JP2603951Y2 - インサーキットテスト用プローブ - Google Patents
インサーキットテスト用プローブInfo
- Publication number
- JP2603951Y2 JP2603951Y2 JP1993077091U JP7709193U JP2603951Y2 JP 2603951 Y2 JP2603951 Y2 JP 2603951Y2 JP 1993077091 U JP1993077091 U JP 1993077091U JP 7709193 U JP7709193 U JP 7709193U JP 2603951 Y2 JP2603951 Y2 JP 2603951Y2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- probe
- contact head
- plunger
- probe body
- contact
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired - Lifetime
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- Measuring Leads Or Probes (AREA)
Description
【０００１】
【産業上の利用分野】本考案は、インサーキットテスト
用プローブに関する。
用プローブに関する。
【０００２】
【従来の技術】一般に、ＩＣや抵抗素子等の部品を実装
したプリント基板（以下、実装プリント基板という）に
ついて、実装された各部品が正しく機能するか、あるい
は正しい回路接続がなされているか等を検査するため
に、例えば、図３に示すように、多数のプローブＰを植
設したマトリックスボードＢと実装プリント基板Ｋとを
接近させて、該プローブＰの先端部のコンタクトヘッド
ｈを上記実装プリント基板Ｋの裏面のテストポイントｔ
に押圧接触せしめ、上記プローブＰを嵌挿した受筒Ｒの
下端の結線ｗを介して適宜検査装置（図示せず）によ
り、例えば、短絡テストや部品検査等を行っている。
したプリント基板（以下、実装プリント基板という）に
ついて、実装された各部品が正しく機能するか、あるい
は正しい回路接続がなされているか等を検査するため
に、例えば、図３に示すように、多数のプローブＰを植
設したマトリックスボードＢと実装プリント基板Ｋとを
接近させて、該プローブＰの先端部のコンタクトヘッド
ｈを上記実装プリント基板Ｋの裏面のテストポイントｔ
に押圧接触せしめ、上記プローブＰを嵌挿した受筒Ｒの
下端の結線ｗを介して適宜検査装置（図示せず）によ
り、例えば、短絡テストや部品検査等を行っている。
【０００３】上記プローブＰは、図４に示すように、主
として、底部が閉じた筒状のプローブ本体１と、該プロ
ーブ本体１内を軸方向に往復移動するように嵌挿され、
先端部にコンタクトヘッド２ａを有するプランジャー２
と、上記プローブ本体１内に収納され、該プランジャー
２をプローブ本体１内から弾性的に押し出してそのコン
タクトヘッド２ａを実装プリント基板のテストポイント
に押圧接触せしめる圧縮スプリング３とから構成され
る。従って、上記コンタクトヘッド２ａとテストポイン
トとの接触は、上記圧縮スプリング３による弾性的な接
触となる。
として、底部が閉じた筒状のプローブ本体１と、該プロ
ーブ本体１内を軸方向に往復移動するように嵌挿され、
先端部にコンタクトヘッド２ａを有するプランジャー２
と、上記プローブ本体１内に収納され、該プランジャー
２をプローブ本体１内から弾性的に押し出してそのコン
タクトヘッド２ａを実装プリント基板のテストポイント
に押圧接触せしめる圧縮スプリング３とから構成され
る。従って、上記コンタクトヘッド２ａとテストポイン
トとの接触は、上記圧縮スプリング３による弾性的な接
触となる。
【０００４】ところで、上記テストポイントｔは一般的
に、ろう接により結線が行われるが、該ろう接の際にフ
ラックスを使用するため、このフラックスがテストポイ
ントｔの表面に付着して残っているだけでなく、塵や埃
も付着している。
に、ろう接により結線が行われるが、該ろう接の際にフ
ラックスを使用するため、このフラックスがテストポイ
ントｔの表面に付着して残っているだけでなく、塵や埃
も付着している。
【０００５】従って、テストポイントｔへコンタクトヘ
ッド２ａを圧接すると、上記フラックスの残りや塵等が
コンタクトヘッドｈに付着して接触不良を生じ、テスト
ミスを起こし易い等の問題点があった。
ッド２ａを圧接すると、上記フラックスの残りや塵等が
コンタクトヘッドｈに付着して接触不良を生じ、テスト
ミスを起こし易い等の問題点があった。
【０００６】このような問題点を解決するため、従来、
上記圧接の際にプローブを僅かに回転させて上記テスト
ポイントｔに傷をつけ、接触を確実にさせる方法などが
採用されていたが、この方法ではテストポイントｔ部分
を破壊させる恐れがあるだけでなり、プローブのコンタ
クトヘッドの先端を磨耗させたり変形させてしまう等の
問題点があった。
上記圧接の際にプローブを僅かに回転させて上記テスト
ポイントｔに傷をつけ、接触を確実にさせる方法などが
採用されていたが、この方法ではテストポイントｔ部分
を破壊させる恐れがあるだけでなり、プローブのコンタ
クトヘッドの先端を磨耗させたり変形させてしまう等の
問題点があった。
【０００７】
【考案が解決しようとする課題】本考案は、上記従来の
問題点を解決するためになされたもので、その目的とす
るところは、コンタクトヘッドを磨耗させたり変形させ
ることなく、これに付着するベーストや塵等を強制的に
除去して、テストポイントとの接触不良をなくすことの
できるインサーキットテスト用プローブを提供すること
にある。
問題点を解決するためになされたもので、その目的とす
るところは、コンタクトヘッドを磨耗させたり変形させ
ることなく、これに付着するベーストや塵等を強制的に
除去して、テストポイントとの接触不良をなくすことの
できるインサーキットテスト用プローブを提供すること
にある。
【０００８】
【課題を解決するための手段】本考案のインサーキット
テスト用プローブは、底部が閉じた筒状のプローブ本体
と、該プローブ本体内を軸方向に往復移動するように嵌
挿され、先端部にコンタクトヘッドを有するプランジャ
ーと、上記プローブ本体内に収納され、該プランジャー
をプローブ本体内から弾性的に押し出してそのコンタク
トヘッドを実装プリント基板のテストポイントに押圧接
触せしめる圧縮スプリングとから成るインサーキットテ
スト用プローブにおいて、上記プランジャー内に軸方向
に通気孔を穿設して上記コンタクトヘッドのコンタクト
面に空気吹出口を開口せしめたことを特徴とする。
テスト用プローブは、底部が閉じた筒状のプローブ本体
と、該プローブ本体内を軸方向に往復移動するように嵌
挿され、先端部にコンタクトヘッドを有するプランジャ
ーと、上記プローブ本体内に収納され、該プランジャー
をプローブ本体内から弾性的に押し出してそのコンタク
トヘッドを実装プリント基板のテストポイントに押圧接
触せしめる圧縮スプリングとから成るインサーキットテ
スト用プローブにおいて、上記プランジャー内に軸方向
に通気孔を穿設して上記コンタクトヘッドのコンタクト
面に空気吹出口を開口せしめたことを特徴とする。
【０００９】
【実施例】以下、本考案の一実施例について図面を参照
しながら説明する。図１はプローブの断面を示すもので
あって、主として、プローブボディ１と、プランジャー
２と、圧縮スプリング３から構成されている。
しながら説明する。図１はプローブの断面を示すもので
あって、主として、プローブボディ１と、プランジャー
２と、圧縮スプリング３から構成されている。
【００１０】上記プローブボディ１は細長い筒体からな
り、途中に括れ部１ａが形成されていると共に、上端部
は開口し、下端部は閉じた底部１ｂとなっている。該プ
ローブボディ１は、例えば、前記マトリックスボードＢ
に固定される受筒Ｒに嵌挿し取り付けられる。
り、途中に括れ部１ａが形成されていると共に、上端部
は開口し、下端部は閉じた底部１ｂとなっている。該プ
ローブボディ１は、例えば、前記マトリックスボードＢ
に固定される受筒Ｒに嵌挿し取り付けられる。
【００１１】上記プランジャー２は、上端部にコンタク
トヘッド２ａを有する。該コンタクトヘッド２ａの先端
面の形状は、上記テストポイントｔの形態や目的とする
接触態様に応じて各種のものがある。図２は、その一例
を示す。
トヘッド２ａを有する。該コンタクトヘッド２ａの先端
面の形状は、上記テストポイントｔの形態や目的とする
接触態様に応じて各種のものがある。図２は、その一例
を示す。
【００１２】上記プランジャー２は、上記プローブボデ
ィ１の上端部の開口から差し込まれて、軸方向に摺動可
能に取り付けられる。該プランジャー２は途中が中細部
２ｂとなっていて、上記プローブボディ１の括れ部１ａ
内を挿通できるようになっている。該中細部２ｂの先端
には、膨径の係止部２ｃが形成されていて、上記括れ部
１ａに係止され、プランジャー２がプローブボディ１か
ら抜け出ないようになっている。
ィ１の上端部の開口から差し込まれて、軸方向に摺動可
能に取り付けられる。該プランジャー２は途中が中細部
２ｂとなっていて、上記プローブボディ１の括れ部１ａ
内を挿通できるようになっている。該中細部２ｂの先端
には、膨径の係止部２ｃが形成されていて、上記括れ部
１ａに係止され、プランジャー２がプローブボディ１か
ら抜け出ないようになっている。
【００１３】上記プランジャー２の内部には、その軸方
向に通気孔２ｄが穿設されていて、プランジャー２の上
下端部で開口している。上端部の開口は、上記コンタク
トヘッド２ａの前端面に開口した空気吹出口２ｄ′とな
っている。
向に通気孔２ｄが穿設されていて、プランジャー２の上
下端部で開口している。上端部の開口は、上記コンタク
トヘッド２ａの前端面に開口した空気吹出口２ｄ′とな
っている。
【００１４】上記圧縮スプリング３は、上記プローブボ
ディ１の底部１ｂと、上記プランジャー２の下端部の係
止部２ｃとの間にセットされ、該プランジャー２をプロ
ーブボディ１から弾性的に押し出すようにしている。
ディ１の底部１ｂと、上記プランジャー２の下端部の係
止部２ｃとの間にセットされ、該プランジャー２をプロ
ーブボディ１から弾性的に押し出すようにしている。
【００１５】本実施例のプローブは以上のように構成さ
れているので、マトリックスボードと実装プリント基板
とを接近させて、コンタクトヘッド２ａを押し下げる
と、プランジャー２は、図１（Ａ）に示す状態から図１
（Ｂ）に示すように、圧縮スプリング３に抗してプロー
ブボディ１内に押し込まれる。
れているので、マトリックスボードと実装プリント基板
とを接近させて、コンタクトヘッド２ａを押し下げる
と、プランジャー２は、図１（Ａ）に示す状態から図１
（Ｂ）に示すように、圧縮スプリング３に抗してプロー
ブボディ１内に押し込まれる。
【００１６】プランジャー２が押し込まれると、圧縮ス
プリング３が収容されているプローブボディ１内の空気
が、上記通気孔２ｄを通って上記コンタクトヘッド２ａ
の空気吹出口２ｄ′から吹き出す。この空気の吹き出し
作用により、コンタクトヘッド２ａの表面に付着してい
るフラックスや塵等が吹き飛ばされて、清掃される。
プリング３が収容されているプローブボディ１内の空気
が、上記通気孔２ｄを通って上記コンタクトヘッド２ａ
の空気吹出口２ｄ′から吹き出す。この空気の吹き出し
作用により、コンタクトヘッド２ａの表面に付着してい
るフラックスや塵等が吹き飛ばされて、清掃される。
【００１７】
【考案の効果】底部が閉じた筒状のプローブ本体と、該
プローブ本体内を軸方向に往復移動するように嵌挿さ
れ、先端部にコンタクトヘッドを有するプランジャー
と、上記プローブ本体内に収納され、該プランジャーを
プローブ本体内から弾性的に押し出してそのコンタクト
ヘッドを実装プリント基板のテストポイントに押圧接触
せしめる圧縮スプリングとから成るインサーキットテス
ト用プローブにおいて、上記プランジャー内に軸方向に
通気孔を穿設して上記コンタクトヘッドのコンタクト面
に空気吹出口を開口せしめたので、コンタクトヘッドを
磨耗させたり変形させることなく、これに付着するペー
ストや塵等を強制的に除去して、テストポイントとの接
触不良をなくすことのできる。
プローブ本体内を軸方向に往復移動するように嵌挿さ
れ、先端部にコンタクトヘッドを有するプランジャー
と、上記プローブ本体内に収納され、該プランジャーを
プローブ本体内から弾性的に押し出してそのコンタクト
ヘッドを実装プリント基板のテストポイントに押圧接触
せしめる圧縮スプリングとから成るインサーキットテス
ト用プローブにおいて、上記プランジャー内に軸方向に
通気孔を穿設して上記コンタクトヘッドのコンタクト面
に空気吹出口を開口せしめたので、コンタクトヘッドを
磨耗させたり変形させることなく、これに付着するペー
ストや塵等を強制的に除去して、テストポイントとの接
触不良をなくすことのできる。
【図１】本考案のプローブの一実施例を示す断面図
（Ａ）、プランジャーが押し込まれた状態の断面図
（Ｂ）である。
（Ａ）、プランジャーが押し込まれた状態の断面図
（Ｂ）である。
【図２】コンタクトヘッドの一例を示す斜視図である。
【図３】プローブによる検査状態を示す要部説明図であ
る。
る。
【図４】従来のプローブを示す部分断面図である。
１ プローブボディ １ａ 括れ部 １ｂ 底部 ２ プランジャー ２ａ コンタクトヘッド ２ｂ 中細部 ２ｃ 係止部 ２ｄ 通気孔 ２ｄ′ 空気吹出口 Ｂ マトリックスボード ｈ コンタクトヘッド Ｋ 実装プリント基板 Ｐ プランジャー Ｒ 受筒 ｔ テストポイント ｗ ワイヤー
Claims (1)
- 【請求項１】 底部が閉じた筒状のプローブ本体と、該
プローブ本体内を軸方向に往復移動するように嵌挿さ
れ、先端部にコンタクトヘッドを有するプランジャー
と、上記プローブ本体内に収納され、該プランジャーを
プローブ本体内から弾性的に押し出してそのコンタクト
ヘッドを実装プリント基板のテストポイントに押圧接触
せしめる圧縮スプリングとから成るインサーキットテス
ト用プローブにおいて、上記プランジャー内に軸方向に
通気孔を穿設して上記コンタクトヘッドのコンタクト面
に空気吹出口を開口せしめたことを特徴とするインサー
キットテスト用プローブ。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1993077091U JP2603951Y2 (ja) | 1993-12-28 | 1993-12-28 | インサーキットテスト用プローブ |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1993077091U JP2603951Y2 (ja) | 1993-12-28 | 1993-12-28 | インサーキットテスト用プローブ |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0743688U JPH0743688U (ja) | 1995-09-05 |
| JP2603951Y2 true JP2603951Y2 (ja) | 2000-04-04 |
Family
ID=13624117
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP1993077091U Expired - Lifetime JP2603951Y2 (ja) | 1993-12-28 | 1993-12-28 | インサーキットテスト用プローブ |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP2603951Y2 (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| KR200449392Y1 (ko) | 2007-09-11 | 2010-07-07 | 주식회사 파워트론 | 프로브 핀의 형상 및 이의 체결 구조 |
Families Citing this family (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP4695337B2 (ja) * | 2004-02-04 | 2011-06-08 | 日本発條株式会社 | 導電性接触子および導電性接触子ユニット |
-
1993
- 1993-12-28 JP JP1993077091U patent/JP2603951Y2/ja not_active Expired - Lifetime
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| KR200449392Y1 (ko) | 2007-09-11 | 2010-07-07 | 주식회사 파워트론 | 프로브 핀의 형상 및 이의 체결 구조 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH0743688U (ja) | 1995-09-05 |
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