JP2614294B2 - 受光半導体集積回路 - Google Patents

受光半導体集積回路

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JP2614294B2 JP63319587A JP31958788A JP2614294B2 JP 2614294 B2 JP2614294 B2 JP 2614294B2 JP 63319587 A JP63319587 A JP 63319587A JP 31958788 A JP31958788 A JP 31958788A JP 2614294 B2 JP2614294 B2 JP 2614294B2
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Description

【発明の詳細な説明】 [発明の目的] (産業上の利用分野) 本発明は、光感応素子(以下、フォトダイオードと記
す)を含んだ受光半導体集積回路に係り、特にフォトイ
ンタラプタなどに使用されるものである。
(従来の技術) 従来のフォトインタラプタには、第5図に示すよう
に、発光ダイオード51と、この発光ダイオード51の発光
出力を受光するフォトトランジスタ52と、このフォトト
ランジスタ52の光電流出力を増幅するトランジスタ53
と、チップ抵抗54および55との各個別部品を回路基板上
に実装して半田付け接続したものがある。しかし、この
ようなフォトインタラプタは、使用部品点数が多く、組
立て工数等を必要とし、コストが高くなってしまう。
また、従来のフォトインタラプタには、第6図に示す
ように、発光ダイオード61とチップ抵抗62と受光半導体
集積回路63とを使用したものがある。このようなフォト
インタラプタで使用される従来の受光半導体集積回路63
は、発光ダイオード61の発光出力を受光するフォトトラ
ンジスタ64と、このフォトトランジスタ64の光電流出力
を増幅する増幅回路65と、パルス化回路66と、電流増幅
回路67と、定電圧回路68とからなる。
このようなフォトインタラプタは、受光半導体集積回
路63を使用しているので使用部品点数が少なくて済む
が、内部の光電流増幅用トランジスタの電流増幅率のば
らつきが大きいと、受光感度のばらつきが大きくなると
いう問題がある。また、従来の受光半導体集積回路63
は、電源電圧Vccとして、発光ダイオード(GaAs発光ダ
イオード、GaAlAs発光ダイオード等)61の順方向電圧に
比べてかなり高い5V程度が必要であり、消費電力が大き
くなってしまう。
(発明が解決しようとする課題) 本発明は、上記したように従来の受光半導体集積回路
は、光電流増幅用トランジスタの電流増幅率のばらつき
が大きいと、受光感度のばらつきが大きくなり、また、
電源電圧として5V程度が必要であり、消費電力が大きく
なるという問題点を解決すべくなされたもので、低電源
電圧下での使用が可能になって低消費電力化が可能にな
り、および/あるいは、受光感度のばらつきが小さくな
る受光半導体集積回路を提供することを目的とする。
[発明の構成] (課題を解決するための手段) 本発明の受光半導体集積回路の1つは、高電位側の電
源端子と低電位側の電源端子との間に直列に接続されて
いるPNPトランジスタおよびコレクタ・ベース相互が接
続されたNPNトランジスタと、上記PNPトランジスタのベ
ースと前記低電位側の電源端子との間に接続されている
フォトダイオードとを具備することを特徴とする。
また、本発明の受光半導体集積回路の1つは、フォト
ダイオードと、このフォトダイオードの光電流出力を増
幅する少なくとも1つのカレントミラー回路を含む光電
流増幅回路とを具備することを特徴とする。
また、本発明の受光半導体集積回路の1つは、高電位
側の電源端子と低電位側の電源端子との間に直列に接続
されているPNPトランジスタおよびコレクタ・ベース相
互が接続されたNPNトランジスタと、上記PNPトランジス
タのベースと前記低電位側の電源端子との間に接続され
ているフォトダイオードと、上記高電位側の電源端子と
低電位側の電源端子との間に接続され、上記フォトダイ
オードの光電流出力を増幅する少なくとも1つのカレン
トミラー回路を含む光電流増幅回路とを具備することを
特徴とする。
(作用) 本発明の受光半導体集積回路の1つによれば、高電位
側の電源端子と低電位側の電源端子との間の電源電圧
は、コレクタ・ベース相互が接続されたNPNトランジス
タのベース・エミッタ間電圧とPNPトランジスタのコレ
クタ・エミッタ間電圧との和に相当する低い電圧で済
み、低消費電力化が可能になる。この場合、この電源電
圧が発光ダイオード(例えばGaAs発光ダイオード)の順
方向電圧よりも大きければ、この発光ダイオードを上記
受光半導体集積回路に並列に、即ち、この発光ダイオー
ドを前記高電位側の電源端子と低電位側の電源端子との
間の直接に接続してフォトインタラプタを構成すること
が可能になる。
また、本発明の受光半導体集積回路の1つによれば、
フォトダイオードの光電流出力を少なくとも1つのカレ
ントミラー回路を含む光電流増幅回路により増幅するの
で、光電流増幅用トランジスタの電流増幅率のばらつき
が小さくなり、受光感度のばらつきが小さくなる。
また、本発明の受光半導体集積回路の1つによれば、
高電位側の電源端子と低電位側の電源端子との間の電源
電圧は、コレクタ・ベース相互が接続されたNPNトラン
ジスタのベース・エミッタ間電圧とPNPトランジスタの
コレクタ・エミッタ間電圧との和に相当する低い電圧で
済み、低消費電力化が可能になる。しかも、フォトダイ
オードの光電流出力を少なくとも1つのカレントミラー
回路を含む光電流増幅回路により増幅するので、光電流
増幅用トランジスタの電流増幅率のばらつきが小さくな
り、受光半導体集積回路の受光感度のばらつきが小さく
なる。
(実施例) 以下、図面を参照して本発明の一実施例を詳細に説明
する。
第1図に示すフォトインタラプタにおいて、フォトイ
ンタラプタ電源端子1と接地電位端子2との間には、電
源電圧降下用抵抗3および発光ダイオード4が直列に接
続されており、この発光ダイオード4の発光出力を受光
するフォトダイオード5を含み、発光ダイオード4との
光結合の有無を検出する受光半導体集積回路6が、この
発光ダイオード4に並列に接続されており、この受光半
導体集積回路6の出力がフォトインタラプタ出力端子7
に取出されている。
受光半導体集積回路6は、例えばシリコンチップ上に
第2図に示すように回路が形成されている。即ち、高電
位側の電源端子(本例ではVcc電源端子21)と低電位側
の電源端子(本例では接地電位端子22)との間に、第1
のPNPトランジスタP1およびコレクタ・ベース相互が接
続された第1のNPNトランジスタN1が直列に接続され、
第1のPNPトランジスタP1のベースと接地電位端子22と
の間にフォトダイオード5が接続されている。第1のNP
NトランジスタN1に、第2のNPNトランジスタN2がカレン
トミラー接続されて第1のカレントミラー回路CM1が構
成されている。
さらに、Vcc電源端子21と第2のNPNトランジスタN2の
コレクタとの間に、コレクタ・ベース相互が接続された
第2のPNPトランジスタP2が接続され、この第2のPNPト
ランジスタP2に第3のPNPトランジスタP3がカレントミ
ラー接続されて第2のカレントミラー回路CM2が構成さ
れている。
さらに、第3のPNPトランジスタP3のコレクタと接地
電位端子22との間に、コレクタ・ベース相互が接続され
た第3のNPNトランジスタN3が接続され、この第3のNPN
トランジスタN3に第4のNPNトランジスタN4がカレント
ミラー接続されて第3のカレントミラー回路CM3が構成
されており、この第4のNPNトランジスタN4はコレクタ
受光検出出力端子23に接続されている。
ここに、第1のPNPトランジスタP1および第1のカレ
ントミラー回路CM1乃至第3のカレントミラー回路CM3
は、光電流増幅回路を形成している。
なお、第1のカレントミラー回路CM1における第1のN
PNトランジスタN1と第2のNPNトランジスタN2とのエミ
ッタ面積比は例えば1:2、第2のカレントミラー回路CM2
における第2のPNPトランジスタP2と第3のPNPトランジ
スタP3とのエミッタ面積比は例えば1:2、第3のカレン
トミラー回路CM3における第3のNPNトランジスタN3と第
4のNPNトランジスタN4とのエミッタ面積比は例えば1:2
である。
受光半導体集積回路6においては、フォトダイオード
2が発光ダイオードの発光出力を受光している時に発生
する光電流Ipは、第1のPNPトランジスタP1および第1
のカレントミラー回路CM1乃至第3のカレントミラー回
路CM3からなる光電流増幅回路により増幅されて受光検
出出力端子23に出力する。この場合、各カレントミラー
回路において、対をなす2個のトランジスタ(例えばN1
とN2)が同じ特性を持っているとすれば、この2個のト
ランジスタ(例えばN1とN2)のエミッタ電流はエミッタ
面積比に等しくなる。従って、このトランジスタの電流
増幅率hfeが100程度以上であれば、ベース電流の大きさ
を無視でき、この2個のトランジスタ(例えばN1とN2)
のコレクタ電流はエミッタ面積比により決まる。従っ
て、対をなす2個のトランジスタ(光電流増幅用トラン
ジスタ)の電流増幅率のばらつきが小さくなり、受光半
導体集積回路6の受光感度のばらつきが小さくなる。
また、受光半導体集積回路6においては、光電流増幅
回路に供給される電源電圧は、例えば第1のNPNトラン
ジスタN1のベース・エミッタ間電圧と第1のPNPトラン
ジスタP1のコレクタ・エミッタ間電圧との和に相当する
例えば0.9V程度の低い電圧で済むので、低消費電力化が
可能になう。この場合、この電源電圧が発光ダイオード
(例えばGaAs発光ダイオード)4の順方向電圧よりも大
きければ、第1図に示したように、発光ダイオード4を
受光半導体集積回路6に並列に、即ち、発光ダイオード
4を受光半導体集積回路6のVcc電源端子21と接地電位
端子22との間の直接に接続してフォトインタラプタを構
成することが可能になる。
なお、上記実施例では、光電流増幅回路の一部にカレ
ントミラー回路が含まれていたが、第3図に示す受光半
導体集積回路6のように、光電流増幅回路の全部をカレ
ントミラー回路により形成すれば、光電流増幅用トラン
ジスタの電源増幅率のばらつきが一層小さくなり、受光
半導体集積回路6の受光感度のばらつきが一層小さくな
る。
即ち、第3図に示す受光半導体集積回路6は、第1図
に示した受光半導体集積回路6と比べて、Vcc電源端子2
1とフォトダイオード5との間に、コレクタ・ベース相
互が接続された第4のPNPトランジスタP4が接続され、
この第4のPNPトランジスタP4の第1のPNPトランジスタ
P1がカレントミラー接続されて第4のカレントミラー回
路CM4が構成されている点と、各カレントミラー回路に
おけるトランジスタ対のエミッタ面積比は1:1である点
が異なり、その他は同じであるので第1図中と同一符号
を付している。
第4図は、本発明のさらに他の実施例に係る受光半導
体集積回路6を示しており、第2図に示した受光半導体
集積回路6と比べて、光電流増幅回路の例えば第3のカ
レントミラー回路CM3が省略され、第2のカレントミラ
ー回路CM2の出力側に検出電流閾値設定回路41が挿入さ
れている点と、各カレントミラー回路におけるトランジ
スタ対のエミッタ面積比は1:1である点が異なり、その
他は同じであるので第2図中と同一符号を付している。
検出電流閾値設定回路41は、Vcc電源端子21と接地電
位端子22との間に、抵抗42とコレクタ・ベース相互が接
続された第5のNPNトランジスタN5が直列に接続され、
この第5のNPNトランジスタN5に第6のNPNトランジスタ
N6がカレントミラー接続されて第5のカレントミラー回
路CM5が構成されている。そして、この第6のNPNトラン
ジスタのコレクタN6は、第2のカレントミラー回路CM2
の第3のPNPトランジスタP3のコレクタに接続されてい
る。さらに、この第6のNPNトランジスタN6のコレクタ
に、第7のNPNトランジスタN7のベースが接続され、こ
の第7のNPNトランジスタN7のエミッタは接地電位端子2
2に、コレクタは受光検出出力端子23に接続されてい
る。
このような第4図の受光半導体集積回路6において
は、フォトダイオード5が発光ダイオードの発光出力を
受光している時、第2のカレントミラー回路CM2の出力
電流が第6のNPNトランジスタN6のコレクタ電流より小
さいと、その全てが第6のNPNトランジスタN6のコレク
タ電流として吸い込まれ、受光検出出力用の第7のNPN
トランジスタN7はオフ状態である。これに対して、第2
のカレントミラー回路CM2の出力電流が、第6のNPNトラ
ンジスタN6のコレクタ電流よりも大きくなって受光検出
出力用の第7のNPNトランジスタN7にオン動作に必要な
ベース電流を流し始めると、第7のNPNトランジスタN7
はオン状態になる。このように検出電流閾値設定回路41
の動作によって、受光検出出力用の第7のNPNトランジ
スタN7のオン動作に必要なベース電流(閾値)を設定す
ることが可能になり、受光検出出力のオン/オフの切替
えが鋭くなる。
なお、上記各実施例においては、光電流増幅回路に低
電源電圧を供給すると共に、フォトダイオード5の光電
流出力を少なくとも1つのカレントミラー回路を含む光
電流増幅回路により増幅しているが、光電流増幅回路に
上記実施例と同様に低電源電圧を供給することと、少な
くとも1つのカレントミラー回路を含む光電流増幅回路
により増幅実施することを、別々に実施してもよい。
[発明の効果] 上述したように本発明によれば、低電源電圧下での使
用が可能になって低消費電力化が可能になり、および/
あるいは、受光感度のばらつきが小さくなる受光半導体
集積回路を実現できる。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明の受光半導体集積回路の一応用例である
フォトインタラプタを示す回路図、第2図は本発明の受
光半導体集積回路の一実施例を示す回路図、第3図およ
び第4図はそれぞれ本発明の受光半導体集積回路の他の
実施例を示す回路図、第5図および第6図はそれぞれ従
来のフォトインタラプタを示す回路図である。 4……発光ダイオード、5……フォトダイオード、6…
…受光半導体集積回路、21……Vcc電源端子、22……接
地電位端子、23……受光検出出力端子、P1〜P4……PNP
トランジスタ、N1〜N7……NPNトランジスタ、CM1〜CM5
……カレントミラー回路。

Claims (2)

    (57)【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】発光ダイオードの発光出力を受光すべく、
    アノードが低電位側の電源端子に接続されたフォトダオ
    ードと、 このフォトダイオードのカソードにベースが接続され、
    かつエミッタが高電位側の電源端子に接続された第1の
    PNPトランジスタと、 この第1のPNPトランジスタと前記低電位側の電源端子
    との間に直列に接続され、かつコレクタ・ベース相互が
    接続された第1のNPNトランジスタと、 この第1のNPNトランジスタのベースにベースが接続さ
    れ、かつエミッタが前記低電位側の電源端子に接続され
    て、前記第1のNPNトランジスタとで第1のカレントミ
    ラー回路を構成する第2のNPNトランジスタと、 この第2のNPNトランジスタと前記高電位側の電源端子
    との間に直列に接続され、かつコレクタ・ベース相互が
    接続された第2のPNPトランジスタと、 この第2のPNPトランジスタのベースにベースが接続さ
    れ、かつエミッタが前記高電位側の電源端子に接続され
    て、前記第2のPNPトランジスタとで第2のカレントミ
    ラー回路を構成する第3のPNPトランジスタと、 前記高電位側の電源端子と前記低電位側の電源端子との
    間に抵抗を介して直列に接続され、かつコレクタ・ベー
    ス相互が接続された第5のNPNトランジスタと、 前記第3のPNPトランジスタと前記低電位側の電源端子
    との間に直列に接続され、かつベースが前記第5のNPN
    トランジスタのベースに接続された第6のNPNトランジ
    スタと、 この第6のNPNトランジスタと前記第3のPNPトランジス
    タとの接続点にベースが接続され、かつ前記低電位側の
    電源端子と出力端子との間に直列に接続された第7のNP
    Nトランジスタとを具備し、 前記高電位側の電源端子と前記低電位側の電源端子との
    間に接続された、前記抵抗と、前記第5のNPNトランジ
    スタおよび前記第6のNPNトランジスタとで構成される
    検出電流閾値設定回路の動作によって、前記第7のNPN
    トランジスタのオン動作に必要な閾値を設定するように
    したことを特徴とする受光半導体集積回路。
  2. 【請求項2】前記第1のカレントミラー回路における、
    前記第1のNPNトランジスタと前記第2のNPNトランジス
    タとのエミッタ面積比、前記第2のカレントミラー回路
    における、前記第2のPNPトランジスタと前記第3のPNP
    トランジスタとのエミッタ面積比、および前記第5のNP
    Nトランジスタと前記第6のNPNトランジスタとのエミッ
    タ面積比はいずれも1対1とされていることを特徴とす
    る請求項1に記載の受光半導体集積回路。
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