JP2561023B2 - 高周波信号レベル検出回路および高周波信号レベル検出方法 - Google Patents

高周波信号レベル検出回路および高周波信号レベル検出方法

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JP2561023B2
JP2561023B2 JP6116192A JP11619294A JP2561023B2 JP 2561023 B2 JP2561023 B2 JP 2561023B2 JP 6116192 A JP6116192 A JP 6116192A JP 11619294 A JP11619294 A JP 11619294A JP 2561023 B2 JP2561023 B2 JP 2561023B2
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JP
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voltage
frequency signal
signal level
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semiconductor diode
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崇志 篠田
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Nippon Electric Co Ltd
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Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、温度変化に対して安定
な高周波信号レベル検出回路および高周波信号レベル検
出方法に関する。
【0002】
【従来の技術】従来の高周波信号レベル検出回路は、半
導体ダイオードの温度変化に伴う特性の変化のうち、立
ち上がり電圧の移動を図3のように、検波用のダイオー
ド4に電圧源51の出力電圧を、コイル3を経由して供
給し、電圧源51の出力電圧を検波用の半導体ダイオー
ド4の温度変化と同等に変化させることにより、温度の
変化にかかわらず、同じ交流入力に対して同一の検出出
力を得ようとするものであった。
【0003】
【発明が解決しようとする課題】この従来の高周波信号
レベル検出回路では、半導体ダイオードの立ち上がり特
性のみは補償できるが、温度による電圧−電流特性の傾
き(即ち、微分特性)の変化までは補償できないという
欠点があった。
【0004】また、前者の補償にしても、半導体ダイオ
ードの温度特性のダイオード毎のバラツキのため、所要
の安定度を得るためには、何度も周囲温度を変えながら
バイアス電圧51の出力電圧の温度変化を合わせ込む必
要があった。
【0005】本発明の目的は、検波用の半導体ダイオー
ドのバイアス電圧を周囲温度の変化にかかわらず、最適
なバイアス点に設定することができ、かつ温度による検
波効率の変化をも補正することができる高周波信号レベ
ル検出回路および高周波信号レベル検出方法を提供する
ことにある。
【0006】
【課題を解決するための手段】本発明は、半導体ダイオ
ードで検波することによって高周波信号のレベルを検出
する高周波信号レベル検出回路において、前記半導体ダ
イオードに印加するバイアスを、高周波信号を最適な効
率で検波できる第1の電圧と、高周波信号の振幅より充
分大きい第2および第3の電圧の3段階に階段上に周期
的に変化させる手段と、前記第2、第3の電圧のバイア
スに対する半導体ダイオードの電流値から、前記半導体
ダイオードのその時点の温度での電圧−電流特性を計算
する手段と、計算された前記電圧−電流特性により前記
第1の電圧を最適電圧に移動させる手段とを備えること
を特徴としている。
【0007】また、本発明は、計算された前記電圧−電
流特性から、補正された前記第1の電圧の値に対する検
波効率を計算し、検波出力を補正する手段を備えるのが
好適である。
【0008】
【作用】本発明の高周波信号レベル検出回路は、検波用
半導体ダイオードのバイアス電圧を周期的に3段階に変
化させ、検波に適当な電圧より大きい2つの電圧に対す
るダイオード電流からその時点での静特性を計算推定
し、検波のための最適バイアスに第1の電圧を合わせる
と共に、検波効率の変化を計算して、検波出力を補正す
る。
【0009】
【実施例】次に、本発明の実施例について、図面を参照
して説明する。
【0010】図1は、本発明の高周波信号レベル検出回
路の一実施例を示す回路図である。本実施例において、
高周波信号源1の一方の端子は接地され、他方の端子は
コンデンサ2を介して半導体ダイオード4の一方の端子
に接続され、バイアス電圧源11の端子25は接地さ
れ、出力端子24はコイル3を介して半導体ダイオード
4の一方の端子に接続されている。半導体ダイオード4
の他方の端子は、コンデンサ5と抵抗6とからなる並列
回路を介して接地されると共に、サンプルホールド回路
7に接続されている。サンプルホールド回路7の出力
は、A/D変換器8を介して演算器9に入力され、演算
器9の出力は、出力端子10に出力される。また、演算
器9の端子22は、D/A変換器12を介してバイアス
電圧源11の入力端子23に接続されている。
【0011】次に、本実施例の動作について説明する。
【0012】高周波信号源1の出力は、半導体ダイオー
ド4で検波され、コンデンサ5、抵抗6からなる時定数
回路の電圧を上昇させる。半導体ダイオード4のバイア
ス電圧は、バイアス電圧源11の出力端子24からコイ
ル3を経て供給される。バイアス電圧源11の出力は、
図2に示すように検波に適合する第1の電圧と、測定範
囲内の高周波信号源1の振幅より充分大きな一定値の第
2、第3の電圧を発生する。
【0013】サンプルホールド回路7は、図2のts1
s2,ts3の各々の電圧を周期的に抽出し、A/D変換
器8でデジタル信号化し、演算器9でts1に対応する電
圧値をデジタル信号の形で出力すると同時に、ts2,t
s3に対応する電圧値から、その時点の温度での半導体ダ
イオード4の電圧−電流特性を計算し、第1の電圧の値
を室温で定めた所定の、かつ、わずかな順バイアス電流
が半導体ダイオード4に流れる値となるよう、バイアス
電圧源11の制御入力端子23へ指令を入力する。ま
た、計算した半導体ダイオード4の電圧−電流特性から
第1の電圧に対する検波効率を計算し、出力端子10へ
の出力を補正する。
【0014】一般に、ダイオードの電圧−電流特性は、
次式で得られる。
【0015】
【数1】
【0016】ここでIO =逆方向飽和電流、vD =半導
体ダイオードに加わる電圧、 q=電子の電荷、T=絶対温度、m=1〜2の間の定数 従って、ここでvD は第2,第3のバイアス電圧であ
り、定数m、絶対温度T以外は既知であるから、第2、
第3のバイアス電圧に対するダイオード電流が分かれ
ば、定数m、絶対温度Tを計算することができ、所定の
バイアス電流を流すために必要な第1のバイアス電圧
は、どのような絶対温度Tに対しても求めることができ
る。
【0017】
【発明の効果】以上述べたように、本発明は、検波に適
当なバイアス電圧以外の2つのバイアス電圧を検波用の
半導体ダイオードに与えることにより半導体ダイオード
の電圧−電流特性を求めて、周囲温度の変化にかかわら
ずダイオードのバイアス値を所定のバイアス点に設定す
ることができ、かつ温度による検波効率の変化を補正す
ることができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の高周波信号レベル検出回路の一実施例
を示す回路図である。
【図2】バイアス電圧源の出力波形を示す図である。
【図3】従来の高周波信号レベル検出回路の一実施例を
示す回路図である。
【符号の説明】
1 高周波信号源 2,5 コンデンサ 3 コイル 4 半導体ダイオード 6 抵抗 7 サンプルホールド回路 8 A/D変換器 9 演算器 10 出力端子 11 バイアス電圧源 12 D/A変換器

Claims (4)

    (57)【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】半導体ダイオードで検波することによって
    高周波信号のレベルを検出する高周波信号レベル検出回
    路において、 前記半導体ダイオードに印加するバイアスを、高周波信
    号を最適な効率で検波できる第1の電圧と、高周波信号
    の振幅より充分大きい第2および第3の電圧の3段階に
    階段上に周期的に変化させる手段と、 前記第2、第3の電圧のバイアスに対する半導体ダイオ
    ードの電流値から、前記半導体ダイオードのその時点の
    温度での電圧−電流特性を計算する手段と、 計算された前記電圧−電流特性により前記第1の電圧を
    最適電圧に移動させる手段とを備えることを特徴とする
    高周波信号レベル検出回路。
  2. 【請求項2】計算された前記電圧−電流特性から、補正
    された前記第1の電圧の値に対する検波効率を計算し、
    検波出力を補正する手段を備えることを特徴とする請求
    項1記載の高周波信号レベル検出回路。
  3. 【請求項3】検波用の半導体ダイオードのバイアス電圧
    を周期的に3段階に階段上に変化させ、第1の電圧の値
    は、検波に適当であって、わずかな順電流が流れる値で
    あり、第2および第3の電圧の値は、入力高周波信号の
    振幅より充分に大きな値であり、各電圧に対するダイオ
    ード電流をサンプル検出し、第2および第3の電圧にお
    ける電流値からその時点の温度におけるダイオードの電
    圧−電流特性を計算し、計算結果より第1の電圧が最適
    なバイアス電圧となるように補正することを特徴とする
    高周波信号レベル検出方法。
  4. 【請求項4】計算された前記電圧−電流特性から、補正
    された前記第1の電圧の値に対する検波効率を計算し、
    検波出力を補正することを特徴とする請求項3記載の高
    周波信号レベル検出方法。
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US7215162B2 (en) 2002-09-25 2007-05-08 Denso Corporation Start signal outputting circuit
US7536153B2 (en) 2003-12-17 2009-05-19 Denso Corporation Activation signal output circuit having multiple amplifier circuits
US7589586B2 (en) 2007-01-17 2009-09-15 Oki Semiconductor Co., Ltd. High frequency signal detection circuit
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