same |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP18042793A JPH0737786A (ja) | 1993-07-21 | 1993-07-21 | ステージ位置決め制御方法 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH0737786A true JPH0737786A (ja) | 1995-02-07 |
Family
ID=16083071
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP18042793A Pending JPH0737786A (ja) | 1993-07-21 | 1993-07-21 | ステージ位置決め制御方法 |
Country Status (2)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US5760561A (ja) |
JP (1) | JPH0737786A (ja) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US7712388B2 (en) | 2004-12-20 | 2010-05-11 | Denso Corporation | Starter with overrunning clutch |
Families Citing this family (7)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
FR2748886B1 (fr) * | 1996-05-15 | 1998-08-21 | Automa Tech Sa | Dispositif de support de cliche pour installation d'exposition a la lumiere d'une piece plane |
JP3907252B2 (ja) * | 1996-12-05 | 2007-04-18 | キヤノン株式会社 | 露光装置およびデバイス製造方法ならびにステージ装置および原点出し方法 |
US6411387B1 (en) | 1996-12-16 | 2002-06-25 | Nikon Corporation | Stage apparatus, projection optical apparatus and exposure method |
US6252234B1 (en) * | 1998-08-14 | 2001-06-26 | Nikon Corporation | Reaction force isolation system for a planar motor |
GB0411837D0 (en) * | 2004-05-27 | 2004-06-30 | Leuven K U Res & Dev | A measurement configuration based on linear scales able to measure to a target also moving perpendicular to the measurement axis |
JP5556774B2 (ja) * | 2011-09-16 | 2014-07-23 | ウシオ電機株式会社 | 露光装置 |
US10061277B2 (en) * | 2012-02-08 | 2018-08-28 | Mitsubishi Electric Corporation | Servo control device with coarse and fine movement |
Family Cites Families (17)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US4602540A (en) * | 1981-11-26 | 1986-07-29 | Toshiba Kikai Kabushiki Kaisha | Precision machine system |
US5365342A (en) * | 1984-10-18 | 1994-11-15 | Canon Kabushiki Kaisha | Alignment and exposure apparatus and method for manufacture of integrated circuits |
US4676630A (en) * | 1985-04-25 | 1987-06-30 | Canon Kabushiki Kaisha | Exposure apparatus |
US4748477A (en) * | 1985-04-30 | 1988-05-31 | Canon Kabushiki Kaisha | Exposure apparatus |
US4749867A (en) * | 1985-04-30 | 1988-06-07 | Canon Kabushiki Kaisha | Exposure apparatus |
US4672210A (en) * | 1985-09-03 | 1987-06-09 | Eaton Corporation | Ion implanter target chamber |
US4810941A (en) * | 1986-04-17 | 1989-03-07 | Canon Kabushiki Kaisha | Control system for a servomotor |
US4843293A (en) * | 1987-02-02 | 1989-06-27 | Research Development Corporation | Apparatus for controlling servo system employing piezo-electric actuator |
JP2631395B2 (ja) * | 1988-09-09 | 1997-07-16 | キヤノン株式会社 | 露光装置の制御方法 |
US5231291A (en) * | 1989-08-01 | 1993-07-27 | Canon Kabushiki Kaisha | Wafer table and exposure apparatus with the same |
EP0412756B1 (en) * | 1989-08-07 | 1995-10-25 | Canon Kabushiki Kaisha | Exposure apparatus |
JP2777915B2 (ja) * | 1989-08-30 | 1998-07-23 | キヤノン株式会社 | 位置合わせ機構 |
JP2829642B2 (ja) * | 1989-09-29 | 1998-11-25 | キヤノン株式会社 | 露光装置 |
US5315526A (en) * | 1989-12-07 | 1994-05-24 | Okuma Corporation | Numerically controlled lathe |
US5153494A (en) * | 1990-04-06 | 1992-10-06 | International Business Machines Corp. | Ultrafast electro-dynamic x, y and theta positioning stage |
EP0476666B1 (en) * | 1990-09-21 | 1995-05-10 | Canon Kabushiki Kaisha | Recording apparatus |
JP2721757B2 (ja) * | 1991-05-24 | 1998-03-04 | 工業技術院長 | 位置決め制御方法及び装置 |
-
1993
- 1993-07-21 JP JP18042793A patent/JPH0737786A/ja active Pending
-
1996
- 1996-09-24 US US08/717,802 patent/US5760561A/en not_active Expired - Fee Related
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US7712388B2 (en) | 2004-12-20 | 2010-05-11 | Denso Corporation | Starter with overrunning clutch |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
US5760561A (en) | 1998-06-02 |
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