JP2581099B2 - ピンホールテスターの不良缶通過防止装置 - Google Patents
ピンホールテスターの不良缶通過防止装置Info
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- G01N21/88—Investigating the presence of flaws or contamination
- G01N21/90—Investigating the presence of flaws or contamination in a container or its contents
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Description
【発明の詳細な説明】 ［産業上の利用分野］ この発明は、アルミ缶（２ピース缶）等の製造ライン
中に設置され、缶のピンホールを検査するピンホールテ
スターに係り、特に、機械の不調等により、良缶排出側
に不良缶が混入した場合に、これを直ちに検出して缶の
流れを停止させるようにしたピンホールテスターの不良
缶通過防止装置に関する。
中に設置され、缶のピンホールを検査するピンホールテ
スターに係り、特に、機械の不調等により、良缶排出側
に不良缶が混入した場合に、これを直ちに検出して缶の
流れを停止させるようにしたピンホールテスターの不良
缶通過防止装置に関する。
［従来の技術］ ピンホールテスターは、アルミ缶製造ラインの中で製
造された２ピース缶のピンホールやフランジクラックを
検出し、不良缶として排出する検査機である。
造された２ピース缶のピンホールやフランジクラックを
検出し、不良缶として排出する検査機である。
現在のアルミ缶製造ラインでは、薄肉化および高速化
が図られ、たとえば、毎分1200〜1400缶もの処理が必要
である。このため、ピンホール缶等の発生頻度が高くな
っている。
が図られ、たとえば、毎分1200〜1400缶もの処理が必要
である。このため、ピンホール缶等の発生頻度が高くな
っている。
［発明が解決しようとする問題点］ ところで、このようなピンホールテスターが、機械的
な不調により、検査機能を失った場合、１時間放置され
ると約85000缶程度の缶が未検査のまま処理されること
になる。
な不調により、検査機能を失った場合、１時間放置され
ると約85000缶程度の缶が未検査のまま処理されること
になる。
実際のラインでは、数時間に１回程度、定期的にテス
ト缶が流され、検査機能の正否を確認しているが、不調
が発見されたときには、すでに数十万もの缶が未検査の
ままで処理された可能性が生じる。そして、このような
場合の再検査は至難である。
ト缶が流され、検査機能の正否を確認しているが、不調
が発見されたときには、すでに数十万もの缶が未検査の
ままで処理された可能性が生じる。そして、このような
場合の再検査は至難である。
この発明は、このような背景の下になされたもので、
電気的には正常に機能しているにもかかわらず、機械的
な不調により良缶排出側へ不良缶が混入した場合、その
通過を防止するようにしたピンホールテスターの不良缶
通過防止装置を提供することを目的とする。
電気的には正常に機能しているにもかかわらず、機械的
な不調により良缶排出側へ不良缶が混入した場合、その
通過を防止するようにしたピンホールテスターの不良缶
通過防止装置を提供することを目的とする。
［問題点を解決するための手段］ 上記問題点を解決するためにこの発明は、円周方向に
配列された孔を有するターレットディスクと、缶の開口
部が前記孔に合致するように缶を支持し、前記ターレッ
トディスクと一体に回転するスターホイールと、前記孔
と缶の開口部とを密着させ光が漏れない状態に維持する
保持手段と、前記缶の外周面に光を照射する光源と、前
記缶のピンホールを通り前記孔を経て漏れてくる光を検
出する光センサーと、該光センサーで良否が検出された
缶のうち良缶を排出する良缶排出口に接続された良缶排
出路および不良缶を排出する不良缶排出口に接続された
不良缶排出路とを有するピンホールテスターにおいて、 前記不良缶排出口より下流に前記良缶排出口を配した
良缶排出路に設けられ、缶の通過を検出する缶有無セン
サーと、 前記光センサーの出力に基づいて、良否が検出された
缶のうち不良缶が配されている前記孔の位置を検出する
不良缶位置検出手段と、 前記缶有無センサー、および不良缶位置検出手段の出
力により、不良缶が良缶排出路に搬送されてきたことを
検知する検知手段と、 この検知手段の出力に基づいて、良缶排出路における
缶の排出の流れを停止し不良缶の排出を防ぐ通過防止手
段とを有することを特徴とする。
配列された孔を有するターレットディスクと、缶の開口
部が前記孔に合致するように缶を支持し、前記ターレッ
トディスクと一体に回転するスターホイールと、前記孔
と缶の開口部とを密着させ光が漏れない状態に維持する
保持手段と、前記缶の外周面に光を照射する光源と、前
記缶のピンホールを通り前記孔を経て漏れてくる光を検
出する光センサーと、該光センサーで良否が検出された
缶のうち良缶を排出する良缶排出口に接続された良缶排
出路および不良缶を排出する不良缶排出口に接続された
不良缶排出路とを有するピンホールテスターにおいて、 前記不良缶排出口より下流に前記良缶排出口を配した
良缶排出路に設けられ、缶の通過を検出する缶有無セン
サーと、 前記光センサーの出力に基づいて、良否が検出された
缶のうち不良缶が配されている前記孔の位置を検出する
不良缶位置検出手段と、 前記缶有無センサー、および不良缶位置検出手段の出
力により、不良缶が良缶排出路に搬送されてきたことを
検知する検知手段と、 この検知手段の出力に基づいて、良缶排出路における
缶の排出の流れを停止し不良缶の排出を防ぐ通過防止手
段とを有することを特徴とする。
さらに、前記通過防止手段は、良品排出路を移動する
缶にエアーを吹き付けて停止させその通過を防ぐエアー
ノズルを備えていることが望ましい。
缶にエアーを吹き付けて停止させその通過を防ぐエアー
ノズルを備えていることが望ましい。
［作用］ 上記構成によれば、不良缶が良缶排出側に混入した場
合は、これがただちに発見され、缶の排出が停止され
る。よって、不良缶が良缶に混じって排出されるのを防
ぐことができる。
合は、これがただちに発見され、缶の排出が停止され
る。よって、不良缶が良缶に混じって排出されるのを防
ぐことができる。
［実施例］ 以下、図面を参照して、本発明の実施例を説明する。
第１図は、この発明の一実施例の機械的構成を示す図
である。
である。
図において、１は、円周方向に等間隔で配列された複
数の孔（ポケット）Ｐを有するターレットディスクであ
る。このターレットディスク１の内側には、一対のスタ
ーホイール２が所定の間隔を隔てて設けられている。
数の孔（ポケット）Ｐを有するターレットディスクであ
る。このターレットディスク１の内側には、一対のスタ
ーホイール２が所定の間隔を隔てて設けられている。
スターホイール２は、その外周部に設けられた凹部に
缶３を支持して回転搬送するものである。すなわち、イ
ンフィードシュート４からスターホイール２の凹部に供
給された缶３は、その開口部がターレットディスク１の
ポケットＰに合致するように支持され、ターレットディ
スク１と一体に回転するスターホイール２によって、排
出側に回転搬送されていく。
缶３を支持して回転搬送するものである。すなわち、イ
ンフィードシュート４からスターホイール２の凹部に供
給された缶３は、その開口部がターレットディスク１の
ポケットＰに合致するように支持され、ターレットディ
スク１と一体に回転するスターホイール２によって、排
出側に回転搬送されていく。
スターホイール２の凹部に支持された缶３は、底面側
（ターレットディスク１の反対側）に設けられ、スター
ホイール２と一体に回転する保持手段５により押圧さ
れ、缶３の開口部がポケットＰに密着されるようになっ
ている。この保持手段５は、スピンドル5aと、アダプタ
ー5bと、スピンドルフェース5cとからなり、スターホイ
ール２の凹部に対応して設けられている。そして、スピ
ンドルフェース5cからアダプター5bにかけて設けられた
バキューム孔5dに負圧をかけることにより、缶３を吸着
して維持し、軸方向（水平方向）に缶３を往復移動させ
るものである。
（ターレットディスク１の反対側）に設けられ、スター
ホイール２と一体に回転する保持手段５により押圧さ
れ、缶３の開口部がポケットＰに密着されるようになっ
ている。この保持手段５は、スピンドル5aと、アダプタ
ー5bと、スピンドルフェース5cとからなり、スターホイ
ール２の凹部に対応して設けられている。そして、スピ
ンドルフェース5cからアダプター5bにかけて設けられた
バキューム孔5dに負圧をかけることにより、缶３を吸着
して維持し、軸方向（水平方向）に缶３を往復移動させ
るものである。
上記ポケットＰは、その内周縁に断面Ｕ字状の円環状
のシール６を有し、缶３のフランジ3aとの間をシール状
態に保つ。すなわち、ポケットＰに缶３の開口部が押し
付けられた状態で、ポケットＰ内にエヤーが送り込まれ
ると、シール６のＵ字状の部分が第１図（ｂ）のように
外方に膨張して、上記シール状態を作り出す。なお、ポ
ケットＰと外部との境界には、透明な窓７が設けられ、
エヤーが漏れないようになっている。
のシール６を有し、缶３のフランジ3aとの間をシール状
態に保つ。すなわち、ポケットＰに缶３の開口部が押し
付けられた状態で、ポケットＰ内にエヤーが送り込まれ
ると、シール６のＵ字状の部分が第１図（ｂ）のように
外方に膨張して、上記シール状態を作り出す。なお、ポ
ケットＰと外部との境界には、透明な窓７が設けられ、
エヤーが漏れないようになっている。
次に、第１図（ａ）のの位置には、ターレットディ
スク１の外側にスライドシール８を介して光センサー９
が設けられている。この光センサー９は、缶３のピンホ
ールやフランジクラックから漏れてくる光を検出するも
のである。
スク１の外側にスライドシール８を介して光センサー９
が設けられている。この光センサー９は、缶３のピンホ
ールやフランジクラックから漏れてくる光を検出するも
のである。
すなわち、この位置の斜め上方にはライト（蛍光
管）10が固定され、缶３を外部から照射しているが、缶
３にピンホールやフランジクラックが存在すると、これ
らを通過した光が缶３の内部を明るくし、これが光セン
サー９に検出される。
管）10が固定され、缶３を外部から照射しているが、缶
３にピンホールやフランジクラックが存在すると、これ
らを通過した光が缶３の内部を明るくし、これが光セン
サー９に検出される。
光センサー９によって良否が検出された缶３のうち、
ピンホールやフランジクラックのない良缶３は、第１図
（ａ）の位置に示す方向に搬送され、良品排出路であ
るディスチャージシュート11から排出される。一方、ピ
ンホールやフランジクラックを有する悪缶３は、位置
で示す不良品排出路に接続された不良品排出口12から排
出される。
ピンホールやフランジクラックのない良缶３は、第１図
（ａ）の位置に示す方向に搬送され、良品排出路であ
るディスチャージシュート11から排出される。一方、ピ
ンホールやフランジクラックを有する悪缶３は、位置
で示す不良品排出路に接続された不良品排出口12から排
出される。
以上の構成は、従来のピンホールテスターと同様であ
る。以下、この実施例に特有の構成につき説明する。
る。以下、この実施例に特有の構成につき説明する。
ディスチャージシュート11の入口（良缶排出口）付近
には、缶有無センサー15が設けられている。これは、第
１図（ａ）に示すの位置（アンロード位置）を缶３が
通過したか否かを検出するものである。
には、缶有無センサー15が設けられている。これは、第
１図（ａ）に示すの位置（アンロード位置）を缶３が
通過したか否かを検出するものである。
この場合、ターレットディスク１の回転位置を知るた
めに、ターレットディスク１の回転軸には、第２図に示
すパルスジェネレータ14が連結されている。
めに、ターレットディスク１の回転軸には、第２図に示
すパルスジェネレータ14が連結されている。
また、ディスチャージシュート11の下流側には、エヤ
ーノズル16が設けられている。このエヤーノズル16は、
ディスチャージシュート11に不良缶が混入した場合に、
エヤーを吐出するもので、このエヤーの制御は、不良缶
通過防止用ソレノイドバルブ37（第２図）によって行わ
れる。
ーノズル16が設けられている。このエヤーノズル16は、
ディスチャージシュート11に不良缶が混入した場合に、
エヤーを吐出するもので、このエヤーの制御は、不良缶
通過防止用ソレノイドバルブ37（第２図）によって行わ
れる。
次に、第２図を参照して、この実施例の電気的構成を
説明する。
説明する。
光センサー９の出力は、帯域フィルター21を通してノ
イズが除去され、レベル判別回路22へ供給される。レベ
ル判別回路22は、供給された信号を基準電圧と比較し、
光漏れの有無を判定し、光漏れ信号を不良缶信号生成回
路23へ供給する。
イズが除去され、レベル判別回路22へ供給される。レベ
ル判別回路22は、供給された信号を基準電圧と比較し、
光漏れの有無を判定し、光漏れ信号を不良缶信号生成回
路23へ供給する。
不良缶信号生成回路23は、光漏れがあったとき、すな
わち不良缶が発見された場合に、パルスジェネレータ14
からの信号を参照しつつ、ソレノイドドライブ24を通し
て、不良缶排出用ソレノイドバルブ25を駆動し、不良缶
を不良缶排出口13へ排除させる。
わち不良缶が発見された場合に、パルスジェネレータ14
からの信号を参照しつつ、ソレノイドドライブ24を通し
て、不良缶排出用ソレノイドバルブ25を駆動し、不良缶
を不良缶排出口13へ排除させる。
以上は、従来のピンホールテスターの電気的構成と同
様である。以下、この実施例特有の電気的構成につき説
明する。
様である。以下、この実施例特有の電気的構成につき説
明する。
パルスジェネレータ14の出力は、角度信号生成回路31
に供給され、ターレットディスク１の回転角が判定され
る。そして、缶３が光センサー９の位置にきたときと、
缶有無センサー15の位置にきたときに、位置信号が出力
される。
に供給され、ターレットディスク１の回転角が判定され
る。そして、缶３が光センサー９の位置にきたときと、
缶有無センサー15の位置にきたときに、位置信号が出力
される。
上記缶有無センサー15の出力は、不良缶有信号生成回
路32に供給される。この不良缶有信号生成回路32は、レ
ベル判別回路22からの光漏れ信号と、角度信号生成回路
31からの位置信号と、缶有無センサー15からの信号とに
より、光漏れがあり（つまり不良缶が発見され）、この
不良缶３が第１図（ａ）の缶有無センサー15の位置を通
過したときに、不良缶有信号を出力する。すなわち、パ
ルスジェネレータ14および角度信号生成回路31は、光セ
ンサー９の出力に基づいて、良否が検出された缶３のう
ち不良缶が配されているポケットＰの位置を検出する不
良缶位置検出手段として機能する。
路32に供給される。この不良缶有信号生成回路32は、レ
ベル判別回路22からの光漏れ信号と、角度信号生成回路
31からの位置信号と、缶有無センサー15からの信号とに
より、光漏れがあり（つまり不良缶が発見され）、この
不良缶３が第１図（ａ）の缶有無センサー15の位置を通
過したときに、不良缶有信号を出力する。すなわち、パ
ルスジェネレータ14および角度信号生成回路31は、光セ
ンサー９の出力に基づいて、良否が検出された缶３のう
ち不良缶が配されているポケットＰの位置を検出する不
良缶位置検出手段として機能する。
不良缶有信号は、インターフェイス回路33を介して、
主モーターインターロック回路34、警報回路35、外部イ
ンターロック回路36、および不良缶通過防止用ソレノイ
ドバルブ37に供給され、ターレットディスク１の回転を
停止させ、警報を出力させ、缶３の流れを停止させる。
主モーターインターロック回路34、警報回路35、外部イ
ンターロック回路36、および不良缶通過防止用ソレノイ
ドバルブ37に供給され、ターレットディスク１の回転を
停止させ、警報を出力させ、缶３の流れを停止させる。
次に、第３図を参照して、この実施例の動作を説明す
る。
る。
第３図の（ａ）〜（ｅ）は、第１図の位置〜に対
応するもので、同図（ａ）はのロード位置、（ｂ）は
のシール位置、およびのリターン位置、（ｃ）は
の押し付け位置、（ｄ）はのテスト位置、（ｅ）は
のリジェクト位置、およびのアンロード位置での状態
を示すものである。インフィードシュート４からスター
ホイール２へ供給された缶３は、上記〜の位置を通
過しながら、以下のような処理を施される。
応するもので、同図（ａ）はのロード位置、（ｂ）は
のシール位置、およびのリターン位置、（ｃ）は
の押し付け位置、（ｄ）はのテスト位置、（ｅ）は
のリジェクト位置、およびのアンロード位置での状態
を示すものである。インフィードシュート４からスター
ホイール２へ供給された缶３は、上記〜の位置を通
過しながら、以下のような処理を施される。
ロード位置 インフィードシュート４からスターホイール２へ供給
された缶３は、バキューム孔5dの負圧によりスピンドル
フェース5cに吸着、固定される。
された缶３は、バキューム孔5dの負圧によりスピンドル
フェース5cに吸着、固定される。
シール位置 カムに連動して動くスピンドル5aが軸方向に移動し、
缶３のフランジ3aをポケットＰのシール６に密着するよ
うに押し付ける。
缶３のフランジ3aをポケットＰのシール６に密着するよ
うに押し付ける。
押し付け位置 缶３およびシール６の内部にエヤー圧をかける。この
内圧を変化させることにより、欠陥形状の程度を調整で
きる。
内圧を変化させることにより、欠陥形状の程度を調整で
きる。
テスト位置 この位置では、缶３の内側が光センサー９に対して開
放の状態になる。よって、缶３にピンホールやフランジ
クラックがあると、光源10からの光が漏れて光センサー
９に検出される。
放の状態になる。よって、缶３にピンホールやフランジ
クラックがあると、光源10からの光が漏れて光センサー
９に検出される。
リターン位置 テスト位置を通過すると、スピンドル5aはカムによっ
て引っ込み、缶３もシール６から離れる。なお、缶３
は、バキューム孔5dの負圧により、スピンドルフェース
5cに吸着された状態を保持する。
て引っ込み、缶３もシール６から離れる。なお、缶３
は、バキューム孔5dの負圧により、スピンドルフェース
5cに吸着された状態を保持する。
リジェクト位置 検出された不良缶は、リジェクト位置でバキューム孔
5dへ圧力空気を吹き込み、負圧を弱めることにより、不
良缶排出口13から排出される。なお、負圧を弱める動作
は、エヤー供給路の途中に設けられた缶排出用電磁弁を
開くことにより行われる。
5dへ圧力空気を吹き込み、負圧を弱めることにより、不
良缶排出口13から排出される。なお、負圧を弱める動作
は、エヤー供給路の途中に設けられた缶排出用電磁弁を
開くことにより行われる。
アンロード位置 良缶３は、のアンロード位置までバキュームで保持
され、ディスチャージシュート11から排出される。
され、ディスチャージシュート11から排出される。
以上が缶３の検出動作である。次に、本実施例の要部
である不良缶の通過防止動作を説明する。
である不良缶の通過防止動作を説明する。
テスト位置で缶３からの光漏れを検出したものの、不
良缶排出用ソレノイドバルブ25等の不調により、不良缶
排出口12から不良缶として排出されず、第１図（ａ）の
アンロード位置の方へ搬送された場合は、これが缶有
無センサー15により検出され、不良缶有信号生成回路32
からインターフェイス33に不良缶有信号が送られる。イ
ンターフェイス33は、主モーターインターロック34と、
警報回路35と、外部インターロック36と、不良缶通過防
止用ソレノイドバルブ37を起動し、ターレットディスク
１の回転を停止し、警報を出力し、かつ缶３の流れを停
止する。
良缶排出用ソレノイドバルブ25等の不調により、不良缶
排出口12から不良缶として排出されず、第１図（ａ）の
アンロード位置の方へ搬送された場合は、これが缶有
無センサー15により検出され、不良缶有信号生成回路32
からインターフェイス33に不良缶有信号が送られる。イ
ンターフェイス33は、主モーターインターロック34と、
警報回路35と、外部インターロック36と、不良缶通過防
止用ソレノイドバルブ37を起動し、ターレットディスク
１の回転を停止し、警報を出力し、かつ缶３の流れを停
止する。
すなわち、テスターを停止して、警報を出力すると同
時に、不良缶通過防止用ソレノイドバルブ37を作動させ
て、エヤーノズル16へエヤーを供給し、不良缶の通過を
防止する。この方法によれば、缶３に傷をつけることな
く、不良缶３が通過するのを防止できる。
時に、不良缶通過防止用ソレノイドバルブ37を作動させ
て、エヤーノズル16へエヤーを供給し、不良缶の通過を
防止する。この方法によれば、缶３に傷をつけることな
く、不良缶３が通過するのを防止できる。
なお、スターホイール２やスピンドルフェース5c等
は、すべて透明の部材でできているので、ライト10から
の光は、缶３の全面に照射される。
は、すべて透明の部材でできているので、ライト10から
の光は、缶３の全面に照射される。
［発明の効果］ 以上説明したように、この発明は、不良缶が良缶排出
側に混入した場合は、これを直ちに検出して缶の排出を
停止するようにしたから、未検査の缶が大量に処理され
るといった不都合を解消することができる。
側に混入した場合は、これを直ちに検出して缶の排出を
停止するようにしたから、未検査の缶が大量に処理され
るといった不都合を解消することができる。
第１図はこの発明の一実施例の機械的構成を示す分解側
面図、第２図は同実施例の電気的構成を示すブロック
図、第３図は同実施例の動作を説明するための図であ
る。 １……ターレットディスク、 ２……スターホイール、３……缶、 ５……保持手段、９……光センサー、 10……ライト（光源）、 14……パルスジェネレータ（回転角検出手段）、 15……缶有無センサー、 32……不良缶有信号生成回路（検知手段）、 37……不良缶通過防止用ソレノイドバルブ（通過防止手
段）。
面図、第２図は同実施例の電気的構成を示すブロック
図、第３図は同実施例の動作を説明するための図であ
る。 １……ターレットディスク、 ２……スターホイール、３……缶、 ５……保持手段、９……光センサー、 10……ライト（光源）、 14……パルスジェネレータ（回転角検出手段）、 15……缶有無センサー、 32……不良缶有信号生成回路（検知手段）、 37……不良缶通過防止用ソレノイドバルブ（通過防止手
段）。
Claims (2)
- 【請求項１】円周方向に配列された孔を有するターレッ
トディスクと、缶の開口部が前記孔に合致するように缶
を支持し、前記ターレットディスクと一体に回転するス
ターホイールと、前記孔と缶の開口部とを密着させ光が
漏れない状態に維持する保持手段と、前記缶の外周面に
光を照射する光源と、前記缶のピンホールを通り前記孔
を経て漏れてくる光を検出する光センサーと、該光セン
サーで良否が検出された缶のうち良缶を排出する良缶排
出口に接続された良缶排出路および不良缶を排出する不
良缶排出口に接続された不良缶排出路とを有するピンホ
ールテスターにおいて、 前記不良缶排出口より下流に前記良缶排出口を配した良
缶排出路に設けられ、缶の通過を検出する缶有無センサ
ーと、 前記光センサーの出力に基づいて、良否が検出された缶
のうち不良缶が配されている前記孔の位置を検出する不
良缶位置検出手段と、 前記缶有無センサーおよび不良缶位置検出手段の出力に
より、不良缶が良缶排出路に搬送されてきたことを検知
する検知手段と、 この検知手段の出力に基づいて、良缶排出路における缶
の排出の流れを停止し不良缶の排出を防ぐ通過防止手段
とを有することを特徴とするピンホールテスターの不良
缶通過防止装置。 - 【請求項２】前記通過防止手段は、良品排出路を移動す
る缶にエアーを吹き付けて停止させその通過を防ぐエア
ーノズルを備えていることを特徴とする特許請求の範囲
第１項に記載のピンホールテスターの不良缶通過防止装
置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP62236642A JP2581099B2 (ja) | 1987-09-21 | 1987-09-21 | ピンホールテスターの不良缶通過防止装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP62236642A JP2581099B2 (ja) | 1987-09-21 | 1987-09-21 | ピンホールテスターの不良缶通過防止装置 |
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-
1987
- 1987-09-21 JP JP62236642A patent/JP2581099B2/ja not_active Expired - Fee Related
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