JP2655556B2 - 自動分析装置 - Google Patents
自動分析装置Info
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- JP2655556B2 JP2655556B2 JP20138587A JP20138587A JP2655556B2 JP 2655556 B2 JP2655556 B2 JP 2655556B2 JP 20138587 A JP20138587 A JP 20138587A JP 20138587 A JP20138587 A JP 20138587A JP 2655556 B2 JP2655556 B2 JP 2655556B2
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- Japan
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- standard sample
- calibration curve
- analysis
- reaction
- reagent
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- Automatic Analysis And Handling Materials Therefor (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】 （技術分野） 本発明は、多点における校正値を求めて検量線を作成
する自動分析装置に関する。
する自動分析装置に関する。
（従来技術） 例えば自動臨床分析装置にあっては、複数の相異なる
濃度における校正値を得て、これに基づいて検量線を作
成する必要があるため、濃度が異なる複数の標準試料液
を分析項目数だけセットして用意せねばならず、これを
収容しておくスペースが必要となって装置が大型化する
ばかりでなく、多種類の標準試料液を維持管理するため
のランニングコストが掛るという問題がある。
濃度における校正値を得て、これに基づいて検量線を作
成する必要があるため、濃度が異なる複数の標準試料液
を分析項目数だけセットして用意せねばならず、これを
収容しておくスペースが必要となって装置が大型化する
ばかりでなく、多種類の標準試料液を維持管理するため
のランニングコストが掛るという問題がある。
このような問題を解消するために、特開昭56−57954
号公報に記載されたように標準試料液を希釈液で希釈し
て、検量線作成用の試料を調製することも考えられる
が、希釈装置を必要とするばかりでなく、希釈に伴う誤
差を含むという問題がある。
号公報に記載されたように標準試料液を希釈液で希釈し
て、検量線作成用の試料を調製することも考えられる
が、希釈装置を必要とするばかりでなく、希釈に伴う誤
差を含むという問題がある。
（目的） 本発明はこのような問題に鑑みてなされたものであっ
て、その目的とするところは、希釈作業を不要として、
検量線を自動的、かつ高い精度で作成することができる
自動分析装置を提供することにある。
て、その目的とするところは、希釈作業を不要として、
検量線を自動的、かつ高い精度で作成することができる
自動分析装置を提供することにある。
（発明の概要） すなわち、本発明が特徴とするところは、試料分注量
が可変なサンプリング機構と、複数の反応管を順次移送
する移送手段と、標準試料液収容部と、分析試薬収容部
と、分析試薬分注機構と、前記反応管の反応度を測定す
る測定手段と、検量線作成モード時に順次異なる液量の
標準試料液及び一定量の分析試薬を異なる反応管に分注
して前記測定手段に順次移送し、各反応管の測定結果に
基づいて検量線を作成する制御手段とを備えた点にあ
る。
が可変なサンプリング機構と、複数の反応管を順次移送
する移送手段と、標準試料液収容部と、分析試薬収容部
と、分析試薬分注機構と、前記反応管の反応度を測定す
る測定手段と、検量線作成モード時に順次異なる液量の
標準試料液及び一定量の分析試薬を異なる反応管に分注
して前記測定手段に順次移送し、各反応管の測定結果に
基づいて検量線を作成する制御手段とを備えた点にあ
る。
（実施例） そこで以下に本発明の詳細を図示した実施例に基づい
て説明する。
て説明する。
第１図は本発明の一実施例を示したものであって、図
中符号１は、各分析項目に対応する標準試料液を収容し
た容器２、２、２‥‥を保持する標準試料液テーブル
で、後述する制御回路20からの信号により標準液の１つ
を選択するように構成されている。３は、試料サンプリ
ング機構で、一端が試料吸引ポンプ４に接続する吸引ノ
ズル3aを有し、分析モード時にはサンプルディスク５と
反応ディスク６との間を、また検量線作成モード時には
標準試料液テーブル１と反応ディスク６との間を移動す
るとともに、予め定められた液量でもって試料、及び標
準試料を反応管７、７、７‥‥に分注するように構成さ
れている。
中符号１は、各分析項目に対応する標準試料液を収容し
た容器２、２、２‥‥を保持する標準試料液テーブル
で、後述する制御回路20からの信号により標準液の１つ
を選択するように構成されている。３は、試料サンプリ
ング機構で、一端が試料吸引ポンプ４に接続する吸引ノ
ズル3aを有し、分析モード時にはサンプルディスク５と
反応ディスク６との間を、また検量線作成モード時には
標準試料液テーブル１と反応ディスク６との間を移動す
るとともに、予め定められた液量でもって試料、及び標
準試料を反応管７、７、７‥‥に分注するように構成さ
れている。
この反応ディスク６上の反応管７は、分析光源８と分
光器９を結ぶ光路を横切るように配設されている。
光器９を結ぶ光路を横切るように配設されている。
10は分析試薬ディスペンサで、一端が試薬吸引ポンプ
12に接続されて、試薬庫11と反応ディスク６との間を移
動して分析項目に対応した分析試薬を一定量反応管７、
７、７‥‥に分注するように構成されている。
12に接続されて、試薬庫11と反応ディスク６との間を移
動して分析項目に対応した分析試薬を一定量反応管７、
７、７‥‥に分注するように構成されている。
20は、前述の制御回路で、マイクロコンピュータからな
り、後述するフローチャートに基づいて検量線作成モー
ドと通常分析モードを実行するように構成されている。
り、後述するフローチャートに基づいて検量線作成モー
ドと通常分析モードを実行するように構成されている。
つぎに、このように構成した装置の動作を第２図に示
したフローチャートに基づいて説明する。
したフローチャートに基づいて説明する。
通常分析に先立って検量線を求めるべく、検量線作成
モードを設定すると、サンプリング機構３は、試料吸引
ノズル3aを標準試料液テーブル１に移動して、分析項目
に対応する濃度Cstdの標準試料液を選択して、予め設定
された第１の液量Vstd1でもって標準試料液を吸引す
る。吸引後反応ディスク６に移動して反応管７に注入す
る。標準試料液の分注後、ディスペンサ10は、分析項目
に対応する分析試薬を試薬庫11から選択して、一定量VR
を標準試料液が注入されている反応管７に分注する。こ
れにより量Vstd1の標準試料液と、液量VRの試薬が混合
されて、総量Vstd1＋VR＝V1となり、このときの目的成
分の濃度（Cstd1）は、Vstd/V1となる。
モードを設定すると、サンプリング機構３は、試料吸引
ノズル3aを標準試料液テーブル１に移動して、分析項目
に対応する濃度Cstdの標準試料液を選択して、予め設定
された第１の液量Vstd1でもって標準試料液を吸引す
る。吸引後反応ディスク６に移動して反応管７に注入す
る。標準試料液の分注後、ディスペンサ10は、分析項目
に対応する分析試薬を試薬庫11から選択して、一定量VR
を標準試料液が注入されている反応管７に分注する。こ
れにより量Vstd1の標準試料液と、液量VRの試薬が混合
されて、総量Vstd1＋VR＝V1となり、このときの目的成
分の濃度（Cstd1）は、Vstd/V1となる。
この反応管は、光源８と分光器９との間に移動して、
標準試料濃度 としての吸光度を示し、この測定結果は制御回路20の第
１記憶領域に格納される（VSP、VSPは通常分析時の試料
量及び試料反応液の総量である）。
標準試料濃度 としての吸光度を示し、この測定結果は制御回路20の第
１記憶領域に格納される（VSP、VSPは通常分析時の試料
量及び試料反応液の総量である）。
第１の測定に引続いて、同一の標準試料液を第２の液
量Vstd2で、また分析試薬を液量VRでそれぞれ吸引して
第２の反応管７に分注する。これにより総量VR＋Vstd2
＝V2となり、反応管７には濃度 の標準試料反応液が調製されることになって、この標準
濃度 における測定値が第２の記憶領域に格納される。
量Vstd2で、また分析試薬を液量VRでそれぞれ吸引して
第２の反応管７に分注する。これにより総量VR＋Vstd2
＝V2となり、反応管７には濃度 の標準試料反応液が調製されることになって、この標準
濃度 における測定値が第２の記憶領域に格納される。
なお、標準試料量Vstdnの総反応液量はVnで、この反
応液の標準濃度は となる。
応液の標準濃度は となる。
以下、同様に標準試料液の量を変更しながら、複数の
測定データを得る。
測定データを得る。
このようにして所定数の測定データを得た段階で、格
納されている各データを呼出し、これらに基づいて検量
線を作成する。
納されている各データを呼出し、これらに基づいて検量
線を作成する。
このようにして、必要な分析項目の検量線を得た段階
で、分析を実行すると、サンプリング機構３は、制御回
路20からの信号を受け、サンプルディスク５の試料容器
13から試料量VSPの試料を吸引して反応ディスク６の反
応管７に注入する。試料は注入が終了した段階でディス
ペンサ10は、目的とする検査項目に対応する試薬液量VR
を反応管７に注入して通常の分析動作を実行し、先に求
めた多点検量線に基づいて定量が行なわれる。
で、分析を実行すると、サンプリング機構３は、制御回
路20からの信号を受け、サンプルディスク５の試料容器
13から試料量VSPの試料を吸引して反応ディスク６の反
応管７に注入する。試料は注入が終了した段階でディス
ペンサ10は、目的とする検査項目に対応する試薬液量VR
を反応管７に注入して通常の分析動作を実行し、先に求
めた多点検量線に基づいて定量が行なわれる。
なお、この実施例においては、１つの分析項目に対し
て１種類の標準試料液を使用しているが、濃度が異なる
複数種、例えば２種類用意し、それぞれを単独に使用し
たり、混合したりすることにより、より精密な校正デー
タを得ることができる。
て１種類の標準試料液を使用しているが、濃度が異なる
複数種、例えば２種類用意し、それぞれを単独に使用し
たり、混合したりすることにより、より精密な校正デー
タを得ることができる。
また、この実施例においては、吸光法に例を採って説
明したが、蛍光分析法等の他の分析方法を適用しても同
様の作用を奏することは明らかである。
明したが、蛍光分析法等の他の分析方法を適用しても同
様の作用を奏することは明らかである。
さらに、この実施例においては分析試薬ブランク値が
無視し得る場合について説明したが、分析試薬ブランク
値が大きい場合には補正されることは当然である。
無視し得る場合について説明したが、分析試薬ブランク
値が大きい場合には補正されることは当然である。
（効果） 以上、説明したように本発明によれば、試料分注量が
可変なサンプリング機構と、複数の反応管を順次移送す
る移送手段と、標準試料液収容部と、分析試薬収容部
と、分析試薬分注機構と、反応管の反応度を測定する測
定手段と、検量線作成モード時に順次異なる液量の標準
試料液及び一定量の分析試薬を異なる反応管に分注して
前記測定手段に順次移送し、各反応管の測定結果に基づ
いて検量線を作成する制御手段とを備えたので、希釈手
段を必要とすることなく用意すべき標準試料液の種類を
減らし、しかも希釈誤差をなくして検量線を自動的に高
い精度で検量線を作成することができる。
可変なサンプリング機構と、複数の反応管を順次移送す
る移送手段と、標準試料液収容部と、分析試薬収容部
と、分析試薬分注機構と、反応管の反応度を測定する測
定手段と、検量線作成モード時に順次異なる液量の標準
試料液及び一定量の分析試薬を異なる反応管に分注して
前記測定手段に順次移送し、各反応管の測定結果に基づ
いて検量線を作成する制御手段とを備えたので、希釈手
段を必要とすることなく用意すべき標準試料液の種類を
減らし、しかも希釈誤差をなくして検量線を自動的に高
い精度で検量線を作成することができる。
第１図は本発明の一実施例を示す装置の構成図、第２図
は同上装置の動作を示すフローチャートである。 １……標準試料液ラック ３……サンプリング機構 ５……サンプルディスク ６……反応ディスク ７……反応管 10……分析試薬ディスペンサ
は同上装置の動作を示すフローチャートである。 １……標準試料液ラック ３……サンプリング機構 ５……サンプルディスク ６……反応ディスク ７……反応管 10……分析試薬ディスペンサ
Claims (1)
- 【請求項１】試料分注量が可変なサンプリング機構と、
複数の反応管を順次移送する移送手段と、標準試料液収
容部と、分析試薬収容部と、分析試薬分注機構と、前記
反応管の反応度を測定する測定手段と、検量線作成モー
ド時に順次異なる液量の標準試料液及び一定量の分析試
薬を異なる反応管に分注して前記測定手段に順次移送
し、各反応管の測定結果に基づいて検量線を作成する制
御手段とを備えてなる自動分析装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP20138587A JP2655556B2 (ja) | 1987-08-11 | 1987-08-11 | 自動分析装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP20138587A JP2655556B2 (ja) | 1987-08-11 | 1987-08-11 | 自動分析装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS6443759A JPS6443759A (en) | 1989-02-16 |
| JP2655556B2 true JP2655556B2 (ja) | 1997-09-24 |
Family
ID=16440206
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP20138587A Expired - Fee Related JP2655556B2 (ja) | 1987-08-11 | 1987-08-11 | 自動分析装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP2655556B2 (ja) |
Families Citing this family (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP6075087B2 (ja) * | 2013-01-28 | 2017-02-08 | ウシオ電機株式会社 | 蛍光光度計点検方法、点検用試薬容器及び蛍光光度計 |
-
1987
- 1987-08-11 JP JP20138587A patent/JP2655556B2/ja not_active Expired - Fee Related
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS6443759A (en) | 1989-02-16 |
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Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| LAPS | Cancellation because of no payment of annual fees |