JP2592553B2 - 金属材料の加熱制御方法 - Google Patents

金属材料の加熱制御方法

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JP2592553B2
JP2592553B2 JP3186657A JP18665791A JP2592553B2 JP 2592553 B2 JP2592553 B2 JP 2592553B2 JP 3186657 A JP3186657 A JP 3186657A JP 18665791 A JP18665791 A JP 18665791A JP 2592553 B2 JP2592553 B2 JP 2592553B2
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heating
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theta
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伸二 上野
泰行 西山
勇一 平石
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Nippon Steel Corp
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Nippon Steel Corp
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    • Y02TECHNOLOGIES OR APPLICATIONS FOR MITIGATION OR ADAPTATION AGAINST CLIMATE CHANGE
    • Y02PCLIMATE CHANGE MITIGATION TECHNOLOGIES IN THE PRODUCTION OR PROCESSING OF GOODS
    • Y02P10/00Technologies related to metal processing
    • Y02P10/25Process efficiency

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  • Control Of Heat Treatment Processes (AREA)

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】この発明は、方向性電磁鋼スラブ
などの金属材料の誘導または通電加熱において、加熱温
度を制御する方法に関する。
【0002】
【従来の技術】金属材料を1000℃以上の高温に加熱
し、熱処理することが行われている。加熱材料によって
は、加熱温度誤差を20〜30℃以内に押さえなければ
ならない。このような高温熱処理には誘導加熱炉または
通電加熱炉が用いられている。たとえば、方向性電磁鋼
スラブは、1250℃程度までガス燃焼型加熱炉で予備
加熱し、その後の不活性雰囲気に制御された誘導加熱炉
で1300〜1400℃の高温加熱を短時間行う。
【0003】従来では、予め昇温速度および加熱時間を
設定し、一定電圧(または一定電流)で加熱材料を加熱
する。加熱段階では、加熱材料の表面温度を検出して目
標温度と比較する。そして、表面温度検出値が目標温度
を超えるか、または加熱時間が設定加熱時間を超えた場
合に、目標温度に達したと判断し、昇温を停止して均熱
段階に移行する。
【0004】
【発明が解決しようとする課題】上記高温熱処理では加
熱材料の表面温度の検出に放射温度計が用いられてい
る。また、加熱材料によっては、高温熱処理中に溶融ス
ケールが発生する。溶融スケールの表面温度は加熱材料
の表面温度よりもたとえば30〜50℃程度低い。した
がって、加熱材料の表面温度は実際の温度よりも低く検
出されるので、加熱材料は過熱される。このような溶融
スケール発生に起因する過熱を防止するためには、加熱
時間を適正な値に設定し、過熱や加熱不足にならないよ
うに配慮する必要がある。しかし、加熱材料の初期温度
は材料ごとに異なり、また加熱材料寸法や炉況(炉の蓄
熱状態)が一定でないなどで、適正な加熱時間を予め設
定することは困難である。この結果、過熱や加熱不足に
なるのは避け難いという問題があった。
【0005】この発明は、溶融スケールが発生しても、
過熱または加熱不足を生ずることがない金属材料の加熱
制御方法を提供しようとするものである。
【0006】
【課題を解決するための手段】この発明の加熱制御方法
は、予め目標温度θo および加熱時間to を設定し、加
熱材料の表面温度θを検出して目標温度θo と比較しな
がら加熱材料を誘導または通電加熱する方法において、
加熱電力、加熱電圧または加熱電流を一定に保持した状
態で加熱材料の表面温度を一定のサンプリングピッチΔ
tで検出し、サンプリング時点t n =1,2…)で
の温度検出値θ n とサンプリング時点t n-1 での温度検
出値θ n-1 との温度差θ n −θ n-1 を逐次求める。
【0007】サンプリング時点tn で温度差θn −θ
n-1 が負であってその絶対値が予め定めた限界温度差α
より大きくなった場合に、そのときのサンプリング時点
n-1 から過去k回分の温度検出値θn-k ,θ n-k+1
θn-1 を用いて昇温速度の平均値を求めて実績昇温速度
vとするとともに、前記サンプリング時点tn における
検出温度θn から目標温度θo に到達するまでの修正加
熱時間Δtn を前記実績昇温速度vに基づいて求める。
【0008】そして、設定加熱時間to から前記サンプ
リング時点tn までの加熱時間を差し引いた残り時間Δ
o が前記修正加熱時間Δtn よりも短い場合には、サ
ンプリング時点tn からその残り時間Δto を前記一定
加熱電力、一定加熱電圧または一定加熱電流で加熱す
る。
【0009】また、前記残り時間Δto が前記修正加熱
時間Δtn よりも長い場合には、サンプリング時点tn
から前記修正加熱時間Δtn を前記一定加熱電力、一定
加熱電圧または一定加熱電流で加熱する。
【0010】加熱材料の材質および寸法,加熱温度,加
熱精度ならびに加熱炉の応答性などによって異なるが、
サンプリングピッチは10〜30秒程度であり、限界温
度差αは3〜5℃程度である。限界温度差αは、溶融ス
ケール発生温度のばらつきを考慮したものである。ま
た、実績昇温速度vを求めるサンプリング数kは、2〜
5程度である。
【0011】上記加熱制御は、通常のプロセスコンピュ
ータや制御用シーケンサにより行われる。サンプリング
ピッチ,限界温度差α,実績昇温速度vを求めるサンプ
リング数kなどは、実機について実験で求め、プロセス
コンピュータに記憶させておく。
【0012】なお、温度差θn −θn-1 が負とならない
場合、または温度差θn −θn-1 が負であってもその絶
対値が限界温度差αより大きくならない場合には、その
まま目標温度θo まで加熱する。この場合には、溶融ス
ケールは発生しないので、溶融スケールによる加熱誤差
は生じない。
【0013】
【作用】前述のように、溶融スケールの表面温度は加熱
材料の表面温度よりも低い。したがって、温度差θ n
θ n-1 が負であってその絶対値が予め定めた限界温度差
αより大きくなると、溶融スケールが発生したと判断さ
れる。一般に、溶融スケールが発生する温度は加熱目標
温度θo に近い。このために、前記実績昇温速度vによ
り求めた修正加熱時間Δtn のあいだ加熱材料を加熱す
ることにより、大きな加熱誤差を生じることなくほぼ目
標温度θo に加熱することができる。
【0014】
【実施例】以下、誘導加熱炉による方向性電磁鋼スラブ
の高温加熱を実施例として説明する。
【0015】高温加熱するスラブはガス燃焼型加熱炉に
より1150℃まで比較的低い昇温速度で予備加熱す
る。スラブの寸法は、長さ9000〜11000mm、幅
900〜1100mm、厚み190〜240mmである。つ
いで、上記スラブを誘導加熱炉に装入し、1350℃ま
で高温加熱する。高温加熱は、図2に示すように加熱段
階と均熱段階とからなっている。
【0016】スラブSは、図3に示すように垂直姿勢
(スラブ側面が水平となる姿勢)で誘導加熱炉1内に装
入する。加熱コイル2に供給する電力は、電源3よりイ
ンバータ4を介して供給する。加熱制御装置は、プロセ
スコンピュータ5,制御用シーケンサ6およびインバー
タ4により構成されている。プロセスコンピュータ5に
は、加熱目標温度θo ,インバータ出力電圧,加熱時間
o などが予め記憶されており、これらデータは制御用
シーケンサ6に出力される。また、制御用シーケンサ6
には、図1にフローチャートで示す加熱制御のプログラ
ムが設定されている。スラブ表面の3箇所について、放
射温度計7により表面温度を検出する。加熱制御は次の
ようにして行われる。
【0017】スラブSの初期温度、寸法、目標温度、加
熱時間などから出力電圧を求め、インバータ4を調整す
る。また、スラブSの表面温度を放射温度計7により3
0秒のサンプリングピッチΔtで検出する。検出した表
面温度は、制御用シーケンサ6に入力される。このと
き、3箇所の検出値のうち最大値を採用する。制御シー
ケンサ6のデータテーブルはk+1個(この実施例では
5個)のデータを保存し、データテーブルはサンプリン
グごとに更新される。サンプリング時点t n =1,
2…)での温度検出値θ n とサンプリング時点t n-1
の温度検出値θ n-1 との温度差θ n −θ n-1 を逐次求め
る。
【0018】サンプリング時点tn で温度差θn −θ
n-1 が負であってその絶対値が予め定めた限界温度差α
より大きくなった場合に、そのときのサンプリング時点
n-1 から過去k回分の温度検出値θn-k ,θ n-k+1
θn-1 を用いて昇温速度の平均値を求めて実績昇温速度
vとする。例えば、実績昇温速度vは、
【数1】 となる。ついで、前記サンプリング時点tn における検
出温度θn から目標温度θo に到達するまでの修正加熱
時間Δtn を前記実績昇温速度vに基づいて求める。図
2において、破線は溶融スケールが発生したときの昇温
曲線を示している。この昇温曲線において、温度がいっ
たん下がって上昇しているのは、溶融スケールがスラブ
Sの表面を流れ落ち、放射温度計7の視野から外れてス
ラブ表面が現れたことによる。
【0019】そして、設定加熱時間to から前記サンプ
リング時点tn までの加熱時間を差し引いた残り時間Δ
o が前記修正加熱時間Δtn よりも短い場合には、サ
ンプリング時点tn からその残り時間Δto を前記出力
電圧で加熱する。
【0020】また、残り時間Δto が前記修正加熱時間
Δtn よりも長い場合には、サンプリング時点tn から
修正加熱時間Δtn を前記出力電圧で加熱する。
【0021】温度差θn −θn-1 が負とならない場合、
または温度差θn −θn-1 が負であってもその絶対値が
限界温度差αより大きくならない場合には、設定昇温速
度vo でそのまま目標温度θo まで加熱する。
【0022】この実施例では、目標温度1350℃から
の過熱度は3〜5℃であった。これに対して、従来法に
よる場合、目標温度1350℃からの過熱度は20〜3
0℃であった。
【0023】
【発明の効果】この発明によれば、溶融スケールを検出
して加熱時間を調整するようにしている。したがって、
溶融スケールが発生しても過熱または加熱不足を生じる
ことなく加熱材料を目標温度に加熱することができ、製
品の品質および歩留りの向上を図ることができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】この発明の加熱制御方法の一例を示すフローチ
ャートである。
【図2】スラブの昇温曲線の一例である。
【図3】この発明の加熱制御方法を実施する装置の一例
を示す装置構成図である。
【符号の説明】
1 誘導加熱炉 2 加熱コイル 3 電源 4 インバータ 5 プロセスコンピュータ 6 制御用シーケンサ 7 放射温度計 S スラブ

Claims (1)

    (57)【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 予め目標温度θo および加熱時間to
    設定し、加熱材料の表面温度θを検出して目標温度θo
    と比較しながら加熱材料を誘導または通電加熱する方法
    において、 加熱電力、加熱電圧または加熱電流を一定に保持した状
    態で加熱材料の表面温度を一定のサンプリングピッチΔ
    tで検出し、サンプリング時点t n =1,2…)で
    の温度検出値θ n とサンプリング時点t n-1 での温度検
    出値θ n-1 との温度差θ n −θ n-1 を逐次求めること、 サンプリング時点tn で温度差θn −θn-1 が負であっ
    てその絶対値が予め定めた限界温度差αより大きくなっ
    た場合に、そのときのサンプリング時点t n-1 から過去
    k回分の温度検出値θn-k ,θ n-k+1 …θn-1 を用いて
    昇温速度の平均値を求めて実績昇温速度vとするととも
    に、前記サンプリング時点tn における検出温度θn
    ら目標温度θo に至るまでの修正加熱時間Δtn を前記
    実績昇温速度vに基づいて求めること、 前記設定加熱時間to から前記サンプリング時点tn
    での加熱時間を差し引いた残り時間Δto が前記修正加
    熱時間Δtn よりも短い場合には、サンプリング時点t
    n からその残り時間Δto を前記一定加熱電力、一定加
    熱電圧または一定加熱電流で加熱すること、 前記残り時間Δto が前記修正加熱時間Δtn よりも長
    い場合には、サンプリング時点tn から修正加熱時間Δ
    n を前記一定加熱電力、一定加熱電圧または一定加熱
    電流で加熱すること、 よりなることを特徴とする金属材料の加熱制御方法。
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* Cited by examiner, † Cited by third party
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JP2020017354A (ja) * 2018-07-23 2020-01-30 中央発條株式会社 加熱装置及び加熱方法

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* Cited by examiner, † Cited by third party
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