JP2579272Y2 - 検査装置 - Google Patents
検査装置Info
- Publication number
- JP2579272Y2 JP2579272Y2 JP1992015937U JP1593792U JP2579272Y2 JP 2579272 Y2 JP2579272 Y2 JP 2579272Y2 JP 1992015937 U JP1992015937 U JP 1992015937U JP 1593792 U JP1593792 U JP 1593792U JP 2579272 Y2 JP2579272 Y2 JP 2579272Y2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- holder
- test material
- shoe
- elevator
- couplant
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired - Fee Related
Links
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N2291/00—Indexing codes associated with group G01N29/00
- G01N2291/04—Wave modes and trajectories
- G01N2291/044—Internal reflections (echoes), e.g. on walls or defects
Landscapes
- Investigating Or Analyzing Materials By The Use Of Ultrasonic Waves (AREA)
Description
【０００１】
【産業上の利用分野】この考案は、管状あるいは丸棒状
の被検材の周りから超音波探触子により探傷を行う検査
装置に関するものである。
の被検材の周りから超音波探触子により探傷を行う検査
装置に関するものである。
【０００２】
【従来の技術】図３、４は従来の検査装置を示す図であ
り、図３は被検材の軸方向とは直角な面での断面図、図
４は図３の側面図である。図において、１は被検材、２
は超音波探触子、３は上記超音波探触子２を保持するホ
ルダ、４は接触媒質を被検材に導くためのノズルを有
し、上記ホルダ３に取り付けられ、被検材１と接触する
シュー、５は上記シュー４を固定するボルト、６は被検
材１と回転接触するローラー、７はホルダ３内に蓄積さ
れた接触媒質、８は接触媒質７を送り込む導入口であ
る。
り、図３は被検材の軸方向とは直角な面での断面図、図
４は図３の側面図である。図において、１は被検材、２
は超音波探触子、３は上記超音波探触子２を保持するホ
ルダ、４は接触媒質を被検材に導くためのノズルを有
し、上記ホルダ３に取り付けられ、被検材１と接触する
シュー、５は上記シュー４を固定するボルト、６は被検
材１と回転接触するローラー、７はホルダ３内に蓄積さ
れた接触媒質、８は接触媒質７を送り込む導入口であ
る。
【０００３】従来の検査装置は、ローラー６の回転接触
により、被検材１に対して装置全体の姿勢を安定させた
状態において、被検材１とシュー４のすき間がなくなる
ように、あらかじめ被検材１の外径に適合したシュー４
を取り付けることにより接触媒質７を安定して蓄積し探
傷検査を行う。
により、被検材１に対して装置全体の姿勢を安定させた
状態において、被検材１とシュー４のすき間がなくなる
ように、あらかじめ被検材１の外径に適合したシュー４
を取り付けることにより接触媒質７を安定して蓄積し探
傷検査を行う。
【０００４】
【考案が解決しようとする課題】従来の検査装置は以上
のように構成されているので、被検材１の外径が変化す
ると、すきまＬを無くすためその外径に適合したシュー
４に取り換える必要がある。このため、被検材１の外径
の種類だけシュー４を準備する必要があり、コスト面、
管理面等に問題があった。さらに、被検材１の外径が頻
繁に変化する場合には、シュー４の交換の度に探傷検査
が止まり検査の効率が下がり、ひいては生産性低下を招
くという問題もあった。
のように構成されているので、被検材１の外径が変化す
ると、すきまＬを無くすためその外径に適合したシュー
４に取り換える必要がある。このため、被検材１の外径
の種類だけシュー４を準備する必要があり、コスト面、
管理面等に問題があった。さらに、被検材１の外径が頻
繁に変化する場合には、シュー４の交換の度に探傷検査
が止まり検査の効率が下がり、ひいては生産性低下を招
くという問題もあった。
【０００５】この考案は上記のような問題点を解消する
ためになされたもので、被検材１の外径が頻繁に変化す
る場合であっても、シュー４の交換をすることなく、連
続自動探傷可能な検査装置を得ることを目的とする。
ためになされたもので、被検材１の外径が頻繁に変化す
る場合であっても、シュー４の交換をすることなく、連
続自動探傷可能な検査装置を得ることを目的とする。
【０００６】
【課題を解決するための手段】この考案に係る検査装置
は、摺動軸受及び摺動軸及びシリンダを設けることによ
り、ローラーが被検材に回転接触している状態でホルダ
とシューを昇降させるものである。
は、摺動軸受及び摺動軸及びシリンダを設けることによ
り、ローラーが被検材に回転接触している状態でホルダ
とシューを昇降させるものである。
【０００７】
【作用】この考案における検査装置は、被検材の外径が
変化しても、ホルダとシューを昇降させることにより、
被検材とシューのすき間をなくし、接触媒質を安定して
蓄積することができる。
変化しても、ホルダとシューを昇降させることにより、
被検材とシューのすき間をなくし、接触媒質を安定して
蓄積することができる。
【０００８】
【実施例】実施例１． 図１、２はこの考案の一実施例を示す図であり、図１は
被検材の軸方向とは直角な面での断面図、図２は図１の
側面図である。図において１、２、３、４、５、６、
７、８は従来の装置と同一または相当部分を示すもので
ある。９はホルダ３内に固定された摺動軸受、１０は昇
降動作をガイドするための摺動軸、１１は摺動軸１０の
固定及びローラー６を固定するフレーム、１２は昇降力
を発生させるシリンダ、１３はホルダ３とシリンダ１２
を連結するアーム、１４はフレーム１１にシリンダ１２
を固定するフレームである。
被検材の軸方向とは直角な面での断面図、図２は図１の
側面図である。図において１、２、３、４、５、６、
７、８は従来の装置と同一または相当部分を示すもので
ある。９はホルダ３内に固定された摺動軸受、１０は昇
降動作をガイドするための摺動軸、１１は摺動軸１０の
固定及びローラー６を固定するフレーム、１２は昇降力
を発生させるシリンダ、１３はホルダ３とシリンダ１２
を連結するアーム、１４はフレーム１１にシリンダ１２
を固定するフレームである。
【０００９】次にこの考案の動作を説明する。ローラ６
が被検材１と非接触状態においては、シリンダ１２は引
込状態にあり、ホルダ３及びシュー４はストローク上限
に退避している。ローラー６が被検材１に回転接触し、
被検材１に対して装置全体の姿勢が安定した時点で、シ
リンダ１２を作動させる。アーム１３を介してホルダ３
に押付力が伝わり、摺動軸受９及び摺動軸１０のガイド
により、ホルダ３が下降する。そしてホルダ３と一体で
あるシュー４が被検材１と接触する。このようにして被
検材１とシュー４のすき間を無くし、接触媒質７を蓄積
し探傷検査を行う。この時に、被検材１の外径の変化に
よりすき間Ｌが発生しても、あらかじめシリンダ１２の
有効ストロークを設定することで、予測される被検材１
の外径変化に対応することができる。
が被検材１と非接触状態においては、シリンダ１２は引
込状態にあり、ホルダ３及びシュー４はストローク上限
に退避している。ローラー６が被検材１に回転接触し、
被検材１に対して装置全体の姿勢が安定した時点で、シ
リンダ１２を作動させる。アーム１３を介してホルダ３
に押付力が伝わり、摺動軸受９及び摺動軸１０のガイド
により、ホルダ３が下降する。そしてホルダ３と一体で
あるシュー４が被検材１と接触する。このようにして被
検材１とシュー４のすき間を無くし、接触媒質７を蓄積
し探傷検査を行う。この時に、被検材１の外径の変化に
よりすき間Ｌが発生しても、あらかじめシリンダ１２の
有効ストロークを設定することで、予測される被検材１
の外径変化に対応することができる。
【００１０】
【考案の効果】以上のように、この考案によればローラ
ーが被検材に回転接触している状態でホルダ及びシュー
を昇降させることにより、シューと被検材のすき間を無
くすように構成したので、被検材外径の変化に対応した
シューの交換の必要がなく、被検材外径が頻繁に変化す
る場合であっても、連続自動探傷が可能となり、検査の
効率が上がり、ひいては生産性向上につながる効果があ
る。
ーが被検材に回転接触している状態でホルダ及びシュー
を昇降させることにより、シューと被検材のすき間を無
くすように構成したので、被検材外径の変化に対応した
シューの交換の必要がなく、被検材外径が頻繁に変化す
る場合であっても、連続自動探傷が可能となり、検査の
効率が上がり、ひいては生産性向上につながる効果があ
る。
【図１】この考案の一実施例による検査装置を示す正面
断面図である。
断面図である。
【図２】この考案の一実施例による検査装置を示す側面
図である。
図である。
【図３】従来の検査装置を示す正面断面図である。
【図４】従来の検査装置を示す側面図である。
２ 超音波探触子 ３ ホルダ ４ シュー ６ ローラー ９ 摺動軸受 １０ 摺動軸 １２ シリンダ
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (58)調査した分野(Int.Cl.6，ＤＢ名) G01N 29/00 - 29/28
Claims (1)
- 【請求項１】 管状あるいは丸棒状の被検材の周りに配
置された超音波探触子と、上記超音波探触子を保持し、
かつ接触媒質を蓄積するための部屋を有しているホルダ
と、上記ホルダを昇降させる昇降機と、上記昇降機の可
動部と上記ホルダとを連結するアームと、上記ホルダの
昇降をガイドする一対のガイド部と、上記ガイド部を固
定するフレームと、上記フレームに、上記ホルダをはさ
むように取付けられ、被検材と回転接触するためのロー
ラーと、 上記ホルダに取付けられ、被検材の検査面に対向し、接
触媒質を被検材面に導くためのノズルを有しているシュ
ーと、上記昇降機を固定し、かつ上記フレームが取付け
られたフレームとを具備し、上記昇降機は、上記ローラ
ーが被検材に回転接触している状態で上記ホルダとシュ
ーを昇降させるようにしたことを特徴とする検査装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1992015937U JP2579272Y2 (ja) | 1992-03-26 | 1992-03-26 | 検査装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1992015937U JP2579272Y2 (ja) | 1992-03-26 | 1992-03-26 | 検査装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0577761U JPH0577761U (ja) | 1993-10-22 |
| JP2579272Y2 true JP2579272Y2 (ja) | 1998-08-20 |
Family
ID=11902681
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP1992015937U Expired - Fee Related JP2579272Y2 (ja) | 1992-03-26 | 1992-03-26 | 検査装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP2579272Y2 (ja) |
Family Cites Families (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5041589A (ja) * | 1973-08-17 | 1975-04-16 | ||
| JPS6098062U (ja) * | 1983-12-08 | 1985-07-04 | 株式会社クボタ | 超音波探触子ノズル |
| JPS6113151A (ja) * | 1984-06-29 | 1986-01-21 | Nippon Kokan Kk <Nkk> | 超音波探傷用マニピユレ−タ |
| JPS6225256A (ja) * | 1985-07-25 | 1987-02-03 | Mitsubishi Electric Corp | 検査装置 |
-
1992
- 1992-03-26 JP JP1992015937U patent/JP2579272Y2/ja not_active Expired - Fee Related
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH0577761U (ja) | 1993-10-22 |
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Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| LAPS | Cancellation because of no payment of annual fees |