JPS6213027Y2 - - Google Patents

Description

【考案の詳細な説明】 本考案は新規なプリント基板検査装置に関す
る。特に、適当な検査回路に接続された接触ピン
をプリント基板上に形成された導体箔パターン等
に接触させて、導体箔パターンの接続状態等、当
該プリント基板が正しく形成されたか否かを検査
するものであつて、接触ピンを導体箔パターン等
に確実に接触させるようにして、検査ミスを無く
すようにした新規なプリント基板検査装置を提供
しようとするものである。

第１図及び第２図は従来のプリント基板検査装
置の一例ａを示すものである。ｂはフレーム体
で、例えばエアシリンダｃのような駆動機構によ
つて矢印で示す方向に往復移動されるようになつ
ている。フレーム体ｂの先端部には絶縁材料から
成る保持ブロツクｄが設けられており、この保持
ブロツクｄに複数の接触ピンｅ，ｅ，…がスライ
ド自在に保持されている。そして、フレーム体ｂ
が被検プリント基板ｆの方へ向つて移動される
と、接触ピンｅ，ｅ，…の先端が被検プリント基
板ｆの所定の導体箔パターンｇ等と接触され、従
つて、各接触ピンｅ，ｅ，…が接続されている検
査回路ｈによつて被検プリント基板ｆ上の導体箔
パターンの通電状態等が検査されるようになつて
いる。

上記のようなプリント基板検査装置ａにあつて
は、接触ピンｅ，ｅ…は、保持ブロツクｄに固定
されたスリーブｉ内に配設されたスプリングｊに
よつて、被検プリント基板ｆ上の導体箔パターン
ｇ等に圧接せしめられるようにはなつているが、
時として、被検プリント基板ｆ上の接触部に半田
付時に付着したフラツクスとかその他の異物が付
着していることがあり、このような場合は、単に
接触ピンｅ，ｅが被検プリント基板ｆに圧接され
るだけでは、フラツクス等に遮られて、接触ピン
ｅ，ｅが導体箔パターンｇ等と接触できない事態
が生ずることがあり、ために、正しい検査を行う
ことができないということがあつた。

そこで、本考案は上記した従来の欠点に鑑みて
成されたもので、接触ピンがフラツクス等を破壊
して導体箔パターン等と直接に接触することがで
きるようにした新規なプリント基板検査装置を提
供しようとするもので、保持体にスライド自在に
支持された接触ピンと、別の保持体にスライド自
在に保持されかつ弾発手段により接触ピンの基端
方向に向つて弾発付勢されたハンマーピンと、ハ
ンマーピンに関連された弾発手段の弾発力を蓄え
ておきかつ一瞬に開放する弾発力制御手段とを備
えたことを特徴とする。

以下に本考案に係るプリント基板検査装置の詳
細を図示した実施例に従つて説明する。

第３図及び第４図は本考案プリント基板検査装
置の実施の一例１を示すものである。

２はフレーム体であり、エアシリンダ３のピス
トンロツド４の先端に固着されており、適当な治
具に保持された被検プリント基板ｆに対して、実
線矢印で示すように、接離方向に移動されるよう
になつている。

５はフレーム体２の先端部、即ち被検プリント
基板ｆに対向する側の端に保持された保持ブロツ
クであり、適当な絶縁材料から成り、この保持ブ
ロツク５に複数の接触ピン６，６，…がスライド
自在に保持されている。７，７，…は保持体５に
それを厚み方向に貫通して設けられた孔８（接触
ピン６の数だけ設けられている。）に嵌挿固定さ
れたスリーブである。接触ピン６は導電性材料で
形成され針状主部９の基端部にブロツク状の頭部
１０が一体に形成されて成る。そして、このよう
な接触ピン６，６…はその針状の主部９，９…が
保持ブロツク５に固着されたスリーブ７，７，…
に保持ブロツク５の上側、即ち、被検プリント基
板ｆに対向される側と反対の側から挿通されてい
る。このようにして、複数の接触ピン６，６，…
が保持ブロツク５にスライド自在に保持されるこ
とになる。

１１は別の保持ブロツクで、これも絶縁材料か
ら成り、前記保持ブロツク５の上方でフレーム体
２に固定されている。そして、この保持ブロツク
１１には前述の接触ピン６，６，…に対応した箇
所にハンマーピン１２，１２，…がスライド自在
に保持されている。ハンマーピン１２は先端部の
ハンマー部１３と後端部のフランジ１４とが細径
部１５によつて連結された形をしている。保持ブ
ロツク１１にはハンマーピン１２，１２，…の数
に応じた数の挿通孔１６（１つのみ図示してあ
る。）が形成されており、この挿通孔１６に上端
部に内方へ突出したフランジ１７を有するスリー
ブ１８，１８，…が嵌挿固定されている。そし
て、これらスリーブ１８，１８，…にハンマーピ
ン１２，１２，…が、フランジ１４，１４，…が
スリーブ１８，１８，…の上端から突出し、ハン
マー部１３，１３，…が接触ピン６，６，…の頭
部１０，１０，…と対抗するようにして、挿通さ
れている。尚、この実施例では、ハンマー部１３
の外径はスリーブ１８の内径よりやや小さくなる
ように形成されている。尚、ハンマーピン１２
を、このようにしてスリーブ１８に挿通するに
は、実際上はハンマーピン１２を、例えばフラン
ジ１４とそれ以外の部分というように、２つの部
分に分けて形成し、細径部をスリーブ１８のフラ
ンジ１７部分を通過させてから、これにフランジ
１４を螺合結合等の適宜な手段によつて結合する
ようにしておくことが必要である。そして、ハン
マーピン１２のフランジ１４がスリーブ１８のフ
ランジ１７と係合し、これによつて、ハンマーピ
ン１２が保持ブロツク１１から脱落することが防
止される。１９はコイルスプリングであり、ハン
マーピン１２の細径部１５に外嵌され、スリーブ
１８のフランジ１７とハンマーピン１２のハンマ
ー部１３上端面との間で圧縮され、ハンマーピン
１２を常にそれに対応した接触ピン６の方へ押圧
しているようになつている。尚、このようなスプ
リング１９はそれが図示されているもの以外の他
のハンマーピン１２，１２，…に関しても設けら
れている。

２０は第１の保持ブロツク５と第２の保持ブロ
ツク１１との間に配置され、かつ、フレーム体２
の移動方向と垂直な方向に往復移動されるように
されたストツパー板である。２１はエアシリンダ
で、そのピストンロツド２２の先端がストツパー
板２０の一端に連接されており、このエアシリン
ダ２１によつてストツパー板２０が前述のように
移動されるようになつている。そして、このスト
ツパー板２０には、前記ハンマーピン１２，１
２，…のハンマー部１３，１３，…が挿通される
複数の孔２３，２３，…が形成されている。２４
はフレーム体２に形成された切欠であり、この切
欠２４を通して、シリンダ２１のピストンロツド
２２がフレーム体２内に向つて延びている。

尚、図示していないが、接触ピン６，６，…は
適当な検査回路に接続されている。

次に、上記の如きプリント基板検査装置の使用
方法を第４図によつて説明する。

先ず、第４図ａに示すように、被検プリント基
板ｆを所定の箇所にセツトし、また、ストツパー
板２０を第３図に示すような状態にして、その穴
２３，２３，…とハンマーピン１２，１２，…と
が位置的にずれるようにしておく。その状態で、
フレーム体２を被検プリント基板ｆの方へ向つて
移動せしめると、接触ピン６，６，…の先端が被
検プリント基板ｆの所定の箇所と接触され、か
つ、被検プリント基板ｆに押されて、その頭部１
０が保持ブロツク５からやや浮き上がる（第４図
Ｂ参照）。それと同時に、ハンマーピン１２，１
２，…もストツパー板２１によつてその移動を遮
ぎられるため保持ブロツク１１に対して上方へ移
動され、それによつて、コイルスプリング１９，
１９，…がより一層圧縮され、その弾発力が蓄え
られる。その状態から、スライド板２０を図にお
いて右側の方へ移動させて、その孔２３，２３，
…の位置が、ハンマーピン１２，１２，…の位置
と一致するとうにする。すると、第４図Ｂの状態
で蓄えられたスプリング１９，１９，…の弾発力
が瞬間的に開放され、そして、その弾発力によつ
てハンマーピン１２，１２，…のハンマー部１
３，１３，…が接触ピン６，６，…の頭部１０，
１０，…に勢い良く衝突せしめられる（第４図Ｃ
参照）。従つて、その衝突力が接触ピン６，６，
…の先端に伝わり、依つて、接触ピン６，６，…
の接触箇所にフラツクス等の異物があつた場合で
も、接触ピン６，６，…の先端がこれら異物を破
壊して、被検プリント基板ｆの所定箇所に確実に
接触することができる。尚、第４図Ｃの状態で、
接触ピン６，６，…はハンマーピンに付設された
スプリング１９，１９，…によつて被検プリント
基板ｆに押圧せしめられる。

以上に記載したところから明らかなように、本
考案プリント基板検査装置にあつては、保持体に
スライド自在な接触ピンの他に別の保持体にスラ
イド自在なハンマーピンを設け、このハンマーピ
ンに関連された弾発手段の弾発力を蓄えかつこれ
を一瞬に開放することによつて、ハンマーピンを
接触ピンに衝突させて、これによつて接触ピンの
先端に衝突力を付与するようにしたので、接触さ
れるべき箇所にフラツクス等の異物が付着してい
ても、これらを破壊して、その下にある導体箔パ
ターン等と確実に接触することができ、接触不良
による誤検査を無くすことができる。

尚、上記実施例においてはハンンマーピンを挿
通する孔を有するスライド板により弾発力の蓄積
と解除とを行なつたが、例えばソレノイドを用い
る等、その他の適当な手段によつても良い。

【図面の簡単な説明】

第１図及び第２図は従来のプリント基板検査装
置の一例を示し、第１図は側面図、第２図は接触
ピン保持部の拡大断面図、第３図及び第４図は本
考案プリント基板検査装置の実施の一例を示し、
第３図は一部を切欠いて示す側面図、第４図は動
作を示す要部の断面図である。 符号の説明、１……プリント基板検査装置、５
……保持体、６……接触ピン、１１……別の保持
体、１２……ハンマーピン、１９……弾発手段、
２０……弾発力制御手段。

Claims (1)

【実用新案登録請求の範囲】
1. 保持体にスライド自在に支持された接触ピン
   と、別の保持体にスライド自在に保持されかつ弾
   発手段により接触ピンの基端方向に向つて弾発付
   勢されたハンマーピンと、ハンマーピンに関連さ
   れた弾発手段の弾発力を蓄えておきかつ一瞬に開
   放する弾発力制御手段とを備えたことを特徴とす
   るプリント基板検査装置。