JP2590641B2 - 核磁気共鳴を用いた検査装置 - Google Patents
核磁気共鳴を用いた検査装置Info
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- JP2590641B2 JP2590641B2 JP3223977A JP22397791A JP2590641B2 JP 2590641 B2 JP2590641 B2 JP 2590641B2 JP 3223977 A JP3223977 A JP 3223977A JP 22397791 A JP22397791 A JP 22397791A JP 2590641 B2 JP2590641 B2 JP 2590641B2
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Description
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明は核磁気共鳴現象を用い、
対象物体中の核スピンの密度分布あるいは緩和時間分布
などを非破壊的に求める検査装置に関する。
対象物体中の核スピンの密度分布あるいは緩和時間分布
などを非破壊的に求める検査装置に関する。
【０００２】
【従来の技術】従来、人体などの内部構造を非破壊的に
検査する方法として、Ｘ線ＣＴや超音波装置が広く利用
されて来ている。しかし最近核磁気共鳴現象を用い同様
の検査を行う試みが成功し、Ｘ線ＣＴや超音波装置では
得られない情報を取得できることが明らかになった。
検査する方法として、Ｘ線ＣＴや超音波装置が広く利用
されて来ている。しかし最近核磁気共鳴現象を用い同様
の検査を行う試みが成功し、Ｘ線ＣＴや超音波装置では
得られない情報を取得できることが明らかになった。
【０００３】核磁気共鳴装置は対象とする核スピンから
発生する高周波磁場をコイルで検出し、それをもとに核
スピンの密度あるいは緩和時間を位置の関数として表示
するものである。従来まで提案されている方法には投影
再構成法やフーリエ変換法などがあるが、いずれも投影
角度を変えるか、あるいはフェーズエンコード量を変え
て１００〜２００回位の測定を行い、得られたデ−タを
計算機で処理し、元の核スピン分布を求めるものであ
る。この場合、１回の測定が終了してから次の測定に移
るまでに、対象物体の縦緩和測時間程度待たなければな
らず、測定の大部分がこのために費やされていた。これ
に対して、G.Johnson らはエコーを次々と形成し、横
緩和時間Ｔ2 よりも十分短い時間内に全ての測定を完
了する方法を提案した（J.Magn.Reson.54,374（1983）
を参照のこと）。すなわち、信号読みだし傾斜磁場の反
転を繰り返してエコーを次々と形成し、かつエコーとエ
コーの間でフェーズエンコードを行うことにより、１回
のシーケンスで全てのフェーズエンコードに対応した信
号を測定するものである。しかしこの方法は重大な欠点
がある。それは、傾斜磁場の反転により回復するのは印
加した傾斜磁場によって生じた核スピンの位相分散だけ
であり、静磁場の不均一により生じたの位相分散は累積
する一方であるため、エコーが時間とともに次第に減衰
して行くことである。勿論、対象物体自身の横緩和時間
Ｔ2 に応じた核スピンの横緩和による減衰はどのよう
な方法でも回復不可能であるため、この減衰も加わる。
例えば、対象物体が生体である場合、部位にもよるが平
均的Ｔ2 は１００ｍｓ程度である。一方、静磁場の不
均一による減衰は次に示す手順で計算できる。
発生する高周波磁場をコイルで検出し、それをもとに核
スピンの密度あるいは緩和時間を位置の関数として表示
するものである。従来まで提案されている方法には投影
再構成法やフーリエ変換法などがあるが、いずれも投影
角度を変えるか、あるいはフェーズエンコード量を変え
て１００〜２００回位の測定を行い、得られたデ−タを
計算機で処理し、元の核スピン分布を求めるものであ
る。この場合、１回の測定が終了してから次の測定に移
るまでに、対象物体の縦緩和測時間程度待たなければな
らず、測定の大部分がこのために費やされていた。これ
に対して、G.Johnson らはエコーを次々と形成し、横
緩和時間Ｔ2 よりも十分短い時間内に全ての測定を完
了する方法を提案した（J.Magn.Reson.54,374（1983）
を参照のこと）。すなわち、信号読みだし傾斜磁場の反
転を繰り返してエコーを次々と形成し、かつエコーとエ
コーの間でフェーズエンコードを行うことにより、１回
のシーケンスで全てのフェーズエンコードに対応した信
号を測定するものである。しかしこの方法は重大な欠点
がある。それは、傾斜磁場の反転により回復するのは印
加した傾斜磁場によって生じた核スピンの位相分散だけ
であり、静磁場の不均一により生じたの位相分散は累積
する一方であるため、エコーが時間とともに次第に減衰
して行くことである。勿論、対象物体自身の横緩和時間
Ｔ2 に応じた核スピンの横緩和による減衰はどのよう
な方法でも回復不可能であるため、この減衰も加わる。
例えば、対象物体が生体である場合、部位にもよるが平
均的Ｔ2 は１００ｍｓ程度である。一方、静磁場の不
均一による減衰は次に示す手順で計算できる。
【０００４】いま対象物体内で静磁場にΔＨの不均一が
あり、検査すべき絵素数がＮ2 のとき、厚さ方向の不
均一を無視する１絵素あたりの不均一ΔｈはΔＨ／Ｎで
与えられる。ところが、実際には断面象を得る場合は厚
さ１ｃｍ程度のスライスに限定して信号を得る。このた
め、１絵素あたりの不均一はこのスライスの厚さ方向で
の不均一が支配的となり、ΔＨ／Ｎより１桁高い値にな
ると考えられる。そこで Δｈ＝１０・ΔＨ／Ｎ と置
くと、Δｈによる減衰の時定数Ｔ2＊は、Ｔ2＊＝２／γ
ΔＨ となる。ここでγは核磁気回転比である。したが
って、静磁場強度Ｈ0 が０．５Ｔ、不均一が１０ｐｐ
ｍ、Ｎ＝２５６とすると、プロトンに対しては Ｔ2＊
＝３８ｍｓ となり、生体のＴ2 に対して無視できな
い値となることが分かる。
あり、検査すべき絵素数がＮ2 のとき、厚さ方向の不
均一を無視する１絵素あたりの不均一ΔｈはΔＨ／Ｎで
与えられる。ところが、実際には断面象を得る場合は厚
さ１ｃｍ程度のスライスに限定して信号を得る。このた
め、１絵素あたりの不均一はこのスライスの厚さ方向で
の不均一が支配的となり、ΔＨ／Ｎより１桁高い値にな
ると考えられる。そこで Δｈ＝１０・ΔＨ／Ｎ と置
くと、Δｈによる減衰の時定数Ｔ2＊は、Ｔ2＊＝２／γ
ΔＨ となる。ここでγは核磁気回転比である。したが
って、静磁場強度Ｈ0 が０．５Ｔ、不均一が１０ｐｐ
ｍ、Ｎ＝２５６とすると、プロトンに対しては Ｔ2＊
＝３８ｍｓ となり、生体のＴ2 に対して無視できな
い値となることが分かる。
【０００５】
【発明が解決しようとする課題】上記した様に、傾斜磁
場の反転により次々とエコーを形成する G.Johnsonら
の提案した方法では、静磁場の不均一による減衰のため
に一連のデ−タを取得できない事態が生じるおそれがあ
る。一方、１８０°ｒｆパルスを連続して照射して次々
とエコーを形成する方法は、これらのｒｆパルスが測定
対象に悪影響を及ぼす（高周波磁場による加熱効果
等）、あるいは、１８０°ｒｆパルスの照射時間を確保
するためにエコー間の時間を長くせざるを得ない、など
の欠点を有する。
場の反転により次々とエコーを形成する G.Johnsonら
の提案した方法では、静磁場の不均一による減衰のため
に一連のデ−タを取得できない事態が生じるおそれがあ
る。一方、１８０°ｒｆパルスを連続して照射して次々
とエコーを形成する方法は、これらのｒｆパルスが測定
対象に悪影響を及ぼす（高周波磁場による加熱効果
等）、あるいは、１８０°ｒｆパルスの照射時間を確保
するためにエコー間の時間を長くせざるを得ない、など
の欠点を有する。
【０００６】そこで本発明の目的は、静磁場の不均一に
よる減衰を受けず、かつｒｆパルスの連続照射で生じる
欠点をも解消して複数のエコーを次々と形成し得る核磁
気共鳴を用いた検査装置を提供することにある。
よる減衰を受けず、かつｒｆパルスの連続照射で生じる
欠点をも解消して複数のエコーを次々と形成し得る核磁
気共鳴を用いた検査装置を提供することにある。
【０００７】
【課題を解決するための手段】上記目的を達成するため
に、本発明では所定の領域の核スピンを励起して、その
後複数のエコーを得るにあたり、１８０°ｒｆパルスの
印加によるエコー形成と、傾斜磁場の反転によるエコー
形成とを組み合わせて用いる。
に、本発明では所定の領域の核スピンを励起して、その
後複数のエコーを得るにあたり、１８０°ｒｆパルスの
印加によるエコー形成と、傾斜磁場の反転によるエコー
形成とを組み合わせて用いる。
【０００８】
【作用】すなわち本発明は、静磁場の不均一による信号
の減衰は、１８０°ｒｆパルスにより回復させることが
可能であるという事実を利用し、傾斜磁場の反転により
累積した位相分散が無視しえなくなった時点において、
１８０°ｒｆパルスを照射することによってそれを回復
させるものである。このような走査を繰り返せば、静磁
場の不均一による信号減衰は最小限におさえ、しかもｒ
ｆパルスの連続照射による対象への悪影響や、シーケン
スの長時間化を軽減して多数のエコーを計測することが
可能となる。
の減衰は、１８０°ｒｆパルスにより回復させることが
可能であるという事実を利用し、傾斜磁場の反転により
累積した位相分散が無視しえなくなった時点において、
１８０°ｒｆパルスを照射することによってそれを回復
させるものである。このような走査を繰り返せば、静磁
場の不均一による信号減衰は最小限におさえ、しかもｒ
ｆパルスの連続照射による対象への悪影響や、シーケン
スの長時間化を軽減して多数のエコーを計測することが
可能となる。
【０００９】なお、測定対象自身のＴ2 による減衰は
依然として回復しない。これを考慮するなら、Ｔ2 に
よる減衰が無視し得なくなった時点において、測定を中
断し、新しい磁化の回復を待って測定を繰り返す。ただ
し、この場合にはフェーズエンコードする量は繰り返し
間で均等ではなく、中断後の最初のエンコードに対して
は、それまでに印加したフェーズエンコード磁場の総和
に匹敵するフェーズエンコード磁場に次のエンコード磁
場を加えた磁場を印加しなければならない。勿論、この
方法によれば測定時間が長くなるが、その犠牲において
画質を向上させることが可能になるいわけである。
依然として回復しない。これを考慮するなら、Ｔ2 に
よる減衰が無視し得なくなった時点において、測定を中
断し、新しい磁化の回復を待って測定を繰り返す。ただ
し、この場合にはフェーズエンコードする量は繰り返し
間で均等ではなく、中断後の最初のエンコードに対して
は、それまでに印加したフェーズエンコード磁場の総和
に匹敵するフェーズエンコード磁場に次のエンコード磁
場を加えた磁場を印加しなければならない。勿論、この
方法によれば測定時間が長くなるが、その犠牲において
画質を向上させることが可能になるいわけである。
【００１０】
【実施例】以下、図面を参照しながら本発明を説明す
る。図１に本発明で用いる装置の構成を示す。制御装置
１は各装置へ種々の命令を一定のタイミングで出力す
る。高周波パルス発生器２の出力は電力増幅器３で増幅
され、コイル４を励振する。コイル４は同時に受信コイ
ルを兼用しており、信号成分は増幅器５を通り、検波器
６で検波後、信号処理装置７にで画像に変換される。高
周波パルス発生器２の他の出力は検波器６で直角位相検
波する時の基準信号として用いられる。ｚ方向及びｘ，
ｙ方向の傾斜磁場の発生は、それぞれコイル８、９、１
０で行い、これらのコイルは増幅器１１、１２、１３で
駆動される。測定対象物１６はベッド１７上に横たわっ
ており、ベッド１７は第１８上を移動する。
る。図１に本発明で用いる装置の構成を示す。制御装置
１は各装置へ種々の命令を一定のタイミングで出力す
る。高周波パルス発生器２の出力は電力増幅器３で増幅
され、コイル４を励振する。コイル４は同時に受信コイ
ルを兼用しており、信号成分は増幅器５を通り、検波器
６で検波後、信号処理装置７にで画像に変換される。高
周波パルス発生器２の他の出力は検波器６で直角位相検
波する時の基準信号として用いられる。ｚ方向及びｘ，
ｙ方向の傾斜磁場の発生は、それぞれコイル８、９、１
０で行い、これらのコイルは増幅器１１、１２、１３で
駆動される。測定対象物１６はベッド１７上に横たわっ
ており、ベッド１７は第１８上を移動する。
【００１１】図２に本発明の実施例の前提となる計測シ
ーケンスを示す。まず、９０°ｒｆパルスと傾斜磁場Ｇ
ｚとによりスライスを選択した後、区間１でＧｘ，Ｇｙ
を印加する。フェーズエンコードはＧｘにより行なう
が、Ｇｘの過渡応答の悪影響を除去するために、この区
間においてダミー磁場を印加しておく。続いて照射する
１８０°ｒｆパルスの後で印加するフェーズエンコード
は実質的には両者の差となるため、過渡応答によるエン
コード分は相殺される。従って、図３に示すように両者
の差は同図斜線で示すように幅Δｔ、高さＧｘの矩形波
と見做すことができる。このような形状にエンコードの
増分を整えることは極めて有用である。それは、一連の
シーケンスを複数ブロックに分割し、最初のブロック終
了後、次のブロックをはじめる時、それまで印加したフ
ェーズエンコード磁場の総和の次のステップに相当する
フェーズエンコードを付与することが著しく容易になる
からである。ここに示したダミー磁場は次に照射する１
８０°ｒｆパルスの直前にも印加し、、区間３における
磁場と同様にその増分が矩形波となるようにする。以後
のシーケンスは、第２図に示すように、区間２（実際に
は若干異なるが）を繰り返すことになる。ただし、ここ
で重要な点は、ダミー磁場とフェーズエンコード磁場と
の関係である。傾斜磁場が核スピンに及ぼす効果は、１
８０°ｒｆパルスにより逆の働きをする性質があるた
め、図２の区間２の最初の部分においては、傾斜磁場の
時間積分は となり、実質的にΔＳ1 の磁場が印加されたのに等し
い。従って最初の信号はΔＳ1 によるエンコードを受
けたことになる。次に区間３では となり、ΔＳ1 の２倍の磁場が符号反転して印加され
たことになる。以後は、３ΔＳ1、−４ΔＳ1、５ΔＳ1
……のように繰り返す。このシーケンスでは静磁場の
不均一による減衰が１８０°パルス毎に回復させられる
が、測定対象自身の横緩和Ｔ2 による減衰は次第に蓄
積するだけである。そのため、Ｔ2 による減衰が無視
し得なくなった時点において、新しいブロックへと移ら
なければならない。この時、前述したように、それまで
に印加したフェーズエンコード磁場の総和の次のステッ
プに相当するフェーズエンコードを付与することから新
しいブロックを始める。図４は、その最初のステップに
対するシーケンスを示す。それまでに印加した磁場の時
間積分をｎΔＳ（ただし、１８０°ｒｆパルスによる符
号反転を考慮）とすると、
ーケンスを示す。まず、９０°ｒｆパルスと傾斜磁場Ｇ
ｚとによりスライスを選択した後、区間１でＧｘ，Ｇｙ
を印加する。フェーズエンコードはＧｘにより行なう
が、Ｇｘの過渡応答の悪影響を除去するために、この区
間においてダミー磁場を印加しておく。続いて照射する
１８０°ｒｆパルスの後で印加するフェーズエンコード
は実質的には両者の差となるため、過渡応答によるエン
コード分は相殺される。従って、図３に示すように両者
の差は同図斜線で示すように幅Δｔ、高さＧｘの矩形波
と見做すことができる。このような形状にエンコードの
増分を整えることは極めて有用である。それは、一連の
シーケンスを複数ブロックに分割し、最初のブロック終
了後、次のブロックをはじめる時、それまで印加したフ
ェーズエンコード磁場の総和の次のステップに相当する
フェーズエンコードを付与することが著しく容易になる
からである。ここに示したダミー磁場は次に照射する１
８０°ｒｆパルスの直前にも印加し、、区間３における
磁場と同様にその増分が矩形波となるようにする。以後
のシーケンスは、第２図に示すように、区間２（実際に
は若干異なるが）を繰り返すことになる。ただし、ここ
で重要な点は、ダミー磁場とフェーズエンコード磁場と
の関係である。傾斜磁場が核スピンに及ぼす効果は、１
８０°ｒｆパルスにより逆の働きをする性質があるた
め、図２の区間２の最初の部分においては、傾斜磁場の
時間積分は となり、実質的にΔＳ1 の磁場が印加されたのに等し
い。従って最初の信号はΔＳ1 によるエンコードを受
けたことになる。次に区間３では となり、ΔＳ1 の２倍の磁場が符号反転して印加され
たことになる。以後は、３ΔＳ1、−４ΔＳ1、５ΔＳ1
……のように繰り返す。このシーケンスでは静磁場の
不均一による減衰が１８０°パルス毎に回復させられる
が、測定対象自身の横緩和Ｔ2 による減衰は次第に蓄
積するだけである。そのため、Ｔ2 による減衰が無視
し得なくなった時点において、新しいブロックへと移ら
なければならない。この時、前述したように、それまで
に印加したフェーズエンコード磁場の総和の次のステッ
プに相当するフェーズエンコードを付与することから新
しいブロックを始める。図４は、その最初のステップに
対するシーケンスを示す。それまでに印加した磁場の時
間積分をｎΔＳ（ただし、１８０°ｒｆパルスによる符
号反転を考慮）とすると、
【００１２】
【数１】
【００１３】なる関係を満足するように、ｔ1〜ｔ4を選
択すればよい。以後のシーケンスは図２の区間２に示す
ものと同じである。
択すればよい。以後のシーケンスは図２の区間２に示す
ものと同じである。
【００１４】本発明の実施例を図５に示す。このシーケ
ンスは図２にて説明したブロック毎に分割され、各ブロ
ックで複数のエコーを得るシーケンスを基本とし、その
複数のエコーを形成するのに、１８０°パルスと傾斜磁
場の反転を組み合わせたものである。すなわち、１８０
°パルスを図２に示すように連続して照射することに
は、場合によっては測定対象に悪影響を及ぼすのみなら
ず、エコー間の時間が長くなるという欠点がある。ま
た、図２のシーケンスでは、１８０°パルス毎にｚ方向
に厚みを持つスライスの選択が繰り返されるが、そのス
ライス選択の肩特性が理想的でない限り実質的なスライ
ス厚さが次第に減少し、これによっても後のエコーほど
信号が減衰する。それに対して、図５に示すように１８
０°パルスと傾斜磁場Ｇｙの反転の組み合わせを用いれ
ば、同じ数のエコーを得るのに１８０°パルスの数が減
少し、上記の欠点を解消できる。しかも図中の２回目の
１８０°パルス以後の第４、第５、第６エコー（図では
省略）では、その２回目の１８０°パルスの印加により
次第に静磁場の不均一による位相分散が回復してくるの
で、この位相分散による信号減衰分は回復する。従っ
て、解消できない対象自身の横緩和による信号減衰が無
視し得なくなるまでこの１８０°パルスと傾斜磁場の反
転の組み合わせによるパルス形成を繰り返す。なお、図
５に示す例ではフェーズエンコードするための磁場は、
第６図に示すように正負両極性を有する磁場形状とす
る。これにより、図６の斜線部分の面積は相殺し、その
結果、フェーズエンコードに寄与する磁場はΔｔＧｘと
なり、先に述べたと同様にフェーズエンコードの増分を
矩形波とするこができる。１８０°パルスと磁場反転の
組み合わせ方は、被測定体のＴ2 と静磁場の不均一の
大小関係で決まり、一般に静磁場の不均一が大きい程、
１８０°パルスの数を増やさなければならない。
ンスは図２にて説明したブロック毎に分割され、各ブロ
ックで複数のエコーを得るシーケンスを基本とし、その
複数のエコーを形成するのに、１８０°パルスと傾斜磁
場の反転を組み合わせたものである。すなわち、１８０
°パルスを図２に示すように連続して照射することに
は、場合によっては測定対象に悪影響を及ぼすのみなら
ず、エコー間の時間が長くなるという欠点がある。ま
た、図２のシーケンスでは、１８０°パルス毎にｚ方向
に厚みを持つスライスの選択が繰り返されるが、そのス
ライス選択の肩特性が理想的でない限り実質的なスライ
ス厚さが次第に減少し、これによっても後のエコーほど
信号が減衰する。それに対して、図５に示すように１８
０°パルスと傾斜磁場Ｇｙの反転の組み合わせを用いれ
ば、同じ数のエコーを得るのに１８０°パルスの数が減
少し、上記の欠点を解消できる。しかも図中の２回目の
１８０°パルス以後の第４、第５、第６エコー（図では
省略）では、その２回目の１８０°パルスの印加により
次第に静磁場の不均一による位相分散が回復してくるの
で、この位相分散による信号減衰分は回復する。従っ
て、解消できない対象自身の横緩和による信号減衰が無
視し得なくなるまでこの１８０°パルスと傾斜磁場の反
転の組み合わせによるパルス形成を繰り返す。なお、図
５に示す例ではフェーズエンコードするための磁場は、
第６図に示すように正負両極性を有する磁場形状とす
る。これにより、図６の斜線部分の面積は相殺し、その
結果、フェーズエンコードに寄与する磁場はΔｔＧｘと
なり、先に述べたと同様にフェーズエンコードの増分を
矩形波とするこができる。１８０°パルスと磁場反転の
組み合わせ方は、被測定体のＴ2 と静磁場の不均一の
大小関係で決まり、一般に静磁場の不均一が大きい程、
１８０°パルスの数を増やさなければならない。
【００１５】なお、図２および図５で照射する１８０°
ｒｆパルスは、交互に位相を１８０°ずらすことによ
り、１８０°ｒｆパルスの振幅の誤差により生じる信号
の減衰を低減させることができる。
ｒｆパルスは、交互に位相を１８０°ずらすことによ
り、１８０°ｒｆパルスの振幅の誤差により生じる信号
の減衰を低減させることができる。
【００１６】本発明のブロック間の待ち時間を短縮する
実施例を図７と図８に示す。この実施例は、前述したブ
ロック間の待ち時間を短縮する方法である。すなわちブ
ロックの終了した時点ｔｅに続く区間において、それま
でに付与された実効的なフェーズエンコード磁場と、信
号のピーク以後に付与された傾斜磁場の各々を相殺する
ことにより、最後の測定で生じた核スピン間の位相分散
を修復し、それを９０°ｒｆパルスにより静磁場と同じ
方向に強制的に向けてやるのである。この操作により、
本来ならばあるブロックの測定が完了してから測定対象
の平均的Ｔ1程度の時間待たなければならないところ
を、９０°ｒｆパルスにより元に戻した残留磁化の分だ
け回復が早まり、ブロック間の待ち時間を短縮すること
ができる。
実施例を図７と図８に示す。この実施例は、前述したブ
ロック間の待ち時間を短縮する方法である。すなわちブ
ロックの終了した時点ｔｅに続く区間において、それま
でに付与された実効的なフェーズエンコード磁場と、信
号のピーク以後に付与された傾斜磁場の各々を相殺する
ことにより、最後の測定で生じた核スピン間の位相分散
を修復し、それを９０°ｒｆパルスにより静磁場と同じ
方向に強制的に向けてやるのである。この操作により、
本来ならばあるブロックの測定が完了してから測定対象
の平均的Ｔ1程度の時間待たなければならないところ
を、９０°ｒｆパルスにより元に戻した残留磁化の分だ
け回復が早まり、ブロック間の待ち時間を短縮すること
ができる。
【００１７】
【発明の効果】本発明によれば、１８０°高周波磁場パ
ルスの照射と傾斜磁場の反転とを組み合わせて次々とエ
コー信号を発生させることにより、静磁場不均一に基づ
く画質劣化を防止し、しかも高周波磁場の連続照射の悪
影響も軽減し、かつ測定時間を短縮することが可能にな
る。
ルスの照射と傾斜磁場の反転とを組み合わせて次々とエ
コー信号を発生させることにより、静磁場不均一に基づ
く画質劣化を防止し、しかも高周波磁場の連続照射の悪
影響も軽減し、かつ測定時間を短縮することが可能にな
る。
【図１】本発明を実施する核磁気共鳴検査装置の概略構
成図。
成図。
【図２】本発明の実施例の前提となる方法のパルス系列
を示す図。
を示す図。
【図３】図２の一部を詳細に示す図。
【図４】図２で示したブロックの次のブロックのパルス
系列を示す図。
系列を示す図。
【図５】本発明の実施例の方法のパルス系列を示す図。
【図６】図５の一部を詳細に示す図。
【図７】本発明の別の実施例の方法のパルス系列を示す
図。
図。
【図８】本発明のさらに別の実施例の方法のパルス系列
を示す図。
を示す図。
１…制御装置 ２…高周波パルス発生器 ４…励振、受信用コイル ６…検波器 ７…信号処理装置 ８、９、１０…傾斜磁場発生用コイル １４…静磁場発生用コイル １６…測定対象物体 ｒｆ…高周波磁場パルス波形 Ｇｚ…スライス選択用傾斜磁場波形 Ｇｘ…フェーズエンコード用傾斜磁場波形 Ｇｙ…読み出し、及びエコー形成用傾斜磁場波形
Claims (2)
- 【請求項１】所定の空間に静磁場を発生する手段と、前
記静磁場に傾斜をかける傾斜磁場を印加する手段と、前
記空間に置かれた検査対象に高周波磁場を印加する手段
と、前記検査対象からの核磁気共鳴信号を検出する信号
検出手段と、前記核磁気共鳴信号から前記検査対象の核
スピン情報を位置の関数として算出する手段とを有する
核磁気共鳴を用いた検査装置において、少なくとも前記
傾斜磁場を印加する手段と前記高周波磁場を印加する手
段とを制御する制御手段を有し、該制御手段は、前記検
査対象の核スピンにエコーを複数回発生させると共に、
順次異なるフェーズエンコード量を付与してその複数回
のエコーを順次測定するシーケンスを、ｉ＝１、２、
…、Ｎ（Ｎ：正の整数）の複数のブロックに分割して実
施し、ｉ番目（ｉ＝１、２、…、（Ｎ−１））のブロッ
クの終了時点に引き続き、前記終了時点までに印加され
た実効的なフェーズエンコード量と、前記ｉ番目のブロ
ックでの最後の前記エコーの後に印加されたフェーズエ
ンコード量とを相殺して、前記最後のエコーの測定で生
じた前記核スピンの位相を再び揃えた後に、９０°高周
波磁場パルスを印加して、前記核スピンの向きを前記静
磁場の方向に強制し、ｉ番目（ｉ＝２、…、Ｎ）のブロ
ックの開始毎に前記核スピンの励起を行なうことの制御
を実行することを特徴とする核磁気共鳴を用いた検査装
置。 - 【請求項２】所定の空間に静磁場を発生する手段と、前
記静磁場に傾斜をかける傾斜磁場を印加する手段と、前
記空間に置かれた検査対象に高周波磁場を印加する手段
と、前記検査対象からの核磁気共鳴信号を検出する信号
検出手段と、前記核磁気共鳴信号から前記検査対象の核
スピン情報を位置の関数として算出する手段とを有する
核磁気共鳴を用いた検査装置において、少なくとも前記
傾斜磁場を印加する手段と前記高周波磁場を印加する手
段とを制御する制御手段を有し、該制御手段は、前記検
査対象の核スピンにエコーを複数回発生させると共に、
順次異なるフェーズエンコード量を付与してその複数回
のエコーを順次測定するシーケンスを、ｉ＝１、２、
…、Ｎ（Ｎ：正の整数）の複数のブロックに分割して実
施し、前記制御手段は、ｉ番目（ｉ＝１、２、…、Ｎ）
のブロックにおいて、 （１）前記検査対象の所定の領域の核スピンを励起する
こと、 （２）１８０°高周波磁場パルスを周期的に複数回印加
することにより前記の励起された核スピンにエコーを複
数回順次発生させること、 （３）前記の順次発生するエコーの間に少なくとも第１
の方向の傾斜磁場をパルス状に印加し、各々のスピンエ
コーに対してそれまでの前記第１の方向の傾斜磁場の総
和に相当するフェーズエンコード量をそれぞれ付与する
こと、 （４）第２の方向の傾斜磁場を印加した状態で各々のエ
コーを測定することの各制御を行ない、ｉ番目（ｉ＝
１、２、…、（Ｎ−１））のブロックにおいて、 （５）ｉ番目（ｉ＝１、２、…、（Ｎ−１））のブロッ
クの終了時点に引き続き、前記終了時点までに印加され
た実効的な前記第１の方向の傾斜磁場と、前記ブロック
での最後の前記エコーの後に印加された前記第１の方向
の傾斜磁場とを相殺して、前記最後のエコーの測定で生
じた前記核スピンの位相を再び揃えた後に、９０°高周
波磁場パルスを印加して、前記核スピンの向きを前記静
磁場の方向に強制することの制御を行ない、ｉ番目（ｉ
＝２、…、Ｎ）のブロックにおいて、 （６）ｉ番目（ｉ＝２、…、Ｎ）のブロックにおける第
１回目のエコーの発生と前記（１）の励起との間で、測
定開始からのフェーズエンコード量の総和に次ぎに新た
に印加するフェーズエンコード量を加えた量に相当する
前記第１の方向の傾斜磁場を印加することの制御を行な
い、連続する前記ブロックの間に相互に待ち時間をはさ
んで、前記（１）から前記（６）の制御を複数回繰り返
すことを特徴とする核磁気共鳴を用いた検査装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP3223977A JP2590641B2 (ja) | 1991-09-04 | 1991-09-04 | 核磁気共鳴を用いた検査装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP3223977A JP2590641B2 (ja) | 1991-09-04 | 1991-09-04 | 核磁気共鳴を用いた検査装置 |
Related Parent Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP59184629A Division JPH0646985B2 (ja) | 1984-09-05 | 1984-09-05 | 核磁気共鳴を用いた検査方法 |
Related Child Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP7310317A Division JP2760330B2 (ja) | 1995-11-29 | 1995-11-29 | 核磁気共鳴を用いた検査装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0531089A JPH0531089A (ja) | 1993-02-09 |
| JP2590641B2 true JP2590641B2 (ja) | 1997-03-12 |
Family
ID=16806644
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP3223977A Expired - Lifetime JP2590641B2 (ja) | 1991-09-04 | 1991-09-04 | 核磁気共鳴を用いた検査装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP2590641B2 (ja) |
Families Citing this family (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US6937013B2 (en) * | 2002-06-19 | 2005-08-30 | Schlumberger Technology Corporation | NMR tool for making formation evaluation measurements using gradient echoes |
Citations (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5954952A (ja) * | 1982-09-22 | 1984-03-29 | Yokogawa Hokushin Electric Corp | 核磁気共鳴による検査方法及び検査装置 |
| JPS5967450A (ja) * | 1982-07-01 | 1984-04-17 | ゼネラル・エレクトリツク・カンパニイ | 疑似ｆｉｄｎｍｒ信号の影響を克服する方法と装置 |
| JPS6162851A (ja) * | 1984-09-05 | 1986-03-31 | Hitachi Ltd | 核磁気共鳴を用いた検査方法 |
-
1991
- 1991-09-04 JP JP3223977A patent/JP2590641B2/ja not_active Expired - Lifetime
Patent Citations (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5967450A (ja) * | 1982-07-01 | 1984-04-17 | ゼネラル・エレクトリツク・カンパニイ | 疑似ｆｉｄｎｍｒ信号の影響を克服する方法と装置 |
| JPS5954952A (ja) * | 1982-09-22 | 1984-03-29 | Yokogawa Hokushin Electric Corp | 核磁気共鳴による検査方法及び検査装置 |
| JPS6162851A (ja) * | 1984-09-05 | 1986-03-31 | Hitachi Ltd | 核磁気共鳴を用いた検査方法 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH0531089A (ja) | 1993-02-09 |
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