JP2607476B2 - 光磁気記録方法 - Google Patents

光磁気記録方法

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【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 本発明はレーザ光を用いて情報の記録・再生・消去を
行う光磁気記録に係わり、特に小さなバイアス磁界で記
録再生するのに好適な光磁気記録媒体に関する。
〔従来の技術〕
高密度,大容量,情報の任意読み出し,書き換え等が
可能な光磁気記録は、膜面に垂直な方向に磁化容易軸の
ある磁性薄膜(垂直磁化膜)が用いられ、光ビームによ
つて、同時にバイアス磁界を印加することにより、任意
の位置に反転磁区を作ることによつて、それらの磁化の
向きに対応して、“1",“0"の2値情報が記録される。
一方かかる反転記録を行つた2値信号の読み出しは、通
常ポーラー・カー効果あるいはフアラデー効果を利用し
て行う。また該記録を消去する場合は、レーザー光を記
録部に照射し、同時に記録の場合とは反対方向にバイア
ス磁界を印加して、反転磁区を消すことにより消去する
(例えば特開昭56−61031号等)。
〔発明が解決しようとする問題点〕
従つて、光磁気記録方式では、従来の消去が不可能な
光デイスクと比較して、外部磁界を印加する必要があ
り、このことが光磁気記録装置の小型化への大きな障害
となつている。特に、従来の記録消去の最適外部磁界は
3000e以上であり、そのため外部磁界発生のマグネツト
が大きくなつたり、また記録媒体表面の温度がマグネツ
トの熱により高温に上昇し、記録媒体の寿命を著しく劣
化させる等々の問題を有していた。
本発明の目的は、小さなバイアス磁界で記録・再生す
るのに公的な光磁気記録媒体を提供することにある。
〔問題点を解決するための手段〕
かかる記録媒体を得るには、例えば第1図に示すよう
に、実質的に補償点書きこみ(初期磁化の方向と同じ方
向にバイアス磁場を印加することにより書き込むもの
で、補償温度が室温以上に設定されるもの)の膜面上に
誘導体膜を介して、垂直磁化膜を配設した多層膜媒体を
形成すれば目的を達成出来る。すなわち本願発明では、
光学的に透明な基板と、基板上に形成された干渉膜と、
干渉膜の上に形成された補償点書き込みを行うための室
温以上の補償温度を有する希土類−鉄系非晶質硬磁性記
録膜と、希土類−鉄系非晶質硬磁性記録膜の上に形成さ
れた誘電体膜と、誘電体膜の上に形成されたCoを含有す
る金属垂直磁化膜から構成される光磁気記録媒体、およ
び、バイアス磁界を印加する外部バイアス手段を用い、
希土類−鉄系非晶質硬磁性記録膜と金属垂直磁化膜を同
じ方向に初期磁化しておき、金属磁化膜の磁化により希
土類−鉄系非晶質硬磁性記録膜の初期磁化方向と同じ向
きのバイアス磁界を希土類−鉄系非晶質硬磁性記録膜に
作用せしめるとともに、光ビームの照射により希土類−
鉄系非晶質硬磁性記録膜を補償温度以上に加熱し、もっ
て記録を行う。
〔作用〕
本発明の媒体構成では、初期磁化で第1図(a)に示
すように、二つの垂直磁化膜層を同じ方向に磁化してお
く(矢印方向)。補償点書き込み膜では、記録時は初期
磁化と同じ方向にバイアス磁界を印加することにより書
き込みが行われることから、本発明の媒体構造では、記
録膜上の垂直磁化膜の磁化により、バイアス磁界がより
効果的に記録膜上に作用し、そのため小さなバイアス磁
界でも十分書き込みが行えるようになる。記録膜上に反
転磁区が形成されると、その箇所の転写により上部の垂
直磁化膜上にも第1図(b)に示すように、反転磁区が
形成される。消去はバイアス磁界を記録時と反対方向に
印加した行うことから、上記反転磁区を形成した第二の
垂直磁化膜の磁化は、消去でのバイアス磁界を強めるよ
うに作用し、小さなバイアス磁界で消去出来る。
小さなバイアス磁界で記録・再生出来る記録媒体を作
成することにより、マグネツトの温度上昇を抑えて、そ
の熱輻射による記録膜面上の温度上昇を大巾に抑え、光
磁気記録媒体の寿命を著しく向上することが出来る。ま
た小さなバイアス磁界で良いため、マグネツトの大きさ
を小さくすることが出来、装置を小型化することが出来
る利点を有している。
また、希土類−鉄族系非晶質記録膜と第二の、例えば
金属垂直磁化膜の間に誘電体膜を設けているがこれは記
録感度を損わないようにするためである。すなわち、記
録膜上に直接第二の金属垂直磁化膜を配設すると、その
熱伝導の効果により、熱磁気記録での温度上昇が著しく
抑えられ、その結果記録感度が著しく劣化する。
さらに磁化膜に、例えば高耐食性を示すCo−Cr,Co−N
i−P等の垂直磁化膜を用いると、耐食性,耐酸化性の
悪い希土類−鉄族系非晶質膜を保護する効果を生じ、記
録媒体の寿命を著しく向上させることが出来る。また希
土類−鉄族系非晶質記録膜の保磁力は、書き込み反転磁
区を安定に存在させるため高保磁力にする必要がある。
〔実施例〕
以下、本発明を実施例を用いて説明する。
直径120mmのガラス基板上1に、Arガス圧5×10-3Tor
rのもとで、マグネトロンスパツタ法でSiO(膜圧1000
Å)2,Tb25Fe70Co5非晶質膜(膜圧1000Å)3,SiO2(膜
圧200Å)4,CoCr膜(膜圧1000Å)5の順に形成した本
発明の多層膜光磁気デイスクと、同じガラス基板上に従
来の構成でSiO2(膜圧1000Å),Tb25Fe70Co5非晶質膜
(膜圧1000Å),SiO2(膜圧1000Å)の順に形成した多
層膜光磁気デイスクを作成した。
これらのデイスクを用いて、半導体レーザ(波長λ=
822nm)で、回転数1800rpm,測定帯域Δf=30KHz,測定
周波数=1MHzの条件のもとに、バイアス磁界Hexを変
化させながら記録して、その再生出力Cを測定した。そ
の結果を第2図に示す。図から明らかなように、本発明
のデイスクは、従来デイスクと比べて、記録感度を損な
わずに、より小さなバイアス磁界で書き込みが出来、よ
り大きな再生出力が得られることがわかる。また消去磁
界も従来デイスクと比べて1/3〜1/2の磁界で消去出来る
ことがわかつた。
〔発明の効果〕
以上の説明から明らかなように、本発明の誘電体膜を
介して、記録膜と第2図の垂直磁化膜を配設した光磁気
デイスクは、小さなバイアス磁界で書き込みと消去が出
来ることから、バイアス磁界を発生させるマグネツトを
小さくすることが出来、装置をより小型化出来る。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明の一実施例の多層膜デイスク媒体の断面
図、第2図は光磁気デイスクの再生出力対バイアス磁界
の線図である。 1……透明基板、2……干渉膜、3……希土類−鉄族系
非晶質膜、4……誘電体膜、5……垂直磁化膜、6……
ガラス/SiO/TbFeCo/SiO2/CoCrデイスク、7……ガラス/
SiO/TbFeCo/SiO2デイスク。
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 太田 憲雄 国分寺市東恋ヶ窪1丁目280番地 株式 会社日立製作所中央研究所内 (56)参考文献 特開 昭59−148163(JP,A) 特開 昭60−151853(JP,A) 特開 昭59−60746(JP,A) 特開 昭58−108045(JP,A) 特開 昭62−154347(JP,A)

Claims (1)

    (57)【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】光学的に透明な基板と、該基板上に形成さ
    れた干渉膜と、該干渉膜の上に形成された補償点書き込
    みを行うための室温以上の補償温度を有する希土類−鉄
    系非晶質硬磁性記録膜と、該希土類−鉄系非晶質硬磁性
    記録膜の上に形成された誘電体膜と、該誘電体膜の上に
    形成されたCoを含有する金属垂直磁化膜から構成される
    光磁気記録媒体、および、バイアス磁界を印加する外部
    バイアス手段を用い、上記希土類−鉄系非晶質硬磁性記
    録膜と金属垂直磁化膜を同じ方向に初期磁化しておき、
    上記金属磁化膜の磁化により上記希土類−鉄系非晶質硬
    磁性記録膜の初期磁化方向と同じ向きの上記バイアス磁
    界を上記希土類−鉄系非晶質硬磁性記録膜に作用せしめ
    るとともに、光ビームの照射により上記希土類−鉄系非
    晶質硬磁性記録膜を補償温度以上に加熱し、もって記録
    を行うことを特徴とする光磁気記録方法。
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* Cited by examiner, † Cited by third party
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JPS5960746A (ja) * 1982-09-30 1984-04-06 Ricoh Co Ltd 光磁気記録媒体
JPS59148163A (ja) * 1983-02-14 1984-08-24 Seiko Instr & Electronics Ltd 光磁気デイスク
JPS60151853A (ja) * 1984-01-20 1985-08-09 Canon Inc 光磁気記録媒体
JPH0695404B2 (ja) * 1985-12-27 1994-11-24 ソニー株式会社 光磁気記録方法

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