JP2650659B2 - リレー接点検査回路 - Google Patents

リレー接点検査回路

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JP2650659B2
JP2650659B2 JP3147001A JP14700191A JP2650659B2 JP 2650659 B2 JP2650659 B2 JP 2650659B2 JP 3147001 A JP3147001 A JP 3147001A JP 14700191 A JP14700191 A JP 14700191A JP 2650659 B2 JP2650659 B2 JP 2650659B2
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    • G05CONTROLLING; REGULATING
    • G05BCONTROL OR REGULATING SYSTEMS IN GENERAL; FUNCTIONAL ELEMENTS OF SUCH SYSTEMS; MONITORING OR TESTING ARRANGEMENTS FOR SUCH SYSTEMS OR ELEMENTS
    • G05B19/00Programme-control systems
    • G05B19/02Programme-control systems electric
    • G05B19/04Programme control other than numerical control, i.e. in sequence controllers or logic controllers
    • G05B19/045Programme control other than numerical control, i.e. in sequence controllers or logic controllers using logic state machines, consisting only of a memory or a programmable logic device containing the logic for the controlled machine and in which the state of its outputs is dependent on the state of its inputs or part of its own output states, e.g. binary decision controllers, finite state controllers

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、バーナ制御装置に関す
るものである。
【0002】
【発明が解決しようとする問題点】バーナ制御装置にお
いては、安全かつ正確な動作を保証するために動作の順
序を制御し、監視する必要がある。最近では、上記の制
御を実行するため、マイクロプロセッサを基本とする装
置が考案された。このようなマイクロプロセッサ方式は
それらの動作を実行するための一連の複雑な命令に依存
し、マイクロプロセッサは種々の入力の状態を解読し、
論理的決定に基づいて出力の制御を間接的に行なう。こ
のような命令のプログラムを作成することは、非常に時
間がかかり、したがって費用がかかる。ガスバーナに関
する安全性の見地から、たとえば、動作の完全性は必須
要件である。マイクロプロセッサの故障の様態は数が多
く、複雑で、判断が極めて難かしい。それに加えて、低
水準の言語で書き込まれた必要なプログラムの固有の複
雑さが、装置の安全性を危機にさらす別の分野を持ち込
むおそれがある。
【0003】本発明は、バーナ装置の一部として安全に
動作する十分な制御適性を保持しながら、上記の問題を
解決することを目指している。
【0004】
【問題点を解決するための手段】本発明によれば、リレ
ー接点検査回路において、分圧回路網として使用でき、
検査すべきリレー接点の位置に従って選択的に接続でき
るように配列された抵抗器群と、前記回路網から得られ
た動作状態を表わす少なくとも1つの電圧レベルを検出
する電圧検出手段と、前記検査回路を使用する前に正し
い動作を確認するために模擬故障の検査を行う手段とを
備えていることを特徴とするリレー接点検査回路が得ら
れる。
【0005】本発明によれば、前記抵抗器群の少なくと
も1個はいくつかのリレー接点が作動したときさらに電
圧変化を与えるため短絡されるようになっており、この
電圧を検出するため第2の電圧検出手段が設けられてい
ることを特徴とするリレー接点検査回路が得られる。
【0006】本発明によれば、前記電圧検出手段は、検
出した電圧が所定の範囲外であるとき誤り状態を作る窓
比較器を備えていることを特徴とするリレー接点検査回
路が得られる。
【0007】本発明のリレー接点検査回路は、通常動作
の間にリレーの検査を行うだけでなく、バーナ制御装置
の完全性を保証するために、安全検査としてバーナ制御
装置全体の通常動作の前に模擬故障の検査を行うことを
特徴とする。
【0008】次に、添付図面を参照し、実施例について
発明を説明する。
【0009】
【実施例】図1は、本発明の装置の実施例を簡単なブロ
ック図で示す。典型的なガスバーナ装置では、始動時
に、装置をパージし、パイロットに点火し、続いて主ガ
スバーナに点火して装置を運転する必要がある。また、
サーモスタット動作の監視、空気圧および安全検査も必
要である。図示の構成は、これらの動作を実行すること
ができる。入力インタフェース10は多数の入力を受け
取ることができる。空気圧スイッチと所望であれば外部
インタロック回路(もう設けられていれば)と同様に、
サーモスタットのスイッチングを、監視のため入力する
ことができる。さらに、ロックアウトリセット入力もイ
ンタフェース11を介して提供することができる。これ
らの入力は、提供されるときは、一般に電源電圧であ
り、インタフェース10は、そのアイソレーションを行
なうが、それらの入力の状態を低い直流電圧としてアド
レスバス14へ伝送することかできる。バーナの炎の検
査は検出器12でなされ、検出器12はその状態をアド
レスバス14に適したレベルに変換する。アドレスバス
14は記憶装置18、この例では、消去プログラム可能
ROM(EPROM)にあらかじめ記憶させたデータを
呼び出す(アクセスする)ために使われる。種々の入力
の状態によって決まるアドレス領域内のアドレスは、発
振器16とアドレスカウンタ17によって作られバス1
5によって提供されたアドレスで順次増分することがで
きる。これにより、一連の命令がEPROM18のデー
タ出力端から提供される。これらの命令は、とりわけ、
出力インタフェース23の一部をなす点火、パイロッ
ト、主バーナの各リレーを含むシステム出力を制御す
る。
【0010】インタフェース23内のバッファはバス2
0からデータを受け取り、上記リレーを駆動する。
【0011】基本動作および検出順序に加えて、種々の
安全検査が実行される。検査カウンタ13は、アドレス
カウンタ17の出力と比較され、パリティチェックブロ
ック22で検査されるカウントを提供する。故障を表わ
す誤りが検出された場合には、ロックアウトリレー25
が作動する。一般に、リレー25は図示のように入力1
1からのロックアウトリセットでリセットできる双安定
素子である。実際に、このようなリレーは、機械的酷使
により、一方の状態からはずれてしまうことがある。安
全のため、リレーが落ち込む可能性のある状態がロック
アウト状態として選ばれる。ロックアウトが働くと、出
力ブロック23内のファン、パイロット、点火、および
主バーナの各リレー接点は、切り換えられたロックアウ
トリレー接点によって電源から切り離される。さらに、
制御装置から遠く離れた使用には、たとえば実際にバー
ナの所で、あるいは警報器作動のため、外部ロックアウ
ト出力電力信号を使用できる。この操作に必要な電力は
電源24から得ることかできる。この電源24は、サー
モスタットや他の遠隔装置に使用して、適当なシステム
入力を発生させることができる。
【0012】以下述べるように、ロックアウトリレー
(セット)コイルが開路になった場合にはファン負荷リ
レーを働かないようにするため、フェールセーフとして
ファン負荷リレーには、ロックアウトリレー(セット)
コイルの導通を検出する回路が付いている。
【0013】強力なリレーではよく起る問題であるが、
摩耗によりどれかのリレー接点が溶着してしまったと
き、それを発見するために、種々のリレー接点の状態を
検査することができるリレー接点インタフェース回路2
7が設けられている。リレー検査回路28は誤りが存在
するかどうかを決定する。周波数検査回路29は内部で
発生させた周波数によりシステム発振器16の出力を監
視する。誤りが検出された場合には、状態の変化が起
り、これがアドレスバス14へ出力されるので、EPR
OMアドレス領域が変更され、そこに記憶されている適
当な命令が実行されて動作が省かれる。ブロック28か
らのリレー検査出力は、以下述べるような誤り検出状態
を作り出すため、周波数検査回路29の動作を変更する
ことが可能である。また、別の故障状態も判定すること
ができる。たとえば、使用中回路部品が機能不能になら
なかったことを判定するために、パリティチェック回路
22自体を試験信号にさらすことができる。それをやら
なければパリティ誤りが見過されてしまうことになろ
う。種々のシステム出力およびシステム入力の状態を表
示するために、ディスプレイ19が設けられている。デ
ィスプレイに対する入力は、一部がアドレスバス14か
ら一部がデータバス20から来る。図示のように9個の
指示器が設置されている場合には、これらの指示器でサ
ーモスタット、空気、炎、インタロック、ファン、点
火、パイロット、主弁、およびロックアウトの諸状態を
表示することが可能である。
【0014】以上の説明からわかるように、主要構成要
素はメモリ18である。EPROMは異なる順次動作を
実行させるため再プログラムできるという利点を有する
が、十分なデータ記憶容量を有するプログラム可能なメ
モリであればどれでも本装置に使用することができる。
【0015】EPROMの構成を図2に示す。4096
×8ビットのEPROM(たとえば、テキサス社のty
pe2532)は十分な記憶要件を備えていることがわ
かった。記憶場所のアクセスは、12本のアドレス回線
A0〜A11で与えられる。したがって、どの記憶アド
レスも、バス14、15からの12ビット語に従ってア
クセスできる。4096個の各アクセス可能アドレスは
そのデータ内容を8ビット語としてデータ出力端D0〜
D7からバス20へ出力することができる。
【0016】基本的には、回線A7〜A11の入力の状
態がアクセスされる記憶領域を定義する。カウンタ発生
の2進アドレスA0〜A6は他のアドレス回線A7〜A
11の入力によって定義される記憶領域内のアドレスを
順次増分する。7つのカウンタ回線により、合計128
のアドレスステップを増分することができる。A7(イ
ンタロック高値)は、単独で、アドレスを記憶場所12
8から開始させ、A8(リレー/周波数検査)は記憶場
所256から、A9(炎)は記憶場所512から、A1
0(APS)は記憶場所1024から、A11(サーモ
スタット)は記憶場所2048からアドレスを開始させ
る。したがって、閉じたサーモスタットは単独ではアド
レス2048をアクセスする。しかし、炎が存在する場
合には、アドレスは2560(すなわち、2048+5
12)である。もし閉じたとき空気圧力スイッチも入力
されたとすれば、アドレスは3584へ増加する。AP
Sとサーモスタットは単独でアドレス3072を定義す
る。アドレスを定義するこれらの組合せはそのあと1ア
ドレスづつ合計127の追加記憶場所まで増分される。
実際には、A7〜A11の1つまたはそれ以上の入力は
順序中状態を変えることがあるので、これが起ったと
き、カウンタ発生のアドレスは零である必要がなく、し
たがって、より上のアドレスがアクセスされる。以下の
説明からわかるように、外部サーモスタット、APS、
およびインタロックが閉じられると、これにより、定義
されたアドレス回線をアクセスする2進数の「1」が生
じる。これは、検出された炎についても同様に起る。リ
レー/周波数検査は、正常なときは、「0」であり、リ
レーまたは周波数に誤りが生じると「1」に変わる。
【0017】言い替えると、正常運転の間はより下のE
PROMアドレスがアクセスされる。そのあと、誤りの
検出によりA8が状態を変えると、アドレスは256記
憶場所だけ飛び越し、EPROMの中にあらかじめ記憶
されていた8ビット語が実際にシステムの動作を制御す
る。したがって、最下位ビットD0は論理的高値のとき
点火を制御し、同様に、D1はパイロットを、D2は主
ガス弁を制御する。D3はパリティチェック回路のチェ
ックビットとして使われる。
【0018】D4は、ビットが論理的高値のとき、シス
テムカウンタを零に戻すカウンタリセットとして働く。
D5は、(実際には、以下述べるように、パリティチェ
ックとロックアウトセットコイルを介して)ファンの
「負荷」リレーを作動させるために使われる。
【0019】D6は、サイクルの中のある段階を維持す
るため、アドレスカウンタのそれ以上の増分を止めてシ
ステムの逐次動作を凍結する「保留」信号を提供する。
【0020】D7は、パリティチェック回路に使われる
チェックビットである。次に、図1および図2の構成の
特別な実施例を示す図3〜図10について、さらに詳し
く説明する。
【0021】図3に、バーナのシステム入力とシステム
出力を一般的に示す。制御装置に対する主入力は、ソケ
ット30〜32を通る。活線33は一般にフューズF1
を介して240V50Hz入力を受け取り、線34は中
性であり、線35は接地されている。ソケット36を介
して種々の遠隔センサに電源電圧を使用することができ
る。図示のように、それぞれの遠隔入力装置が閉じた位
置にスイッチされるとソケット37〜40は電源電圧を
受け取る。したがって、空気圧力スイッチが閉じられる
と、入力ソケット37に印加された電源電圧により電流
が生じ、電流は抵抗器R1によって制限され、ダイオー
ドブリッジBR1によって整流され、キャパシタC1に
よってその過渡が抑制される。この結果生じた直流は図
1の入力インタフェース10として働くIC1aの一部
をなす発光ダイオードに電力を供給する。インタロック
のソケット38に電源電圧が印加されると、R2、BR
2、C2、およびIC1bによって同様な状態が得られ
る。ソケット39に対するロックアウトリセット入力も
R3、BR3、C3およびIC1cを使用する。これ
は、図1にインタフェース11として示してある。サー
モスタットが閉じられると、電源電圧がソケット40に
印加され、R4、BR4およびC4を介してIC1dの
発光ダイオードが発光する。IC1a〜1dは、一般
に、4入力標準形オプトアイソレータであり、あとで述
べる図4と図8にその光結合出力を示す。炎検出器入力
は、ソケット42と43に供給される。この入力は、一
般に、炎センサとして使われた紫外線(UV)素子(た
とえば、SylvaniaP578+ダイオード)の整
流された出力から、すなわち炎の整流作用によって提供
される。この入力は図9についてあとで述べるセンサ検
出回路へ進む。システム出力は、ソケット45〜49に
提供される。これらは、図1のブロック23と25の回
路の一部とみなすことができる。
【0022】中性および接地は、それぞれ、ソケット3
1、32に提供される。ソケット45のロックアウト出
力はロックアウトリレー接点RL1/1が図3の図示位
置とは反対の位置に置かれると賦活される。ソケット4
6のファン出力は、RL1/1が図示位置にあって、負
荷リレー接点RL2/1とRL2/2が図示位置の反対
の位置にきて活線33から直列接続を形成すると、賦活
される。ソケット47のパイロット出力は、パイロット
リレー接点RL3が図示位置の反対の位置にきてRL2
/1およびRL1/1と直列接続を形成すると、賦活さ
れる。ソケット48の点火出力は、点火リレー接点RL
4が図示位置の反対の位置にきてRL2/1およびRL
1/1と直列接続を形成すると、賦活される。ソケット
49の主弁出力は、炎リレー接点RL5と主リレー接点
RL6が共に図示位置の反対の位置にきてRL4、RL
2/1およびRL1/1と直列接続を形成すると、賦活
される。したがって、たとえば、もし炎が存在すれば、
主弁のみに電圧を印加することができる。抵抗器R5〜
R7は、大きな抵抗値を有するので、このルートを通じ
て素子を作動させるには電流が小さすぎる。接点に結合
された種々のリレーコイルの位置と作動については、後
で説明する。
【0023】電圧従属抵抗器VD1〜VD4は、サージ
防止素子として働く。
【0024】抵抗器R5〜R7は、溶着した、または開
いた接点を検出するリレー接点検査回路に対する図1の
リレー接点インタフェース27を形成し、リレー接点検
査回路は、図5で詳細に説明するが、抵抗器R7の出力
受け取る。
【0025】活線33、中性線34、および接地線35
は、図4へ進み、絶縁変圧器TR1を介して低電圧交流
源を提供するために使われる。この低電圧交流はダイオ
ードブリッジBR5によって整流され、キャパシタC
5、C6によって平滑化される。精密調整は、標準形3
端子電圧調整器IC2によって行なわれ、EPROMそ
の他ICを含む種々の回路部品に電力を供給する5V出
力が線62に提供される。平滑化された末調整の電圧線
60と61は、リレーその他の部品に対し12Vの出力
を提供する。別のロックアウトリレー接点RL1/2
は、ロックアウト状態を表わす図6に示したLED(L
D9)を励起するために、通常は線61に提供される出
力を切り換える。5V調整を助けるために、線62と共
通線63との間に、キャパシタC7、C8が設けられて
いる。フォトトランジスタは、フォトカップラの一部を
なしている。
【0026】図3のIC1cは、ブリッジBR3を介し
て励起され、抵抗器R8とキャパシタC9を介して5V
線に接続されている。図3に示すように、ロックアウト
リセット入力が存在していると、フォトトランジスタが
導通してインバータIC3aの入力を低値(loW)に
し、その出力を高値(high)にする。また、このイ
ンバータ(たとえば、40106)は固有のヒステリシ
スを有しているので、立上り時間改良装置または雑音除
去装置として働く。高値出力は励振器IC4aによって
反転され、論理的低値が提出される。この出力(図5参
照)は、ロックアウトリレーRL1の「リセット」コイ
ルRL1aを作動させる。このリレーは、2個のコイル
を有し、双安定素子として動作する。その「セット」コ
イルRL1bを図7に示す。「リセット」コイルに結合
された接点RL1/2を、図4に「非ロックアウト」す
なわちリセットモードで示す。ロックアウト「リセッ
ト」はボイラー、その他のガス燃焼プラントにある手動
で一時的に操作される押しボタンのことであるから、
「リセット」入力は保持されない。しかし、リレーの双
安定性によりリレーがこの状態を保持するので、これは
困ったことではない。「リセット」中のIC4aの一時
的低値出力は分圧器の抵抗器R9、R10、キャパシタ
C10、C11および抵抗器R11を介して比較器IC
5a(たとえば、LM339)の一方の入力端へ送られ
る。これと抵抗器回路網R12〜R15からの安定基準
電圧とを比較して、比較器IC5aは、ロックアウトが
リセットされているときには、ダイオードD4を介して
リセット出力(5V)を提供する。このリセット出力は
図10のカウンタIC12や図6のディスプレイ励振器
IC6を含め、以下説明するいくつかの素子をリセット
するために使われる。電源の問題で起る不確実な動作を
防止するために、12V線60が降下してリレーRL1
aをまたぐ電圧が下がり始めた場合には、IC5aもリ
セットを開始する。この線60からの下降は全ての集積
回路チップへ正規に電力を供給する5V調整線62にお
ける下降より顕著である。以上の如く、この回路部分は
いくつかの機能を実行する、すなわち、低い電源電圧ま
たはロックアウトリセット信号を検出して、カウンタと
ディスプレイをリセットする。ロックアウトリセット
(誤りの状態)の継続作動によって回路のリセットが保
留されるので、動作は続行できない。
【0027】図1にブロック28として記載されている
リレー接点検査は、比較器IC5b、IC5cによって
行なわれる。抵抗器R17〜R19により、各比較器に
基準電圧が提供される。被比較入力はダイオードD1〜
D3、キャパシタC12および抵抗器R16から成る回
路を介して送られる。
【0028】抵抗器R5、R6、R7(図3)は、抵抗
器16と共に、電源電圧を数ボルトまで下げる分圧器を
形成している。接地線35は共通線63(図4参照)へ
接地された回路帰線の役目をする。ダイオードD2はこ
の交流信号を整流し、キャパシタC2はそれを平滑化す
る。次に、比較器IC5b、IC5c(たとえば、LM
339)を使って、R17〜R19で設定された上限お
よび下限とこの電圧が比較される。
【0029】図3から、出力を駆動する全ての電源電流
は、最初にロックアウトリレー接点RL1を、次に負荷
(ファン)リレー接点RL2を通ることがわかる。ロッ
クアウトリレー接点は、ロックアウトが起らない限り図
3に示す位置にあるが、もしロックアウトが起これば、
他の全ての出力が切り離される。接点RL2について
は、RL2が図示位置とは反対の位置へ動くと、ファン
が作動する。そしてRL2がこの位置(すなわち、ファ
ンが動作している)へ動くと、リレー接点RL3、RL
4も電力を受け取る。接点RL3が図示位置の反対の位
置にあるときパイロットに電力が供給され、同様に、R
L4が図示位置の反対の位置にあるとき点火装置に電力
が供給される。主ガス弁は、接点RL4が図示位置(点
火は非作動)にあって、接点RL6(主リレー)と接点
RL5(炎リレー)が図示位置とは反対の位置にあると
き、作動する。両接点RL6、RL5が図示位置にある
ときは、抵抗器R5の存在により利用できる電流が小さ
すぎ、主ガス弁は作動しない。もし抵抗器R5、R6の
値がそれぞれ2.2MΩであれば、主ガス弁へ供給され
る電流は55μAに過ぎない。分圧器として働くR5、
R6は、制御が停止状態にあるとき、電源電圧の約半分
の電圧を提供する(240V電流の場合は、120
V)。パイロットガス弁が接続されると(すなわち、リ
レー接点RL3が図示位置とは反対の位置にあると)、
この電流の短絡回路ルートが存在するので、R7へ提供
される電圧は零に下がる。同様に、もしリレー接点RL
5またはRL6のみが正しくない状態にあれば、この電
圧は240Vに上がる。もしリレー接点RL2/2、R
L3またはRL4が正しくない状態にあれば、抵抗器R
5がバイパスされるので、出力電圧は零に落ちる。最後
に、もしリレー接点RL2/1が閉じれば、抵抗器R6
がバイパスされるので、出力電圧は再び240Vに上が
る。
【0030】したがって、もし抵抗器R7に提供される
電圧が約120Vであれば、図3のように、停止状態に
対し、全てのリレー接点は正しい状態にある。もしこの
電圧が約240Vであれば、リレー接点RL2/1、R
L5、又はRL6に故障が発生しており、もしこの電圧
がほとんど零であれば、リレー接点RL3、RL4、ま
たはRL2/2のどれかが故障している。したがって、
本装置は停止状態において抵抗器の組合せを使ってリレ
ーの状態を監視することによってリレーの故障を検出す
る有効な手段を備えており、誤って開いた回路接点や溶
着(閉じた)接点を検出することができる。R5とR6
の接合点における電圧はR7(10MΩ)とR16(3
90KΩ)によって数Vまで下げられ、ダイオードD2
によって整流され、キャパシタC12によって平滑化さ
れる。R17〜R19によって設定される基準電圧は、
一般に、1.5V〜2.5Vである。制御が停止状態の
ときは、リレー検査回路は約2Vを与えなければならな
い。そして窓比較器からの出力は、もし接点が正しい位
置にあれば、「低値」でなければならず、もしリレー接
点が間違った位置にあれば、「高値」でなければならな
い。リレー検査回路自身はフェイルセーフでないので、
始動の際に検査する必要がある。この検査を実施する1
つの方法は、以下の通りである。すなわち、始動順序を
開始するに当って、比較器の出力の高値状態が検査され
る。この検査が終ると、パイロット出力リレーRL3に
電力を供給することで、第1の型の故障が模擬される。
負荷リレーには電力が供給されないし、この検査の最初
のステップでこれが事例であるとわかっているから、パ
イロット出力に電力が供給されるのを必配することな
く、パイロットリレーを作動させることができる。これ
により、抵抗器R7に加わる電圧を零に下げる効果が生
じ、比較器からの出力は「低値」になる。C12が放電
する間短かい時間遅れを必要とするかも知れないが、そ
のあと、比較器の新しい状態を検査することができる。
次に、パイロットリレーRL3から電圧が除去され、短
かい時間遅れのあと、RL3が完全に開いたことを確め
るため、比較器が再び検査される。検査の最後のステッ
プとして、パワーリレーRL2に電力が供給され(パー
ジが行なわれ)、つまり第2の型の故障が模擬されたあ
と、R7が加わる高電圧と比較器からの対応する電流出
力が調べられる。以上の順序が正しく完了すれば、始動
を開始することができる。正しくない検査はどれも周波
数検査回路を介して比較器の出力が正しくないA8状態
を生じさせるので、ロックアウトを生じさせるデータが
入っているEPROMの別の記憶領域がアクセスされ
る。
【0031】上述のように、リレー接点の故障状態は比
較器に印加される電圧に状態の変化をもたらす。プルア
ップ抵抗器R20を介して線62へ結ばれたこの「高
値」状態は、図1のブロック29とみなすことができる
周波数検査回路(図9参照)のトランジスタQ2へ誤差
信号として送られる。このトランジスタQ2は同様に周
波数検査回路の一部であるIC10の動作に影響を与え
る。この集積回路は外部の周波数信号に内部で発生した
周波数を追従させるフェーズロックループ(PLL)素
子(たとえば、NE567)である。この内部周波数の
制御はプリセット抵抗器VR1、抵抗器R46およびP
LLの中心周波数(たとえば、2KHz)を定めるキャ
パシタC25によって与えられる。
【0032】外部周波数(図10参照)は図1のブロッ
ク16とみなすことができるシステム発振器IC11
(たとえば、type4060)によって提供される。
この信号は、キャパシタ30を介して受け取られる。P
LLフィルタ入力はC26、C27に接続されている。
PLLの出力はアドレス回線A8として提供される。こ
のPLL出力は、抵抗器R47を介して線62に結ばれ
ており、周波数が正確に(すなわち、5%以内)追従さ
れているときは、論理的に低値である。もしループが同
期からはずれれば(これは、入力周波数すなわちPLL
が正しくなったこと、またはリレー接点を試験している
ときを意味する)、比較器は誤りを検出して、トランジ
スタQ2を導通させてキャパシタC24をPLLの中心
周波数の設定に参入させるので、A8に論理的高値信号
で定義される誤り信号が生じる。以上のように、始動の
際に、リレー接点、PLL、および発振器の全てが1回
の試験で検査される。システム発振器の周波数は、クリ
スタルCR1、抵抗器R48、R49、およびキャパシ
タC28、C29を含む回路網で設定され、非常に安定
している。CR1は標準型32.768KHz素子でも
よい。
【0033】前記回路網で設定される基本発振器周波数
が種々の出力から2で除した周波数で得ることができる
ように、IC11は内部14段2進リップルカウンタを
備えている。したがって、出力Q10からのクロックパ
ルスは、基本発振器周波数を210で除したものであ
る。基本発振器周波数(32.768KHz)は出力Q
10からの32Hzになり、この周波数は、さらに分割
されたあと、基準EPROMタイミングを与える。出力
Q4からPLLに対する入力は基本周波数を2で除し
たもの(すなわち、2.048KHz)である。出力Q
6はIC14dに対する入力、512Hz信号を提供す
る。Q7の出力(256Hz)は、ディスプレイのスト
ローブとして使われる。これらの機能については、あと
で詳しく検討する。
【0034】EPROMのアドレスA8は図9のIC1
0の出力によって与えられるのに対し、アドレスA9は
関連部品と共に図1の検出器ブロック12を形成してい
る図9のIC3eの出力によって与えられる。図3で既
に触れたように、ソケット42と43は、バーナにある
標準形紫外線炎センサまたは炎整流プローチからの整流
された入力を提供する。抵抗器R41とキャパシタC2
1は、炎センサへ電流制限された電源電圧を供給し、キ
ャパシタC21は直流を阻止する。U.V素子の整流さ
れた出力もしくは炎整流電流によって直流が流される。
この直流の唯一の通路は抵抗器R43、R44、R45
でできた通路からである。非常に小さい値(一般に1μ
A)の電流により、R45をまたいで低い電圧(一般に
2.7V)が生じるが、この電圧をインバータIC3e
が検出して、論理的高値の出力を発生する。キャパシタ
C22、C23は交流リップルを除去し、ダイオードD
10、D11は、過渡電圧のためIC3eが損傷するの
を防止する。
【0035】さらに、D10が、抵抗器R45およびキ
ャパシタC23にかかる電圧を負に行きすぎないように
するので、検出器の応答は、2A以上では一定である。
ネオンは、炎整流プローブに対し絶縁破壊するおそれが
ある非常に高い点火電圧で、回路が損傷するのを防止す
る役目をする。素子IC3eは、固有のヒステリシスを
有し、その雑音排除性により確実なスイッチング動作が
得られる。IC3eからの論理的高値出力は、炎の存在
を表わしているが、インバータIC4fがこの出力を論
理的低値にするので、線61から電流が流れ、炎リレー
RL5が作動する。リレーRL5のスイッチング接点に
つては、既に図3において説明した。
【0036】図1および図2について既に検討したが、
図8に、EPROMを介するシステム制御のアドレス回
線A7、A10、A11の残りの入力を示す。これらの
入力は、図1のブロック10の一部とみなすことができ
る。素子IC1a、IC1b、IC1dと、図3で既に
説明したブリッジBR1、BR2、BR4を介して駆動
されるフォトアイソレータの受光素子部、すなわち、A
PS、インタロック、およびサーモスタットである。導
通形フォトトランジスタIC1dは、遠隔サーモススッ
トスイッチが閉じたとき、抵抗器R38とキャパシタC
18によって生じた、インバータIC3bに対する入力
側の電圧をプルダウンしてアドレス回線A11に論理的
高値を生じさせる。素子IC3b(たとえば、4010
6)はスイッチング動作を確実にする固有のヒステリシ
スを有している。フォトトランジスタIC1a、抵抗器
R39、キャパシタC19により、遠隔空気圧力スイッ
チが閉じられると、インバータIC3cは論理的高値出
力をアドレス回線A10に発生する。
【0037】フォトトランジスタIC1b、抵抗器R4
0、キャパシタC20により、遠隔インタロックスイッ
チが閉じられると、インバータIC3dは論理的高値出
力をアドレス回線A7に発生する。システム動作が正常
のときは、遠隔インタロックスイッチが閉じられないの
で、回線A7は論理的低値信号が常態である。以上のア
ドレス回線と先に検討した回線A8、A9は図2に示し
たアドレスバス14の一部を構成している。図8には、
そのほかにEPROMのデータバス20に関するデータ
出力回線D0〜D2が図示されている。
【0038】接点動作に関し図3について述べた点火、
パイロット、主弁動作にかかるリレーRL4、RL3、
RL6を電力で駆動することができるように、12V線
61には励振器バッファIC4c、IC4d、IC4e
が接続されている。これらのリレーは、図1のブロック
23の一部とみなすことができる。
【0039】また、図10には、EPROM18から出
て上述のリレーを制御するために使用されるD0〜D2
データ出力が図示されている。バス20のデータ回線D
3は、出力D7と同様にチェックビットとして提供され
る。これについてはパリティチェック回路を検討すると
きに詳細に説明する。データ出力D4は抵抗器R50と
キャパシタC31を介してチェックカウンタIC15
(たとえば、type4040)をリセットするリセッ
トビットである。カウンタIC11とIC15は図5に
関して述べたロックアウトリセット回路の作動によって
リセットすることができることに留意されたい。
【0040】D5は以下説明する検査回路を通過したあ
と負荷(ファン)リレーを制御するデータビットであ
る。図10に関するかぎり、負荷リレーを作動させる信
号はD5から取り出されNANDゲートIC14d(た
とえば、4093)へ送られることがわかる。NAND
ゲートの他方の入力は発振器IC11のQ6出力からで
あり、NANDゲートの出力は発振器からのクロックQ
10に比較してかなり高い周波数信号である。この高い
周波数は一般に512Hzである。実際には、D5出力
が低値のときには、この高い周波数信号はNANDIC
14dの出力へ通過することはない。もしD5が低値が
あれば(負荷リレーの作動を表わす)、NAND出力は
同じ周波数であるが、D5出力が継続して存在するため
反転される。また、NAND出力は図1のブロック22
の一部と考えることができるパリティチェック素子IC
16(たとえば、4531)に対する1入力として与え
られる。図示のように、パリティチェック素子IC16
に対する他の入力は、アドレスバス15上のシステムカ
ウンタIC12の出力A1〜A6および図1のブロック
13に等しい検査カウンタIC15(たとえば、404
0)の出力Q1〜Q6から与えられる。この2進リップ
ルカウンタIC15はあとで説明する図7のパリティチ
ェック回路の出力によって刻時される。カウンタパリテ
ィチェック素子IC16は、入力の組合せのパリティ
(すなわち、理論的高値または低値の入力が奇数または
偶数存在するかどうか)に従って高値または低値のどち
らかの出力を発生するので、たとえば、もう動作中に生
じるIC12からの出力故障または順序動作障害のため
に、制御順序がその正常動作の途中に誤ってスタートし
ても、検出することが可能である。カウンタパリティチ
ェック素子の出力は図7のパリティチェック回路で使わ
れる。
【0041】EPROMからのD6データ出力が論理的
高値のときは、カウンタIC12に対する「保留」信号
として使われる。これは、保留信号をNANDゲートで
あるIC14c(たとえば、4093)へ送ることによ
って達成され、これにより、アドレスカウンタが一定の
アドレスに保留されるので、アドレスカウンタは保留信
号が存在する間増分行わないし、動作順序も実行しな
い。これは、EPROMへ加えられるA7〜A11の変
更を妨げるものではない。カウンタIC12(たとえば
4040)も2進リップルカウンタであり、その出力は
Q6〜Q12出力から取り出される。内部周波数分割器
は、IC14cからの32Hz入力をEPROMに対す
る0.5Hzの基本レートまで縮小する。したがって、
カウンタの出力は増分を行なう前、1秒間は高値であ
り、1秒間は低値である。Q4出力(2Hz)は以下詳
細に述べるロックアウト回路の制御のもとで故障状態を
指示するためディスプレイに使用することができる。
【0042】EPROMデータ出力D7は、図7につい
て次に説明するパリティチェック回路にチェックビット
として使われる。この回路は図1のブロック22の別の
部分に対応するものと考えることができる。この回路に
は、一連の排他的論理和(EXCLUSIVE OR)
素子IC7a〜IC7d、IC8a〜IC8d、および
IC9a〜IC9dが含まれている。バス15からのパ
リティチェック用のカウンタアドレス出力A0はゲート
IC9aの一方の入力へ進む(A7〜A6は、前述のよ
うに、図10のパリティチェック素子IC16によって
受け取られる)。)バス20からの全てのデータビット
D0〜D7は、図7に示すように、各ゲートの入力端で
受け取られる。また、EPROMのアドレス回線D5と
NANDIC14dから導いた負荷リレーを作動させる
512Hz信号は、IC7aの他の入力端で受け取られ
る。図10のパリティチェック素子IC16からのステ
ップチェック出力は、IC8dの一方の入力として受け
取られる。正常動作状態のもとでは、正規のシステムロ
ック速度で変化するデータ入力によって、カウンタIC
12におけるクロックの半分の速度で検査カウンタのク
ロックを、キャパシタC15(たとえば、470pF)
との接合部においてIC8cの出力から取り出すことが
できる。このキャパシタC15は、どれかのEPROM
出力における状態の変化後の整定時間のために、誤りが
カウンタIC15を刻時するのを防ぐ働きをする。ゲー
トIC9bに対する一方の入力は抵抗器R36とキャパ
シタC16の結合部からであり、最終的に、ゲートIC
9aの出力で制御される。排他的論理和素子は、どちら
かの入力(双方ではない)が高値のとき、論理的高値信
号を与えるが、他の状態の組合せのもとでは、それらの
出力は論理的低値である。パリティチェック回路はEP
ROMデータ出力の総合パリティ、アドレスカウンタ出
力、検査カウンタ出力、およびパリティチェック回路の
完全性を検査するように設計されている。正常動作のも
とでは、検査カウンタの出力とアドレスカウンタの出力
は同一であるから、パリティがある。パリティチェック
素子IC16の出力は、このパリティを表わす。実際に
は、高周波数入力(512Hz)のため、この素子IC
16は図10のNANDIC14dからの出力と同じ速
度で状態を変える出力を提供する。もしカウンタIC1
2とIC15が一致すれば、IC16からのステップチ
ェック出力はIC14dからの出力と同相である。この
IC16からの出力は図7の排他的論理和回路でステッ
プチェックとして使われる。アドレスパリティは奇数で
あるが、システムロックアウトに関係のないEPROM
の領域内の8ビット語のデータ出力(チェックビットを
含む)が常に、奇数パリティ(すなわち、1、3、5、
または7ビット)である論理的高値出力の組合せを有す
るように、RPROMをプログラムしなければならな
い。したがって、パリティチェック回路は、奇数パリテ
ィを検出するのである。IC7aに対する負荷リレー入
力と、IC8dに対するステップチェック入力は、負荷
リレーに電圧がかかっているとき、比較的高い周波数の
試験信号として回路を試験する働きをする。
【0043】両信号は、通常は状態および周波数が同じ
である。しかしR36とR16が存在するため、ステッ
プチェック入力にわずかな時間遅れが導入される。ミリ
秒間隔のこの短かい周期(高周波信号の周期)の間に総
合偶数パリティを導入するため、一般に50μsecの
時間遅れが導入される。
【0044】したがって、IC9cの出力は論理的高値
であり、それ故ロックアウトリレーセットコイルRL1
bは反転用バッファ/励振器IC4bを介して作動され
ない。負荷リレークロックが状態を変えるたびに、この
検査が行なわれる。出力データ回線D0〜D3はそれら
の総合優先度が常にアドレス回線A0の状態を追従し、
正しい総合パリティを維持するようにプログラムされて
いることに留意されたい。
【0045】もしカウンタが一致していないためカウン
タのアドレスパリティが間違っていれば、ステップチェ
ック入力が反転されている。もしEPROMのデータに
不具合があれば、データ入力についてパリティは正しく
ない。IC7aとIC8dにおける2つの信号ルートは
各ゲートを試験する、つまり回路の各部分を働かせる。
もし排他的論理和ゲートのどれかに障害があれば、デー
タは損なわれ、パリティは正しくなく、これらのどの状
況(すなわち、カウンタ、EPROM、またはチェック
回路の誤り)においても、IC9cの出力は低値にな
る。IC9cが低値になると、ロックアウトリレーのコ
イルRL1bに電圧が印加される。このリレーコイルは
図1のブロック25の一部と考えることができる。IC
9dの出力端からの信号は、ロックアウト状態において
利用され、以下説明するディスプレイに使用される。5
0μsecのパルスは、正常動作状態においてロックア
ウトリレーのセットコイルRL1bを作動させるには短
かすぎる。しかし、平均電流が非常に小さくても、もし
IC7aに対する負荷リレー入力が正しい状態で(図1
0のIC14dを介してEPROMの出力D5で決ま
る)存在するば、この小電流を利用できる。この小電流
は、検出器Q1(図8参照)で受け取られる。検出器Q
1は、高利得トランジスタ(たとえば、ダーリンキンT
IP127)であり、抵抗器R37、キャパシタC1
7、ダイオードD9で構成されるダイオードポンプ回路
に対しより大きな電流パルスを発生する。入力パルスを
受け入れているかぎり、トランジスタのパルスはダイオ
ードポンプ回路をチャージするほど十分に大きいので、
負荷(ファン)リレーRL2に電圧が印加され、状態が
保たれる。この構成は、ロックアウトリレーのセットコ
イルRL1bの導通のための安全チェックの役目をす
る。もしこのコイルが開路になり、作動不能になれば、
小入力電流パルスが止まり、負荷リレーから電圧が除か
れるので、フェイルセーフ装置として働く。言い替える
と、一連の非常に短い持続時間のパルスであるにもかか
わらず、同一信号によってロックアウトリレーのコイル
が検査され、かつ正常に負荷リレーに電圧が印加され
る。別の安全装置として、R37(1/4W、100
Ω)は、負荷リレーRL2が作動したとき、通常約25
mWの電力を消費する。ロックアウト中は、これが短時
間2W以上に増大する。しかも、もしこのロックアウト
リレーが故障すれば、R37はこの大きな電力を消費し
続け、遂には故障してフェイルセーフの破壊をもたら
す。正常動作状態においてロックアウトが起されたと
き、たとえば、炎検出器がアドレス回線A9に炎の不具
合を指示した場合には、EPROMのロックアット領域
がアクセスされる。そのアドレスに記憶されているデー
タは偶数パリティ(たとえば、全て零)をもつように選
ばれている。この結果、全ての出力から電圧が除かれ
る。さらに、偶数パリティにより、図7のパリティチェ
ック回路はリレーコイルRL1bに電圧を加えて、ロッ
クアウトを起させる。いずれの状態においても、図3の
ロックアウト接点RL/1は、ファンパイロット、点
火、主弁の各リレーに使われる電力を断にする。図4の
接点RL1/3は12V電源電圧を線16から図6のロ
ックアウト発光ダイオードLD9へ切り換える。ロック
アウトリレーのコイルRL1bの励起は、連続しておら
ず、通常は「オン」で試験記号が通過するたびに短かく
「オフ」になるパルスであるが、これは、送る側では検
出されず、したがって、ダイオードポンプ回路をチャー
ジしないので、たとえロックアウトリレーのコイルが作
動できなくても、負荷リレーから電圧を除くから、予備
安全停止手段になる。
【0046】図6のディスプレイ構成は、図1のブロッ
ク19に対応すると考えることができる。前に触れたよ
うに、ロックアウトでは、ダイオードLD9が点灯す
る。LD9は抵抗器32によって電流が制限される。残
りの発光ダイオードLD1〜LD8は関連する電流制限
抵抗器R24〜R31を介してディスプレイ駆動素子I
C6(たとえば、UCN4801A)によって作動す
る。これらのダイオードはバス14のそれぞれのアドレ
ス回線A11〜A9、A7およびバス20のそれぞれの
データ回線D5、D0〜D2から論理高値入力が提供さ
れると導通する。また、NANDゲートIC14aの一
方の入力に結合された抵抗器R34とキャパシタC1
4、および他方の入力に結合された抵抗器R34とキャ
パシタC13によって入力制御が行なわれる。このNA
NDゲートIC14aは、別のNANDゲートIC14
b(たとえば、共にシュミット社のtype4093)
に直列に接続されており、IC14bの他方の入力は線
62に接続されている。2つのダイオードD5、D6
は、それぞれ、抵抗器R21、R22、R23およびN
ANDゲートIC14bの出力側に接続されている。両
ダイオードの陽極は、ディスプレイ駆動素子IC6のス
トローブ入力へ接続されている。別の一対のダイオード
D7、D8は、抵抗器R35と共に、ディスプレイ駆動
素子IC6の使用可能入力へ接続されている。D7の陰
極はL/OLED、LD9へ接続されており、D8の陰
極は図10のアドレスカウンタIC12から「点滅」入
力を受け取る。ディスプレイリセットはディスプレイ駆
動素子IC6の「クリヤ」入力に与えられるが、このリ
セットは外部L/Oリセットが作動したとき利用でき
る、図5のIC5aの出力から得られる。IC14aの
R33に対する入力には、図7の排他的論理和ゲートI
C9dからロックアウト信号が与えられる。
【0047】IC14aの13に対する入力には、ディ
スプレイストローブとして働く、図10のIC11のQ
7発振器出力が与えられる。
【0048】このストローブによって、サーモスタット
(A11)、ASP(A10)、炎(A9)、およびイ
ンタロック(A7)の種々の入力状態と、ファン負荷
(D5)、点火(D0)、パイロット(D1)および主
弁(D2)の種々の出力状態がラッチされ、駆動素子I
C6により表示される。このストローブは各ミリ秒ごと
にディスプレイを更新する。ロックアウト信号を受け取
ると、NANDゲートによりストローブ信号は駆動素子
を更新することが阻止され、ディスプレイはロックアウ
トの直前に保持していた状態を持続する。ロックアウト
ダイオードLD9はロックアウトリレーを介して点灯し
ているが、前に点灯していた残りのダイオードLD1〜
LD8はシステム発振器IC11からダイオードD8に
対する増加周波数で定まる速度で点滅する。このディス
プレイの点滅は、外部ロックアウトリセットが行なわれ
るまで続く。
【0049】図3〜図10に関して説明した装置から、
洗練された制御と安全チェック手段が得られたことは明
らかである。図2および図3〜図10に関して既に述べ
たように、EPROM出力に生じる事象の順序は、EP
ROMの諸入力、その他の因子によって包括的操作装置
を作るように決められる。
【0050】次に、全操作順序の例を明らかにするた
め、典型的なEPROMのアドレス指定とデータ出力順
序を図11〜図14に示す。
【0051】装置を始動させる時点、またはロックアウ
トリセット後、サーモスタットは開いていた(すなわ
ち、バーナは必要でない)と仮定すると、EPROM入
力端に対する入力A7(インタロック)、A9(炎)、
A10(APS)、A11(スタット)は、全部が低値
であり、したがってカウンタIC12のリセットに続い
て、ラインA0にある信号によってEPROMの最初の
アドレス(0)がアドレスされる。図11は、この記憶
場所にあらかじめ記憶されている8ビット語を示す。こ
の8ビット語はデータバスD0〜D7に対する出力であ
る。D7は、唯一のアクティブビットで、奇数パリティ
を維持する。1秒後カウンタIC12が、内容を1つ進
めると、D4がアクティブになり、これによりカウンタ
IC12がリセットされるので、これ以後のアドレスは
アクセスされない。したがって、このリセットは1秒間
隔で起り、その都度カウンタが刻時される。データ回線
の奇数パリティは、ロックアウトが誘発されないことを
確保する。
【0052】サーモスタットが閉じられると(通常の始
動状態のとおりに)、A11入力によって、EPROM
のアドレスは図12で示すアドレスへ飛び越す。ここに
記憶されているデータは、奇数パリティを与えるため高
値のD7のみを有する。もしリレー接点が正しい始動状
態であったとすれば、A8も高値であるから、EPRO
Mアドレスは図13において大きな256記憶場所にな
る(すなわち、2304。)
【0053】カウンタIC12が状態を変えたあと、次
のEPROMアドレス(すなわち、2305)がアクセ
スされる。ここには、リセット命令が入っていない(す
なわち、D4は低値である)から、カウンタIC12は
カウントを継続することができる。次の1秒後、もしリ
レーが正しい状態にあり、A8が高値であれば、次のE
PROMアドレス(2306)がアクセスされる。もし
リレー接点が、たとえば溶着して閉じていれば、A8は
低値であるから、EPROMアドレスは小さな256記
憶場所になる(すなわち、2050)。そのアドレスに
は、D0〜D7に対し全て「低値」が記憶されている。
この偶数パリティは、ロックアウトを生じさせる。
【0054】図13において正しいアドレス指定が行な
われたと仮定して、次にパイロットリレーを作動させ、
その接点が閉じることを検査するために、1秒後に進め
られた次のアドレス(2307)がD1をアクティブに
する。接点が閉じると、A8が低値になる(誤りが模擬
される)ので、アドレスは、図14に示すように、20
51へ飛び越す。この記憶場所は、同様に、パイロット
リレーを付勢状態に維持する高値のD1と、ロックアウ
トを阻止する高値のD7を有している。次の1秒後、カ
ウンタIC12が1つ進み、EPROMアドレス205
2がアクセスされる。もし故障が検出されなかったため
にA8が高値のままであれば、EPROMアドレス23
08が使われる。このアドレスは、全部が低値に記憶さ
れたD0〜D7を有しており、この偶数パリティにより
ロックアウトが起る。
【0055】図14において正しいアドレス指定が行な
われたと仮定して、1秒後に進められる次のアドレス
は、パイロットリレーから電圧を除く低値のD1を有す
る2053である。リレー接点RL3が開くと、A8が
高値になる。(正常の停止状態)ので、アドレスは23
09へ飛び越す。この記憶場所も、低値のD1と、ロッ
クアウトを阻止する高値のD7を有している。カウンタ
IC12が1つ進むと、故障が発生していない限り、次
のEPROMアドレス2310がアクセスされる。故障
があると、A8が低値に保持され、EPROMアドレス
2054が使われる。このアドレスは全部が低値で記憶
されたD0〜D7を有しており、ロックアウトが起る。
【0056】カウンタIC12がさらに1つ進み、高値
のD5を有するEPROMアドレス2311をアクセス
すると、負荷(ファン)リレーを作動させ、もう1つの
故障を模擬する始動順序の最終ステップが始まる。この
とき、A8は低値になるはずであり、同様に高値のD5
を有するEPROMアドレス2055がアクセスされ
る。カウンタIC12が1カウント進むともしA8がな
お正しい「低値」状態であれば、2056がアドレスさ
れる。もしA8が高値であれば、2312がアドレスさ
れて、ロックアウトが起る。
【0057】ファンに電圧が印加されると、今度は空気
圧力スイッチが状態を変えるので、アドレスは1024
だけ増加し、3080になるはずである。数秒後、カウ
ンタIC12はこのアドレスを3083まで増加させる
はずである。もしこのとき空気が検出されなければ、E
PROMアドレスは2059へ逆戻りする。2059で
は、D4が高値であるため、リセット、したがって停止
が起る。3080から3083までのステップは、空気
圧力スイッチが状態を変えるための十分な時間を見越し
ている。この状態は、IC12の次の32ステップの間
維持されるので、32秒のパージが確保される。アドレ
スが3116に達すると、D0とD1が共に高値にな
り、同一のデータを有する(+)の3628(3116
+512)へ飛越しが生じる。2秒後に、3630に達
し、ここではD0が低値であるので、もし炎が存在して
いなければ、点火および出力から電圧が除かれ、A9は
低値になり、3118がアドレスされ、ロックアウトが
起る。
【0058】次の6秒でアドレスが3636に達したあ
と、主弁に電圧を加える前の最後のステップで、363
7においてD2が高値になる。ここで、もし炎が発生し
ていなければ、A9は低値になり、3125がアドレス
されてロックアウトが起る。
【0059】3639においてD1が低値になりパイロ
ットを消すまでの2秒間、ステップ3638はD2を高
値に保つ。
【0060】最後に、1秒後、高値のD6を有する36
40がアドレスされ、システムクロックが保留される。
【0061】もし炎が消えれば、A9が低値になり、E
PROMアドレス(3640−512)3128がアク
セスされ、ロックアウトが起る。
【0062】もし空気圧が低下すれば、A10が低値に
なり、EPROMアドレス(3640−1024)26
16がアクセスされ、リセット、したがって停止が起
る。
【0063】もしサーモスタットが開けば、A11が低
値になり、EPROMアドレス(3640−2048)
1592がアクセスされ、リセット、したがって停止が
起こる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の一実施例の簡単なブロック図である。
【図2】アドレス回線とデータ回線を詳細に示すEPR
OMの略図である。
【図3】図1と図2の構成の配線図である。
【図4】図1と図2の構成の配線図である。
【図5】図1と図2の構成の配線図である。
【図6】図1と図2の構成の配線図である。
【図7】図1と図2の構成の配線図である。
【図8】図1と図2の構成の配線図である。
【図9】図1と図2の構成の配線図である。
【図10】図1と図2の構成の配線図である。
【図11】アクセスされるEPROMのアドレスと典型
的なバーナ操作順序としてそこに記憶されているデータ
の図表である。
【図12】アクセスされるEPROMのアドレスと典型
的なバーナ操作順序としてそこに記憶されているデータ
の図表である。
【図13】アクセスされるEPROMのアドレスと典型
的なバーナ操作順序としてそこに記憶されているデータ
の図表である。
【図14】アクセスされるEPROMのアドレスと典型
的なバーナ操作順序としてそこに記憶されているデータ
の図表である。
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 バリー レオナード プライス イギリス B93 9PD ソリハル ノ ールホワイツレイド クローズ 6 (56)参考文献 実開 昭60−3480(JP,U)

Claims (3)

    (57)【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 リレー接点検査回路において、分圧回路
    網として使用でき、検査すべきリレー接点の位置に従っ
    て選択的に接続できるように配列された抵抗器群と、前
    記回路網から得られた動作状態を表わす少なくとも1つ
    の電圧レベルを検出する電圧検出手段と、前記検査回路
    を使用する前に正しい動作を確認するために模擬故障の
    検査を行う手段とを備えていることを特徴とするリレー
    接点検査回路。
  2. 【請求項2】 抵抗器群の少なくとも1個はいくつかの
    リレー接点が作動したときさらに電圧変化を与えるため
    短絡されるようになっており、この電圧を検出するため
    第2の電圧検出手段が設けられていることを特徴とする
    請求項1記載の回路。
  3. 【請求項3】 前記電圧検出手段は、検出した電圧が所
    定の節囲外であるとき誤り状態を作る窓比較器を備えて
    いることを特徴とする請求項2記載の回路。
JP3147001A 1985-08-12 1991-04-02 リレー接点検査回路 Expired - Lifetime JP2650659B2 (ja)

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Families Citing this family (15)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
GB2200476B (en) * 1987-01-29 1991-02-06 British Gas Plc Monitor system
DE3829677C2 (de) * 1988-09-01 1997-12-11 Lve Verfahrenselektronik Gmbh Verfahren und Anordnung zur Regelung von pulssteuerbaren Brennern in einer wärmetechnischen Anlage
US5023816A (en) * 1989-01-27 1991-06-11 Honeywell Inc. Method and apparatus for conditioning AC input signals
US4965755A (en) * 1989-01-27 1990-10-23 Honeywell Inc. Method and apparatus for monitoring AC input signals
GB9025480D0 (en) * 1990-11-22 1991-01-09 Atomic Energy Authority Uk Hard-wired controller/monitor
JP2530125Y2 (ja) * 1991-03-22 1997-03-26 株式会社光合金製作所 自動水抜弁
US5339237A (en) * 1993-04-01 1994-08-16 Honeywell Inc. Method for interlock tracing for discrete devices in a process control system
US6122567A (en) * 1997-12-02 2000-09-19 Rheem Manufacturing Company Boiler system ignition sequence detector and associated methods of protecting boiler systems
US6701480B1 (en) * 2000-03-08 2004-03-02 Rockwell Automation Technologies, Inc. System and method for providing error check and correction in memory systems
JP2003139810A (ja) * 2001-10-31 2003-05-14 Toyoda Mach Works Ltd リレー故障検出装置
US8008603B2 (en) 2007-08-31 2011-08-30 Mackenzie Bruce G Boiler protection apparatus and method
HUE049330T2 (hu) * 2015-03-23 2020-09-28 Siemens Ag Égetõberendezés biztonsági berendezéssel
KR101736269B1 (ko) 2015-10-30 2017-05-16 주식회사 고영테크놀러지 물품 이송 장치 및 물품 검사 장치
CN108536110B (zh) * 2018-06-30 2024-02-20 国能广投柳州发电有限公司 一种辅机单列机组的自启停控制系统
CN113641136B (zh) * 2021-10-14 2022-02-01 山东欣悦健康科技有限公司 一种基于物联网的口罩机控制系统及控制方法

Family Cites Families (29)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US3257546A (en) * 1963-12-23 1966-06-21 Ibm Computer check test
GB1459177A (en) * 1972-11-03 1976-12-22 Mach Tool Ind Res Ass Sequential control systems
US3825894A (en) * 1973-09-24 1974-07-23 Ibm Self-checking parity checker for two or more independent parity coded data paths
JPS5315790B2 (ja) * 1973-10-18 1978-05-27
IT1002271B (it) * 1973-12-27 1976-05-20 Honeywell Inf Systems Perfezionamento ai dispositivi di controllo di parita nelle memorie a semiconduttori
JPS5283046A (en) * 1975-12-30 1977-07-11 Fujitsu Ltd Check system of error detection circuit
US4075707A (en) * 1976-05-21 1978-02-21 Xerox Corporation Programmed device controller
JPS5340730U (ja) * 1976-09-10 1978-04-08
US4270168A (en) * 1978-08-31 1981-05-26 United Technologies Corporation Selective disablement in fail-operational, fail-safe multi-computer control system
US4254460A (en) * 1979-06-20 1981-03-03 Baxter Travenol Laboratories, Inc. Programmable controller
US4303383A (en) * 1979-11-09 1981-12-01 Honeywell Inc. Condition control system with safety feedback means
US4298334A (en) * 1979-11-26 1981-11-03 Honeywell Inc. Dynamically checked safety load switching circuit
JPS57153306A (en) * 1981-03-17 1982-09-21 Matsushita Electric Works Ltd Sequence controller
US4444551A (en) * 1981-08-27 1984-04-24 Emerson Electric Co. Direct ignition gas burner control system
JPS58106321A (ja) * 1981-12-18 1983-06-24 Hitachi Ltd デイジタル化バ−ナ自動制御装置
JPS58194200A (ja) * 1982-05-08 1983-11-12 Mitsubishi Electric Corp メモリ制御回路
GB2120818B (en) * 1982-05-21 1985-10-09 Int Computers Ltd Data processing systems
DE3317642A1 (de) * 1982-05-21 1983-11-24 International Computers Ltd., London Datenverarbeitungseinrichtung
JPS5960068A (ja) * 1982-09-30 1984-04-05 Fuji Heavy Ind Ltd 内燃機関の電子制御装置
JPS5960067A (ja) * 1982-09-30 1984-04-05 Fuji Heavy Ind Ltd 内燃機関の電子制御装置
GB2133903B (en) * 1983-01-15 1986-03-12 Cambridge Instr Ltd Improvements in and relating to control systems
US4518345A (en) * 1983-02-28 1985-05-21 Emerson Electric Co. Direct ignition gas burner control system
JPS603480U (ja) * 1983-06-17 1985-01-11 株式会社アドバンテスト リレ−マトリツクス回路試験装置
JPS6035453U (ja) * 1983-08-17 1985-03-11 株式会社東芝 接点オンオフ検知回路
US4581697A (en) * 1983-10-03 1986-04-08 Johnson Service Company Controller for combustible fuel burner
JPS60124737A (ja) * 1983-12-12 1985-07-03 Nippon Telegr & Teleph Corp <Ntt> パリテイトリ−回路
JPS61195431A (ja) * 1985-02-25 1986-08-29 Nec Corp 自動検査可能なパリテイチエツク回路
US4670876A (en) * 1985-05-15 1987-06-02 Honeywell Inc. Parity integrity check logic
JPH01171031A (ja) * 1987-12-26 1989-07-06 Nec Corp 故障検出回路

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Publication number Publication date
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