JP2575531B2 - 変調光線を検出するための装置 - Google Patents
変調光線を検出するための装置Info
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- JP2575531B2 JP2575531B2 JP2313004A JP31300490A JP2575531B2 JP 2575531 B2 JP2575531 B2 JP 2575531B2 JP 2313004 A JP2313004 A JP 2313004A JP 31300490 A JP31300490 A JP 31300490A JP 2575531 B2 JP2575531 B2 JP 2575531B2
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- G11B7/133—Shape of individual detector elements
-
- G—PHYSICS
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- G11B—INFORMATION STORAGE BASED ON RELATIVE MOVEMENT BETWEEN RECORD CARRIER AND TRANSDUCER
- G11B11/00—Recording on or reproducing from the same record carrier wherein for these two operations the methods are covered by different main groups of groups G11B3/00 - G11B7/00 or by different subgroups of group G11B9/00; Record carriers therefor
- G11B11/10—Recording on or reproducing from the same record carrier wherein for these two operations the methods are covered by different main groups of groups G11B3/00 - G11B7/00 or by different subgroups of group G11B9/00; Record carriers therefor using recording by magnetic means or other means for magnetisation or demagnetisation of a record carrier, e.g. light induced spin magnetisation; Demagnetisation by thermal or stress means in the presence or not of an orienting magnetic field
- G11B11/105—Recording on or reproducing from the same record carrier wherein for these two operations the methods are covered by different main groups of groups G11B3/00 - G11B7/00 or by different subgroups of group G11B9/00; Record carriers therefor using recording by magnetic means or other means for magnetisation or demagnetisation of a record carrier, e.g. light induced spin magnetisation; Demagnetisation by thermal or stress means in the presence or not of an orienting magnetic field using a beam of light or a magnetic field for recording by change of magnetisation and a beam of light for reproducing, i.e. magneto-optical, e.g. light-induced thermomagnetic recording, spin magnetisation recording, Kerr or Faraday effect reproducing
- G11B11/10532—Heads
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- Optics & Photonics (AREA)
- Photometry And Measurement Of Optical Pulse Characteristics (AREA)
- Optical Head (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 本発明は、光学デバイス、具体的には情報を生む信号
の記録及び記憶に有用な光学デバイスに関するものであ
る。
の記録及び記憶に有用な光学デバイスに関するものであ
る。
多くの磁気光学ディスクはいわゆるハードセクタ型で
あり、そのようなハードセクタディスクは、通常セクタ
境界を示すために、モールドされた表面の摂動（pertur
bations）を含む。これらの表面の摂動は、セクタのア
ドレス及び他の制御情報も表わす。そのような表面摂動
の強さは、検出可能な読み出し信号を与えるために摂動
上に衝突するレーザビームを変調させる。磁気光学（M
O）ディスクのデータ部分では表面はなめらかであり、
反射光を一定強度で生じ、読み出し信号を得る。MOデー
タ部分に記録された情報は、読み取り表面及び記録表面
において、どちらか一方の残留磁気又は第２の極性によ
って表わされる。周知のように、磁気光学記録層による
反射光は、残留磁気に従って衝突する光線の直線偏光を
回転させ、ｐ及びｓの偏光成分を生む。この成分は読み
出し光学装置において分離される。例えば、ｐ成分は第
１のフォトダイオードに入射し、一方ｓ成分は第２のフ
ォトダイオードに入射する。この２つのダイオードの信
号の違いが、記録情報を表現するのである。
あり、そのようなハードセクタディスクは、通常セクタ
境界を示すために、モールドされた表面の摂動（pertur
bations）を含む。これらの表面の摂動は、セクタのア
ドレス及び他の制御情報も表わす。そのような表面摂動
の強さは、検出可能な読み出し信号を与えるために摂動
上に衝突するレーザビームを変調させる。磁気光学（M
O）ディスクのデータ部分では表面はなめらかであり、
反射光を一定強度で生じ、読み出し信号を得る。MOデー
タ部分に記録された情報は、読み取り表面及び記録表面
において、どちらか一方の残留磁気又は第２の極性によ
って表わされる。周知のように、磁気光学記録層による
反射光は、残留磁気に従って衝突する光線の直線偏光を
回転させ、ｐ及びｓの偏光成分を生む。この成分は読み
出し光学装置において分離される。例えば、ｐ成分は第
１のフォトダイオードに入射し、一方ｓ成分は第２のフ
ォトダイオードに入射する。この２つのダイオードの信
号の違いが、記録情報を表現するのである。
強度変調及び偏光変調信号の両方を読むために、１つ
の回路のみを用いることが望まれる。多くの差動検出回
路において、１つのダイオードに出る信号の強度を別の
ダイオードの信号強度と等しくし、差分信号をゼロとす
る。従って、容易にかつ確実に強度変調を検出すること
はできない。同様に、もし強度変調された偏光変調信号
が存在するなら、やはりその検出はより困難となる。
の回路のみを用いることが望まれる。多くの差動検出回
路において、１つのダイオードに出る信号の強度を別の
ダイオードの信号強度と等しくし、差分信号をゼロとす
る。従って、容易にかつ確実に強度変調を検出すること
はできない。同様に、もし強度変調された偏光変調信号
が存在するなら、やはりその検出はより困難となる。
本発明の目的は、偏光変調光線及び強度変調光線の両
方を検出可能でかつ２つの検出モード間を迅速に切り換
えることができる光学信号検出器を提供することであ
る。
方を検出可能でかつ２つの検出モード間を迅速に切り換
えることができる光学信号検出器を提供することであ
る。
例えば磁気光学ディスクの再生装置に用いられるよう
な光学的検出器において、検出器は、ｐ及びｓの成分を
有する磁気光学的偏光の光学的に回転した光線又は強度
変調した光線を検出することができる。検出器は、変調
光線を受け取る手段及び該変調光線をｐ及びｓ成分の２
つの光線にはっきりと分解する手段を含む。差動検出手
段は、２つの光線を途中で捕えて２つの光線に反応し、
ｐ及びｓ成分の相対的な偏光回転を表示する出力信号を
与える。制御手段は、２つの光線のうちの１つに反応す
るのを禁止するための検出器手段に接続され、それによ
り１つの光線の強度変調を出力信号として与える。
な光学的検出器において、検出器は、ｐ及びｓの成分を
有する磁気光学的偏光の光学的に回転した光線又は強度
変調した光線を検出することができる。検出器は、変調
光線を受け取る手段及び該変調光線をｐ及びｓ成分の２
つの光線にはっきりと分解する手段を含む。差動検出手
段は、２つの光線を途中で捕えて２つの光線に反応し、
ｐ及びｓ成分の相対的な偏光回転を表示する出力信号を
与える。制御手段は、２つの光線のうちの１つに反応す
るのを禁止するための検出器手段に接続され、それによ
り１つの光線の強度変調を出力信号として与える。
第１図及び第２図において、同じ番号は同じ構造を示
している。
している。
磁気光学的記憶ディスク10は適切に回転し、ダイオー
ドレーザ11によって供給されるレーザ光線を用いて走査
される。ダイオードレーザ11は、通常の方法でエネルギ
ーを与えられる（図示せず）。レーザ11の光線には、偏
光ビーム・スプリッタ13を通り、そこから光学板14によ
って反射されてさらに鏡15によって反射されて対物レン
ズ16を通ってそこから光経路17を伝わって、磁気光学デ
ィスク10上のデータを記憶するトラックに到達する。デ
ィスク10は、光を反射し、磁気光学ディスク10の残留磁
気に従って偏光を回転させる。この現象は周知なので、
詳述はしない。反射した光は、再び鏡15に戻り、部分的
に光学板14によって反射されて光経路20を通って第２の
ビーム・スプリッタ21に入る。ビーム・スプリッタ21
は、ハーフミラー23を通過した光経路20の光線を２つの
等しい強度の光線に分解し、それぞれを光学鏡24によっ
て経路22及び25に伝える。偏光フィルタ20及び31は、そ
れぞれ経路25及び22からのｓ及びｐ成分のみをフィルタ
し通過させる。一対のフォトダイオード32及び33は、＋
Ｖ信号及び接地標準電位の間で直列に接続される。経路
25及び22の光線は、それぞれフォトダイオード32及び33
に入射する。このような配置は、前置増幅器34へのライ
ン35上に信号を送ることによって、差動検出を与えると
知られている。増幅器34の出力は、この技術分野におい
て周知なように、データ検出のために電気的信号を送る
ターミナル36へ行く。
ドレーザ11によって供給されるレーザ光線を用いて走査
される。ダイオードレーザ11は、通常の方法でエネルギ
ーを与えられる（図示せず）。レーザ11の光線には、偏
光ビーム・スプリッタ13を通り、そこから光学板14によ
って反射されてさらに鏡15によって反射されて対物レン
ズ16を通ってそこから光経路17を伝わって、磁気光学デ
ィスク10上のデータを記憶するトラックに到達する。デ
ィスク10は、光を反射し、磁気光学ディスク10の残留磁
気に従って偏光を回転させる。この現象は周知なので、
詳述はしない。反射した光は、再び鏡15に戻り、部分的
に光学板14によって反射されて光経路20を通って第２の
ビーム・スプリッタ21に入る。ビーム・スプリッタ21
は、ハーフミラー23を通過した光経路20の光線を２つの
等しい強度の光線に分解し、それぞれを光学鏡24によっ
て経路22及び25に伝える。偏光フィルタ20及び31は、そ
れぞれ経路25及び22からのｓ及びｐ成分のみをフィルタ
し通過させる。一対のフォトダイオード32及び33は、＋
Ｖ信号及び接地標準電位の間で直列に接続される。経路
25及び22の光線は、それぞれフォトダイオード32及び33
に入射する。このような配置は、前置増幅器34へのライ
ン35上に信号を送ることによって、差動検出を与えると
知られている。増幅器34の出力は、この技術分野におい
て周知なように、データ検出のために電気的信号を送る
ターミナル36へ行く。
本発明に従うと、電子スイッチ40は、ダイオード33の
陽極及び接地標準電位の間に挿入される。スイッチ40が
閉じられると、ダイオード33の陽極から接地電位に至る
電流路が形成される。このモードにおいて、ダイオード
33はライン35の差分信号に寄与し、図の回路が経路20に
受け取った光線の偏光回路を検出するのに役立つ。強度
変調光線を検出するために、電子スイッチ40を開いて回
路からフォトダイオード33の接地電位へ至る接続を断
ち、ダイオード32のみが信号を検出するようにする。経
路22を通る強度変調信号は無効となるが、強度変調信号
の別の半分は、経路25を通ってダイオード32に入射し、
強度変調光線を検出する。光線の検出された強度変調
は、ダイオード32を通って前置増幅器34を通り、番号36
で示される検出回路によって検出される。
陽極及び接地標準電位の間に挿入される。スイッチ40が
閉じられると、ダイオード33の陽極から接地電位に至る
電流路が形成される。このモードにおいて、ダイオード
33はライン35の差分信号に寄与し、図の回路が経路20に
受け取った光線の偏光回路を検出するのに役立つ。強度
変調光線を検出するために、電子スイッチ40を開いて回
路からフォトダイオード33の接地電位へ至る接続を断
ち、ダイオード32のみが信号を検出するようにする。経
路22を通る強度変調信号は無効となるが、強度変調信号
の別の半分は、経路25を通ってダイオード32に入射し、
強度変調光線を検出する。光線の検出された強度変調
は、ダイオード32を通って前置増幅器34を通り、番号36
で示される検出回路によって検出される。
本発明は、ハードセクタ磁気光学ディスクに用いるこ
とができる。通常、セクタ境界と一致する表面波形を型
押しし、磁気光学ディスク又は記憶部材10において用い
られる信号を記録するために表面の波形セクタマークの
間にスペースを残すことによってハードセクタは提供さ
れる。番号43は、記憶部材10におけるトラックを示して
いる。ハードセクタ部分は凸凹のセクタマーク、トラッ
ク及びセクタ同定を含み、IDフィールド44と呼ばれる。
ハードセクタ部分44は磁気光学部材のなめらかな表面部
分45の間に挿入される。光ディスク制御器（ODC）42
は、各IDフィールド44又はMOフィールド45から読み取ら
れた信号を解読し、つぎに遭遇するゾーン即ちMO又は凸
凹（強度変調した）信号に対する位置にスイッチ40をセ
ットする。ODC42は、光ディスクデバイスにおいて見出
せる。
とができる。通常、セクタ境界と一致する表面波形を型
押しし、磁気光学ディスク又は記憶部材10において用い
られる信号を記録するために表面の波形セクタマークの
間にスペースを残すことによってハードセクタは提供さ
れる。番号43は、記憶部材10におけるトラックを示して
いる。ハードセクタ部分は凸凹のセクタマーク、トラッ
ク及びセクタ同定を含み、IDフィールド44と呼ばれる。
ハードセクタ部分44は磁気光学部材のなめらかな表面部
分45の間に挿入される。光ディスク制御器（ODC）42
は、各IDフィールド44又はMOフィールド45から読み取ら
れた信号を解読し、つぎに遭遇するゾーン即ちMO又は凸
凹（強度変調した）信号に対する位置にスイッチ40をセ
ットする。ODC42は、光ディスクデバイスにおいて見出
せる。
ODC42はライン46上にスイッチ閉鎖信号を供給して電
子スイッチ40を閉じ、部分45から反射した偏光変調光線
の検出を可能にする。同様の方法で、IDフィールド44を
走査する時にはODC42はライン46上にスイッチ開放信号
を供給して、IDフィールド44の表面波形によって生じる
強度変調の検出を可能にする。
子スイッチ40を閉じ、部分45から反射した偏光変調光線
の検出を可能にする。同様の方法で、IDフィールド44を
走査する時にはODC42はライン46上にスイッチ開放信号
を供給して、IDフィールド44の表面波形によって生じる
強度変調の検出を可能にする。
本発明は、結果として反射した光線の強度変調となる
欠陥の検出にも用いることができる。即ち、欠陥は低い
強度の光を反射するが、表面の良好な部分は高い強度の
光を反射して入射する光線を強度変調させる。ライン41
上を伝わる信号は、スイッチ40を開いて欠陥の検出を可
能にする。例えば記憶部材10の表面分析に用いることが
できる。また、例えば同時係属の米国出願の第239863号
に示されるように、MOフィールド45を消却サイクルにか
ける間に、欠陥の検出を行なうこともできる。
欠陥の検出にも用いることができる。即ち、欠陥は低い
強度の光を反射するが、表面の良好な部分は高い強度の
光を反射して入射する光線を強度変調させる。ライン41
上を伝わる信号は、スイッチ40を開いて欠陥の検出を可
能にする。例えば記憶部材10の表面分析に用いることが
できる。また、例えば同時係属の米国出願の第239863号
に示されるように、MOフィールド45を消却サイクルにか
ける間に、欠陥の検出を行なうこともできる。
ダイオード33は不活性にするために電子スイッチ40が
示されているが、フォトダイオードから届く光をブロッ
クするために電子スイッチ40と同じ位速く動作する電子
シャッタを光経路22又は25上に配置してもよい。
示されているが、フォトダイオードから届く光をブロッ
クするために電子スイッチ40と同じ位速く動作する電子
シャッタを光経路22又は25上に配置してもよい。
第２図は、フォトダイオード33の陽極に接続される電
子スイッチ40の実施例、即ち、空間電極がライン46に、
エミッタ電極が接地標準電位に、そしてコレクタ電極が
フォトダイオード33の陽極に接続されたNPNトランジス
タ50を示している。ツェナーダイオード52は、NPNトラ
ンジスタ50のコレクタ及びフォトダイオード33の陽極の
間の交差点53において正の電圧の変位を制限するために
図示されるように挿入される。正電圧源は、低域フィル
タ51を通って交差点53に接続される。
子スイッチ40の実施例、即ち、空間電極がライン46に、
エミッタ電極が接地標準電位に、そしてコレクタ電極が
フォトダイオード33の陽極に接続されたNPNトランジス
タ50を示している。ツェナーダイオード52は、NPNトラ
ンジスタ50のコレクタ及びフォトダイオード33の陽極の
間の交差点53において正の電圧の変位を制限するために
図示されるように挿入される。正電圧源は、低域フィル
タ51を通って交差点53に接続される。
本発明は、偏光変調光線及び強度変調光線の両方を検
出できる光学信号検出器を提供できる。
出できる光学信号検出器を提供できる。
第１図は、本発明の光学的検出装置を示す図である。 第２図は、第１図において用いられる電子スイッチの実
施例を示す回路図である。 10……磁気光学部材、11……ダイオードレーザ、12,17,
20,22,25……光経路、13……偏光ビームスプリッタ、14
……光学板、15,24……鏡、16……対物レンズ、21……
ビームスプリッタ、23……ハーフミラー、30、31……偏
光フィルタ、32、33……フォトダイオード、34……前置
増幅器、35、41、46……ライン、36……ターミナル、40
……電子スイッチ、42……光デイスク制御器（ODC）、4
3……トラック、44……IDフィールド、45……MOフィー
ルド、50……NPNトランジスタ、51……低域フィルタ、5
2……ツェナーダイオード、53……交差点。
施例を示す回路図である。 10……磁気光学部材、11……ダイオードレーザ、12,17,
20,22,25……光経路、13……偏光ビームスプリッタ、14
……光学板、15,24……鏡、16……対物レンズ、21……
ビームスプリッタ、23……ハーフミラー、30、31……偏
光フィルタ、32、33……フォトダイオード、34……前置
増幅器、35、41、46……ライン、36……ターミナル、40
……電子スイッチ、42……光デイスク制御器（ODC）、4
3……トラック、44……IDフィールド、45……MOフィー
ルド、50……NPNトランジスタ、51……低域フィルタ、5
2……ツェナーダイオード、53……交差点。
Claims (3)
- 【請求項１】変調光線を受取り、ｐ波成分およびｓ波成
分を有する２光線に分解する手段と、 前記２光線の各々を個別に受光する直列接続された２つ
の受光素子と、前記受光素子の出力に接続された差動増
幅器とを含む差動検出手段と、 前記２つの受光素子の各々に接続されたバイアス手段
と、 前記受光素子の一つおよび該１つの受光素子に接続され
た前記バイアス手段の間に接続されたスイッチ手段とを
含み、 前記スイッチ手段が光デイスク制御手段からの制御信号
に応じて開放し、前記一方の受光素子の出力をオフする
ことを特徴とする変調光線を検出するための装置。 - 【請求項２】前記制御信号は、前記光デイスク制御手段
が光磁気デイスクのハードセクタ部を検出した時に出力
される信号であることを特徴とする請求項１記載の装
置。 - 【請求項３】前記スイッチ手段が前記一方の受光素子に
接続された、トランジスタ、ツェナーダイオードおよび
フィルタ手段からなることを特徴とする請求項１記載の
装置。
Applications Claiming Priority (2)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| US448450 | 1982-12-10 | ||
| US07/448,450 US5105415A (en) | 1989-12-11 | 1989-12-11 | Detecting magnetooptic and intensity-modulated optical signals with the same detector |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH03189525A JPH03189525A (ja) | 1991-08-19 |
| JP2575531B2 true JP2575531B2 (ja) | 1997-01-29 |
Family
ID=23780346
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP2313004A Expired - Fee Related JP2575531B2 (ja) | 1989-12-11 | 1990-11-20 | 変調光線を検出するための装置 |
Country Status (6)
| Country | Link |
|---|---|
| US (1) | US5105415A (ja) |
| EP (1) | EP0432977B1 (ja) |
| JP (1) | JP2575531B2 (ja) |
| KR (1) | KR940001447B1 (ja) |
| CA (1) | CA2025924C (ja) |
| DE (1) | DE69027514T2 (ja) |
Families Citing this family (5)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US5835472A (en) * | 1990-07-31 | 1998-11-10 | Omron Corporation | Optical pickup device with substantially mutually orthogonal reflection surfaces |
| JP3368908B2 (ja) * | 1991-07-24 | 2003-01-20 | 松下電器産業株式会社 | 光磁気ディスク記録再生装置 |
| US5442618A (en) * | 1993-11-12 | 1995-08-15 | International Business Machines Corporation | Common mode rejection control in an optical disk drive |
| CN1088233C (zh) * | 1995-01-31 | 2002-07-24 | 索尼公司 | 光信号检测电路 |
| US6118753A (en) * | 1996-08-13 | 2000-09-12 | Hewlett-Packard Company | Erasable digital video disk with reference clock track |
Family Cites Families (19)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US4337534A (en) * | 1979-04-18 | 1982-06-29 | Discovision Associates | Solid state electro-optical track follower array |
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| JPS59148145A (ja) * | 1983-02-14 | 1984-08-24 | Fujitsu Ltd | 表面欠陥検査装置 |
| JPS59198537A (ja) * | 1983-04-22 | 1984-11-10 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | 光学的記録再生装置 |
| US4691308A (en) * | 1984-04-19 | 1987-09-01 | Nippon Kogaku K. K. | Apparatus for reproducing information from magnetooptical recording medium |
| US4617654A (en) * | 1984-06-12 | 1986-10-14 | National Semiconductor Corporation | Matrix circuit for optical disc systems |
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