JP2560621B2 - 投影露光装置 - Google Patents

投影露光装置

Info

Publication number
JP2560621B2
JP2560621B2 JP5230355A JP23035593A JP2560621B2 JP 2560621 B2 JP2560621 B2 JP 2560621B2 JP 5230355 A JP5230355 A JP 5230355A JP 23035593 A JP23035593 A JP 23035593A JP 2560621 B2 JP2560621 B2 JP 2560621B2
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
mask
reticle
pressure
projection exposure
light
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Expired - Fee Related
Application number
JP5230355A
Other languages
English (en)
Other versions
JPH0799146A (ja
Inventor
幸治 山中
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
NEC Corp
Original Assignee
Nippon Electric Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Nippon Electric Co Ltd filed Critical Nippon Electric Co Ltd
Priority to JP5230355A priority Critical patent/JP2560621B2/ja
Publication of JPH0799146A publication Critical patent/JPH0799146A/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP2560621B2 publication Critical patent/JP2560621B2/ja
Anticipated expiration legal-status Critical
Expired - Fee Related legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • GPHYSICS
    • G03PHOTOGRAPHY; CINEMATOGRAPHY; ANALOGOUS TECHNIQUES USING WAVES OTHER THAN OPTICAL WAVES; ELECTROGRAPHY; HOLOGRAPHY
    • G03FPHOTOMECHANICAL PRODUCTION OF TEXTURED OR PATTERNED SURFACES, e.g. FOR PRINTING, FOR PROCESSING OF SEMICONDUCTOR DEVICES; MATERIALS THEREFOR; ORIGINALS THEREFOR; APPARATUS SPECIALLY ADAPTED THEREFOR
    • G03F7/00Photomechanical, e.g. photolithographic, production of textured or patterned surfaces, e.g. printing surfaces; Materials therefor, e.g. comprising photoresists; Apparatus specially adapted therefor
    • G03F7/70Microphotolithographic exposure; Apparatus therefor
    • G03F7/708Construction of apparatus, e.g. environment aspects, hygiene aspects or materials
    • G03F7/70858Environment aspects, e.g. pressure of beam-path gas, temperature
    • G03F7/70866Environment aspects, e.g. pressure of beam-path gas, temperature of mask or workpiece

Landscapes

  • Health & Medical Sciences (AREA)
  • Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
  • Atmospheric Sciences (AREA)
  • Toxicology (AREA)
  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Environmental & Geological Engineering (AREA)
  • Epidemiology (AREA)
  • Public Health (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Exposure And Positioning Against Photoresist Photosensitive Materials (AREA)
  • Exposure Of Semiconductors, Excluding Electron Or Ion Beam Exposure (AREA)

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、投影露光装置に関し、
特に画像の湾曲を調整できる投影露光装置に関する。
【0002】
【従来の技術】従来の投影露光装置としては、例えば特
開平1−292820号公報に示されたものがあり、こ
の従来の装置について図6を用いて説明する。図6
(a)は、レチクル表面の曲率を、ウェーハ上のパター
ン内においてデフォーカス部が発生しない曲率にする部
分の構成を示す概略平面図、図6(b),(c)は図6
(a)に示すA部の拡大平面図及びその側面図である。
【0003】図6(b)に示されるように、レチクル1
の周辺は、複数個の曲率補正用治具7で囲まれている。
また1つの曲率補正用治具7は、ベアリング付ルーロン
6と一体となっており、かつ、レチクル1のレンズ系に
近い表面側には、バキュームホール9の付いた無発じん
性樹脂10が半球ボール上に接着されている。更に、曲
率補正用治具7がレチクル1の光源側の表面に接する部
分の先端部にはテンションローラー5が付いている。
【0004】上記のような構成において、弾性のあるレ
チクル1をプラテン上にロードした後、レチクル1の周
辺を複数個の曲率補正用治具7で取り囲む。レチクル1
のレンズ系に近い表面と無発じん性樹脂10とをバキュ
ームを引くことにより密着させる。
【0005】次に、曲率補正用治具7と一体となったベ
アリング付ルーロン6がガイドキー8に沿って上下方向
への直線運動をすることにより、レチクル1の光源側の
表面に接触しているテンションローラー5の接点が作用
点となり、レチクル1に慣性モーメントが加わることに
なる。
【0006】また、テンションローラー5の付いている
曲率補正用治具7の先端部の長さLを変えることによ
り、慣性モーメントの方向及び大きさを変化させる。
【0007】上記動作及び作用をもった曲率補正用治具
7を複数個組み合わせることにより、レチクル1の表面
を任意の曲率に変化させていた。
【0008】
【発明が解決しようとする課題】この従来の投影露光装
置では、機械的にレチクルに力を直接加えているため、
構成が複雑となり、しかも曲率補正用治具に加圧による
金属疲労が生じて曲率補正用治具に発塵が生じ、レチク
ル上にゴミが付着してパターン転写に障害を生じさせて
しまうという問題点があった。
【0009】本発明の目的は、気圧差を利用してレチク
ルを湾曲させるようにした投影露光装置を提供すること
にある。
【0010】
【課題を解決するための手段】前記目的を達成するた
め、本発明に係る投影露光装置は、対をなす気圧室と、
圧力調整部とを有し、光源から照射された光をマスク上
のパターンに入射し、該パターンをレンズ系に通してウ
ェーハ上に投影する投影露光装置であって、対をなす気
圧室は、マスクを挾んでその両側に配設され、各気圧室
のマスクと向き合う端壁は、開放されたものであり、気
圧室の開放端壁は、マスクにより気密に閉塞されてお
り、光源からの光が入射する一方の気圧室の端壁、及び
マスクを透過した光が出射する他方の気圧室の端壁は、
光の透過性をもつものであり、圧力調整部は、対をなす
気圧室相互間に圧力差を生じさせ、その圧力差によりマ
スクに所望の屈撓力を付与するものである。
【0011】また、前記気圧室の開放端壁の開口縁は、
Oリングを介してマスクに密着しているものである。
【0012】
【作用】レチクルを挾んでその両側に設けた気圧室の気
圧を調整することにより、レチクルの両側に圧力差を生
じさせて該レチクルを湾曲させる。
【0013】
【実施例】以下、本発明の一実施例を図により説明す
る。図1は、本発明の一実施例を示す断面図、図2は、
レチクルと気圧室との接触部での位置関係を示す図であ
る。尚、本発明では、レチクルとフォトマスクとを総称
してマスクとして取扱うが、実施例ではレチクルについ
てのものとして述べる。本発明はフォトマスクについて
も同様に採用できる。
【0014】図において、本発明装置は、対をなす気圧
室R1,R2と脱気部15とを有している。
【0015】対をなす気圧室R1,R2は、マスクとして
のレチクル11を挾んでその両側に配設されており、本
体13と石英窓12とを有している。本体13は、その
中央部が円筒状にくり抜かれており、本体13のマスク
11と向き合う端壁は、開放されており、本体13の開
放端壁は、マスク11により気密に閉塞されるようにな
っている。本体13の開放端壁の開口縁は、Oリング1
6を介してマスク11に密着しており、Oリング16は
気圧室16の気密性を保持するとともに、レチクル11
の表面を傷付けないようにしている。
【0016】また、石英窓12は光の透過性をもってお
り、光源からの露光光14が入射される一方の本体13
の端壁をなすものであるとともに、マスク11を透過し
た光が出射する他方の本体13の端壁をなすものであ
る。
【0017】圧力調整部をなす圧力調整用パイプ15
は、上下の各気圧室R1,R2に接続されており、圧力が
コントロール,モニターされている窒素ガス(又は空
気)を各気圧室R1,R2に送り込み、上下の気圧室
1,R2相互間に圧力差を生じさせてマスク11に屈撓
力を付与してマスク11を凸又は凹型の曲面形状に屈撓
させるようになっている。
【0018】次に図3,図4,図5に、本体13の内側
円筒部の半径が57mm,レチクル11として、127
mm×127mmの大きさで、厚さ2.3mmの石英レ
チクルを使ったときの変位量及びウェーハ面上での像面
特性を示す。
【0019】まず、図3に上下レチクル加圧室の圧力差
とレチクル変位量の関係を示す。レチクル中心での変位
及びレチクル中心から半径r=35mmの位置での変位
量は、気圧室R1,R2相互間の圧力差に対して比例して
いる。
【0020】図4にレチクル中心からの距離対レチクル
の変位量の関係を示す。レチクル変位量は、投影レンズ
側に近づく方向をマイナスとしている。図4では、加圧
量51×10-6kg/mm2の場合と、101×10-6
kg/mm2の場合を例として示している。
【0021】図5に縮小倍率5対1の投影レンズを使用
したときのレチクルパターン位置、ウェーハ上に転写さ
れたパターンの投影レンズによる像面湾曲による露光フ
ィールド内でのベストフォーカス位置に与える影響、レ
チクルを加圧により変位させた場合の像面への影響につ
いて示す。なお、フォーカス符号は投影レンズに近づく
方向をプラスとして表示している。
【0022】レチクル11を単純にセットしただけの状
態、すなわち図5中加圧0kg/mm2の状態では、例
えば露光フィールド中心とフィールド中心から半径8m
m離れた位置でのベストフォーカス差は、0.5μmあ
ることがわかる。加圧が51×10-6kg/mm2の場
合は、これが0.05μm、加圧が101×10-6kg
/mm2の場合は、加圧0kg/mm2の時の凹状から逆
の凸状となり、ベストフォーカス差は0.3μmとな
り、加圧によるレチクル変位がウェーハ上にレチクルパ
ターンを形成する場合に、特にフォーカス位置に大きな
影響を与えていることがわかる。
【0023】
【発明の効果】以上説明したように本発明は、レチクル
上下の気圧室の圧力差によってレチクルを屈撓させるこ
とにより、レチクルパターンをウェーハ上に転写する場
合に、その露光フィールド内において、ほぼ同じフォー
カス位置で最良のパターンを得ることができる。
【0024】また、露光フィールド中心とフィールド外
周近傍で必要とするフォーカス位置が異なる場合でも、
気圧室相互間の圧力差をコントロールすることにより、
レチクルを任意の曲率に変化させることができるという
効果を有する。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の一実施例を示す断面図である。
【図2】図1に示したレチクル及び気圧室の接触部を示
す平面図である。
【図3】気圧室とレチクルのZ方向への変位量の関係を
示す図である。
【図4】レチクル中心からの距離とZ方向への変位量を
示す図である。
【図5】ウェーハ上でのレチクル変位量によるベストフ
ォーカス一を示す図である。
【図6】(a)は、従来例におけるレチクルを示す平面
図、(b)は、(a)のA部拡大図、(c)は、(b)
の正面図である。
【符号の説明】
1,R2 気圧室 11 レチクル 12 石英窓 13 本体 14 露光光 15 圧力調整用パイプ 16 Oリング

Claims (2)

    (57)【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 対をなす気圧室と、圧力調整部とを有
    し、光源から照射された光をマスク上のパターンに入射
    し、該パターンをレンズ系に通してウェーハ上に投影す
    る投影露光装置であって、 対をなす気圧室は、マスクを挾んでその両側に配設さ
    れ、各気圧室のマスクと向き合う端壁は、開放されたも
    のであり、 気圧室の開放端壁は、マスクにより気密に閉塞されてお
    り、光源からの光が入射する一方の気圧室の端壁、及び
    マスクを透過した光が出射する他方の気圧室の端壁は、
    光の透過性をもつものであり、 圧力調整部は、対をなす気圧室相互間に圧力差を生じさ
    せ、その圧力差によりマスクに所望の屈撓力を付与する
    ものであることを特徴とする投影露光装置。
  2. 【請求項2】 前記気圧室の開放端壁の開口縁は、Oリ
    ングを介してマスクに密着していることを特徴とする請
    求項1に記載の投影露光装置。
JP5230355A 1993-09-16 1993-09-16 投影露光装置 Expired - Fee Related JP2560621B2 (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP5230355A JP2560621B2 (ja) 1993-09-16 1993-09-16 投影露光装置

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP5230355A JP2560621B2 (ja) 1993-09-16 1993-09-16 投影露光装置

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JPH0799146A JPH0799146A (ja) 1995-04-11
JP2560621B2 true JP2560621B2 (ja) 1996-12-04

Family

ID=16906567

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP5230355A Expired - Fee Related JP2560621B2 (ja) 1993-09-16 1993-09-16 投影露光装置

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP2560621B2 (ja)

Families Citing this family (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP3450631B2 (ja) * 1997-02-28 2003-09-29 キヤノン株式会社 マスク保持装置、露光装置、デバイス製造方法、及びマスク構造体
JP3450648B2 (ja) * 1997-05-09 2003-09-29 キヤノン株式会社 倍率補正装置および倍率補正装置を搭載したx線露光装置ならびにデバイス製造方法

Also Published As

Publication number Publication date
JPH0799146A (ja) 1995-04-11

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US7764447B2 (en) Optical element holding device, lens barrel, exposing device, and device producing method
US20070065734A1 (en) Exposure method, exposure mask, and exposure apparatus
EP1020897A4 (en) ALIGNMENT DEVICE, LIGHTING METHOD, METHOD FOR PRINTING AN OPTICAL PROJECTION SYSTEM, AND METHOD FOR COMPOSING THIS ALIGNMENT DEVICE
JPH0578930B2 (ja)
JP2002162549A (ja) 光学素子保持装置、鏡筒及び露光装置並びにマイクロデバイスの製造方法
JP2560621B2 (ja) 投影露光装置
US4576475A (en) Contacting method and apparatus in contact copying
US20030147155A1 (en) Optical element holding device
JPH10142555A (ja) 投影露光装置
JPH08330222A (ja) X線露光用マスク及びそれを用いた半導体素子の製造方法
KR20030023450A (ko) 노광장치
JPH06258562A (ja) レンズ保持装置
US7582393B2 (en) Transfer mask blank, transfer mask, and transfer method using the transfer mask
JPH05267116A (ja) ウェハチャックの取り付け構造
JPH01105255A (ja) ガラスマスク
JPS6194325A (ja) 薄板の表面形状矯正装置
US20050062947A1 (en) Near-field exposure apparatus
JP7033997B2 (ja) 露光装置、および物品の製造方法
JP3278312B2 (ja) マスク、マスク支持方法、マスク支持機構、並びにこれを用いた露光装置やデバイス製造方法
JPH09275064A (ja) 基板のアライメント方法、及び装置
KR100383308B1 (ko) 밀착노광장치에서의 포토마스크 밀착장치
JPS6346569B2 (ja)
JPH06295057A (ja) ペリクル付ガラスマスク
JPH0641235Y2 (ja) 感光材料露光装置
JPS6311658B2 (ja)

Legal Events

Date Code Title Description
LAPS Cancellation because of no payment of annual fees