JP2603813Y2 - Ｍｒｉ装置 - Google Patents
Ｍｒｉ装置Info
- Publication number
- JP2603813Y2 JP2603813Y2 JP1993008847U JP884793U JP2603813Y2 JP 2603813 Y2 JP2603813 Y2 JP 2603813Y2 JP 1993008847 U JP1993008847 U JP 1993008847U JP 884793 U JP884793 U JP 884793U JP 2603813 Y2 JP2603813 Y2 JP 2603813Y2
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- JP
- Japan
- Prior art keywords
- magnetic field
- pulse
- echo
- gradient magnetic
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- Prior art date
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- Expired - Lifetime
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- Magnetic Resonance Imaging Apparatus (AREA)
Description
【０００１】
【産業上の利用分野】この考案は、ＭＲＩ装置に関し、
さらに詳しくは、プロトン強調イメージとＴ２強調イメ
ージとを同時に取得することが可能な ＶＥ（Variable
Echo）法のパルスシーケンスを用いるＭＲＩ装置に関す
る。
さらに詳しくは、プロトン強調イメージとＴ２強調イメ
ージとを同時に取得することが可能な ＶＥ（Variable
Echo）法のパルスシーケンスを用いるＭＲＩ装置に関す
る。
【０００２】
【従来の技術】図３は、プロトン強調イメージとＴ２強
調イメージとを同時に取得するためのＶＥ法のパルスシ
ーケンスの例示図である。このＶＥ法のパルスシーケン
スＢでは、９０゜パルスと１８０゜パルスを印加すると
共にスライス軸ＧＳ，リード軸ＧＲにそれぞれフロー補
償用の勾配ＳＦ１Ｂ，ＲＦ１Ｂを印加し、９０゜パルス
を印加してから時間τ１Ｂのタイミングで第１エコーＥ
１Ｂを結像する。
調イメージとを同時に取得するためのＶＥ法のパルスシ
ーケンスの例示図である。このＶＥ法のパルスシーケン
スＢでは、９０゜パルスと１８０゜パルスを印加すると
共にスライス軸ＧＳ，リード軸ＧＲにそれぞれフロー補
償用の勾配ＳＦ１Ｂ，ＲＦ１Ｂを印加し、９０゜パルス
を印加してから時間τ１Ｂのタイミングで第１エコーＥ
１Ｂを結像する。
【０００３】さらに、第１エコーＥ１Ｂが結像したのち
に、１８０゜パルスを印加すると共にスライス軸ＧＳ，
リード軸ＧＲにそれぞれフロー補償用の勾配ＳＦ２Ｂ，
ＲＦ２Ｂを印加し、第１エコーＥ１Ｂが結像してから時
間τ２Ｂのタイミングで第２エコーＥ２Ｂを結像する。
ただし、結像するエコーの信号強度が大きいのは、ワー
プ勾配ＷＢが低いときであり、このときはフローの影響
が少ないため、ワープ軸ＧＷにはフロー補償用の勾配を
印加していない。
に、１８０゜パルスを印加すると共にスライス軸ＧＳ，
リード軸ＧＲにそれぞれフロー補償用の勾配ＳＦ２Ｂ，
ＲＦ２Ｂを印加し、第１エコーＥ１Ｂが結像してから時
間τ２Ｂのタイミングで第２エコーＥ２Ｂを結像する。
ただし、結像するエコーの信号強度が大きいのは、ワー
プ勾配ＷＢが低いときであり、このときはフローの影響
が少ないため、ワープ軸ＧＷにはフロー補償用の勾配を
印加していない。
【０００４】なお、図中、ＴＥ１Ｂは第１エコーＥ１Ｂ
のエコー時間である。ＴＥ２Ｂは第２エコーＥ２Ｂのエ
コー時間である。また、ＴＥ１Ｂ＝τ１Ｂである。τ１
Ｂ＜τ２Ｂである。
のエコー時間である。ＴＥ２Ｂは第２エコーＥ２Ｂのエ
コー時間である。また、ＴＥ１Ｂ＝τ１Ｂである。τ１
Ｂ＜τ２Ｂである。
【０００５】こうして結像する第１エコーＥ１Ｂと第２
エコーＥ２Ｂとについてデータ収集し、第１エコーＥ１
Ｂのデータに基づいてショートＴＥのプロトン強調イメ
ージを取得し，第２エコーＥ２Ｂのデータに基づいてロ
ングＴＥのＴ２強調イメージを取得する。
エコーＥ２Ｂとについてデータ収集し、第１エコーＥ１
Ｂのデータに基づいてショートＴＥのプロトン強調イメ
ージを取得し，第２エコーＥ２Ｂのデータに基づいてロ
ングＴＥのＴ２強調イメージを取得する。
【０００６】
【考案が解決しようとする課題】上記ＶＥ法のパルスシ
ーケンスＢを用いる従来のＭＲＩ装置では、スライス軸
ＧＳ，リード軸ＧＲのそれぞれにフロー補償用の勾配Ｓ
Ｆ１Ｂ，ＲＦ１Ｂを印加しているので、エコー時間ＴＥ
１Ｂを短縮しにくくなっている。このため、ショートＴ
Ｅの良好なプロトン強調イメージを取得しにくくなって
いる。また、ワープ勾配ＷＢによるフローの影響が、比
較的に長いエコー時間ＴＥ２Ｂにより助長されて、Ｔ２
強調イメージ上にアーチファクトを発生させてしまうこ
とがある。そこで、この考案の目的は、良好なプロトン
強調イメージと好適にフロー補償されたＴ２強調イメー
ジとを同時に取得することが出来るＭＲＩ装置を提供す
ることにある。
ーケンスＢを用いる従来のＭＲＩ装置では、スライス軸
ＧＳ，リード軸ＧＲのそれぞれにフロー補償用の勾配Ｓ
Ｆ１Ｂ，ＲＦ１Ｂを印加しているので、エコー時間ＴＥ
１Ｂを短縮しにくくなっている。このため、ショートＴ
Ｅの良好なプロトン強調イメージを取得しにくくなって
いる。また、ワープ勾配ＷＢによるフローの影響が、比
較的に長いエコー時間ＴＥ２Ｂにより助長されて、Ｔ２
強調イメージ上にアーチファクトを発生させてしまうこ
とがある。そこで、この考案の目的は、良好なプロトン
強調イメージと好適にフロー補償されたＴ２強調イメー
ジとを同時に取得することが出来るＭＲＩ装置を提供す
ることにある。
【０００７】
【課題を解決するための手段】この考案のＭＲＩ装置
は、第１エコーが結像するまでの第１の時間内と前記第
１エコーが結像してから第２エコーが結像するまでの第
２の時間内で、スライス軸，リード軸の両軸にフロー補
償用の勾配を印加し、前記第１エコーによるプロトン強
調イメージと前記第２エコーによるＴ２強調イメージと
を同時に取得することが可能なＶＥ法のパルスシーケン
スを用いるＭＲＩ装置において、第１の時間内に印加す
るフロー補償用の勾配を省いて前記第１の時間を短縮す
ると共に、第２の時間内に印加するフロー補償用の勾配
をスライス軸，リード軸の両軸に加えてワープ軸にも印
加するスキャン制御手段を具備したことを構成上の特徴
とするものである。
は、第１エコーが結像するまでの第１の時間内と前記第
１エコーが結像してから第２エコーが結像するまでの第
２の時間内で、スライス軸，リード軸の両軸にフロー補
償用の勾配を印加し、前記第１エコーによるプロトン強
調イメージと前記第２エコーによるＴ２強調イメージと
を同時に取得することが可能なＶＥ法のパルスシーケン
スを用いるＭＲＩ装置において、第１の時間内に印加す
るフロー補償用の勾配を省いて前記第１の時間を短縮す
ると共に、第２の時間内に印加するフロー補償用の勾配
をスライス軸，リード軸の両軸に加えてワープ軸にも印
加するスキャン制御手段を具備したことを構成上の特徴
とするものである。
【０００８】
【作用】この考案のＭＲＩ装置では、第１エコーが結像
するまでの第１の時間（即ち、第１エコーのエコー時
間）を、スキャン制御手段が、その第１の時間内に印加
するフロー補償用の勾配を省いて短縮する。このため、
前記第１エコーに基づいて、良好なプロトン強調イメー
ジを取得することが出来るようになる。
するまでの第１の時間（即ち、第１エコーのエコー時
間）を、スキャン制御手段が、その第１の時間内に印加
するフロー補償用の勾配を省いて短縮する。このため、
前記第１エコーに基づいて、良好なプロトン強調イメー
ジを取得することが出来るようになる。
【０００９】また、前記第１の時間と第２の時間とを合
せた比較的に長い時間（即ち、第２エコーのエコー時
間）によって、スライス軸，リード軸のフローの影響に
加えてワープ軸のフローの影響も助長されるが、スキャ
ン制御手段が、前記第２の時間内に印加するフロー補償
用の勾配をスライス軸，リード軸の両軸に加えてワープ
軸にも印加する。このため、前記第２エコーに基づい
て、ワープ軸のフローの影響まで好適にフロー補償され
たＴ２強調イメージを取得することが出来るようにな
る。
せた比較的に長い時間（即ち、第２エコーのエコー時
間）によって、スライス軸，リード軸のフローの影響に
加えてワープ軸のフローの影響も助長されるが、スキャ
ン制御手段が、前記第２の時間内に印加するフロー補償
用の勾配をスライス軸，リード軸の両軸に加えてワープ
軸にも印加する。このため、前記第２エコーに基づい
て、ワープ軸のフローの影響まで好適にフロー補償され
たＴ２強調イメージを取得することが出来るようにな
る。
【００１０】
【実施例】以下、図に示す実施例に基づいてこの考案を
さらに詳細に説明する。なお、これによりこの考案が限
定されるものではない。図１は、この考案の一実施例の
ＭＲＩ装置１のブロック図である。計算機２は、操作卓
１３からの指示に基づき、全体の作動を制御する。シー
ケンスコントローラ３は、記憶しているシーケンスに基
づいて、勾配磁場駆動回路４を作動させ、マグネットア
センブリ５の勾配磁場コイルで勾配磁場を発生させる。
また、ゲート変調回路７を制御し、ＲＦ発振回路６で発
生したＲＦパルスを所定の波形に変調して、ＲＦ電力増
幅器８からマグネットアセンブリ５の送信コイルに加え
る。
さらに詳細に説明する。なお、これによりこの考案が限
定されるものではない。図１は、この考案の一実施例の
ＭＲＩ装置１のブロック図である。計算機２は、操作卓
１３からの指示に基づき、全体の作動を制御する。シー
ケンスコントローラ３は、記憶しているシーケンスに基
づいて、勾配磁場駆動回路４を作動させ、マグネットア
センブリ５の勾配磁場コイルで勾配磁場を発生させる。
また、ゲート変調回路７を制御し、ＲＦ発振回路６で発
生したＲＦパルスを所定の波形に変調して、ＲＦ電力増
幅器８からマグネットアセンブリ５の送信コイルに加え
る。
【００１１】マグネットアセンブリ５の受信コイルで得
られたＮＭＲ信号は、前置増幅器９を介して位相検波器
１０に入力され、さらにＡＤ変換器１１を介して計算機
２に入力される。計算機２は、ＡＤ変換器１１から得た
ＮＭＲ信号のデータに基づき、イメージを再構成し、表
示装置１２で表示する。
られたＮＭＲ信号は、前置増幅器９を介して位相検波器
１０に入力され、さらにＡＤ変換器１１を介して計算機
２に入力される。計算機２は、ＡＤ変換器１１から得た
ＮＭＲ信号のデータに基づき、イメージを再構成し、表
示装置１２で表示する。
【００１２】このＭＲＩ装置１では、ユーザが操作卓１
３を用いて、取得したいイメージの種類としてプロトン
強調とＴ２強調とを指定すると、計算機２が、例えば図
２に示すようなＶＥ法のパルスシーケンスＡを作成す
る。
３を用いて、取得したいイメージの種類としてプロトン
強調とＴ２強調とを指定すると、計算機２が、例えば図
２に示すようなＶＥ法のパルスシーケンスＡを作成す
る。
【００１３】このＶＥ法のパルスシーケンスＡにおい
て、第１エコーＥ１Ａが結像するまでの時間τ１Ａ内で
は、フロー補償用の勾配が印加されないところが前記Ｖ
Ｅ法のパルスシーケンスＢと顕著に異なっており、時間
τ１Ａ＜時間τ１Ｂである。すなわち、エコー時間ＴＥ
１Ａ＜エコー時間ＴＥ１Ｂである。なお、スライス軸Ｇ
ＳのＲＰはリフェーズ勾配である。リード軸ＧＲのＤＰ
はディフェーズ勾配である。したがって、前記第１エコ
ーＥ１Ａのデータに基づいて良好なプロトン強調イメー
ジを取得することが出来る。
て、第１エコーＥ１Ａが結像するまでの時間τ１Ａ内で
は、フロー補償用の勾配が印加されないところが前記Ｖ
Ｅ法のパルスシーケンスＢと顕著に異なっており、時間
τ１Ａ＜時間τ１Ｂである。すなわち、エコー時間ＴＥ
１Ａ＜エコー時間ＴＥ１Ｂである。なお、スライス軸Ｇ
ＳのＲＰはリフェーズ勾配である。リード軸ＧＲのＤＰ
はディフェーズ勾配である。したがって、前記第１エコ
ーＥ１Ａのデータに基づいて良好なプロトン強調イメー
ジを取得することが出来る。
【００１４】また、第１エコーＥ１Ａが結像してから第
２エコーＥ２Ａが結像するまでの時間τ２Ａ内では、ス
ライス軸ＧＳ，リード軸ＧＲのそれぞれにフロー補償用
の勾配ＳＦ２Ａ，ＲＦ２Ａを印加したほかに、ワープ軸
ＧＷにもフロー補償用の勾配ＷＦ２Ａが印加されるとこ
ろが、前記ＶＥ法のパルスシーケンスＢと顕著に異なっ
ている。なお、ＴＥ２Ａは第２エコーＥ２Ａのエコー時
間である。また、τ１Ａ＜τ２Ａである。したがって、
前記第２エコーＥ２Ａのデータに基づいて、比較的に長
いエコー時間ＴＥ２Ａで助長されるワープ勾配ＷＡによ
るフローの影響まで好適にフロー補償されたＴ２強調イ
メージを取得することが出来る。
２エコーＥ２Ａが結像するまでの時間τ２Ａ内では、ス
ライス軸ＧＳ，リード軸ＧＲのそれぞれにフロー補償用
の勾配ＳＦ２Ａ，ＲＦ２Ａを印加したほかに、ワープ軸
ＧＷにもフロー補償用の勾配ＷＦ２Ａが印加されるとこ
ろが、前記ＶＥ法のパルスシーケンスＢと顕著に異なっ
ている。なお、ＴＥ２Ａは第２エコーＥ２Ａのエコー時
間である。また、τ１Ａ＜τ２Ａである。したがって、
前記第２エコーＥ２Ａのデータに基づいて、比較的に長
いエコー時間ＴＥ２Ａで助長されるワープ勾配ＷＡによ
るフローの影響まで好適にフロー補償されたＴ２強調イ
メージを取得することが出来る。
【００１５】なお、スライス軸ＧＳのフロー補償用の勾
配ＳＦ２Ａおよびリード軸ＧＲのフロー補償用の勾配Ｒ
Ｆ２Ａは、 ０次位相φx＝γ∫Ｇ（ｔ）・ｘ（ｔ）ｄｔ １次位相φv＝０ を満たすように設定される。また、ワープ軸ＧＷのフロ
ー補償用の勾配ＷＦ２Ａは、フローによる位置ズレ補償
とフロー補償のために、 ０次位相φx＝γ∫Ｇ（ｔ）・ｘ（ｔ）ｄｔ １次位相φv＝γ∫Ｇ（ｔ）・ｖ（ｔ）・ＴＥ２Ａ ｄｔ を満たすように設定される。但し、γは磁気回転比であ
る。Ｇ（ｔ）は勾配振幅である。ｘ（ｔ）は時間変化で
ある。ｖ（ｔ）＝ｘ・ｔである。
配ＳＦ２Ａおよびリード軸ＧＲのフロー補償用の勾配Ｒ
Ｆ２Ａは、 ０次位相φx＝γ∫Ｇ（ｔ）・ｘ（ｔ）ｄｔ １次位相φv＝０ を満たすように設定される。また、ワープ軸ＧＷのフロ
ー補償用の勾配ＷＦ２Ａは、フローによる位置ズレ補償
とフロー補償のために、 ０次位相φx＝γ∫Ｇ（ｔ）・ｘ（ｔ）ｄｔ １次位相φv＝γ∫Ｇ（ｔ）・ｖ（ｔ）・ＴＥ２Ａ ｄｔ を満たすように設定される。但し、γは磁気回転比であ
る。Ｇ（ｔ）は勾配振幅である。ｘ（ｔ）は時間変化で
ある。ｖ（ｔ）＝ｘ・ｔである。
【００１６】ユーザが操作卓１３を用いて、スキャン実
行の指示を与えると、計算機２は、前記ＶＥ法のパルス
シーケンスＡにしたがってスキャンを実行させ、第１エ
コーＥ１Ａのデータに基づきプロトン強調イメージを再
構成し，第２エコーＥ２Ａのデータに基づきＴ２強調イ
メージを再構成する。
行の指示を与えると、計算機２は、前記ＶＥ法のパルス
シーケンスＡにしたがってスキャンを実行させ、第１エ
コーＥ１Ａのデータに基づきプロトン強調イメージを再
構成し，第２エコーＥ２Ａのデータに基づきＴ２強調イ
メージを再構成する。
【００１７】以上のＭＲＩ装置１では、頸椎などのよう
に多方向にＣＳＦ等のフローがある診断部位に対して
も、良好なプロトン強調イメージと好適にフロー補償さ
れたＴ２強調イメージとを同時に取得することが出来
る。
に多方向にＣＳＦ等のフローがある診断部位に対して
も、良好なプロトン強調イメージと好適にフロー補償さ
れたＴ２強調イメージとを同時に取得することが出来
る。
【００１８】
【考案の効果】この考案のＭＲＩ装置によれば、頸椎な
どのように多方向にフローがあるような診断部位につい
ても、良好なプロトン強調イメージと好適にフロー補償
されたＴ２強調イメージとを同時に取得することが出来
るようになる。
どのように多方向にフローがあるような診断部位につい
ても、良好なプロトン強調イメージと好適にフロー補償
されたＴ２強調イメージとを同時に取得することが出来
るようになる。
【図１】この考案のＭＲＩ装置の一実施例のブロック図
である。
である。
【図２】図１の装置に係るＶＥ法のパルスシーケンスの
例示図である。
例示図である。
【図３】従来のＶＥ法のパルスシーケンスの例示図であ
る。
る。
１ ＭＲＩ装置 ２ 計算機 ３ シーケンスコントローラ Ａ，Ｂ ＶＥ法のパルスシーケンス Ｅ１Ａ 第１エコー ＴＥ１Ａ 第１エコーのエコー時間 ＲＦ２Ａ リード軸のフロー補償用の勾配 ＳＦ２Ａ スライス軸のフロー補償用の勾配 ＷＦ２Ａ ワープ軸のフロー補償用の勾配
Claims (1)
- 【請求項１】ＲＦパルスを印加するＲＦパルス印加手段
と、 静磁場及び勾配磁場を印加するとともにＮＭＲ信号を受
信するマグネットアセンブリと、 前記ＲＦパルスについて９０゜パルス及び１８０°パル
スを印加するとともに前記勾配磁場についてフロー補償
用の勾配磁場を印加しないでスライス軸、リード軸及び
ワープ軸に勾配磁場を印加することによりプロトン強調
イメージを取得するためのＮＭＲ信号を受信し、次に前
記ＲＦパルスについて１８０°パルスを印加するととも
に前記勾配磁場についてスライス軸にフロー補償用の勾
配磁場、リード軸に該１８０°パルスをはさんで対称で
あるフロー補償用の勾配磁場及びワープ軸に該１８０°
パルスをはさんで対称であり且つ１パルスシーケンス実
行中に勾配磁場の絶対値が変化するフロー補償用の勾配
磁場を印加することによりＴ２強調イメージを取得する
ためのＮＭＲ信号を受信するＶＥ法のパルスシーケンス
を実行するように、前記ＲＦパルス印加手段及び前記マ
グネットアセンブリを制御する制御手段とを具備したこ
とを特徴とするＭＲＩ装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1993008847U JP2603813Y2 (ja) | 1993-03-05 | 1993-03-05 | Ｍｒｉ装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1993008847U JP2603813Y2 (ja) | 1993-03-05 | 1993-03-05 | Ｍｒｉ装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0666624U JPH0666624U (ja) | 1994-09-20 |
| JP2603813Y2 true JP2603813Y2 (ja) | 2000-03-27 |
Family
ID=18528779
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP1993008847U Expired - Lifetime JP2603813Y2 (ja) | 1993-03-05 | 1993-03-05 | Ｍｒｉ装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP2603813Y2 (ja) |
-
1993
- 1993-03-05 JP JP1993008847U patent/JP2603813Y2/ja not_active Expired - Lifetime
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH0666624U (ja) | 1994-09-20 |
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