JP2583540B2 - 磁気デイスク装置 - Google Patents

Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 この発明はコンピュータシステム等でデータを記録す
る磁気デイスク装置に関するものである。

〔従来の技術〕

第３図（ａ）（ｂ）は従来の磁気デイスク装置の概略
構成図を示す側面図および平面図で、図において、
（３）は磁気デイスクの回転軸、（４）は磁気デイス
ク、（６）はデータ読み書き用デイスクヘツドである。

従来の磁気デイスク装置はデータ読み書き用デイスク
ヘツド（６）が磁気デイスク（４）上を走査しデータを
読み書きする。この場合、データ読み書き用デイスクヘ
ツド（６）と磁気デイスク（４）の間隔は非常に狭い
（約１μｍ程度）。

〔発明が解決しようとする問題点〕

従来の磁気デイスク装置はデータ読み書き用デイスク
のヘツドと磁気デイスクとの間に異物（５）などが入る
とデイスククラツシユの原因となる為、磁気デイスク装
置の使用前にデータ読み書き用デイスクヘツドを出さず
に、磁気デイスクを空回しさせて異物を取り除く必要が
あるが、実際に取り除けたかどうかの判別が出来ないな
どの問題点があつた。

この発明は上記従来のものの欠点を除去する為になさ
れたもので、発光部，受光部および反射部からなる異物
検知装置により、磁気デイスク装置の使用前の磁気デイ
スクの空回し中に磁気デイスク上の異物の有無を検知す
ることにより、空回しの継続，終了の判断、及び磁気デ
イスクの使用可能，不可能を判断することを目的とす
る。

〔問題点を解決するための手段〕

この発明の磁気デイスク装置は、磁気デイスク上の異
物を検知する異物検知装置を設けたものである。

〔作用〕

この発明は磁気デイスク上の異物をレーザー光により
検知して、磁気デイスク装置の使用を中止することによ
り未然にデイスククラツシユを防ぐ。

〔発明の実施例〕

以下、この発明の一実施例を図について説明する。

第１図（ａ）（ｂ）はこの発明の一実施例による磁気
デイスク装置の全体構成を示す側面図および平面図であ
る。この実施例は図からも明らかなように、発光部
（１），受光部（２）を磁気デイスク（４）の周辺部に
取付け、磁気デイスク（４）の回転軸（３）に設けられ
た反射部（３）によつて、発光部（１）からのレーザー
光を受光部（２）に反射させるように構成されている。

次にこの発明の動作を説明する。

第１図の発光部（１）から発したレーザー光を回転軸
の反射部（３）で反射させて受光部（２）で受ける。

発光部（１）で発されたレーザー光と、受光部（２）
で受けた光をそれぞれ異物検知装置（７）の光電変換装
置（7a）で光の強さに応じた電流に変換する。

次に回転軸制御装置（7b）で、上記２種類の電流を比
較し、同じ電流値であれば異物は無いと判断する。

もし、異物（５）が存在した場合は発光部（１）で発
された光が異物によつてさえぎられる為、２種類の電流
値が異なり、異物が有ると判断する。

異物がある場合は磁気ディスク回転軸駆動装置（８）
により、磁気ディスクの回転を停止させる、または磁気
ヘッドを磁気ディスクより離し、接触を防ぐ。

なお、上記実施例では磁気デイスク（４）の周辺部に
受光部（２）を設け、磁気デイスクの回転軸（３）に反
射部（３）を設けたものを示したが、第２図（ａ）
（ｂ）に示すように磁気ディスク（４）の回転軸（３）
に受光部（２）を設け、発光部（１）と回転軸（３）に
設けられた受光部（２）からのレーザ光に応じて異物検
知装置（７）で異物の有無の判断をしてもよい。

〔発明の効果〕

以上のように、第１の発明によれば、磁気ディスクの
外周部に設けられた発光部から放出された光を磁気ディ
スクの回転軸に設けられた反射部で反射し、その反射光
を磁気ディスクの外周部に設けられた受光部で受光し、
異物検知部によって発光部から放出された光の強さと受
光に受光された光の強さの比較に応じて磁気ディスク表
面上の異物の有無を検知するように構成したので、デー
タ読み書き用ディスクヘッド作動前の磁気ディスクの空
回し中に、磁気ディスク全面の異物の有無を検知し、当
該磁気ディスク装置の作動と同時に即座に異物の有無を
検知することができるので作動効率を高め、且つ確実に
ヘッドクラッシュ等による磁気ディスク装置の故障を防
止できる効果がある。

また、第２の発明によれば、第１の発明において磁気
ディスクの回転軸の反射部の代わりに受光部を設け、発
光部から放出された光を受光部によって直接受光するよ
うに構成したので、第１の発明に加えて、反射部を設け
ることなく、よって構成を簡易化できる効果がある。

【図面の簡単な説明】

第１図（ａ）（ｂ）はこの発明の一実施例による磁気デ
イスク装置の全体構成図を示す側面図および平面図、第
２図（ａ）（ｂ）はこの発明の他の実施例を示す同じく
側面図および平面図、第３図（ａ）（ｂ）は従来の磁気
デイスク装置の全体構成を示す側面図および平面図であ
る。 図において、（１）は発光部、（２）は受光部、（３）
は磁気デイスクの回転軸（反射部）、（４）は磁気デイ
スク、（５）は異物、（６）はヘッド、（７）は異物検
知装置を示す。 尚、図中、同一符号は同一、又は相当部分を示す。

Claims (2)

(57)【特許請求の範囲】
1. 【請求項１】磁気ディスクの外周部に設けられその磁気
   ディスクの表面に向けて光を放出する発光部と、上記磁
   気ディスクの回転軸に設けられ上記発光部から入射され
   た光を反射する反射部と、上記磁気ディスクの外周部に
   設けられ上記反射部から反射された光を受光する受光部
   と、上記受光部から放出された光の強さと上記受光部に
   受光された光の強さの比較に応じて上記磁気ディスク表
   面上の異物の有無を検知する異物検知部とを備えた磁気
   ディスク装置。
2. 【請求項２】磁気ディスクの外周部に設けられその磁気
   ディスクの表面に向けて光を放出する発光部と、上記磁
   気ディスクの回転軸に設けられ上記発光部から入射され
   た光を受光する受光部と、上記発光部から放出された光
   の強さと上記受光部に受光された光の強さの比較に応じ
   て上記磁気ディスク表面上の異物の有無を検知する異物
   検知部とを備えた磁気ディスク装置。