JP2647969B2 - 光起電力装置 - Google Patents

光起電力装置

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正幸 岩本
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    • Y02EREDUCTION OF GREENHOUSE GAS [GHG] EMISSIONS, RELATED TO ENERGY GENERATION, TRANSMISSION OR DISTRIBUTION
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    • Y02E10/50Photovoltaic [PV] energy
    • Y02E10/548Amorphous silicon PV cells

Description

【発明の詳細な説明】 (イ)産業上の利用分野 本発明は光エネルギーを電気エネルギーに変換する光
起電力装置に関する。
(ロ)従来の技術 非晶質シリコン、非晶質シリコンカーバイド等の非晶
質半導体を用いた光起電力装置は、製造コストの低減化
の可能性を有するものとして注目され、また、米国特許
第4,281,208号に示されている如く1枚の基板から電
卓、腕時計等の小型電子機器を動作させるための電圧を
得ることができることから、現在、当該小型電子機器の
電源として実用化されている。
このような非晶質半導体を用いた光起電力装置の基本
構成は、pin接合であり、発電に寄与する電子及び正孔
対からなる光キャリアは、主として光活性層であるi型
(真性)層での光吸収に基く光電変換にて形成され、p
型層及びn型層に移動して、これらp型層及びn型層に
連なる集電極により集電される。従って、入射した光エ
ネルギーをどれだけ電気エネルギーに変換して出力した
かを示す光電変換効率は、光活性層にて発生した光キャ
リアをいかにして有効に取り出すかに大きく左右され
る。
(ハ)発明が解決しようとする課題 このために、従来では、i型層での光吸収を多くする
ことにより多くの光キャリアを取り出すようにしている
が、多くの光キャリアを発生させたとしても、これを取
り出すことができなければ、光電変換効率を向上させる
ことができず、光起電力装置の出力特性を向上させるこ
とはできない。
そこで、本発明は、半導体光活性層にて発生した光キ
ャリアの全てを有効に分離して移動させ、出力として取
り出すことにある。
(ニ)課題を解決するための手段 本発明は、光照射により光キャリアを発生する半導体
光活性層を備える光起電力装置において、上記半導体光
活性層中の光吸収量の増減に沿って、該層中の電界分布
特性が略比例して増減することを特徴とする。
(ホ)作用 半導体層中のキャリアの再結合量Rは、一般に下記の
関係式で表されるショックレーリード型再結合として知
られている。
尚、同式において、p、n及びniは各々正孔、電子及
び真性電荷密度を示す。
ところで、光起電力装置においては、強い光が照射さ
れるために、p、n≫niであり、上記関係式は、 の近似式にて表すことができる。
従って、この近似式から分かるように、キャリアの再
結合を減少されるためには、入射光により発生した電子
及び正孔をできるだけ早く分離することが重要である。
この電子と正孔の分離を行うのがi型層の内部電界で
あり、この値は光起電力装置を構成する材料、ドープ量
及びi型層の膜厚により決定される。
そこで、本発明では、光吸収量と電界分布特性とを略
比例させることにより、発生した光キャリアの全てにお
いて、電子及び正孔の再結合を減少させることにより、
発生した光キャリアの略全てを取り出すものである。
(ヘ)実施例 第1図は本発明の典型的実施例の光起電力装置を示す
断面図であり、ガラス、耐熱性プラスチック等の透光性
絶縁材料からなる基板1上に、ITO、SnO2等の透光性導
電酸化物(TCO)からなる透明電極膜2、アモルファス
シリコン、アモルファスシリコンカーバイド等からなる
p型層3、光活性層であるi型層4及びn型層5、更に
Al、Ag等の金属からなる背面電極膜6を、この順序で積
層したものである。
この構成において、本発明の特徴は、i型層4におけ
る光吸収量及び電界分布特性の関係にある。即ち、i型
層4中の上記各特性が、略比例していることにある。
第2図は、i型層4における光吸収量及び電界分布特
性を示している。尚、この特性図は、i型層4における
p型層3との界面からの深さを横軸として示したもので
ある。
この実施例においては、i型層4の光吸収量は、p型
層3との界面から深くなるに連れ一旦急激に減少した後
約1500Åから約7000Åの深さまでは緩やかに減少する。
そして約7000Åからn型層5との界面までは急激に増加
している。また、i型層4中の電界分布も、この光吸収
量の増減に略比例するように増減する。
ところで、i型層4中の光吸収量は、第3図に示すよ
うに、i型層4を周知のプラズマCVD法にて形成する時
に用いられる原料ガスのHeによる希釈量を変化させるこ
とにより任意に制御することができる。
第1表は、この第1実施例の光起電力装置の形成方法
を示している。尚、この装置は周知のプラズマCVD法に
より形成される。
第4図及び第2表は、第1実施例のI−V特性及び各
種出力特性を示している。尚、第4図において、破線は
従来例を示しており、この従来例は、i型層4の光吸収
量を何ら考慮せずに形成したものである。
これら図及び表から明らかなように、光起電力装置の
各種特性は向上している。
一方、第5図は、第2実施例を示しており、この実施
例では、i型層4の光吸収量に合わせて電界分布特性を
変化させたものであり、具体的には、p型層3から遠ざ
かる程小さくなる光吸収量に略比例するように、電界分
布特性もp型層3から遠ざかるにつれて小さくなるよう
にしたものである。即ち、i型層4の光吸収量をp型層
3から膜厚方向に沿って減少するに従って、電界分布特
性もp型層3から膜厚方向に向かって減少するようにし
ている。尚、この特性図も、i型層4におけるp型層3
との界面からの深さを横軸として示したものである。
このために、i型層4の誘電率が第6図に示すように
炭素(C)の添加量に応じて変化することに着目し、i
型層4中のCの添加量を変化させて誘電率を調整し、該
層4中の電界分布特性を制御している。
第3表は、この第2実施例の光起電力装置の形成方法
を示している。
第7図及び第4表は、第1実施例のI−V特性及び各
種出力特性を示している。尚、第7図において、破線は
従来例を示しており、この従来例は、i型層4の光吸収
量を何ら考慮せずに形成したものである。
これら図及び表から明らかなように、光起電力装置の
各種特性は向上している。
(ト)発明の効果 本発明によれば、光照射により光キャリアを発生する
半導体光活性層を備える光起電力装置において、上記半
導体光活性層中の光吸収量の増減に沿って、該層中の電
界分布特性が略比例して増減するようにしたので、光照
射により発生した電子及び正孔からなる光キャリアの全
てを実質的に素早く分離して再結合を防止することがで
き、従って、光起電力装置の出力特性を向上させること
ができる。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明の典型的実施例を示す断面図、第2図は
第1実施例のi型層の光吸収特性及び電界分布特性を示
す特性図、第3図はHeによる希釈量とi型層の光吸収係
数との関係を示す特性図、第4図は第1実施例のI−V
特性を示す特性図、第5図は第2実施例のi型層の光吸
収特性及び電界分布特性を示す特性図、第6図はi型層
中のCの濃度とi型層の比誘電率との関係を示す特性
図、第7図は第2実施例のI−V特性を示す特性図を示
している。
フロントページの続き (56)参考文献 特開 昭64−4083(JP,A) 特開 昭61−183976(JP,A) 特開 昭63−283076(JP,A) 特開 昭63−220582(JP,A) 特開 昭63−84076(JP,A) 特開 昭60−258975(JP,A) 特開 昭58−220478(JP,A) 特開 昭56−88377(JP,A) 特開 昭57−79672(JP,A)

Claims (3)

    (57)【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】光照射により光キャリアを発生する半導体
    光活性層を備える光起電力装置において、上記半導体光
    活性層中の光吸収量の増減に沿って、該層中の電界分布
    特性が略比例して増減することを特徴とする光起電力装
    置。
  2. 【請求項2】上記光吸収量は、上記半導体光活性層中の
    光吸収係数が変化されることにより調整されていること
    を特徴とする請求項1記載の光起電力装置。
  3. 【請求項3】上記電界分布特性は、上記半導体光活性層
    中の誘電率が変化されることにより調整されていること
    を特徴とする請求項1記載の光起電力装置。
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