JP2694110B2 - 磁性薄膜及びその製造方法 - Google Patents

磁性薄膜及びその製造方法

Info

Publication number
JP2694110B2
JP2694110B2 JP5224438A JP22443893A JP2694110B2 JP 2694110 B2 JP2694110 B2 JP 2694110B2 JP 5224438 A JP5224438 A JP 5224438A JP 22443893 A JP22443893 A JP 22443893A JP 2694110 B2 JP2694110 B2 JP 2694110B2
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
thin film
magnetic
phase
magnetic field
film
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Expired - Fee Related
Application number
JP5224438A
Other languages
English (en)
Other versions
JPH0786038A (ja
Inventor
伸治 古川
繁弘 大沼
文夫 松本
啓安 藤森
健 増本
Original Assignee
株式会社アモルファス・電子デバイス研究所
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by 株式会社アモルファス・電子デバイス研究所 filed Critical 株式会社アモルファス・電子デバイス研究所
Priority to JP5224438A priority Critical patent/JP2694110B2/ja
Publication of JPH0786038A publication Critical patent/JPH0786038A/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP2694110B2 publication Critical patent/JP2694110B2/ja
Anticipated expiration legal-status Critical
Expired - Fee Related legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01FMAGNETS; INDUCTANCES; TRANSFORMERS; SELECTION OF MATERIALS FOR THEIR MAGNETIC PROPERTIES
    • H01F10/00Thin magnetic films, e.g. of one-domain structure
    • H01F10/08Thin magnetic films, e.g. of one-domain structure characterised by magnetic layers
    • H01F10/10Thin magnetic films, e.g. of one-domain structure characterised by magnetic layers characterised by the composition
    • H01F10/12Thin magnetic films, e.g. of one-domain structure characterised by magnetic layers characterised by the composition being metals or alloys
    • H01F10/13Amorphous metallic alloys, e.g. glassy metals
    • H01F10/132Amorphous metallic alloys, e.g. glassy metals containing cobalt

Landscapes

  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Power Engineering (AREA)
  • Magnetic Heads (AREA)
  • Thin Magnetic Films (AREA)
  • Physical Vapour Deposition (AREA)

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は高周波域で優れた軟磁気
特性を有する電気比抵抗の大きな磁性薄膜およびその製
造方法に関するものである。
【0002】
【従来の技術】近年、電子機器の動作周波数を高める努
力が盛んに行われている。しかし、トランスやインダク
ターあるいは磁気ヘッドなどに用いられている既知の磁
性材料には高周波域で充分な特性を有するものはなく、
従ってこれら部品の高周波域での使用には制限が多かっ
た。一般に、1MHz以上の高周波域になると磁性材料
自体を流れる渦電流により大きな損失が発生する。金属
系の磁性材料は電気抵抗が小さいために渦電流損が大き
く高周波域で使用することは困難であった。一方、フェ
ライトおよびガーネットなどの酸化物系磁性材料は材料
自体の電気抵抗が非常に高いため、渦電流による損失は
比較的発生しにくい。しかし、透磁率の大きなものが得
にくく、かつ飽和磁束密度が小さいために自然共鳴周波
数が低く、高周波域での使用には制限が多かった。
【0003】飽和磁束密度が高く、かつ高周波特性の良
好な磁性材料に対する期待は大きく、これまでに金属系
磁性材料の電気抵抗を高くする方法が提案されている。
例えば,金属とセラミクスの同時スパッタリングにより
セラミクスが分散した非晶質合金膜を得る方法が特開昭
60−152651号公報により提案され,さらに,J.
Appl.Phys.63(8),15 April 1988 にFe−B4 C系分散
膜が、J.AppL.Phys.67(9),1 May 1990にCo0.4 Fe
0.40.2 −SiO2 系分散膜が高い比抵抗と軟磁気特
性を両立するものとして示されている。また、厚い単層
膜では良好な軟磁気特性が得られないCo0.95Fe0.05
−BN系分散膜を0.1μm以下の磁性層とすることで
軟磁気特性が得られ、この薄い膜を非磁性中間層を挟ん
で積層することにより厚い膜でも軟磁気特性が得られる
ことが特開平4- 142710号公報に示されてい
る。。
【0004】一方,N2 ガスの反応性スパッタリングに
より電気抵抗の高い非晶質合金膜を得る方法が特開昭5
4−94428号公報に開示されている.また,薄膜の
作成時にN2 やO2 ガスを添加すると,軟磁気特性の改
善に効果があることが多くの合金系で見いだされてお
り,例えばIEEE TRANS. ON MAG. MAG-20 1451 (1984)に
開示されている.さらに、磁歪の大きなCo0.5 Fe
0.5 合金をSiO2 を挟んで積層することにより、大き
な圧縮応力が発生し、それに伴い200 Oe以上の大きな
一軸磁気異方性が得られることが電気学会マグネテイク
ス研究会資料MAG-93-100に示されている。
【0005】
【発明が解決しようとする課題】磁性材料の高周波損失
は主に渦電流損失と共鳴損失に大別される。渦電流損失
は励磁により磁性体内部に電流が誘起されることが原因
であるため、磁性体の電気比抵抗を大きくしたり磁性体
を薄くして電流が流れにくくすることにより抑制でき
る。共鳴損失は磁性体の電子(スピン)の歳差運動が励
磁界と共鳴することが原因であり、その共鳴周波数は飽
和磁束密度と異方性磁界に比例する。また、現実の材料
では、異方性磁界は、その大きさ、方向ともにある範囲
に分布しており、これが低い値から幅広く分布している
と、低周波域から損失を発生する。この異方性の分布は
異方性分散と呼ばれており、磁歪材の場合には加工時に
残留した応力分布により増大することが知られている。
これらのことから、高周波域で使用する磁性材料を設計
するためには以下のことを考慮する必要がある。
【0006】(1)飽和磁束密度が大きい (2)電気比抵抗が大きい (3)異方性磁界が大きい (4)異方性分散が小さい (5)磁歪が小さい しかし、これらの全てを満足した材料は未だ得られてい
ない。
【0007】近年、磁性体の電気比抵抗を大きくする目
的で金属とセラミクスを同時にスパッタした非晶質分散
膜が盛んに検討されている。合金系としては、これまで
にFe基、Feの多いCoFe基、およびCo基が報告
されている。このうちFe基とCoFe基の報告が非常
に多く、Co基は1件しかない。Fe基やCoFe基は
非晶質相になると10-5以上の正の大きな飽和磁歪定数
をもつため、異方性分散などを考慮すると必ずしも適切
な材料であるとは言えなかった。一方、Co基は数%の
Feを添加すると10-6台以下のいわゆる零磁歪が得ら
れ、高周波用材料として好適なものとなる。しかしCo
基の分散膜は、膜面に垂直な磁気異方性が発生しやす
く、軟磁性が得られにくいかった。薄い磁性層を非磁性
相とともに積層して垂直磁気異方性を抑制した磁性膜が
特開平4−142710号公報に示されているが、工程
が複雑であり、かつ実質的な飽和磁束密度が減少すると
いう問題を含んでいた。
【0008】また、ZrやHf、あるいはAl、Si、
Bなどを含む合金ターゲットをNやO中でスパッタした
膜が比較的大きな比抵抗と軟磁性を有するものとして特
開平4−48707号公報や特開平5−47552号公
報などに報告されている。しかし、これらも全てFe基
であり、Co基の報告はなかった。このように、磁歪の
小さなCo基で電気比抵抗の大きな材料についての報告
はなかった。
【0009】ところで、電気比抵抗を大きくすることは
渦電流損失を抑制する上では有効ではあるが、共鳴周波
数を高くする効果はない。共鳴周波数を高くするために
は、異方性磁界を大きくしなければならない。従来、一
軸磁気異方性を付与する方法として、成膜や熱処理を磁
界中で行なうことが一般的に行なわれている。この時に
導入される異方性磁界の大きさは磁性体の種類によりお
おむね決まっている。例えば、Feを数%添加したCo
基非晶質合金は異方性磁界を比較的制御しやすく、最大
20 Oe程度の値を得ることができる。一方、Fe基
合金は一般に一軸磁気異方性がつきにくく、これよりも
小さな値であることが多い。異方性磁界が20 Oeの
時の共鳴周波数は飽和磁束密度が比較的大きいものでも
約1GHzとなり、一般的には数100MHz以上で共
鳴の影響が顕著に現れる。従って、数100MHzある
いはそれ以上の高周波域で磁性体を使用するためにはさ
らに大きな異方性磁界が必要であった。一方、一軸磁気
異方性は磁界によって誘導されるもの以外に結晶組織に
起因するものや材料に印加された応力の逆磁歪効果によ
るものがあり、外部磁界により誘導された異方性よりも
大きな異方性磁界がえられることが知られている。前者
は結晶磁気異方性に起因したもので、温度などによる変
化が小さく非常に安定であるが、単結晶あるいは異方的
に規則化したパーマロイ合金など非常に限られたもので
あった。一方、後者は磁歪材料に一般的にみられるもの
で、異方性磁界は印加した応力に比例して増大する。例
えば、歪の大きなCo0.5 Fe0.5 合金をSiO2 を挟
んで積層することにより、大きな圧縮応力が発生し、そ
れに伴い200 Oe以上の大きな一軸磁気異方性が得ら
れ、この膜が1GHz以上のでも軟磁気特性得良好であ
ると電気学会マグネテイクス研究会資料MAG-93-100に報
告されている。しかし、このような残留応力による歪み
磁気異方性はその大きさや方向を制御しにくく、異方性
分散が大きくなりやすいという問題点があった。実際に
この文献に報告されている困難軸方向の直流磁気履歴曲
線から算出される異方性磁界はたかだか40 Oe程度
であり、大きな異方性分散を有していた。以上のよう
に、数100MHz以上でも良好な軟磁気特性を示す薄
膜材料を得ることは、これまで非常に困難であった。
【0010】本発明は上記の点に鑑みてなされたもの
で、高周波域で優れた軟磁気特性を有する電気比抵抗の
大きな磁性薄膜およびその製造方法を提供することを目
的とする。
【0011】
【課題を解決するための手段及び作用】本発明者らは、
上記の事情を鑑みて鋭意努力した結果、2種類以上の結
晶相からなる組織を有するCo基合金薄膜において、P
dを添加することにより、0.1μm 以上の厚い単層膜
でも良好な軟磁気特性が得られることを見いだして本発
明に到達した。本発明の磁性膜は、軟磁気特性とともに
高電気比抵抗、10-6台以下の低磁歪を有している。さ
らにその一部は、300 Oe以上と非常に大きな異方
性磁界を付与することができる。さらにまた、この異方
性磁界は回転磁界中熱処理などで容易に調整することが
でき、高周波用軟磁性材料として優れた特性を示す。
【0012】
【実施例】以下、従来の複合分散膜などとの比較を加え
ながら、本発明の実施例を説明する。本発明の磁性薄膜
を透過電子顕微鏡などで詳細に観察すると、ネットワー
ク状の微細組織が見いだされ、2種類以上の結晶相から
なることがわかる。また、電子線回折あるいはX線分光
分析などを同時におこなうと、結晶粒がfcc構造を有
するCo合金相であり、粒界がOやN,Fを含む非晶質
あるいは結晶質の化合物(例えばSiO2 類縁化合物な
ど)であることが見いだされる。すなわち、本発明の磁
性薄膜は、結晶学的には数10オングストロームの非常
に微細な合金結晶粒をセラミックを主成分とする粒界相
が覆ったものであり、この粒界のために通常の金属薄膜
に比べて2〜104 倍高い電気比抵抗を示す。軟磁気特
性は、このネットワーク組織の形態とCo合金相の結晶
構造に極めて重要な影響をうける。以下この点について
特にくわしく述べる。
【0013】Co基合金の平衡状態図には、fcc相は
高温に存在し、室温での安定相はhcpであることが示
されている。実際、純Coでは、急冷速度の速いスパッ
タによってもfccとhcpの混相となり、fccの単
相は得られない。Coとセラミクスを同時スパッタした
分散膜でも、この事情はおおむね同様であり、軟磁気特
性が得られなかった。本発明者らは、Coに各種の元素
を添加した合金とセラミクスの同時スパッタ膜を作成
し、その結晶構造を検討した。その結果CoにPdを添
加することにより、fcc高温相が室温でも安定にな
り、軟磁気特性が得られることを見いだした。PdがC
oのfcc構造を安定化し得ることは、Co−Pd系平
衡状態図から理解することができる。fcc高温相がh
cp低温相に相変態する温度は、純Coでは408℃で
あるが、Pdの添加により低下し、Pdが約15%以上
になるとfcc相が室温でも安定となる。スパッタリン
グ法は急冷する効果があるため、この値よりも少量でf
cc相が室温で安定となる。
【0014】次にCo合金相の結晶構造と軟磁気特性に
ついて述べる。Co合金は添加する合金元素の種類や量
によりfcc相、hcp相(およびこれらの混相)、非
晶質相として存在する。セラミクスと同時スパッタして
作成され、ネットワーク構造を有する薄膜では、Co合
金相がfcc相となった場合に軟磁気特性が得られ、他
の場合では得られなかった。例えば、Co−B系は軟磁
気特性に優れた非晶質合金として広く知られているが、
セラミクスと同時スパッタリングしたものでは、軟磁気
特性は得られなかった。
【0015】このようにして本発明者らは、高い電気比
抵抗と軟磁気特性を両立したCo基磁性薄膜を見いだし
本発明に到達した。すなわち本発明は、2種類以上の結
晶相からなる組織を有するCo基合金薄膜において、P
dを5原子%以上含むことを特徴とする軟磁性薄膜材
料。
【0016】をその主旨とするものであり、さらに 一般式 Co100-x-y-z-w-v Pdx My Lz Qw 但し MはFe、Ni、Mn、Pt,Ruから選択され
る1種または2種以上の元素であり、LはBe,B,M
g,Al,Si,Ca,Nb,Cr,Ti,Y,Zr,
Mo,In,Sn,Cs,Ba,La,Hf,Ta,B
i,Pb,Wから選択される1種または2種以上の元素
であり、QはN,O,Fから選択される1種または2種
以上の元素であり、その原子比率が 5≦ x ≦30 0≦ y ≦20 5≦ z ≦30 5≦ w ≦35 20≦x+y+z+w≦60 である軟磁気特性に優れた磁性薄膜。によって具体化さ
れるものである。
【0017】本発明の磁性薄膜を透過電子顕微鏡で観察
するとネットワーク状の微細組織を見いだすことができ
る。これらはfcc構造のCo合金相とNやO、Fを含
む化合物相からなるが、この化合物相はBe,B,M
g,Al,Si,Ca,Ti,Y,Zr,Mo,In,
Sn,Cs,Ba,La,Hf,Ta,Bi,Pb,W
などを多く含む。すなわち、本発明においてこれらの元
素はネットワーク構造を形成するために必須であり、そ
のために5原子%以上存在する必要がある。しかし30
原子%を超えると軟磁気特性を劣下させるために適切で
はない。また、これらの化合物相はNやOを多く含み電
気比抵抗を増大させている。NやO,Fもネットワーク
構造を形成するために5原子%以上存在する必要があ
る。しかし35原子%を超えると飽和磁束密度が小さく
なりすぎるために適切ではない。本発明においてPdは
Co合金相をfcc相とするために、ひいては軟磁性を
得るために必須である。その量が5原子%未満の場合は
効果がなく、30原子%を超えると飽和磁束密度が小さ
くなりすぎるために適切ではない。
【0018】さらに本発明の磁性薄膜にFe、Ni、M
n、Pt,Ruを添加することは、磁歪定数を調節し、
熱安定性や耐食性を向上させるために好ましいものであ
る。しかし、これらが20原子%をこえるとCo合金相
の結晶構造が変化するため適切ではない。
【0019】一方、本発明の磁性薄膜は高い電気比抵抗
を有していながら軟磁気特性に優れる点とともに、さら
に数100 Oeに及ぶ非常に大きな異方性磁界を付加
できる特徴もあり、従来にはなかった非常に高い周波数
での応用に供与され得る。本発明の薄膜は、従来のCo
系非晶質合金では困難であった30 Oe以上の大きな
異方性磁界を容易に付与することができる。また、従来
のCoFeとSiO2からなる多層膜のような歪み磁気
異方性ではなく、誘導磁気異方性により異方性磁界が付
与されているため、本発明の薄膜は成膜後に磁界中熱処
理を施して異方性磁界の大きさを制御することが容易に
できる。従って、使用する周波数範囲と必要な透磁率を
考慮しながら異方性磁界の大きさをコントロールするこ
とが可能である。また、膜の異方性は均一であり分散が
小さいために、磁芯損失の少ないものを提供することが
できる。
【0020】本発明の磁性薄膜は、Co合金と窒化物あ
るいは酸化物を同時にスパッタすることにより作製でき
るが、Co合金をNやO,Fを含む雰囲気中でスパッタ
することによっても得られる。もちろんCo合金と窒化
物あるいは酸化物をNやO,Fを含む雰囲気中でスパッ
タしてもよい。また、さらに本発明者らは、本発明のC
o基軟磁性薄膜を製造するにあたり、H2 を含む雰囲気
中で成膜することにより、より少ないPd量で良好な軟
磁気特性と大きな異方性磁界を得られることを見いだし
た。このことは異方性磁界のコントロールに有効なだけ
ではなく、より大きな飽和磁束密度を得るためにも好適
である。
【0021】以下、本発明を具体的実施例を用いてさら
に詳しく説明する。 [実施例−1]Co94Fe6 (原子%)円盤上に、扇状
のSiO2 板と正方形のPd板を被覆率がそれぞれ30
%、10%となるように設置した複合ターゲットを、高周
波スパッタリングすることによりCoFePd−SiO
2 薄膜を作製した。成膜条件は以下の表−1のように設
定した。
【0022】表−1 スパッタ圧力 1.0×10-2 Torr 投入電力 90W 基板温度 20℃(水冷) 基板 コーニング#7059 厚さ0.
5mm 膜厚 0.6μm スパッタガス流量 Ar 10CCM 印加磁界 1対の永久磁石 (140 O
e) 得られた試料は理学電気社製X線回折装置RAD−3A
により組織を同定した。結果を図1に示す。2θが44
゜付近にfcc−Coの(110)面に対応するブロー
ドな回折ピークが観察され、非常に微細な結晶粒径であ
ることがわかる。次に日立製作所社製透過電子顕微鏡H
-9000 NARで薄膜の微細組織を観察した結果を図2に
示す。粒径が約50オングストロームのクラスターと厚
さが約10オングストロームの粒界からなるネットワー
ク状の組織が見られ、この薄膜が2相からなることが認
められた。さらに、電子線回折図形からこれらはfcc
-Co相とSiO2 に似た化合物相であることが確認さ
れた。なお、Siが酸化物相として存在することは、ア
ルバックファイ社製X線分光分析装置ESCA- 560
0によっても確認された。
【0023】次に、直流磁気特性を理研電子社製試料振
動型磁力計BHV−30SSにより測定した。結果を図
3に示す。図中の2つのデーターは、成膜時の磁界の印
加方向に平行( // )、垂直(|)に励磁して測定した
結果を表わしている。試料は、成膜時に印加した磁界方
向と平行な一軸磁気異方性を有しており、その異方性磁
界(Hk)は72Oeと非常に大きいものであった。ま
た、履歴曲線の直線性が良いことから異方性分散の小さ
なものであることがわかる。保磁力(Hc)も、容易軸
方向(Hce)が1. 2Oe、困難軸方向(Hch)が
1. 5Oeと十分小さく良好な軟磁気特性を示してい
る。また、飽和磁束密度(Bs)も9. 8kGと十分に
大きかった。この膜の電気比抵抗(ρ)を直流4端子法
により測定したところ、137μΩcmと通常の非晶質
合金と同等の大きな値を示した。次に、困難軸方向の透
磁率の周波数特性を横河ヒューレットパッカード社製ネ
ットワークアナライザー4195Aにより、パラレルラ
イン法で測定した。同方法についての詳細な説明は、日
本応用磁気学会誌, Vol.17,No.2,p497
(1993)に開示されている。結果を図4に示し
た。図中の各点は実測値であり、実線は日本応用磁気学
会誌, Vol.15,No.2,p327(1991)
に開示されている方法でBs、Hk、ρ、膜厚から求め
た理論値である。Hkが大きいため、透磁率の実数部
μ’は小さいが、500MHzまで劣下しない良好な周
波数特性を示した。これは本発明の薄膜が、飽和磁束密
度と異方性磁界が高いために共鳴周波数が非常に高いこ
と、電気比抵抗が高いため渦電流損失が小さいこと、異
方性に乱れが少なく均質であることから得られたもので
あり、理論値に近いものであった。
【0024】次に、この膜の飽和磁歪定数を成瀬科学器
械社製光てこ型飽和磁歪測定装置MS−7により100
Oeの磁場下で測定した。なお、膜のヤング率を実測
することが非常に困難であったため、その値としてCo
SiB薄帯の9 ×103 kg/mm2 を採用し計算した。そ
の結果、飽和磁歪は−1.5 ×10-6と十分小さなもので
あることが確認された。 [比較例−1]Pdを添加しないCoFe−SiO2
膜を作製した。試料の作製方法および評価方法は実施例
−1と同じ条件で行なった。得られた薄膜は、図5に示
したようにfcc−Co相とともにhcp相が観察され
た。次にこの薄膜のVSMによる直流磁気履歴曲線を図
6に示す。試料は保磁力が65 Oeと非常に大きく、
軟磁気特性も一軸磁気異方性も示さなかった。なお、1
00 Oeで磁化が飽和しないため飽和磁歪定数は測定
できなかった。 [比較例−2]Co8020(原子%)円盤上に、扇状の
SiO2 板を被覆率が30%となるように設置した複合
ターゲットを用いて、Pdを添加しないCoB−SiO
2 薄膜を作製した。試料の作製方法および評価方法は実
施例−1と同じ条件で行なった。得られた薄膜は、図7
に示したようにハロー以外には特にピークは見られず非
晶質相であることがわかる。次にこの薄膜のVSMによ
る直流磁気履歴曲線を図8に示す。試料は非常に磁化さ
れにくく、軟磁気特性も一軸磁気異方性も示さなかっ
た。なお、100 Oeで磁化が飽和しないため飽和磁
歪定数は測定できなかった。 [実施例−2]実施例−1の成膜条件で、スパッタガス
をH2 を10%含むArに変えて膜を作成した。直流磁
気特性を図9に示す。H2 の添加により異方性磁界は増
大し、300 Oeを超える値を示した。次にこの磁性
薄膜を1kOeの磁界中で熱処理した時の異方性磁界の
大きさの変化を図10に示す。熱処理は1×10-5以下
の真空中で保持時間を1時間として行ない、試料台の回
転の有無によりそれぞれ回転磁界と静磁界を印加した。
異方性磁界の変化が回転磁界中と静磁界中で全く異なる
ことから、この磁性膜の一軸磁気異方性は誘導磁気異方
性であることが了解される。このように本発明の磁性薄
膜の異方性磁界は、回転磁界中熱処理により容易にコン
トロールできた。 [実施例−3]Co94Fe6 (原子%)円盤上に、扇状
のBN板と正方形のPd板を被覆率がそれぞれ50%、
10%となるように設置した複合ターゲットを、高周波ス
パッタリングすることによりCoFePd−BN薄膜を
作製した。その他の成膜条件は実施例−1と同様にし
た。得られた試料は、X線回折により(110)面に配
向した非常に微細なfcc−Co相を含むことが確認さ
れた。直流磁気特性を図11に示す。試料は、成膜時に
印加した磁界方向が磁化容易軸が平行となる一軸磁気異
方性を有しており、その異方性磁界(Hk)は58 O
eであった。保磁力(Hc)は、容易軸方向(Hce)
が0. 24 Oe、困難軸方向(Hch)が0.57
Oeと非常に小さく良好な軟磁気特性を示した。電気比
抵抗(ρ)は117μΩcmと十分大きかった。 [比較例−3]Co94Fe6 (原子%)円盤上に、扇状
のBN板を被覆率が50%となるように設置した複合タ
ーゲットを、高周波スパッタリングすることによりPd
を含まないCoFe−BN薄膜を作製した。その他の成
膜条件は実施例−1と同様にした。得られた試料は、非
晶質相を含むことが確認された。直流磁気特性を図12
に示す。試料は、垂直磁気異方性の発生を示すかぎ型の
履歴曲線を示し、軟磁気特性は得られなかった。 [実施例−4]Co94Fe6 (原子%)円盤上に、円板
状のCaF2 板と正方形のPd板を被覆率がそれぞれ1
4%、26%となるように設置した複合ターゲットを、
高周波スパッタリングすることによりCoFePd−C
aF2 薄膜を作製した。その他の成膜条件は実施例−1
と同様にした。得られた試料は、X線回折により(11
0)面に配向した非常に微細なfcc−Co相とCaF
2 結晶相を含むことが確認された。直流磁気特性を図1
3に示す。試料は、成膜時に印加した磁界方向が磁化容
易軸が平行となる一軸磁気異方性を有しており、その異
方性磁界(Hk)は260 Oeと非常に大きかった。
軟磁気特性は実施例−1、2のCoFePd−ZrO2
や実施例−3のCoFePd−BNに比べると良くない
もののPdを添加していない比較例−4に比べると大き
く改善された。 [比較例−4 ]Co94Fe6 (原子%)円盤上に、円板
状のCaF2 板を被覆率が14%となるように設置した複
合ターゲットを、高周波スパッタリングすることにより
Pdを含まないCoFe−CaF2 薄膜を作製した。そ
の他の成膜条件は実施例−1と同様にした。得られた試
料は、(110)面に配向した非常に微細なfcc−C
o相とCaF2 結晶相を含むことがX線回折により確認
された。直流磁気特性を図14に示す。試料は、垂直磁
気異方性の発生を示すかぎ型の履歴曲線を示し、軟磁気
特性は得られなかった。 [実施例−5]合金ターゲットの反応性スパッタリング
によっても本発明の薄膜材料が得られることを確認する
実験を行なった。Co8020(原子%)円盤上に、正方
形状のPd板を被覆率が10%となるように設置した複合
ターゲットをAr-1%O2 ガス中でスパッタリングする
ことにより、CoPdBO薄膜を作製した。その他の試
料の作製方法および評価方法は実施例−1と同じ条件で
行なった。得られた薄膜は、図15に示したように非常
に結晶粒の微細なfcc−Co相からなるものであっ
た。次にこの薄膜のVSMによる直流磁気履歴曲線を図
16に示す。試料は保磁力は大きいものの明確に一軸磁
気異方性を示しており、O2 の反応性スパッタリングに
よる方法でも本発明の薄膜材料が得られることが確認さ
れた。 [比較例−5]合金ターゲットの反応性スパッタリング
法により薄膜を作製する場合でのPdの効果を明確にす
るために比較実験を行なった。実施例−5と同様な方法
で、Co8020(原子%)ターゲットのみをAr-1%O
2 ガス中でスパッタリングすることにより、Pdを添加
しないCoBO薄膜を作製した。その他の試料の作製方
法および評価方法は実施例−1と同じ条件で行なった。
得られた薄膜は、図17に示したようにfcc−Co相
の他にhcp- Co相が混在しているものであった。次
にこの薄膜のVSMによる直流磁気履歴曲線を図18に
示す。試料は垂直磁気異方性の発生を示すかぎ型の履歴
曲線を示し、軟磁気特性は得られなかった。このよう
に、O2 の反応性スパッタリングによる方法でもPdの
添加が垂直磁気異方性の発生を抑制し、一軸磁気異方性
を付与するうえで非常に有効であることが確認された。
【0025】
【発明の効果】以上述べたように、本発明によれば良好
な一軸磁気異方性を有し、電気抵抗が大きく、飽和磁歪
定数が小さく、高周波特性の優れた軟磁性薄膜材料を提
供することができる。本発明の薄膜は、磁界中熱処理を
施すことにより、その異方性磁界が100 Oe以上か
らほぼ等方的なものまで幅広く提供することができる。
さらに、飽和磁歪定数は10-6台以下と小さいため、加
工歪などの影響を小さなものにすることができる。さら
に本発明の薄膜の異方性磁界の大きさは、従来広く行な
われていたような回転磁界中熱処理などにより制御でき
るが、スパッタ中にH2 ガスを添加する本発明の方法に
よってもコントロールすることができる。本発明の磁性
薄膜においては、高周波域で使用するにあたり必要なだ
けの異方性磁界を分散の少ない状態で得ることができ、
また特に多層膜とする必要もないことから、特別な工程
や装置を必要としないため、その工業的意義は大きい。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の実施例の1つであるCoFePd−S
iO2 薄膜の結晶構造を示すX線回折図である。
【図2】本発明の実施例の1つであるCoFePd−S
iO2 薄膜の微細組織を示す透過電子顕微鏡の明視野像
図である。
【図3】本発明の実施例の1つであるCoFePd−S
iO2 薄膜の直流磁気履歴曲線を示す図である。
【図4】本発明の実施例の1つであるCoFePd−S
iO2 薄膜の透磁率の周波数特性を示す図である。
【図5】CoFe−SiO2 薄膜の結晶構造を示すX線
回折図である。
【図6】CoFe−SiO2 薄膜の直流磁気履歴曲線を
示す図である。
【図7】CoB−SiO2 薄膜の結晶構造を示すX線回
折図形である。
【図8】CoB−SiO2 薄膜の直流磁気履歴曲線を示
す図である。
【図9】本発明の実施例の1つであるCoFePd−S
iO2 薄膜をH2 雰囲気中で成膜したものの直流磁気履
歴曲線を示す図である。
【図10】本発明の実施例の1つであるH2 雰囲気中で
成膜したCoFePd−SiO2薄膜を回転磁界および
静磁界を印加しながら熱処理した時の、異方性磁界と熱
処理温度の関係を示す図である。
【図11】本発明の実施例の1つであるCoFePd−
BN薄膜の直流磁気履歴曲線を示す図である。
【図12】CoFe−BN薄膜の直流磁気履歴曲線を示
す図である。
【図13】本発明の実施例の1つであるCoFePd−
CaF2 薄膜の直流磁気履歴曲線を示す図である。
【図14】CoFe−CaF2 薄膜の直流磁気履歴曲線
を示す図である。
【図15】本発明の実施例の1つであるCoPdBO薄
膜の結晶構造を示すX線回折図である。
【図16】本発明の実施例の1つであるCoPdBO薄
膜の直流磁気履歴曲線を示す図である。
【図17】CoBO薄膜の結晶構造を示すX線回折図で
ある。
【図18】CoBO薄膜の直流磁気履歴曲線を示す図で
ある。
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (51)Int.Cl.6 識別記号 庁内整理番号 FI 技術表示箇所 H01F 41/18 H01F 41/18 (72)発明者 松本 文夫 宮城県仙台市青葉区南吉成6丁目6番地 の3 株式会社アモルファス・電子デバ イス研究所内 (72)発明者 藤森 啓安 宮城県仙台市青葉区吉成2丁目20番3号 (72)発明者 増本 健 宮城県仙台市青葉区上杉3丁目8番22号 (56)参考文献 特開 平3−60105(JP,A) 特開 平1−223611(JP,A) 特開 昭61−246914(JP,A) 特開 平5−6820(JP,A) 特開 平6−96950(JP,A)

Claims (5)

    (57)【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 2種類以上の結晶相からなる組織を有す
    るCo基合金薄膜、Pdを含む磁性薄膜において、 電気比抵抗が100μΩcm以上であることを特徴とす
    る磁性薄膜。
  2. 【請求項2】 2種類以上の結晶相からなる組織を有す
    るCo基合金薄膜で、Pdを含む磁性薄膜において、 一般式 Co100-x-y-z-w-v Pdxyzw 但し MはFe、Ni、Mn、Pt,Ruから選択され
    る1種または2種以上の元素であり、LはBe,B,M
    g,Al,Si,Ca,Nb,Cr,Ti,Y,Zr,
    Mo,In,Sn,Cs,Ba,La,Hf,Ta,B
    i,Pb,Wから選択される1種または2種以上の元素
    であり、QはN,O,Fから選択される1種または2種
    以上の元素であり、その原子比率が 5≦ x ≦30 0≦ y ≦20 5≦ z ≦20 5≦ w ≦35 20≦x+y+z+w≦50 であることを特徴とする磁性薄膜。
  3. 【請求項3】 透過電子顕微鏡によりネットワーク状の
    微細組織が観察されることを特徴とする請求項記載の
    磁性薄膜。
  4. 【請求項4】 結晶相のうちの1つがfcc−Co相で
    あることを特徴とする請求項2記載の磁性薄膜。
  5. 【請求項5】 Pdを含むCo合金相と、酸化物相およ
    び/または窒化物相および/またはフッ化物相とからな
    る薄膜材料を製造するにあたり、H 2 を含む雰囲気中で
    スパッタリングすることを特徴とする磁性薄膜の製造方
    法。
JP5224438A 1993-09-09 1993-09-09 磁性薄膜及びその製造方法 Expired - Fee Related JP2694110B2 (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP5224438A JP2694110B2 (ja) 1993-09-09 1993-09-09 磁性薄膜及びその製造方法

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP5224438A JP2694110B2 (ja) 1993-09-09 1993-09-09 磁性薄膜及びその製造方法

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JPH0786038A JPH0786038A (ja) 1995-03-31
JP2694110B2 true JP2694110B2 (ja) 1997-12-24

Family

ID=16813777

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP5224438A Expired - Fee Related JP2694110B2 (ja) 1993-09-09 1993-09-09 磁性薄膜及びその製造方法

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP2694110B2 (ja)

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US10858730B2 (en) 2016-12-14 2020-12-08 Korea University Research And Business Foundation Multilayer thin films exhibiting perpendicular magnetic anisotropy
US10903416B2 (en) 2016-12-14 2021-01-26 Korea University Research And Business Foundation Alloy thin films exhibiting perpendicular magnetic anisotropy

Families Citing this family (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2002158486A (ja) * 2000-11-17 2002-05-31 Res Inst Electric Magnetic Alloys 電磁波吸収膜
JP2006012250A (ja) 2004-06-23 2006-01-12 Tdk Corp 垂直磁気記録用磁気ヘッド
JP4630882B2 (ja) * 2007-03-09 2011-02-09 財団法人電気磁気材料研究所 一軸磁気異方性膜
WO2014065201A1 (ja) * 2012-10-23 2014-05-01 Jx日鉱日石金属株式会社 Fe-Pt系焼結体スパッタリングターゲット及びその製造方法
JP6210401B2 (ja) * 2013-03-12 2017-10-11 公益財団法人電磁材料研究所 高電気抵抗強磁性薄膜

Family Cites Families (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS618904A (ja) * 1984-06-25 1986-01-16 Nec Corp 軟磁性多層膜
JPS61246914A (ja) * 1985-04-19 1986-11-04 Hitachi Metals Ltd 磁気記録媒体およびその製造方法
JP2510679B2 (ja) * 1987-10-05 1996-06-26 株式会社日立製作所 薄膜磁気ヘッド及び薄膜磁気ヘッドを搭載した磁気ディスク装置
JP2635416B2 (ja) * 1989-07-28 1997-07-30 アルプス電気株式会社 軟磁性合金膜

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US10858730B2 (en) 2016-12-14 2020-12-08 Korea University Research And Business Foundation Multilayer thin films exhibiting perpendicular magnetic anisotropy
US10903416B2 (en) 2016-12-14 2021-01-26 Korea University Research And Business Foundation Alloy thin films exhibiting perpendicular magnetic anisotropy

Also Published As

Publication number Publication date
JPH0786038A (ja) 1995-03-31

Similar Documents

Publication Publication Date Title
KR930012182B1 (ko) 초미세 결정입자를 갖는 자기합금과 그 제조방법
JP3688732B2 (ja) 平面型磁気素子および非晶質磁性薄膜
JP2950912B2 (ja) 軟磁性薄膜
JP2694110B2 (ja) 磁性薄膜及びその製造方法
JPH08273930A (ja) 薄膜磁気素子およびその製造方法
Hasegawa et al. Structural and soft magnetic properties of nanocrystalline (Fe, Co, Ni)-Ta-C films with high thermal stability
JP2721562B2 (ja) 軟磁性合金膜
JP2554444B2 (ja) 一軸磁気異方性薄膜
JP2710440B2 (ja) 軟磁性合金膜
JP2554445B2 (ja) 磁性薄膜及びその製造方法
JP2704157B2 (ja) 磁性部品
KR0177922B1 (ko) 연자성비정질합금박막
JP3956061B2 (ja) 一軸磁気異方性膜
JP3810881B2 (ja) 高周波軟磁性膜
JP3866266B2 (ja) 非晶質磁性薄膜とそれを用いた平面型磁気素子
JP3058675B2 (ja) 超微結晶磁性合金
Furukawa et al. Soft Magnetic Properties of Nanocrystalline Fe-Ceramic Films
JP2675178B2 (ja) 軟磁性合金膜
JP3232592B2 (ja) 磁気ヘッド
JP3056401B2 (ja) 軟磁性合金膜
JP2635421B2 (ja) 軟磁性合金膜
Takahashi et al. Soft magnetic properties of Ni-Fe-Nb alloy films with nearly 50 wt% Ni concentration
JP3236277B2 (ja) 軟磁性合金膜の製造方法
JP2774708B2 (ja) 軟磁性薄膜およびそれを用いた薄膜磁気ヘッド
JP4630882B2 (ja) 一軸磁気異方性膜

Legal Events

Date Code Title Description
R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

S111 Request for change of ownership or part of ownership

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R313113

R350 Written notification of registration of transfer

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R350

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20080905

Year of fee payment: 11

LAPS Cancellation because of no payment of annual fees