JP2002143115A - Ｍｒイメージング方法、位相エラー測定方法およびｍｒｉ装置 - Google Patents

Ｍｒイメージング方法、位相エラー測定方法およびｍｒｉ装置

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JP2002143115A
JP2002143115A JP2000329949A JP2000329949A JP2002143115A JP 2002143115 A JP2002143115 A JP 2002143115A JP 2000329949 A JP2000329949 A JP 2000329949A JP 2000329949 A JP2000329949 A JP 2000329949A JP 2002143115 A JP2002143115 A JP 2002143115A
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echo
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pulse
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Mitsuharu Miyoshi
光晴 三好
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GE Medical Systems Global Technology Co LLC
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    • A61B5/055—Detecting, measuring or recording for diagnosis by means of electric currents or magnetic fields; Measuring using microwaves or radio waves  involving electronic [EMR] or nuclear [NMR] magnetic resonance, e.g. magnetic resonance imaging
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Abstract

(57)【要約】 【課題】 位相エンコーダ勾配に起因する残留磁化，渦
電流等が該位相エンコーダ勾配に対応するエコーの次の
エコーに影響するのを抑制するだけでなく、該位相エン
コーダ勾配に対応するエコーに影響するのも抑制する。 【解決手段】 位相エンコーダ勾配ｐｅに起因する残留
磁化，渦電流等が該位相エンコーダ勾配ｐｅに対応する
エコーの次のエコーに影響するのを抑制するための補正
成分をプリ補正成分Ｃprとポスト補正成分Ｃpoとに２分
割し、プリ補正成分Ｃｐｒを位相エンコーダ勾配ｐｅ側
に加え、ポスト補正成分Ｃｐｏをリワインド勾配ｒｗ側
に加える。 【効果】 プリ補正成分Ｃｐｒを位相エンコーダ勾配ｐ
ｅ側に加えているから、該位相エンコーダ勾配ｐｅに対
応するエコーのエコーセンターでの残留磁化，渦電流等
の影響が小さくなり、ＭＲ画像の画質への影響を抑制で
きる。

Description

【発明の詳細な説明】
【０００１】
【発明の属する技術分野】本発明は、ＭＲイメージング
方法、位相エラー測定方法およびＭＲＩ（Magnetic Res
onance Imaging）装置に関し、さらに詳しくは、位相エ
ンコーダ勾配に起因する残留磁化，渦電流等が該位相エ
ンコーダ勾配に対応するエコーの次のエコーに影響する
のを抑制できると共に該位相エンコーダ勾配に対応する
エコーに影響するのも抑制することが出来るＭＲイメー
ジング方法、位相エンコーダ勾配に起因する位相エラー
量を測定するための位相エラー測定方法およびそれらの
方法を実施するＭＲＩ装置に関する。
【０００２】
【従来の技術】特開平８−３２２８１７号公報や特開平
１０−７５９４０号公報には、位相エンコーダ勾配に起
因する残留磁化，渦電流等が該位相エンコーダ勾配に対
応するエコーの次のエコーに影響するのを抑制するため
の補正成分を、位相エンコーダ勾配またはリワインド勾
配のいずれか一方の前または後または前後に分配して補
正パルスとして加えるか又は当該勾配自体に加えるＭＲ
イメージング方法が開示されている。
【０００３】
【発明が解決しようとする課題】上記従来のＭＲイメー
ジング方法では、位相エンコーダ勾配に起因する残留磁
化，渦電流等が該位相エンコーダ勾配に対応するエコー
の次のエコーに影響するのを抑制することが出来る。し
かし、位相エンコーダ勾配に起因する残留磁化，渦電流
等が該位相エンコーダ勾配に対応するエコーに影響する
点については考慮されていない問題点がある。そこで、
本発明の目的は、位相エンコーダ勾配に起因する残留磁
化および渦電流の少なくとも一方が該位相エンコーダ勾
配に対応するエコーの次のエコーに影響するのを抑制で
きると共に該位相エンコーダ勾配に対応するエコーに影
響するのも抑制することが出来るＭＲイメージング方
法、位相エンコーダ勾配に起因する位相エラー量を測定
するための位相エラー測定方法およびそれらの方法を実
施するＭＲＩ装置を提供することにある。
【０００４】
【課題を解決するための手段】第１の観点では、本発明
は、エコーを集束させるためのエコー集束用ＲＦパルス
を送信し、位相エンコーダ勾配を位相軸に印加し、リー
ド勾配をリード軸に印加しながらエコーからデータを収
集し、リワインダ勾配を位相軸に印加することを、位相
エンコーダ勾配を変えながら複数回繰り返し、複数エコ
ーのデータを連続して収集するパルスシーケンスによる
ＭＲイメージング方法であって、位相エンコーダ勾配に
起因する残留磁化，渦電流等が該位相エンコーダ勾配に
対応するエコーの次のエコーに影響するのを抑制するた
めの補正成分をプリ補正成分とポスト補正成分とに分割
し、前記プリ補正成分を当該位相エンコーダ勾配の前ま
たは後または前後に分配して補正パルスとして加えるか
又は当該位相エンコーダ勾配に加えると共に、前記ポス
ト補正成分を対応するリワインダ勾配の前または後また
は前後に分配して補正パルスとして加えるか又は当該リ
ワンダ勾配に加えることを特徴とするＭＲイメージング
方法を提供する。上記第１の観点によるＭＲイメージン
グ方法では、位相エンコーダ勾配に起因する残留磁化，
渦電流等が該位相エンコーダ勾配に対応するエコーの次
のエコーに影響するのを抑制するための補正成分をプリ
補正成分とポスト補正成分とに２分割し、プリ補正成分
を位相エンコーダ勾配側に加え、ポスト補正成分をリワ
インド勾配側に加える。このため、位相エンコーダ勾配
に対応するエコーの次のエコーから見れば、補正量は分
割前と同じであり、残留磁化，渦電流等の影響を抑制で
きる。さらに、ポスト補正成分を位相エンコーダ勾配側
に加えているから、該位相エンコーダ勾配に対応するエ
コーのエコーセンターでの残留磁化，渦電流等の影響が
小さくなり、ＭＲ画像への影響を抑制することが出来る
（エコーセンターでのデータがＭＲ画像の画質に最も寄
与するため、ここでの影響を小さくすることが好まし
い）。
【０００５】第２の観点では、本発明は、エコーを集束
させるための第１エコー集束用ＲＦパルスを送信し、位
相エンコーダ勾配を位相軸に印加し、リワインダ勾配を
位相軸に印加し、第２エコー集束用ＲＦパルスを送信
し、リード勾配を位相軸に印加しながら第２エコーを観
測し、第３エコー集束用ＲＦパルスを送信し、リード勾
配を位相軸に印加しながら第３エコーを観測し、前記第
２エコーと前記第３エコーのエコーピークのずれから前
記位相エンコーダ勾配に起因する位相エラー量を求める
ことを特徴とする位相エラー測定方法を提供する。位相
エンコーダ勾配に起因する残留磁化，渦電流等の影響
は、エコーセンターからのエコーピークのずれとして現
れるが、単独のエコーではエコーセンターを確定しにく
いため、エコーセンターからのエコーピークのずれは測
定しにくい。そこで、上記第２の観点による位相エラー
測定方法では、第２エコーのエコーピークと第３エコー
のエコーピークとを比較する。第２エコーのエコーセン
ターからのエコーピークのずれと第３エコーのエコーセ
ンターからのエコーピークのずれとは逆方向になるの
で、第２エコーのエコーピークと第３エコーのエコーピ
ークのずれの１／２がエコーセンターからのエコーピー
クのずれと判る。よって、これから位相エンコーダ勾配
に起因する位相エラー量を求めることが出来る。
【０００６】第３の観点では、本発明は、エコーを集束
させるための第１エコー集束用ＲＦパルスを送信すると
共に第１クラッシャ勾配をリード軸に印加し、位相エン
コーダ勾配を位相軸に印加し、リワインダ勾配を位相軸
に印加し、第２エコー集束用ＲＦパルスを送信すると共
に第２クラッシャ勾配をリード軸に印加し、リード勾配
を位相軸に印加しながら第２エコーを観測し、第３エコ
ー集束用ＲＦパルスを送信すると共に第３クラッシャ勾
配を印加し、リード勾配を位相軸に印加しながら第３エ
コーを観測し、前記第２エコーと前記第３エコーのエコ
ーピークのずれから前記位相エンコーダ勾配に起因する
位相エラー量を求めることを特徴とする位相エラー測定
方法を提供する。位相エンコーダ勾配に起因する残留磁
化，渦電流等の影響は、エコーセンターからのエコーピ
ークのずれとして現れるが、単独のエコーではエコーセ
ンターを確定しにくいため、エコーセンターからのエコ
ーピークのずれは測定しにくい。そこで、上記第３の観
点による位相エラー測定方法では、第２エコーのエコー
ピークと第３エコーのエコーピークとを比較する。第２
エコーのエコーセンターからのエコーピークのずれと第
３エコーのエコーセンターからのエコーピークのずれと
は逆方向になるので、第２エコーのエコーピークと第３
エコーのエコーピークのずれの１／２がエコーセンター
からのエコーピークのずれと判る。よって、これから位
相エンコーダ勾配に起因する位相エラー量を求めること
が出来る。また、上記第３の観点による位相エラー測定
方法では、位相エンコーダ勾配に対応するエコーの次の
エコーに影響する位相エラー量を測定するのに邪魔とな
るスティミュレイテッドエコー（stimulated echo）と
ＦＩＤ（Free Induction Decay）信号とをクラッシャ勾
配により排除できる。
【０００７】第４の観点では、本発明は、上記構成の位
相エラー測定方法により測定した位相エラー量に基づい
て前記補正成分を決定することを特徴とする上記構成の
ＭＲイメージング方法を提供する。個々のＭＲＩ装置に
より残留磁化，渦電流等の影響は異なるが、上記第４の
観点によるＭＲイメージング方法では、位相エンコーダ
勾配に対応するエコーの次のエコーに影響する残留磁
化，渦電流等による位相エラーを実測して補正成分を決
定するので、個々のＭＲＩ装置に最適の補正成分を決定
できる。
【０００８】第５の観点では、本発明は、（１）上記構
成の位相エラー測定方法により測定した位相エラー量に
基づいて第１補正成分を決定し、（２）前記第１補正成
分を第１プリ補正成分と第１ポスト補正成分とに分割
し、前記第１プリ補正成分を位相エンコーダ勾配の前ま
たは後または前後に分配して補正パルスとして加えるか
又は当該位相エンコーダ勾配に加えると共に前記第１ポ
スト補正成分を対応するリワインダ勾配の前または後ま
たは前後に分配して補正パルスとして加えるか又は当該
リワンダ勾配に加えた上記構成の位相エラー測定方法に
より測定した位相エラー量に基づいて第１追加補正成分
を決定し、（３）前記第ｉ（≧１）補正成分を第ｉプリ
補正成分と第ｉポスト補正成分とに分割し、前記第ｉプ
リ補正成分を位相エンコーダ勾配の前または後または前
後に分配して補正パルスとして加えるか又は当該位相エ
ンコーダ勾配に加えると共に前記第ｉポスト補正成分を
対応するリワインダ勾配の前または後または前後に分配
して補正パルスとして加えるか又は当該リワンダ勾配に
加えた上記構成の位相エラー測定方法により測定した位
相エラー量に基づいて第ｉ追加補正成分を決定し、
（４）“前記第１補正成分＋Σ第ｉ追加補正成分”を第
（ｉ＋１）補正成分として決定し、（５）上記（３）
（４）をｉ＝１からＮ（≧１）まで繰り返し、第（Ｎ＋
１）補正成分を前記補正成分として決定することを特徴
とする上記構成のＭＲイメージング方法を提供する。上
記第５の観点によるＭＲイメージング方法では、決定し
た補正成分を実際に適用しながら更に補正成分を最適化
することを１回以上繰り返すので、個々のＭＲＩ装置に
最適の補正成分を決定できる。
【０００９】第６の観点では、本発明は、エコーを集束
させるための第１エコー集束用ＲＦパルスを送信し、位
相エンコーダ勾配を位相軸に印加し、リワインダ勾配を
位相軸に印加し、第２エコー集束用ＲＦパルスを送信
し、正極性のリード勾配を位相軸に印加しながら第２エ
コーを観測し、第３エコー集束用ＲＦパルスを送信し、
正極性のリード勾配を位相軸に印加しながら第３エコー
を観測し、前記第２エコーと前記第３エコーのエコーピ
ークのずれから前記位相エンコーダ勾配に起因する第１
位相エラー量Δａを求め、また、第１エコー集束用ＲＦ
パルスを送信し、位相エンコーダ勾配を位相軸に印加
し、リワインダ勾配を位相軸に印加し、第２エコー集束
用ＲＦパルスを送信し、負極性のリード勾配を位相軸に
印加しながら第２エコーを観測し、第３エコー集束用Ｒ
Ｆパルスを送信し、負極性のリード勾配を位相軸に印加
しながら第３エコーを観測し、前記第２エコーと前記第
３エコーのエコーピークのずれから前記位相エンコーダ
勾配に起因する第２位相エラー量Δｂを求め、前記第１
位相エラー量Δａと前記第２位相エラー量Δｂとを平均
して位相エラー量を求めることを特徴とする位相エラー
測定方法を提供する。先述のように、位相エンコーダ勾
配に起因する残留磁化，渦電流等の影響は、エコーセン
ターからのエコーピークのずれとして現れる。ところ
が、このずれは、エコーを観測するために位相軸に印加
したリード勾配に起因するに残留磁化，渦電流等の影響
をも受けてしまう。そこで、上記第６の観点による位相
エラー測定方法では、リード勾配の極性を逆にして観測
を２回行う。リード勾配の極性が逆であるから、それら
に起因する残留磁化，渦電流等の影響によるずれは逆方
向になる。よって、２回の観測結果の平均をとれば、リ
ード勾配に起因する残留磁化，渦電流等の影響をキャン
セルでき、位相エンコーダ勾配に起因する位相エラー量
を正確に求めることが出来る。
【００１０】第７の観点では、本発明は、エコーを集束
させるための第１エコー集束用ＲＦパルスを送信すると
共に正極性の第１クラッシャ勾配をリード軸に印加し、
位相エンコーダ勾配を位相軸に印加し、リワインダ勾配
を位相軸に印加し、第２エコー集束用ＲＦパルスを送信
すると共に負極性の第２クラッシャ勾配をリード軸に印
加し、正極性のリード勾配を位相軸に印加しながら第２
エコーを観測し、第３エコー集束用ＲＦパルスを送信す
ると共に正極性の第３クラッシャ勾配を印加し、正極性
のリード勾配を位相軸に印加しながら第３エコーを観測
し、前記第２エコーと前記第３エコーのエコーピークの
ずれから前記位相エンコーダ勾配に起因する第１位相エ
ラー量Δａを求め、また、第１エコー集束用ＲＦパルス
を送信すると共に負極性の第１クラッシャ勾配をリード
軸に印加し、位相エンコーダ勾配を位相軸に印加し、リ
ワインダ勾配を位相軸に印加し、第２エコー集束用ＲＦ
パルスを送信すると共に正極性の第２クラッシャ勾配を
リード軸に印加し、負極性のリード勾配を位相軸に印加
しながら第２エコーを観測し、第３エコー集束用ＲＦパ
ルスを送信すると共に負極性の第３クラッシャ勾配を印
加し、負極性のリード勾配を位相軸に印加しながら第３
エコーを観測し、前記第２エコーと前記第３エコーのエ
コーピークのずれから前記位相エンコーダ勾配に起因す
る第２位相エラー量Δｂを求め、前記第１位相エラー量
Δａと前記第２位相エラー量Δｂとを平均して位相エラ
ー量を求めることを特徴とする位相エラー測定方法を提
供する。先述のように、位相エンコーダ勾配に起因する
残留磁化，渦電流等の影響は、エコーセンターからのエ
コーピークのずれとして現れる。ところが、このずれ
は、エコーを観測するために位相軸に印加したリード勾
配やスティミュレイテッドエコーとＦＩＤ信号とを排除
するためにリード軸に印加したクラッシャ勾配に起因す
るに残留磁化，渦電流等の影響をも受けてしまう。そこ
で、上記第７の観点による位相エラー測定方法では、リ
ード勾配とクラッシャ勾配の極性を逆にして観測を２回
行う。リード勾配とクラッシャ勾配の極性が逆であるか
ら、それらに起因する残留磁化，渦電流等の影響による
ずれは逆方向になる。よって、２回の観測結果の平均を
とれば、リード勾配とクラッシャ勾配に起因する残留磁
化，渦電流等の影響をキャンセルでき、位相エンコーダ
勾配に起因する位相エラー量を正確に求めることが出来
る。
【００１１】第８の観点では、本発明は、上記構成の位
相エラー測定方法により測定した位相エラー量に基づい
て前記補正成分を決定することを特徴とする上記構成の
ＭＲイメージング方法を提供する。個々のＭＲＩ装置に
より残留磁化，渦電流等の影響は異なるが、上記第８の
観点によるＭＲイメージング方法では、位相エンコーダ
勾配に対応するエコーの次のエコーに影響する残留磁
化，渦電流等による位相エラー量を正確に実測して補正
成分を決定するので、個々のＭＲＩ装置に最適の補正成
分を正確に決定できる。
【００１２】第９の観点では、本発明は、（１）上記構
成の位相エラー測定方法により測定した位相エラー量に
基づいて第１補正成分を決定し、（２）前記第１補正成
分を第１プリ補正成分と第１ポスト補正成分とに分割
し、前記第１プリ補正成分を位相エンコーダ勾配の前ま
たは後または前後に分配して補正パルスとして加えるか
又は当該位相エンコーダ勾配に加えると共に前記第１ポ
スト補正成分を対応するリワインダ勾配の前または後ま
たは前後に分配して補正パルスとして加えるか又は当該
リワンダ勾配に加えた上記構成の位相エラー測定方法に
より測定した位相エラー量に基づいて第１追加補正成分
を決定し、（３）前記第ｉ（≧１）補正成分を第ｉプリ
補正成分と第ｉポスト補正成分とに分割し、前記第ｉプ
リ補正成分を位相エンコーダ勾配の前または後または前
後に分配して補正パルスとして加えるか又は当該位相エ
ンコーダ勾配に加えると共に前記第ｉポスト補正成分を
対応するリワインダ勾配の前または後または前後に分配
して補正パルスとして加えるか又は当該リワンダ勾配に
加えた上記構成の位相エラー測定方法により測定した位
相エラー量に基づいて第ｉ追加補正成分を決定し、
（４）“前記第１補正成分＋Σ第ｉ追加補正成分”を第
（ｉ＋１）補正成分として決定し、（５）上記（３）
（４）をｉ＝１からＮ（≧１）まで繰り返し、第（Ｎ＋
１）補正成分を前記補正成分として決定することを特徴
とする上記構成のＭＲイメージング方法を提供する。上
記第９の観点によるＭＲイメージング方法では、決定し
た補正成分を実際に適用しながら更に補正成分を最適化
することを１回以上繰り返すので、個々のＭＲＩ装置に
最適の補正成分をより正確に決定できる。
【００１３】第１０の観点では、本発明は、前記パルス
シーケンスが高速スピンエコー法のパルスシーケンスで
あり、前記集束用ＲＦパルスが反転パルスであることを
特徴とする上記構成のＭＲイメージング方法を提供す
る。上記第１０の観点によるＭＲイメージング方法で
は、高速スピンエコー法において、位相エンコーダ勾配
に起因する残留磁化，渦電流等が該位相エンコーダ勾配
に対応するエコーの次のエコーに影響することを抑制す
ることが出来ると共に、該位相エンコーダ勾配に対応す
るエコーに影響することをも抑制することが出来る。
【００１４】第１１の観点では、本発明は、前記集束用
ＲＦパルスが反転パルスであることを特徴とする上記構
成の位相エラー測定方法を提供する。上記第１１の観点
による位相エラー測定方法では、高速スピンエコー法に
おける位相エンコーダ勾配に起因する位相エラーを好適
に測定できる。
【００１５】第１２の観点では、本発明は、ＲＦパルス
送信手段と、勾配パルス印加手段と、ＮＭＲ信号受信手
段とを具備し、それら各手段を制御して、エコーを集束
させるためのエコー集束用ＲＦパルスを送信し、位相エ
ンコーダ勾配を位相軸に印加し、リード勾配をリード軸
に印加しながらエコーからデータを収集し、リワインダ
勾配を位相軸に印加することを、位相エンコーダ勾配を
変えながら複数回繰り返し、複数エコーのデータを連続
して収集するパルスシーケンスを実行するＭＲＩ装置で
あって、位相エンコーダ勾配に起因する残留磁化，渦電
流等が該位相エンコーダ勾配に対応するエコーの次のエ
コーに影響するのを抑制するための補正成分をプリ補正
成分とポスト補正成分とに分割し、前記プリ補正成分を
当該位相エンコーダ勾配の前または後または前後に分配
して補正パルスとして加えるか又は当該位相エンコーダ
勾配に加えると共に、前記ポスト補正成分を対応するリ
ワインダ勾配の前または後または前後に分配して補正パ
ルスとして加えるか又は当該リワンダ勾配に加える補正
成分付加手段を具備したことを特徴とするＭＲＩ装置を
提供する。上記第１２の観点によるＭＲＩ装置では、上
記第１の観点によるＭＲイメージング方法を好適に実施
できる。
【００１６】第１３の観点では、本発明は、ＲＦパルス
送信手段と、勾配パルス印加手段と、ＮＭＲ信号受信手
段とを具備すると共に、それら各手段を制御して、エコ
ーを集束させるための第１エコー集束用ＲＦパルスを送
信し、位相エンコーダ勾配を位相軸に印加し、リワイン
ダ勾配を位相軸に印加し、第２エコー集束用ＲＦパルス
を送信し、リード勾配を位相軸に印加しながら第２エコ
ーを観測し、第３エコー集束用ＲＦパルスを送信し、リ
ード勾配を位相軸に印加しながら第３エコーを観測し、
前記第２エコーと前記第３エコーのエコーピークのずれ
から前記位相エンコーダ勾配に起因する位相エラー量を
求める位相エラー測定手段を具備したことを特徴とする
ＭＲＩ装置を提供する。上記第１３の観点によるＭＲＩ
装置では、上記第２の観点による位相エラー測定方法を
好適に実施できる。
【００１７】第１４の観点では、本発明は、ＲＦパルス
送信手段と、勾配パルス印加手段と、ＮＭＲ信号受信手
段とを具備すると共に、それら各手段を制御して、エコ
ーを集束させるための第１エコー集束用ＲＦパルスを送
信すると共に第１クラッシャ勾配をリード軸に印加し、
位相エンコーダ勾配を位相軸に印加し、リワインダ勾配
を位相軸に印加し、第２エコー集束用ＲＦパルスを送信
すると共に第２クラッシャ勾配をリード軸に印加し、リ
ード勾配を位相軸に印加しながら第２エコーを観測し、
第３エコー集束用ＲＦパルスを送信すると共に第３クラ
ッシャ勾配を印加し、リード勾配を位相軸に印加しなが
ら第３エコーを観測し、前記第２エコーと前記第３エコ
ーのエコーピークのずれから前記位相エンコーダ勾配に
起因する位相エラー量を求める位相エラー測定手段を具
備したことを特徴とするＭＲＩ装置を提供する。上記第
１４の観点によるＭＲＩ装置では、上記第３の観点によ
る位相エラー測定方法を好適に実施できる。
【００１８】第１５の観点では、本発明は、上記構成の
位相エラー測定手段を具備し、該位相エラー測定手段
は、測定した位相エラー量に基づいて補正成分を決定す
ることを特徴とする上記構成のＭＲＩ装置を提供する。
上記第１５の観点によるＭＲＩ装置では、上記第４の観
点によるＭＲイメージング方法を好適に実施できる。
【００１９】第１６の観点では、本発明は、上記構成の
位相エラー測定手段を具備し、該位相エラー測定手段
は、（１）測定した位相エラー量に基づいて第１補正成
分を決定し、（２）前記第１補正成分を第１プリ補正成
分と第１ポスト補正成分とに分割し、前記第１プリ補正
成分を位相エンコーダ勾配の前または後または前後に分
配して補正パルスとして加えるか又は当該位相エンコー
ダ勾配に加えると共に前記第１ポスト補正成分を対応す
るリワインダ勾配の前または後または前後に分配して補
正パルスとして加えるか又は当該リワンダ勾配に加えて
位相エラー量を測定し、その位相エラー量に基づいて第
１追加補正成分を決定し、（３）前記第ｉ（≧１）補正
成分を第ｉプリ補正成分と第ｉポスト補正成分とに分割
し、前記第ｉプリ補正成分を位相エンコーダ勾配の前ま
たは後または前後に分配して補正パルスとして加えるか
又は当該位相エンコーダ勾配に加えると共に前記第ｉポ
スト補正成分を対応するリワインダ勾配の前または後ま
たは前後に分配して補正パルスとして加えるか又は当該
リワンダ勾配に加えて位相エラー量を測定し、その位相
エラー量に基づいて第ｉ追加補正成分を決定し、（４）
“前記第１補正成分＋Σ第ｉ追加補正成分”を第（ｉ＋
１）補正成分として決定し、（５）上記（３）（４）を
ｉ＝１からＮ（≧１）まで繰り返し、第（Ｎ＋１）補正
成分を前記補正成分として決定することを特徴とする上
記構成のＭＲＩ装置を提供する。上記第１６の観点によ
るＭＲＩ装置では、上記第５の観点によるＭＲイメージ
ング方法を好適に実施できる。
【００２０】第１７の観点では、本発明は、ＲＦパルス
送信手段と、勾配パルス印加手段と、ＮＭＲ信号受信手
段とを具備すると共に、それら各手段を制御して、エコ
ーを集束させるための第１エコー集束用ＲＦパルスを送
信し、位相エンコーダ勾配を位相軸に印加し、リワイン
ダ勾配を位相軸に印加し、第２エコー集束用ＲＦパルス
を送信し、正極性のリード勾配を位相軸に印加しながら
第２エコーを観測し、第３エコー集束用ＲＦパルスを送
信し、正極性のリード勾配を位相軸に印加しながら第３
エコーを観測し、前記第２エコーと前記第３エコーのエ
コーピークのずれから前記位相エンコーダ勾配に起因す
る第１位相エラー量Δａを求め、また、第１エコー集束
用ＲＦパルスを送信し、位相エンコーダ勾配を位相軸に
印加し、リワインダ勾配を位相軸に印加し、第２エコー
集束用ＲＦパルスを送信し、負極性のリード勾配を位相
軸に印加しながら第２エコーを観測し、第３エコー集束
用ＲＦパルスを送信し、負極性のリード勾配を位相軸に
印加しながら第３エコーを観測し、前記第２エコーと前
記第３エコーのエコーピークのずれから前記位相エンコ
ーダ勾配に起因する第２位相エラー量Δｂを求め、前記
第１位相エラー量Δａと前記第２位相エラー量Δｂとを
平均して位相エラー量を求める位相エラー測定手段を具
備したことを特徴とするＭＲＩ装置を提供する。上記第
１７の観点によるＭＲＩ装置では、上記第６の観点によ
るＭＲイメージング方法を好適に実施できる。
【００２１】第１８の観点では、本発明は、ＲＦパルス
送信手段と、勾配パルス印加手段と、ＮＭＲ信号受信手
段とを具備すると共に、それら各手段を制御して、エコ
ーを集束させるための第１エコー集束用ＲＦパルスを送
信すると共に正極性の第１クラッシャ勾配をリード軸に
印加し、位相エンコーダ勾配を位相軸に印加し、リワイ
ンダ勾配を位相軸に印加し、第２エコー集束用ＲＦパル
スを送信すると共に負極性の第２クラッシャ勾配をリー
ド軸に印加し、正極性のリード勾配を位相軸に印加しな
がら第２エコーを観測し、第３エコー集束用ＲＦパルス
を送信すると共に正極性の第３クラッシャ勾配を印加
し、正極性のリード勾配を位相軸に印加しながら第３エ
コーを観測し、前記第２エコーと前記第３エコーのエコ
ーピークのずれから前記位相エンコーダ勾配に起因する
第１位相エラー量Δａを求め、また、第１エコー集束用
ＲＦパルスを送信すると共に負極性の第１クラッシャ勾
配をリード軸に印加し、位相エンコーダ勾配を位相軸に
印加し、リワインダ勾配を位相軸に印加し、第２エコー
集束用ＲＦパルスを送信すると共に正極性の第２クラッ
シャ勾配をリード軸に印加し、負極性のリード勾配を位
相軸に印加しながら第２エコーを観測し、第３エコー集
束用ＲＦパルスを送信すると共に負極性の第３クラッシ
ャ勾配を印加し、負極性のリード勾配を位相軸に印加し
ながら第３エコーを観測し、前記第２エコーと前記第３
エコーのエコーピークのずれから前記位相エンコーダ勾
配に起因する第２位相エラー量Δｂを求め、前記第１位
相エラー量Δａと前記第２位相エラー量Δｂとを平均し
て位相エラー量を求める位相エラー測定手段を具備した
ことを特徴とするＭＲＩ装置を提供する。上記第１８の
観点によるＭＲＩ装置では、上記第７の観点によるＭＲ
イメージング方法を好適に実施できる。
【００２２】第１９の観点では、本発明は、上記構成の
位相エラー測定手段を具備し、該位相エラー測定手段
は、測定した位相エラー量に基づいて補正成分を決定す
ることを特徴とする上記構成のＭＲＩ装置を提供する。
上記第１９の観点によるＭＲＩ装置では、上記第８の観
点によるＭＲイメージング方法を好適に実施できる。
【００２３】第２０の観点では、本発明は、上記構成の
位相エラー測定手段を具備し、該位相エラー測定手段
は、（１）測定した位相エラー量に基づいて第１補正成
分を決定し、（２）前記第１補正成分を第１プリ補正成
分と第１ポスト補正成分とに分割し、前記第１プリ補正
成分を位相エンコーダ勾配の前または後または前後に分
配して補正パルスとして加えるか又は当該位相エンコー
ダ勾配に加えると共に前記第１ポスト補正成分を対応す
るリワインダ勾配の前または後または前後に分配して補
正パルスとして加えるか又は当該リワンダ勾配に加えて
位相エラー量を測定し、その位相エラー量に基づいて第
１追加補正成分を決定し、（３）前記第ｉ（≧１）補正
成分を第ｉプリ補正成分と第ｉポスト補正成分とに分割
し、前記第ｉプリ補正成分を位相エンコーダ勾配の前ま
たは後または前後に分配して補正パルスとして加えるか
又は当該位相エンコーダ勾配に加えると共に前記第ｉポ
スト補正成分を対応するリワインダ勾配の前または後ま
たは前後に分配して補正パルスとして加えるか又は当該
リワンダ勾配に加えて位相エラー量を測定し、その位相
エラー量に基づいて第ｉ追加補正成分を決定し、（４）
“前記第１補正成分＋Σ第ｉ追加補正成分”を第（ｉ＋
１）補正成分として決定し、（５）上記（３）（４）を
ｉ＝１からＮ（≧１）まで繰り返し、第（Ｎ＋１）補正
成分を前記補正成分として決定することを特徴とする上
記構成のＭＲＩ装置を提供する。上記第２０の観点によ
るＭＲＩ装置では、上記第９の観点によるＭＲイメージ
ング方法を好適に実施できる。
【００２４】第２１の観点では、本発明は、前記パルス
シーケンスが高速スピンエコー法のパルスシーケンスで
あり、前記集束用ＲＦパルスが反転パルスであることを
特徴とする上記構成のＭＲＩ装置を提供する。上記第２
１の観点によるＭＲＩ装置では、上記第１０の観点によ
るＭＲイメージング方法を好適に実施できる。
【００２５】第２２の観点では、本発明は、前記集束用
ＲＦパルスが反転パルスであることを特徴とする上記構
成のＭＲＩ装置を提供する。上記第２２の観点によるＭ
ＲＩ装置では、上記第１１の観点によるＭＲイメージン
グ方法を好適に実施できる。
【００２６】
【発明の実施の形態】以下、図に示す実施形態により本
発明をさらに詳しく説明する。なお、これにより本発明
が限定されるものではない。
【００２７】図１は、本発明の一実施形態にかかるＭＲ
Ｉ装置のブロック図である。このＭＲＩ装置１００にお
いて、マグネットアセンブリ１は、内部に被検体を挿入
するための空間部分（孔）を有し、この空間部分を取り
まくようにして、被検体に一定の主磁場を印加する永久
磁石１ｐと、Ｘ軸，Ｙ軸，Ｚ軸の勾配磁場を発生するた
めの勾配磁場コイル１ｇと、被検体内の原子核のスピン
を励起するためのＲＦパルスを与える送信コイル１ｔ
と、被検体からのＮＭＲ信号を検出する受信コイル１ｒ
とが配置されている。前記勾配磁場コイル１ｇ，送信コ
イル１ｔおよび受信コイル１ｒは、それぞれ勾配磁場駆
動回路３，ＲＦ電力増幅器４および前置増幅器５に接続
されている。なお、永久磁石１ｐの代わりに超電導磁石
を用いてもよい。
【００２８】シーケンス記憶回路８は、計算機７からの
指令に従い、記憶しているパルスシーケンスに基づいて
勾配磁場駆動回路３を操作し、前記マグネットアセンブ
リ１の勾配磁場コイル１ｇから勾配磁場を発生させると
共に、ゲート変調回路９を操作し、ＲＦ発振回路１０の
搬送波出力信号を所定タイミング・所定包絡線形状のパ
ルス状信号に変調し、それをＲＦパルスとしてＲＦ電力
増幅器４に加え、ＲＦ電力増幅器４でパワー増幅した
後、前記マグネットアセンブリ１の送信コイル１ｔに印
加し、所望の撮像面を選択励起する。
【００２９】前置増幅器５は、マグネットアセンブリ１
の受信コイル１ｒで検出された被検体からのＮＭＲ信号
を増幅し、位相検波器１２に入力する。位相検波器１２
は、ＲＦ発振回路１０の搬送波出力信号を参照信号と
し、前置増幅器５からのＮＭＲ信号を位相検波して、Ａ
／Ｄ変換器１１に与える。Ａ／Ｄ変換器１１は、位相検
波後のアナログ信号をデジタルデータに変換して、計算
機７に入力する。
【００３０】計算機７は、Ａ／Ｄ変換器１１からデジタ
ルデータを読み込み、画像再構成演算を行って前記撮像
面のＭＲ画像を生成する。また、計算機７は、操作卓１
３から入力された情報を受け取るなどの全体的な制御を
受け持つ。表示装置６は、前記ＭＲ画像を表示する。
【００３１】図２および図３は、本発明にかかる位相エ
ラー量測定処理のフロー図である。図２のステップＥ１
では、図４に示す位相エラー測定用パルスシーケンスＡ
により、第２エコーecho２，第３エコーecho３のデータ
を収集する。
【００３２】図４の位相エラー測定用パルスシーケンス
Ａでは、励起パルスＲとスライス勾配ｓｓ１を印加す
る。次に、第１反転パルスＰ１とスライス勾配ｓｓ２と
を印加すると共に第１反転パルスＰ１の前後に正極性の
第１クラッシャ勾配ｃｒ１をリード軸に印加する。次
に、位相エンコーダ勾配ｐｅを位相軸に印加し、次にリ
ワインダ勾配を位相軸に印加する。次に、第２反転パル
スＰ２とスライス勾配ｓｓ３を印加すると共に第２反転
パルスＰ２の前後に負極性の第２クラッシャ勾配ｃｒ２
をリード軸に印加する。次に、デフェーザ勾配ｄｐ１を
位相軸に印加し、次にリード勾配ＲＤ１を位相軸に印加
しながら第２エコーecho２のＮＭＲ信号を受信し、その
後、前記デフェーザ勾配ｄｐ１と等しいリフェーザ勾配
ｒｐ１を位相軸に印加する。次に、第３反転パルスＰ３
とスライス勾配ｓｓ４を印加すると共に第３反転パルス
Ｐ３の前後に正極性の第３クラッシャ勾配ｃｒ３をリー
ド軸に印加する。次に、デフェーザ勾配ｄｐ２を位相軸
に印加し、次にリード勾配ＲＤ２を位相軸に印加しなが
ら第３エコーecho３のＮＭＲ信号を受信し、その後、前
記デフェーザ勾配ｄｐ２と等しいリフェーザ勾配ｒｐ２
を位相軸に印加する。
【００３３】図２に戻り、ステップＥ２では、第２エコ
ーecho２と第３エコーecho３のデータからエコーピーク
のずれを求め、そのエコーピークのずれから位相エラー
量Δａを求める。
【００３４】ステップＥ３では、図５に示す位相エラー
測定用パルスシーケンスＢにより、第２エコーecho２，
第３エコーecho３のデータを収集する。この図５の位相
エラー測定用パルスシーケンスＢは、図４の位相エラー
測定用パルスシーケンスＡにおけるクラッシャ勾配ｃ
ｒ、デフェーザ勾配ｄｐ、リード勾配ＲＤおよびリフェ
ーザ勾配ｒｐ２の極性を反転したものである。
【００３５】ステップＥ４では、第２エコーecho２と第
３エコーecho３のデータからエコーピークのずれを求
め、そのエコーピークのずれから位相エラー量Δｂを求
める。
【００３６】ステップＥ５では、位相エラー量Δａと位
相エラー量Δｂを平均したものを位相エラー量とする。
ステップＥ６では、位相エラー量を補正するための補正
成分Ｃを求める。
【００３７】図３のステップＥ７では、補正成分Ｃをプ
リ補正成分Ｃprとポスト補正成分Ｃpoとに２分割する。
分割比は、基本的には１：１でよいが、個々のＭＲＩ装
置に応じて１：１以外の分割比にしてもよい。
【００３８】ステップＥ８では、プリ補正成分Ｃprを位
相エンコーダ勾配peの前に加え、ポスト補正成分Ｃpoを
リワンダ勾配ｒｗの前に加えた位相エラー測定用パルス
シーケンスＡ’により、第２エコーと第３エコーのデー
タを収集する。図６に、この位相エラー測定用パルスシ
ーケンスＡ’を示す。ステップＥ９では、第２エコーec
ho２と第３エコーecho３のデータからエコーピークのず
れを求め、そのエコーピークのずれから位相エラー量Δ
ａ’を求める。
【００３９】ステップＥ１０では、プリ補正成分Ｃprを
位相エンコーダ勾配peの前に加え、ポスト補正成分Ｃpo
をリワンダ勾配ｒｗの前に加えた位相エラー測定用パル
スシーケンスＢ’により、第２エコーと第３エコーのデ
ータを収集する。図７に、この位相エラー測定用パルス
シーケンスＢ’を示す。ステップＥ１１では、第２エコ
ーecho２と第３エコーecho３のデータからエコーピーク
のずれを求め、そのエコーピークのずれから位相エラー
量Δｂ’を求める。
【００４０】ステップＥ１２では、位相エラー量Δａ’
と位相エラー量Δｂ’を平均したものを位相エラー量と
する。ステップＥ１３では、位相エラー量を補正するた
めの追加補正成分ΔＣを求める。ステップＥ１４では、
前回までの補正成分Ｃに追加補正成分ΔＣを加えたもの
を新たな補正成分Ｃとする。
【００４１】ステップＥ１５では、前記ステップＥ７か
らＥ１４をＮ（≧１）回繰り返す。そして、処理を終了
する。
【００４２】なお、全ての位相エンコーダ勾配について
図２および図３の処理を実行してもよいが、測定回数が
非常に多くなる。そこで、適当に間引いた位相エンコー
ダ勾配について図２および図３の処理を実行し、図２お
よび図３の処理を実行しなかった位相エンコーダ勾配に
ついては内挿または外挿で補間してもよい。
【００４３】また、患者に対してＭＲイメージング用ス
キャンを実施する直前に図２および図３の処理を実施し
てもよいが、ＭＲＩ装置のスループットが悪くなる。そ
こで、タイプの異なる患者に対して図２および図３の処
理を実施して決定した補正成分をメモリに記憶してお
き、ＭＲイメージング用スキャンを実施する患者に近い
タイプの補正成分をメモリから読み出して用いてもよ
い。
【００４４】また、より簡単には、図２のステップＥ１
からＥ６で求めた補正成分Ｃをそのまま用いてもよい。
さらに簡単には、図２のステップＥ１およびＥ２で求め
た位相エラー量Δａから補正成分Ｃを求めて、それを用
いてもよい。同様に、図２のステップＥ３およびＥ４で
求めた位相エラー量Δｂから補正成分Ｃを求めて、それ
を用いてもよい。
【００４５】図８は、ＭＲイメージング用スキャン処理
のフロー図である。ステップＱ１では、位相エンコーダ
勾配ｐｅの大きさに応じて決定した補正成分Ｃをそれぞ
れプリ補正成分Ｃprとポスト補正成分Ｃpoとに２分割す
る。分割比は、基本的には１：１でよいが、個々のＭＲ
Ｉ装置に応じて１：１以外の分割比にしてもよい。ステ
ップＱ２では、エコーを集束させるためのエコー集束用
ＲＦパルスを送信し、位相エンコーダ勾配を位相軸に印
加し、リード勾配をリード軸に印加しながらエコーから
データを収集し、リワインダ勾配を位相軸に印加するこ
とを、位相エンコーダ勾配を変えながら複数回繰り返
し、複数エコーからＭＲイメージング用データを連続し
て収集するＭＲイメージング用パルスシーケンスに対し
て、前記プリ補正成分Ｃprを当該位相エンコーダ勾配ｐ
ｅの前に補正パルスＣprとして加えると共に、前記ポス
ト補正成分Ｃpoを対応するリワインダ勾配ｒｗの前に補
正パルスＣpoとして加えたＭＲイメージング用パルスシ
ーケンスを作成し、そのＭＲイメージング用パルスシー
ケンスによりＭＲイメージング用データを収集する。そ
して、処理を終了する。
【００４６】図９に、高速スピンエコー法に本発明を適
用したＭＲイメージング用パルスシーケンスを例示す
る。
【００４７】なお、プリ補正成分Ｃprを位相エンコーダ
勾配ｐｅの後に補正パルスとして加えてもよい。同様
に、ポスト補正成分Ｃpoを対応するリワインダ勾配ｒｗ
の後に補正パルスとして加えてもよい。また、プリ補正
成分Ｃprを位相エンコーダ勾配ｐｅの前後に分配して２
つの補正パルスとして加えてもよい。同様に、ポスト補
正成分Ｃpoを対応するリワインダ勾配ｒｗの前後に分配
して２つの補正パルスとして加えてもよい。さらに、プ
リ補正成分Ｃprを位相エンコーダ勾配ｐｅの面積に加え
てしまってもよい。同様に、ポスト補正成分Ｃpoを対応
するリワインダ勾配ｒｗの面積に加えてしまってもよ
い。
【００４８】また、本発明は、ＳＳＦＰ（Steady-State
Free Precession）信号を発する全てのＭＲイメージン
グ用パルスシーケンスに適用することが出来る。
【００４９】
【発明の効果】本発明のＭＲイメージング方法およびＭ
ＲＩ装置によれば、位相エンコーダ勾配に起因する残留
磁化，渦電流等が該位相エンコーダ勾配に対応するエコ
ーの次のエコーに影響するのを抑制できると共に該位相
エンコーダ勾配に対応するエコーに影響するのも抑制す
ることが出来る。また、本発明の位相エラー測定方法お
よびＭＲＩ装置によれば、位相エンコーダ勾配に対応す
るエコーの次のエコーに影響する残留磁化，渦電流等に
よる位相エラー量を正確に測定することが出来る。
【図面の簡単な説明】
【図１】本発明の一実施形態に係るＭＲＩ装置を示すブ
ロック図である。
【図２】本発明に係る位相エラー量測定処理を示すフロ
ー図である。
【図３】図２の続きのフロー図である。
【図４】本発明に係る位相エラー測定用パルスシーケン
スの一つを示す説明図である。
【図５】本発明に係る位相エラー測定用パルスシーケン
スの別の一つを示す説明図である。
【図６】本発明に係る位相エラー測定用パルスシーケン
スのさらに別の一つを示す説明図である。
【図７】本発明に係る位相エラー測定用パルスシーケン
スのさらにまた別の一つを示す説明図である。
【図８】本発明の一実施形態に係るＭＲイメージング用
スキャン処理を示すフロー図である。
【図９】本発明に係るＭＲイメージング用パルスシーケ
ンスの一例を示す説明図である。
【符号の説明】
１００ ＭＲＩ装置 １ マグネットアセンブリ １ｇ 勾配磁場コイル １ｔ 送信コイル １ｐ 永久磁石 ６ シーケンス記憶回路 ７ 計算機
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 三好 光晴 東京都日野市旭ケ丘４丁目７番地の127 ジーイー横河メディカルシステム株式会社 内 Ｆターム(参考） 4C096 AA01 AB06 AB50 AD06 BA05 BA10 BA26 BA41 BA50 BB02

Claims (22)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項１】 エコーを集束させるためのエコー集束用
    ＲＦパルスを送信し、位相エンコーダ勾配を位相軸に印
    加し、リード勾配をリード軸に印加しながらエコーから
    データを収集し、リワインダ勾配を位相軸に印加するこ
    とを、位相エンコーダ勾配を変えながら複数回繰り返
    し、複数エコーのデータを連続して収集するパルスシー
    ケンスによるＭＲイメージング方法であって、 位相エンコーダ勾配に起因する残留磁化，渦電流等が該
    位相エンコーダ勾配に対応するエコーの次のエコーに影
    響するのを抑制するための補正成分をプリ補正成分とポ
    スト補正成分とに分割し、前記プリ補正成分を当該位相
    エンコーダ勾配の前または後または前後に分配して補正
    パルスとして加えるか又は当該位相エンコーダ勾配に加
    えると共に、前記ポスト補正成分を対応するリワインダ
    勾配の前または後または前後に分配して補正パルスとし
    て加えるか又は当該リワンダ勾配に加えることを特徴と
    するＭＲイメージング方法。
  2. 【請求項２】 エコーを集束させるための第１エコー集
    束用ＲＦパルスを送信し、位相エンコーダ勾配を位相軸
    に印加し、リワインダ勾配を位相軸に印加し、第２エコ
    ー集束用ＲＦパルスを送信し、リード勾配を位相軸に印
    加しながら第２エコーを観測し、第３エコー集束用ＲＦ
    パルスを送信し、リード勾配を位相軸に印加しながら第
    ３エコーを観測し、前記第２エコーと前記第３エコーの
    エコーピークのずれから前記位相エンコーダ勾配に起因
    する位相エラー量を求めることを特徴とする位相エラー
    測定方法。
  3. 【請求項３】 エコーを集束させるための第１エコー集
    束用ＲＦパルスを送信すると共に第１クラッシャ勾配を
    リード軸に印加し、位相エンコーダ勾配を位相軸に印加
    し、リワインダ勾配を位相軸に印加し、第２エコー集束
    用ＲＦパルスを送信すると共に第２クラッシャ勾配をリ
    ード軸に印加し、リード勾配を位相軸に印加しながら第
    ２エコーを観測し、第３エコー集束用ＲＦパルスを送信
    すると共に第３クラッシャ勾配を印加し、リード勾配を
    位相軸に印加しながら第３エコーを観測し、前記第２エ
    コーと前記第３エコーのエコーピークのずれから前記位
    相エンコーダ勾配に起因する位相エラー量を求めること
    を特徴とする位相エラー測定方法。
  4. 【請求項４】 請求項２または請求項３に記載の位相エ
    ラー測定方法により測定した位相エラー量に基づいて前
    記補正成分を決定することを特徴とする請求項１に記載
    のＭＲイメージング方法。
  5. 【請求項５】（１）請求項２または請求項３に記載の位
    相エラー測定方法により測定した位相エラー量に基づい
    て第１補正成分を決定し、（２）前記第１補正成分を第
    １プリ補正成分と第１ポスト補正成分とに分割し、前記
    第１プリ補正成分を位相エンコーダ勾配の前または後ま
    たは前後に分配して補正パルスとして加えるか又は当該
    位相エンコーダ勾配に加えると共に前記第１ポスト補正
    成分を対応するリワインダ勾配の前または後または前後
    に分配して補正パルスとして加えるか又は当該リワンダ
    勾配に加えた請求項２に記載の位相エラー測定方法によ
    り測定した位相エラー量に基づいて第１追加補正成分を
    決定し、（３）前記第ｉ（≧１）補正成分を第ｉプリ補
    正成分と第ｉポスト補正成分とに分割し、前記第ｉプリ
    補正成分を位相エンコーダ勾配の前または後または前後
    に分配して補正パルスとして加えるか又は当該位相エン
    コーダ勾配に加えると共に前記第ｉポスト補正成分を対
    応するリワインダ勾配の前または後または前後に分配し
    て補正パルスとして加えるか又は当該リワンダ勾配に加
    えた請求項２に記載の位相エラー測定方法により測定し
    た位相エラー量に基づいて第ｉ追加補正成分を決定し、
    （４）“前記第１補正成分＋Σ第ｉ追加補正成分”を第
    （ｉ＋１）補正成分として決定し、（５）上記（３）
    （４）をｉ＝１からＮ（≧１）まで繰り返し、第（Ｎ＋
    １）補正成分を前記補正成分として決定することを特徴
    とする請求項１に記載のＭＲイメージング方法。
  6. 【請求項６】 エコーを集束させるための第１エコー集
    束用ＲＦパルスを送信し、位相エンコーダ勾配を位相軸
    に印加し、リワインダ勾配を位相軸に印加し、第２エコ
    ー集束用ＲＦパルスを送信し、正極性のリード勾配を位
    相軸に印加しながら第２エコーを観測し、第３エコー集
    束用ＲＦパルスを送信し、正極性のリード勾配を位相軸
    に印加しながら第３エコーを観測し、前記第２エコーと
    前記第３エコーのエコーピークのずれから前記位相エン
    コーダ勾配に起因する第１位相エラー量Δａを求め、 また、第１エコー集束用ＲＦパルスを送信し、位相エン
    コーダ勾配を位相軸に印加し、リワインダ勾配を位相軸
    に印加し、第２エコー集束用ＲＦパルスを送信し、負極
    性のリード勾配を位相軸に印加しながら第２エコーを観
    測し、第３エコー集束用ＲＦパルスを送信し、負極性の
    リード勾配を位相軸に印加しながら第３エコーを観測
    し、前記第２エコーと前記第３エコーのエコーピークの
    ずれから前記位相エンコーダ勾配に起因する第２位相エ
    ラー量Δｂを求め、 前記第１位相エラー量Δａと前記第２位相エラー量Δｂ
    とを平均して位相エラー量を求めることを特徴とする位
    相エラー測定方法。
  7. 【請求項７】 エコーを集束させるための第１エコー集
    束用ＲＦパルスを送信すると共に正極性の第１クラッシ
    ャ勾配をリード軸に印加し、位相エンコーダ勾配を位相
    軸に印加し、リワインダ勾配を位相軸に印加し、第２エ
    コー集束用ＲＦパルスを送信すると共に負極性の第２ク
    ラッシャ勾配をリード軸に印加し、正極性のリード勾配
    を位相軸に印加しながら第２エコーを観測し、第３エコ
    ー集束用ＲＦパルスを送信すると共に正極性の第３クラ
    ッシャ勾配を印加し、正極性のリード勾配を位相軸に印
    加しながら第３エコーを観測し、前記第２エコーと前記
    第３エコーのエコーピークのずれから前記位相エンコー
    ダ勾配に起因する第１位相エラー量Δａを求め、 また、第１エコー集束用ＲＦパルスを送信すると共に負
    極性の第１クラッシャ勾配をリード軸に印加し、位相エ
    ンコーダ勾配を位相軸に印加し、リワインダ勾配を位相
    軸に印加し、第２エコー集束用ＲＦパルスを送信すると
    共に正極性の第２クラッシャ勾配をリード軸に印加し、
    負極性のリード勾配を位相軸に印加しながら第２エコー
    を観測し、第３エコー集束用ＲＦパルスを送信すると共
    に負極性の第３クラッシャ勾配を印加し、負極性のリー
    ド勾配を位相軸に印加しながら第３エコーを観測し、前
    記第２エコーと前記第３エコーのエコーピークのずれか
    ら前記位相エンコーダ勾配に起因する第２位相エラー量
    Δｂを求め、 前記第１位相エラー量Δａと前記第２位相エラー量Δｂ
    とを平均して位相エラー量を求めることを特徴とする位
    相エラー測定方法。
  8. 【請求項８】 請求項６または請求項７に記載の位相エ
    ラー測定方法により測定した位相エラー量に基づいて前
    記補正成分を決定することを特徴とする請求項１に記載
    のＭＲイメージング方法。
  9. 【請求項９】（１）請求項６または請求項７に記載の位
    相エラー測定方法により測定した位相エラー量に基づい
    て第１補正成分を決定し、（２）前記第１補正成分を第
    １プリ補正成分と第１ポスト補正成分とに分割し、前記
    第１プリ補正成分を位相エンコーダ勾配の前または後ま
    たは前後に分配して補正パルスとして加えるか又は当該
    位相エンコーダ勾配に加えると共に前記第１ポスト補正
    成分を対応するリワインダ勾配の前または後または前後
    に分配して補正パルスとして加えるか又は当該リワンダ
    勾配に加えた請求項６または請求項７に記載の位相エラ
    ー測定方法により測定した位相エラー量に基づいて第１
    追加補正成分を決定し、（３）前記第ｉ（≧１）補正成
    分を第ｉプリ補正成分と第ｉポスト補正成分とに分割
    し、前記第ｉプリ補正成分を位相エンコーダ勾配の前ま
    たは後または前後に分配して補正パルスとして加えるか
    又は当該位相エンコーダ勾配に加えると共に前記第ｉポ
    スト補正成分を対応するリワインダ勾配の前または後ま
    たは前後に分配して補正パルスとして加えるか又は当該
    リワンダ勾配に加えた請求項６または請求項７に記載の
    位相エラー測定方法により測定した位相エラー量に基づ
    いて第ｉ追加補正成分を決定し、（４）“前記第１補正
    成分＋Σ第ｉ追加補正成分”を第（ｉ＋１）補正成分と
    して決定し、（５）上記（３）（４）をｉ＝１からＮ
    （≧１）まで繰り返し、第（Ｎ＋１）補正成分を前記補
    正成分として決定することを特徴とする請求項１に記載
    のＭＲイメージング方法。
  10. 【請求項１０】 前記パルスシーケンスが高速スピンエ
    コー法のパルスシーケンスであり、前記集束用ＲＦパル
    スが反転パルスであることを特徴とする請求項１、４、
    ５、８または９に記載のＭＲイメージング方法。
  11. 【請求項１１】 前記集束用ＲＦパルスが反転パルスで
    あることを特徴とする請求項２、３、６または７に記載
    の位相エラー測定方法。
  12. 【請求項１２】 ＲＦパルス送信手段と、勾配パルス印
    加手段と、ＮＭＲ信号受信手段とを具備し、それら各手
    段を制御して、エコーを集束させるためのエコー集束用
    ＲＦパルスを送信し、位相エンコーダ勾配を位相軸に印
    加し、リード勾配をリード軸に印加しながらエコーから
    データを収集し、リワインダ勾配を位相軸に印加するこ
    とを、位相エンコーダ勾配を変えながら複数回繰り返
    し、複数エコーのデータを連続して収集するパルスシー
    ケンスを実行するＭＲＩ装置であって、 位相エンコーダ勾配に起因する残留磁化，渦電流等が該
    位相エンコーダ勾配に対応するエコーの次のエコーに影
    響するのを抑制するための補正成分をプリ補正成分とポ
    スト補正成分とに分割し、前記プリ補正成分を当該位相
    エンコーダ勾配の前または後または前後に分配して補正
    パルスとして加えるか又は当該位相エンコーダ勾配に加
    えると共に、前記ポスト補正成分を対応するリワインダ
    勾配の前または後または前後に分配して補正パルスとし
    て加えるか又は当該リワンダ勾配に加える補正成分付加
    手段を具備したことを特徴とするＭＲＩ装置。
  13. 【請求項１３】 ＲＦパルス送信手段と、勾配パルス印
    加手段と、ＮＭＲ信号受信手段とを具備すると共に、そ
    れら各手段を制御して、エコーを集束させるための第１
    エコー集束用ＲＦパルスを送信し、位相エンコーダ勾配
    を位相軸に印加し、リワインダ勾配を位相軸に印加し、
    第２エコー集束用ＲＦパルスを送信し、リード勾配を位
    相軸に印加しながら第２エコーを観測し、第３エコー集
    束用ＲＦパルスを送信し、リード勾配を位相軸に印加し
    ながら第３エコーを観測し、前記第２エコーと前記第３
    エコーのエコーピークのずれから前記位相エンコーダ勾
    配に起因する位相エラー量を求める位相エラー測定手段
    を具備したことを特徴とするＭＲＩ装置。
  14. 【請求項１４】 ＲＦパルス送信手段と、勾配パルス印
    加手段と、ＮＭＲ信号受信手段とを具備すると共に、そ
    れら各手段を制御して、エコーを集束させるための第１
    エコー集束用ＲＦパルスを送信すると共に第１クラッシ
    ャ勾配をリード軸に印加し、位相エンコーダ勾配を位相
    軸に印加し、リワインダ勾配を位相軸に印加し、第２エ
    コー集束用ＲＦパルスを送信すると共に第２クラッシャ
    勾配をリード軸に印加し、リード勾配を位相軸に印加し
    ながら第２エコーを観測し、第３エコー集束用ＲＦパル
    スを送信すると共に第３クラッシャ勾配を印加し、リー
    ド勾配を位相軸に印加しながら第３エコーを観測し、前
    記第２エコーと前記第３エコーのエコーピークのずれか
    ら前記位相エンコーダ勾配に起因する位相エラー量を求
    める位相エラー測定手段を具備したことを特徴とするＭ
    ＲＩ装置。
  15. 【請求項１５】 請求項１３または請求項１４に記載の
    位相エラー測定手段を具備し、該位相エラー測定手段
    は、測定した位相エラー量に基づいて補正成分を決定す
    ることを特徴とする請求項１２に記載のＭＲＩ装置。
  16. 【請求項１６】 請求項１３または請求項１４に記載の
    位相エラー測定手段を具備し、該位相エラー測定手段
    は、（１）測定した位相エラー量に基づいて第１補正成
    分を決定し、（２）前記第１補正成分を第１プリ補正成
    分と第１ポスト補正成分とに分割し、前記第１プリ補正
    成分を位相エンコーダ勾配の前または後または前後に分
    配して補正パルスとして加えるか又は当該位相エンコー
    ダ勾配に加えると共に前記第１ポスト補正成分を対応す
    るリワインダ勾配の前または後または前後に分配して補
    正パルスとして加えるか又は当該リワンダ勾配に加えて
    位相エラー量を測定し、その位相エラー量に基づいて第
    １追加補正成分を決定し、（３）前記第ｉ（≧１）補正
    成分を第ｉプリ補正成分と第ｉポスト補正成分とに分割
    し、前記第ｉプリ補正成分を位相エンコーダ勾配の前ま
    たは後または前後に分配して補正パルスとして加えるか
    又は当該位相エンコーダ勾配に加えると共に前記第ｉポ
    スト補正成分を対応するリワインダ勾配の前または後ま
    たは前後に分配して補正パルスとして加えるか又は当該
    リワンダ勾配に加えて位相エラー量を測定し、その位相
    エラー量に基づいて第ｉ追加補正成分を決定し、（４）
    “前記第１補正成分＋Σ第ｉ追加補正成分”を第（ｉ＋
    １）補正成分として決定し、（５）上記（３）（４）を
    ｉ＝１からＮ（≧１）まで繰り返し、第（Ｎ＋１）補正
    成分を前記補正成分として決定することを特徴とする請
    求項１２に記載のＭＲＩ装置。
  17. 【請求項１７】 ＲＦパルス送信手段と、勾配パルス印
    加手段と、ＮＭＲ信号受信手段とを具備すると共に、そ
    れら各手段を制御して、エコーを集束させるための第１
    エコー集束用ＲＦパルスを送信し、位相エンコーダ勾配
    を位相軸に印加し、リワインダ勾配を位相軸に印加し、
    第２エコー集束用ＲＦパルスを送信し、正極性のリード
    勾配を位相軸に印加しながら第２エコーを観測し、第３
    エコー集束用ＲＦパルスを送信し、正極性のリード勾配
    を位相軸に印加しながら第３エコーを観測し、前記第２
    エコーと前記第３エコーのエコーピークのずれから前記
    位相エンコーダ勾配に起因する第１位相エラー量Δａを
    求め、また、第１エコー集束用ＲＦパルスを送信し、位
    相エンコーダ勾配を位相軸に印加し、リワインダ勾配を
    位相軸に印加し、第２エコー集束用ＲＦパルスを送信
    し、負極性のリード勾配を位相軸に印加しながら第２エ
    コーを観測し、第３エコー集束用ＲＦパルスを送信し、
    負極性のリード勾配を位相軸に印加しながら第３エコー
    を観測し、前記第２エコーと前記第３エコーのエコーピ
    ークのずれから前記位相エンコーダ勾配に起因する第２
    位相エラー量Δｂを求め、前記第１位相エラー量Δａと
    前記第２位相エラー量Δｂとを平均して位相エラー量を
    求める位相エラー測定手段を具備したことを特徴とする
    ＭＲＩ装置。
  18. 【請求項１８】 ＲＦパルス送信手段と、勾配パルス印
    加手段と、ＮＭＲ信号受信手段とを具備すると共に、そ
    れら各手段を制御して、エコーを集束させるための第１
    エコー集束用ＲＦパルスを送信すると共に正極性の第１
    クラッシャ勾配をリード軸に印加し、位相エンコーダ勾
    配を位相軸に印加し、リワインダ勾配を位相軸に印加
    し、第２エコー集束用ＲＦパルスを送信すると共に負極
    性の第２クラッシャ勾配をリード軸に印加し、正極性の
    リード勾配を位相軸に印加しながら第２エコーを観測
    し、第３エコー集束用ＲＦパルスを送信すると共に正極
    性の第３クラッシャ勾配を印加し、正極性のリード勾配
    を位相軸に印加しながら第３エコーを観測し、前記第２
    エコーと前記第３エコーのエコーピークのずれから前記
    位相エンコーダ勾配に起因する第１位相エラー量Δａを
    求め、また、第１エコー集束用ＲＦパルスを送信すると
    共に負極性の第１クラッシャ勾配をリード軸に印加し、
    位相エンコーダ勾配を位相軸に印加し、リワインダ勾配
    を位相軸に印加し、第２エコー集束用ＲＦパルスを送信
    すると共に正極性の第２クラッシャ勾配をリード軸に印
    加し、負極性のリード勾配を位相軸に印加しながら第２
    エコーを観測し、第３エコー集束用ＲＦパルスを送信す
    ると共に負極性の第３クラッシャ勾配を印加し、負極性
    のリード勾配を位相軸に印加しながら第３エコーを観測
    し、前記第２エコーと前記第３エコーのエコーピークの
    ずれから前記位相エンコーダ勾配に起因する第２位相エ
    ラー量Δｂを求め、前記第１位相エラー量Δａと前記第
    ２位相エラー量Δｂとを平均して位相エラー量を求める
    位相エラー測定手段を具備したことを特徴とするＭＲＩ
    装置。
  19. 【請求項１９】 請求項１７または請求項１８に記載の
    位相エラー測定手段を具備し、該位相エラー測定手段
    は、測定した位相エラー量に基づいて補正成分を決定す
    ることを特徴とする請求項１２に記載のＭＲＩ装置。
  20. 【請求項２０】 請求項１７または請求項１８に記載の
    位相エラー測定手段を具備し、該位相エラー測定手段
    は、（１）測定した位相エラー量に基づいて第１補正成
    分を決定し、（２）前記第１補正成分を第１プリ補正成
    分と第１ポスト補正成分とに分割し、前記第１プリ補正
    成分を位相エンコーダ勾配の前または後または前後に分
    配して補正パルスとして加えるか又は当該位相エンコー
    ダ勾配に加えると共に前記第１ポスト補正成分を対応す
    るリワインダ勾配の前または後または前後に分配して補
    正パルスとして加えるか又は当該リワンダ勾配に加えて
    位相エラー量を測定し、その位相エラー量に基づいて第
    １追加補正成分を決定し、（３）前記第ｉ（≧１）補正
    成分を第ｉプリ補正成分と第ｉポスト補正成分とに分割
    し、前記第ｉプリ補正成分を位相エンコーダ勾配の前ま
    たは後または前後に分配して補正パルスとして加えるか
    又は当該位相エンコーダ勾配に加えると共に前記第ｉポ
    スト補正成分を対応するリワインダ勾配の前または後ま
    たは前後に分配して補正パルスとして加えるか又は当該
    リワンダ勾配に加えて位相エラー量を測定し、その位相
    エラー量に基づいて第ｉ追加補正成分を決定し、（４）
    “前記第１補正成分＋Σ第ｉ追加補正成分”を第（ｉ＋
    １）補正成分として決定し、（５）上記（３）（４）を
    ｉ＝１からＮ（≧１）まで繰り返し、第（Ｎ＋１）補正
    成分を前記補正成分として決定することを特徴とする請
    求項１２に記載のＭＲＩ装置。
  21. 【請求項２１】 前記パルスシーケンスが高速スピンエ
    コー法のパルスシーケンスであり、前記集束用ＲＦパル
    スが反転パルスであることを特徴とする請求項１２、１
    ５、１６、１９または２０に記載のＭＲＩ装置。
  22. 【請求項２２】 前記集束用ＲＦパルスが反転パルスで
    あることを特徴とする請求項１３、１４、１７または１
    ８に記載のＭＲＩ装置。
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