JP2663560B2 - レーザ加工装置 - Google Patents
レーザ加工装置Info
- Publication number
- JP2663560B2 JP2663560B2 JP63254956A JP25495688A JP2663560B2 JP 2663560 B2 JP2663560 B2 JP 2663560B2 JP 63254956 A JP63254956 A JP 63254956A JP 25495688 A JP25495688 A JP 25495688A JP 2663560 B2 JP2663560 B2 JP 2663560B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- scanning
- laser
- lens
- minute
- condensing
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired - Fee Related
Links
Classifications
-
- B—PERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
- B23—MACHINE TOOLS; METAL-WORKING NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- B23K—SOLDERING OR UNSOLDERING; WELDING; CLADDING OR PLATING BY SOLDERING OR WELDING; CUTTING BY APPLYING HEAT LOCALLY, e.g. FLAME CUTTING; WORKING BY LASER BEAM
- B23K26/00—Working by laser beam, e.g. welding, cutting or boring
- B23K26/02—Positioning or observing the workpiece, e.g. with respect to the point of impact; Aligning, aiming or focusing the laser beam
- B23K26/04—Automatically aligning, aiming or focusing the laser beam, e.g. using the back-scattered light
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- Optics & Photonics (AREA)
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Plasma & Fusion (AREA)
- Mechanical Engineering (AREA)
- Laser Beam Processing (AREA)
- Mechanical Optical Scanning Systems (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 本発明はレーザ加工装置に関し,特にレーザトリマ,
メモリリペア等の微細パターンの切断,加工を目的とし
たレーザ加工装置に関する。
メモリリペア等の微細パターンの切断,加工を目的とし
たレーザ加工装置に関する。
〔従来の技術〕 従来,この種のレーザ加工装置はメモリリペアを例に
とると,次の3つのレーザ光走査方式が用いられて来
た。
とると,次の3つのレーザ光走査方式が用いられて来
た。
第1の方式はミラーを取付けたガルバノメータとfθ
レンズを組合せた方式,第2の方式はXYステージに集光
レンズを取付け,レーザ光が常に集光レンズの中心を通
るようにして集光レンズを移動させて走査する方式,第
3の方式はレーザ光および集光レンズを固定し,被加工
物を載せたXYステージを所定の加工位置が集光レンズの
下に来るように移動させる方式である。
レンズを組合せた方式,第2の方式はXYステージに集光
レンズを取付け,レーザ光が常に集光レンズの中心を通
るようにして集光レンズを移動させて走査する方式,第
3の方式はレーザ光および集光レンズを固定し,被加工
物を載せたXYステージを所定の加工位置が集光レンズの
下に来るように移動させる方式である。
第1の方式はレーザ光走査の高速性では最も優れてい
るが,他の方式に比べ加工位置精度が劣ることや,レー
ザの集光スポット径を小さくしようとすれば,fθレンズ
の焦点距離を短かくせざるを得ず,走査範囲が狭くなる
ことなどの欠点がある。
るが,他の方式に比べ加工位置精度が劣ることや,レー
ザの集光スポット径を小さくしようとすれば,fθレンズ
の焦点距離を短かくせざるを得ず,走査範囲が狭くなる
ことなどの欠点がある。
第2の方式は,第1の方式に比べ,加工位置精度は良
いが,XYステージによる走査のため,走査の点で劣る。
いが,XYステージによる走査のため,走査の点で劣る。
第3の方式は,他の方式に比べ,最も高い加工位置精
度が得られるが,大移動可能な精密YXステージが必要な
ため,大型で高価な装置となる。
度が得られるが,大移動可能な精密YXステージが必要な
ため,大型で高価な装置となる。
すなわち,上述した従来の方式では,光走査の高速性
と高い加工位置精度を広い範囲にわたって備えることは
困難であった。
と高い加工位置精度を広い範囲にわたって備えることは
困難であった。
本発明のレーザ加工装置はレーザ発振器と,レーザ光
を走査する走査手段とレーザ光を被加工物表面に集光す
る手段を有するレーザ加工装置において,短焦点の要素
集光体を1次元又は2次元に配列してなる集光手段と,
前記要素集光体を少なくとも該要素集光体の配列間隔距
離だけ移動させる駆動手段と,前記要素集光体に対して
レーザ光を垂直入射させるミラー型走査手段とレンズを
備えて構成される。
を走査する走査手段とレーザ光を被加工物表面に集光す
る手段を有するレーザ加工装置において,短焦点の要素
集光体を1次元又は2次元に配列してなる集光手段と,
前記要素集光体を少なくとも該要素集光体の配列間隔距
離だけ移動させる駆動手段と,前記要素集光体に対して
レーザ光を垂直入射させるミラー型走査手段とレンズを
備えて構成される。
次に本発明について図面を参照して説明する。
第1図は本発明の一実施例の構成図である。
レーザ発振器101から出力されたレーザ光はできるだ
け一様な強度分布となるよう変換され,ガルバノメータ
102に取付けられたミラーにより反射されて走査レンズ1
03に入射する。ガルバノメータ102は走査レンズ103の焦
点位置に置かれ,紙面に垂直な軸を中心にミラーを回転
することによってレーザ光はX軸方向に走査される。走
査レンズ103の出射光は微小集光レンズ104でさらに集光
されて,被加工物107面上で微小な集光スポットとな
る。
け一様な強度分布となるよう変換され,ガルバノメータ
102に取付けられたミラーにより反射されて走査レンズ1
03に入射する。ガルバノメータ102は走査レンズ103の焦
点位置に置かれ,紙面に垂直な軸を中心にミラーを回転
することによってレーザ光はX軸方向に走査される。走
査レンズ103の出射光は微小集光レンズ104でさらに集光
されて,被加工物107面上で微小な集光スポットとな
る。
被加工物107を最大8インチのICウエハとするとガル
バノメータ102と走査レンズ103の組合せによるX軸方向
走査範囲は200mm程度となり,走査レンズ103は焦点距離
200mm程度の長焦点大口径のレンズとなる。一方,微小
集光レンズ104は微小スポットを得るため,焦点距離10m
m程度の短焦点レンズが用いられ,集光された直径数μ
mのレーザスポットとなる。微小集光レンズ104はX軸
方向に一直線に等間隔で並べられ,光軸中心部以外は開
口マスク109によって遮蔽されて微小集光レンズ一次元
配列板105を構成する。
バノメータ102と走査レンズ103の組合せによるX軸方向
走査範囲は200mm程度となり,走査レンズ103は焦点距離
200mm程度の長焦点大口径のレンズとなる。一方,微小
集光レンズ104は微小スポットを得るため,焦点距離10m
m程度の短焦点レンズが用いられ,集光された直径数μ
mのレーザスポットとなる。微小集光レンズ104はX軸
方向に一直線に等間隔で並べられ,光軸中心部以外は開
口マスク109によって遮蔽されて微小集光レンズ一次元
配列板105を構成する。
被加工物107面上でX軸方向にレーザスポットを移動
させる場合,ガルバノメータ102を回転させて所定位置
近傍にレーザ光を移動させ,配列微小レンズ中で近くの
微小レンズ開口部を所定位置上に正確にリニアモータ10
6で移動させ所定位置上に来たレーザビームの一部を切
り出して被加工物107上に集光させる。
させる場合,ガルバノメータ102を回転させて所定位置
近傍にレーザ光を移動させ,配列微小レンズ中で近くの
微小レンズ開口部を所定位置上に正確にリニアモータ10
6で移動させ所定位置上に来たレーザビームの一部を切
り出して被加工物107上に集光させる。
リニアモータ106による微小集光レンズ一次元配列板1
05の移動距離は微小レンズ104の配列間隔だけあれば十
分であり,微小レンズ間隔を1mmとすれば,最大1mm程度
の移動となり,短時間での微小レンズ移動が可能であ
る。一方ガルバノメータ102によるレーザ光の走査は高
速であるため,全体としてX軸方向に高速のレーザ光走
査とレーザスポットの位置決めが可能となる。
05の移動距離は微小レンズ104の配列間隔だけあれば十
分であり,微小レンズ間隔を1mmとすれば,最大1mm程度
の移動となり,短時間での微小レンズ移動が可能であ
る。一方ガルバノメータ102によるレーザ光の走査は高
速であるため,全体としてX軸方向に高速のレーザ光走
査とレーザスポットの位置決めが可能となる。
Y方向のレーザスポットの走査は被加工物107を載せ
たY方向駆動ステージ108によって行なう。リニアモー
タ106の移動距離およびY方向駆動ステージ108の移動距
離測定をレーザ測長器で行なえば高速性に加えて高精度
のレーザスポット位置決めが実現できる。
たY方向駆動ステージ108によって行なう。リニアモー
タ106の移動距離およびY方向駆動ステージ108の移動距
離測定をレーザ測長器で行なえば高速性に加えて高精度
のレーザスポット位置決めが実現できる。
この装置の利点には,ステージが一軸移動でよいため
軽量,かつ低価格であること,レーザ測長器を使う場合
XYステージ構成では必要となるL型ミラー等の大型高精
度ミラーが不要で,使うミラー類が小型,かつ低価格で
あることなどが挙げられる。
軽量,かつ低価格であること,レーザ測長器を使う場合
XYステージ構成では必要となるL型ミラー等の大型高精
度ミラーが不要で,使うミラー類が小型,かつ低価格で
あることなどが挙げられる。
微小レンズ104は本実施例のように小型レンズを組合
せても,また,ガラスマスク上にフレネルレンズ等を構
成したものでもよい。微小レンズ104は高精度で等間隔
で配列されていることが望ましいが開口マスク109の開
口間隔を正確に作り,実際の配列精度を補正テーブルと
してリニアモータ制御回路106中に記憶させておいて移
動時に補正を加えることで高精度の位置決めが可能であ
る。
せても,また,ガラスマスク上にフレネルレンズ等を構
成したものでもよい。微小レンズ104は高精度で等間隔
で配列されていることが望ましいが開口マスク109の開
口間隔を正確に作り,実際の配列精度を補正テーブルと
してリニアモータ制御回路106中に記憶させておいて移
動時に補正を加えることで高精度の位置決めが可能であ
る。
第2図は本発明の第2の実施例の構成図である。レー
ザ発振器201を出たレーザ光は走査レンズ211と該レンズ
211の焦点位置にある走査ミラー202によりICウエハ209
の所定位置近傍に入射するよう走査される。
ザ発振器201を出たレーザ光は走査レンズ211と該レンズ
211の焦点位置にある走査ミラー202によりICウエハ209
の所定位置近傍に入射するよう走査される。
また,走査レンズ211とICウエハ209の間に微小集光レ
ンズ206を等間隔で2次元配列状に並べた微小レンズ2
次元配列板205を設け,ICウエハ209上にレーザ光を微小
スポットとして集光する。
ンズ206を等間隔で2次元配列状に並べた微小レンズ2
次元配列板205を設け,ICウエハ209上にレーザ光を微小
スポットとして集光する。
微小レンズ2次元配列板205は第1図の例と同様,微
小レンズと開口マスクの組合せやフレネルレンズ等で構
成される。
小レンズと開口マスクの組合せやフレネルレンズ等で構
成される。
走査ミラー202はY軸方向走査パルスモータ203および
X軸方向走査パルスモータ204によって2次元走査され
る。
X軸方向走査パルスモータ204によって2次元走査され
る。
微小レンズ2次元配列板205は平行板バネ等で保持さ
れ,X軸駆動リニアモータ208およびY軸駆動リニアモー
タ207により,最大微小レンズ間隔まで移動走査され
る。移動距離はレーザ測長器等の高精度位置検出器によ
り計測される。
れ,X軸駆動リニアモータ208およびY軸駆動リニアモー
タ207により,最大微小レンズ間隔まで移動走査され
る。移動距離はレーザ測長器等の高精度位置検出器によ
り計測される。
本実施例の場合,ICウエハ209は固定のウエハチャック
上に載せられ,大移動高精度のステージが不用となるた
め小型,軽量かつ安価なレーザ加工装置となる。
上に載せられ,大移動高精度のステージが不用となるた
め小型,軽量かつ安価なレーザ加工装置となる。
以上説明したように,本発明は,レーザスポットの移
動走査をガルバノメータ等を用いたミラー回転による走
査を採用することにより高速化を図り,高精度位置決め
には要素集光体をその配列を間隔程度の短距離を精度よ
く移動させることにより行うことによって高速,高精度
のレーザスポット走査が可能となる効果がある。また,I
Cウエハ等大型基板の高精度位置決めに不可欠であったX
Yステージも不用となる効果がある。
動走査をガルバノメータ等を用いたミラー回転による走
査を採用することにより高速化を図り,高精度位置決め
には要素集光体をその配列を間隔程度の短距離を精度よ
く移動させることにより行うことによって高速,高精度
のレーザスポット走査が可能となる効果がある。また,I
Cウエハ等大型基板の高精度位置決めに不可欠であったX
Yステージも不用となる効果がある。
第1図,第2図は本発明の第1,第2の実施例の構成図で
ある。 記号の説明:101はレーザ発振器,102はX方向走査ガルバ
ノメータ,103は走査レンズ,105は微小集光レンズ一次元
配列板,106はX方向駆動リニアモータ,108はY方向駆動
ステージ,201はレーザ発振器,202は走査ミラー,205は微
小レンズ二次元配列板,211は走査レンズである。
ある。 記号の説明:101はレーザ発振器,102はX方向走査ガルバ
ノメータ,103は走査レンズ,105は微小集光レンズ一次元
配列板,106はX方向駆動リニアモータ,108はY方向駆動
ステージ,201はレーザ発振器,202は走査ミラー,205は微
小レンズ二次元配列板,211は走査レンズである。
Claims (1)
- 【請求項1】レーザ発振器と,レーザ光を走査する走査
手段と,レーザ光を被加工物表面に集光する手段を有す
るレーザ加工装置において,短焦点要素集光体を1次元
又は2次元に配列してなる集光手段と,前記要素集光体
を少なくとも該要素集光体の配列間隔だけ移動させる駆
動手段と,前記要素集光体に対してレーザ光を垂直入射
させるミラー型走査手段とレンズを備えることを特徴と
するレーザ加工装置。
Priority Applications (2)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP63254956A JP2663560B2 (ja) | 1988-10-12 | 1988-10-12 | レーザ加工装置 |
US07/420,599 US4950862A (en) | 1988-10-12 | 1989-10-12 | Laser machining apparatus using focusing lens-array |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP63254956A JP2663560B2 (ja) | 1988-10-12 | 1988-10-12 | レーザ加工装置 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH02104487A JPH02104487A (ja) | 1990-04-17 |
JP2663560B2 true JP2663560B2 (ja) | 1997-10-15 |
Family
ID=17272197
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP63254956A Expired - Fee Related JP2663560B2 (ja) | 1988-10-12 | 1988-10-12 | レーザ加工装置 |
Country Status (2)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US4950862A (ja) |
JP (1) | JP2663560B2 (ja) |
Families Citing this family (36)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2657957B2 (ja) * | 1990-04-27 | 1997-09-30 | キヤノン株式会社 | 投影装置及び光照射方法 |
DE19513354A1 (de) * | 1994-04-14 | 1995-12-14 | Zeiss Carl | Materialbearbeitungseinrichtung |
US5674414A (en) * | 1994-11-11 | 1997-10-07 | Carl-Zeiss Stiftung | Method and apparatus of irradiating a surface of a workpiece with a plurality of beams |
EP0738556B1 (en) * | 1995-04-19 | 1997-12-29 | Gerber Garment Technology, Inc. | Laser cutter and method for cutting sheet material |
US5932119A (en) * | 1996-01-05 | 1999-08-03 | Lazare Kaplan International, Inc. | Laser marking system |
GB9601049D0 (en) | 1996-01-18 | 1996-03-20 | Xaar Ltd | Methods of and apparatus for forming nozzles |
US6087617A (en) * | 1996-05-07 | 2000-07-11 | Troitski; Igor Nikolaevich | Computer graphics system for generating an image reproducible inside optically transparent material |
US5780524A (en) * | 1996-05-14 | 1998-07-14 | Olsen; Don E. | Micro heating apparatus for synthetic fibers and related methods |
US5751436A (en) * | 1996-12-23 | 1998-05-12 | Rocky Mountain Instrument Company | Method and apparatus for cylindrical coordinate laser engraving |
DE19840926B4 (de) * | 1998-09-08 | 2013-07-11 | Hell Gravure Systems Gmbh & Co. Kg | Anordnung zur Materialbearbeitung mittels Laserstrahlen und deren Verwendung |
US6084194A (en) * | 1999-03-01 | 2000-07-04 | Modern Hard Chrome Service Co. | Method and apparatus for electric-discharge texturing ends of a roll |
JP2002542043A (ja) * | 1999-04-27 | 2002-12-10 | ジーエスアイ ルモニクス インコーポレイテッド | 多重レーザビームを使用する材料処理システム及び方法 |
US20060249491A1 (en) * | 1999-09-01 | 2006-11-09 | Hell Gravure Systems Gmbh | Laser radiation source |
US6975778B1 (en) * | 2000-04-27 | 2005-12-13 | Xerox Corporation | Method and system to adjust for image errors induced by a lens array |
US6563581B1 (en) * | 2000-07-14 | 2003-05-13 | Applera Corporation | Scanning system and method for scanning a plurality of samples |
US6625181B1 (en) * | 2000-10-23 | 2003-09-23 | U.C. Laser Ltd. | Method and apparatus for multi-beam laser machining |
CN1538893B (zh) * | 2001-06-13 | 2012-01-04 | 奥博泰克有限公司 | 多束微加工系统和方法 |
WO2003040829A2 (en) | 2001-11-07 | 2003-05-15 | Applied Materials, Inc. | Maskless printer using photoelectric conversion of a light beam array |
CN1791839A (zh) * | 2001-11-07 | 2006-06-21 | 应用材料有限公司 | 光点格栅阵列光刻机 |
DE10246198A1 (de) * | 2002-10-01 | 2004-04-22 | Jenoptik Automatisierungstechnik Gmbh | Anordnung zum Schweißen mittels Laserstrahlung |
US7521651B2 (en) | 2003-09-12 | 2009-04-21 | Orbotech Ltd | Multiple beam micro-machining system and method |
US20060257929A1 (en) * | 2003-11-12 | 2006-11-16 | Microbiosystems, Limited Partnership | Method for the rapid taxonomic identification of pathogenic microorganisms and their toxic proteins |
US7081947B2 (en) * | 2004-02-27 | 2006-07-25 | Asml Netherlands B.V. | Lithographic apparatus and device manufacturing method |
US20060279793A1 (en) * | 2004-07-30 | 2006-12-14 | Hell Gravure Systems Gmbh | Printing form processing with a plurality of engraving tool tracks forming lines |
DE102004042337A1 (de) * | 2004-09-01 | 2006-03-30 | Innovavent Gmbh | Vorrichtung und Verfahren zum Homogenisieren von Laserstrahlung sowie eine Laseranlage unter Verwendung einer solchen Vorrichtung und eines solchen Verfahrens |
KR100664573B1 (ko) * | 2005-02-04 | 2007-02-02 | 한유희 | 레이저 가공 장치 및 방법 |
US20080165406A1 (en) * | 2005-03-09 | 2008-07-10 | Ehud Galun | Subsurface Reticle |
KR100915273B1 (ko) * | 2005-06-01 | 2009-09-03 | 페톤 가부시끼가이샤 | 레이저 가공장치 및 레이저 가공방법 |
JP2007054992A (ja) * | 2005-08-23 | 2007-03-08 | Sii Printek Inc | インクジェットヘッド用ノズルプレートの製造方法、インクジェットヘッド用ノズルプレートの製造装置、インクジェットヘッド用ノズルプレート、インクジェットヘッド、およびインクジェット記録装置 |
US20070148567A1 (en) * | 2005-12-09 | 2007-06-28 | Joerg Ferber | Method and apparatus for laser-drilling an inkjet orifice in a substrate |
JP5062025B2 (ja) * | 2008-05-12 | 2012-10-31 | 住友電気工業株式会社 | レーザ加工方法 |
JP5515120B2 (ja) * | 2010-10-29 | 2014-06-11 | 株式会社ブイ・テクノロジー | マイクロレンズアレイを使用したスキャン露光装置 |
DE102011078276C5 (de) * | 2011-06-29 | 2014-04-03 | Trumpf Laser- Und Systemtechnik Gmbh | Verfahren zum Erkennen von Fehlern während eines Laser-Bearbeitungsprozesses sowie Laser-Bearbeitungsvorrichtung |
CN103433625A (zh) * | 2013-09-04 | 2013-12-11 | 昆山市三星机械制造有限公司 | 一种塑料模具用激光蚀纹机 |
JP6766809B2 (ja) * | 2015-06-15 | 2020-10-14 | 日本電気株式会社 | 屈折率分布型レンズの設計方法、及び、それを用いたアンテナ装置 |
CN110480257B (zh) * | 2019-07-12 | 2020-05-19 | 江苏长龄液压股份有限公司 | 一种油缸的制造工艺 |
Family Cites Families (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US3586816A (en) * | 1968-07-25 | 1971-06-22 | American Optical Corp | Spot welding system and method |
DE2918283C2 (de) * | 1979-05-07 | 1983-04-21 | Carl Baasel, Lasertechnik KG, 8000 München | Gerät zur Substratbehandlung mit einem Drehspiegel od. dgl. |
US4713518A (en) * | 1984-06-08 | 1987-12-15 | Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. | Electronic device manufacturing methods |
-
1988
- 1988-10-12 JP JP63254956A patent/JP2663560B2/ja not_active Expired - Fee Related
-
1989
- 1989-10-12 US US07/420,599 patent/US4950862A/en not_active Expired - Lifetime
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
US4950862A (en) | 1990-08-21 |
JPH02104487A (ja) | 1990-04-17 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
JP2663560B2 (ja) | レーザ加工装置 | |
US8124909B2 (en) | Laser processing apparatus | |
KR101280744B1 (ko) | 척 테이블에 유지된 피가공물의 계측 장치 및 레이저가공기 | |
US4500204A (en) | Scanning-type lithographic and image-pickup device using optical fiber | |
JP5154838B2 (ja) | レーザー加工装置 | |
CN101393882B (zh) | 保持在卡盘工作台上的被加工物的高度位置检测装置 | |
JP5766523B2 (ja) | 像側テレセントリック対物レンズおよびレーザー加工装置 | |
JP4977411B2 (ja) | レーザー加工装置 | |
KR100235340B1 (ko) | 박막 정밀 가공용 야그(yag) 레이저 가공기 | |
KR20020047297A (ko) | 레이저 가공 장치 | |
KR20080067285A (ko) | 척 테이블에 유지된 피가공물의 계측 장치 및 레이저가공기 | |
JPS6121192Y2 (ja) | ||
KR20180119124A (ko) | 레이저 가공 방법 | |
TWI228816B (en) | Chip scale marker and marking method | |
KR20130086517A (ko) | 레이저 광선의 스폿 형상 검출 방법 및 스폿 형상 검출 장치 | |
CN111707359A (zh) | 激光加工检测系统和方法 | |
JP3365388B2 (ja) | レーザ加工光学装置 | |
KR20130129107A (ko) | 개질층 형성 방법 | |
JP6991668B2 (ja) | 加工装置 | |
US4728770A (en) | Dual axis optical system | |
TWI759091B (zh) | 焦點距離調整裝置以及雷射加工裝置 | |
JP3101582B2 (ja) | 斜光軸光学系を用いた位置検出装置及び方法 | |
JPH06232508A (ja) | 半導体レーザユニット及び半導体レーザ加工装置 | |
JPS62203117A (ja) | 光ビ−ムのスキヤンニング装置 | |
JP2663569B2 (ja) | レーザ加工装置 |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
LAPS | Cancellation because of no payment of annual fees |