JP2580784Y2 - 電子回路実験装置 - Google Patents

Description

【考案の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 本考案は、弱電を対象とした実験用電子回路に関し、
電子回路の開発用、或いは教育用に回路を一時的に組立
るための装置に関するものである。

〔従来の技術〕

電子回路の開発のためには予め設計した回路を基板等
に組上げ電気的な特性を評価し、組上げた回路の特性を
評価し、回路定数の変更とか改良を加える作業をくり返
す場合が多い。この実験回路の組立は、従来の電子部品
の端子を挿入する孔を設けた導電箔を持つベークライト
板等の基板上に個別電子部品、若しくはIC等の半導体を
配置し、各電子部品の端子を基板の孔に半田付けするこ
とで固定し、必要ならばジャンパ線等を用いて各電子部
品の端子間を接続して組立てている。従って、実験回路
に電子部品を追加、又は削除する度に半田付けを繰り返
さなければならず作業量が多くなる上に、一度実験回路
に使用した電子部品は短絡等の事故を防ぐために半田付
け後に各電子部品の余分な端子線を切断する場合が多
く、このため一度使用した電子部品の再利用は困難であ
り、非効率であるとの問題があった。

一方、従来も電子部品を内蔵した立方体状ブロックを
用いる実験用電子回路の構成装置も存在していた。第６
図にその一例を示す。第６図（ａ）は、電子回路実験装
置を構成する立方体状ブロックの一例14で、500KΩの抵
抗の１つを内蔵した場合を図示している。ブロック上蓋
15は通常透明プラスチックよりなり、内部の電子部品を
見ることが出来、また内蔵した電子部品の記号定格等が
印刷されている。

一方、第６図（ｂ）は、従来の電子回路実験装置の基
板となる装置の一例である。絶縁体により形成された底
板上に一面に前記の立方体状ブロックを差し込むための
端子受けソケットが設けられており、また、隣りあう端
子受けソケットどうしの組は互いに結線されている。従
って立方体状ブロックを底板上に必要な配置で差し込む
ことにより、電子回路が形成されることになる。

〔考案が解決しようとしている問題点〕

以上述べた構造の従来型電子回路実験装置は、一つの
立方体状ブロック中に１つの電子部品を内包する構成で
あり、一般の個別電子部品は直接使えない構成であるた
め、基板に半田付けによりじかに電子部品を取り付ける
場合に較べて電子回路の専有スペースが大きくなる等の
欠点がある。またジャンパ線を含めた全ての電子部品を
全て１つ１つのブロックの中に納める構造であるため、
実際の電子部品の価格に較べて、それを納めたブロック
の価格が高いものになり、更に必要部品のブロックがた
またま製作されていないために目的とする実験回路を構
成することが出来ない場合がある等の欠点があった。

〔問題を解決するための手段〕

以上に述べた従来の電子回路実験装置の問題点を解決
するため、従来、立方体状ブロックを配置するために用
いていた底板の端子孔の相互の間隔を狭めると共に、一
般の市販個別電子部品を直接用いることが可能な構成と
する必要がある。即ち従来の立方体状ブロックは廃止し
て同ブロックを差し込んでいた底板自体をブロック構造
とし、各ブロックに端子孔をいくつか設け、各端子孔内
には金属製の端子受けソケットを設けて市販の個別電子
部品の端子を直接差し込んで使用できるようにする。一
方、各１つ１つのブロックどうしは、互いに絶縁された
状態とし、この単位ブロックを縦横に敷きつめたものを
電子回路実験装置とする。

このように構成した電子回路実験装置に於ては、各単
位ブロックを小型化することにより、端子孔間隔を小さ
くすることが出来、組立てた実験回路を従来のベークラ
イト基板を用いて実験を行う場合と同等にまで小型化す
ることが出来る。また、市販個別電子部品の端子を直接
ブロックの端子孔に差し込んで用いる構造としたため、
電子回路実験装置を用いない場合のように高価な電子部
品の端子を切断したために部品を使い捨てる必要もな
く、また従来型電子回路実験装置を用いた場合のように
必要な電子部品用のブロックが入手できず回路の組み立
てを断念する必要もない。

〔考案の作用〕

従来の立方体状ブロックは廃止して同ブロックを差し
込んでいた電子回路実験装置の底板自体をブロック構造
とし、前記のブロック構造を構成する各単位ブロック内
に端子孔を複数個設ける構造とし、前記端子孔内には、
金属製の端子受けソケットを設けて、市販個別電子部品
の端子を直接差し込んで使用できるようにする。又、各
単位ブロックどうしは互いに絶縁された状態とし、該単
位ブロックを別の新たな底板上に縦横に敷きつめた構造
とする。

上記の本考案によれは、各単位ブロックを小型化する
ことにより、端子孔間隔を小さくすることができ、組み
立てた実験回路を、従来のベークライト基板を用いた場
合と同等にまで小型化することができる。また、市販の
個別電子部品の端子を直接ブロックの端子孔に差し込ん
で用いる構造としたため、電子回路実験装置を用いない
場合のように高価な電子部品の端子を切断することによ
る使い捨てをする必要もなく、また、従来型電子回路実
験装置を用いた場合のように必要とする電子部品に適し
たブロックの入手ができないために回路の組み立てに困
難をきたすことがない。

〔実施例による説明〕

本考案による電子回路実験装置の構成例を第１図ない
し第６図により説明する。第１図（ａ）は本発明の電子
回路実験装置を構成する単位ブロック１であり、第１図
（ｂ）は単位ブロックを底板（図では隠れて見えない）
５の上に縦横に並べ、側枠２を取り付けて単位ブロック
どうしが分解しないよう補強した図である。単位ブロッ
ク１には、上面に４個ないし９個の端子孔が開けられて
おり、その各々に端子受けソケット３が取り付けられて
いる。単位ブロック１個の中の全ての端子受けソケット
は、ブロック内部で互いに電気的に接続されている。
又、単位ブロック１にはその側面に相互接続用突起4a及
び相互接続用くぼみ4bが４つの側面に１個ずつ形成され
ており、各ブロックは突起をくぼみにより嵌合するよに
し、単位ブロック１を縦横に接続して底板５に敷きつめ
ることができる。単位ブロック１はソケットの周囲は樹
脂により作られているので側面及び底面は完全に電気的
に絶縁されており、従って他の単位ブロックや底板との
間は完全に電気的に絶縁されている。

第２図（ａ）は、単位ブロック１の上面の端子孔に挿
入し、固定する端子受けソケット３である。端子受けソ
ケット３は防錆性のある金属、又は防錆加工した金属に
より形成され、電気の良導体である。内径は1mm以上と
し、通常の個別電子部品の端子を十分に差し込める直径
とする。また電子部品の端子を固定するばね構造のへこ
み31を複数個、径の対面上に取り付けてある。第２図
（ａ）は、薄い板金を用いてプレス等の方法によって製
作した例である。又、端子受けソケット３の下部には繋
ぎ手７を取り付けてあり、単位ブロック内の各端子受け
ソケットを電気的に接続するためのもので第３図に示す
導電板８の各々の切り込みに端子受けソケット３の下部
の繋ぎ手７の切り込みを差し込み、その後導電板８側の
切り込みを折り曲げて端子受けソケット３を固定する。
更に、半田付け、圧着等の方法により導電板８と繋ぎ手
７との接続部分を固定する。

第２図（ｂ）は、端子受けソケット３の繋ぎ手７を含
む縦方向の断面で切断し図示した断面図である。尚、第
３図は１つの単位ブロックの中に端子受けソケット３を
９個備える構造の場合の電導板８の模式図である。この
電導板８は、単位ブロック１に於て、電気絶縁物による
モジュールの中に完全に埋め込まれ、単位ブロック１の
表面に露出することはない。第４図は、本考案の回路試
験装置に用いるアースラインの例である。第４図（ａ）
は10本の接続端子10を備えた場合の例９であり、各接続
端子の間隔は単位ブロック１の１辺と同一とする。即ち
当アースラインを用いると、１列に並んだ合計10ケの単
位ブロックを電気的に接続することができる。また、第
４図（ｂ）、第４図（ｃ）に示す２種のアース端子は、
互いに電気的に接続する単位ブロックの数を可変するた
めに用いられるもので、直線上アース端子第４図（ｂ）
を用いれば該端子と同数の直線状に並んだ単位ブロック
を、また角折れアース端子第４図（ｃ）により、かぎ状
に曲がって並んだ単位ブロックを電気的に導通させるこ
とができる。第５図は、単位ブロック１の端子ソケット
に挿入できない太い端子を持つ電子部品を電子回路実験
装置に接続するためのアダプターで、端子受けソケット
３に挿入されるピン状部分12とより太い端子線を受け止
めるソケット状ヘッド部分13より構成される。ソケット
状ヘッド部分は電気絶縁物よりなり、中に金属製の端子
受けソケットが内蔵されており、端子受けソケットとピ
ン状部分とは電気的に接続されている。

以下、本考案による電子回路実験装置を実際に使用す
る例について説明する。まず単位ブロック１を底板５上
に縦横に敷きつめる。単位ブロック１の端子孔に個別電
子部品や、リード線の端子を直接、又はソケット状ヘッ
ド部分13等を介して挿入し、又目的とする実験回路にお
いて必要ならばアースライン９を使用することとなる。
単位ブロック１は、内部が端子受けソケット３、及び導
電板８のみで構成されており、単純な構造であることか
らブロック全体の小型化が可能であり、標準的なユニバ
ーサルベークライト基板の端子孔間隔である1/10インチ
に近い間隔にまで端子孔間隔を狭めた単位ブロックも製
作可能である。一方単位ブロック１個の端子孔の数は経
験的に４個又は９個が適当と考えられる。これらの単位
ブロックはその大きさが同一であれば端子孔の数の違い
に関係なく同一の電子回路実験装置の中に混在させるこ
とが可能である。

以上の実施例は本考案による電子回路実験装置を電子
回路の回路組立のために使用する例により説明したが、
個別電子部品を使用し半田付けすることなく回路を組立
ることが出来るので、電子回路を教育するための実習用
の電子回路実験装置としても使用出来る。

〔考案の効果〕

本考案で提案した電子回路実験装置を用いることで従
来の電子回路実験の欠点であった実験回路の組みての際
に必要な半田付け作業を廃することが出来、又電子部品
を何回も再利用することが可能となる。又、従来の電子
回路実験装置の欠点である市販の個別電子部品が使用で
きないこと、及び電子部品を納めた立方体状ブロックが
ある容積を有することにより実験回路全体をあまり小さ
く出来ない点に関しても本考案による電子回路実験装置
に於て解決できる。又、本考案による電子回路実験装置
を用いることにより市販個別電子部品の使用を可能と
し、又単位ブロック１の内部構造が比較的単純なため単
位ブロック１の小型化が可能であり、単位ブロック１の
端子受けソケットの間隔を狭めることが可能であり、小
型化出来る。

【図面の簡単な説明】

第１図は、本考案に於ける電子回路実験装置の実施例で
ある。第１図（ａ）は単位ブロック１の斜視図（図にお
いて、端子受けソケットが９個取り付けた場合の例を示
している）。第１図（ｂ）は電子回路実験装置の単位ブ
ロックを敷きつめた図である。 第２図は、単位ブロック１の端子孔内に収める端子受け
ソケット３の図であり、第２図（ａ）は端子受けソケッ
トの斜視図、第２図（ｂ）は断面図を示す。 第３図は、単位ブロック１内に収め、単位ブロック１を
構成する端子受けソケットどうしの導通を保つための伝
導板８の斜視図である。 第４図は、電子回路実験装置に用いる付属品の例で第４
図（ａ）は直線状に並んだ複数個の単位ブロックを同電
位とするためのアースライン９の斜視図である。第４図
（ｂ）は互いに導通させるべき単位ブロックの数を変え
易いために使用するアース端子の斜視図である。第４図
（ｃ）は方向を90°変える場合に使用するアース端子の
斜視図である。 第５図は、ソケット状ヘッド部分を示す斜視図である。 第６図は、従来型の電子回路実験装置の例で、第６図
（ａ）は電子部品を収めた立方体状ブロック、第６図
（ｂ）は立方体状ブロック14を用いた従来型の電子回路
実験装置の使用例を示す。 １…単位ブロック。２…側枠。 ３…端子受けソケット、4a…突起。 4b…くぼみ。５…底板。 ７…繋ぎ手。８…導電板。 ９…アースライン。10…接続端子。 12…ピン状部分。 13…ソケット状ヘッド部分。 14…立方体状ブロック。 15…ブロック上蓋。 17a,17b,17c,17d…端子。 31…へこみ。

Claims (2)

(57)【実用新案登録請求の範囲】
1. 【請求項１】電気絶縁材料により包まれ複数個の電気的
   に接続した端子受けソケットを持つ相似形の立方体状ブ
   ロックを縦横に多数個並べて構成したことを特徴とする
   電子回路実験装置。
2. 【請求項２】前記端子受けソケットは、その内部にばね
   と繋ぎ手を有する構造としたことを特徴とする実用新案
   登録請求の範囲第１項記載の電子回路実験装置。