JP2550036Y2 - 高抵抗測定装置の端子構造 - Google Patents

Description

【考案の詳細な説明】

【０００１】

【産業上の利用分野】本考案は、高抵抗測定装置の端子
構造に関し、特に被測定対象（以下、ＤＵＴと言う）で
ある高抵抗が接地されているか否かにより、回路接続を
変更可能にした前記端子構造に関する。

【０００２】

【技術背景】一般に、絶縁抵抗計のような測定装置によ
り高抵抗ＤＵＴの抵抗値を測定する場合、ＤＵＴが接地
されているか否かにより測定装置の回路接続を変更する
必要がある。このような回路接続の変更のための従来の
端子構造の一例を、図４，図５により説明する。図４，
図５において、トライアキシャルコネクタ端子２１，グ
ランド端子２２，ガード端子２３および高電圧出力端子
２４が示されており、端子２２，２３，２４がバインデ
ィングポスト群２０を構成している。これらの端子は、
測定装置の金属製シャーシ１０に設けられる。図５に示
すようにトライアキシャルコネクタ端子２１には、高抵
抗ＤＵＴ３０（導電性外被１３により覆われている）が
トライアキシャル同軸ケーブル２５を介して接続され、
またグランド端子２２は測定装置のシャーシ１０を介し
て接地されている。なお、図５においてトライアキシャ
ル同軸ケーブル２５の中間に位置する導体（以下、中間
導体と言う）２５′を破線で示す。ガード端子２３は、
シャーシ１０に内蔵された電流計（ピコアンペアメー
タ）１５の第１端子１５ａに接続され、出力端子２４は
同じくシャーシ１０に内蔵された高電圧源１６の第１端
子１６ａに接続されている。

【０００３】端子２２と端子２３または端子２３と端子
２４とは図６に示すような、小判形状穴２６および小判
形状穴の半分が欠落して双角状に突出する角状部２７を
有する金属片からなるショーティングバー２８により接
続される。小判形状穴２６は端子２３に接続され、角状
部２７が必要に応じて端子２２または端子２４に接続変
更される（図５においては、端子２４に接続された場合
が示されている）。しかし、図４に示す従来のバインデ
ィングポスト群２０では、ショーティングバー２８は常
時、端子２２，２３間または２３，２４間に露出してお
り、測定装置が稼働状態にあるときに、オペレータが不
注意等により触れる場合がある。該ショーティングバー
２８に現れている高電圧源１６による電圧は数百〜数千
ボルトで、致命的な大事故に至るおそれもあり、極めて
危険性が高いという問題がある。また、ショーティング
バー２８は、電流計１５の回路の一部を構成しており、
これが外部電磁界と結合することにより測定値に誤差を
生じ、正確な測定が困難になるという問題もある。さら
に、このような構成のバインディングポスト群２０の端
子２２〜２４を使用すると、ショーティングバー２８を
接続した端子に、更に他のリードなどを接続することが
できるため、測定リードの接続ミスが生ずるおそれもあ
る。このような接続ミスは、上記と同様に危険性が高い
と共に、回路保護の面からも好ましいものではない。

【０００４】

【考案の目的】本考案は、上記のような問題点を解決す
るために提案されたものであって、オペレータが測定装
置の端子の高電圧部分に触れる危険がなく、かつ外部電
磁界による測定誤差の発生を大幅に低減する高抵抗測定
装置の端子構造を提供することを目的とする。

【０００５】

【考案の概要】本考案の高抵抗測定装置の端子構造にお
いては、装置の導電性シャーシ内には電流計，高電圧源
が内蔵され、シャーシには同軸コネクタ端子（以下、単
に「コネクタ端子」という）からなるグランド端子，ガ
ード端子，および高電圧出力端子が設けられる。前記グ
ランド端子，ガード端子，出力端子の各外部導体は、前
記シャーシに接続されて該シャーシと同電位とされる。
これと共に、グランド端子の中心導体が該シャーシに、
ガード端子の中心導体が電流計の第１端子に、出力端子
の中心導体が高電圧源の第１端子にそれぞれ接続され
る。これらのグランド端子，ガード端子，出力端子はめ
す形とされ、オペレータが過誤等により高電圧に触れる
可能性は皆無となる。なお、シャーシには上記３端子の
ほか、高抵抗ＤＵＴと同軸ケーブル（通常は、トライア
キシャル同軸ケーブル）を介して接続される入力端子
（この端子もコネクタ端子である）が設けられている。

【０００６】また、本考案においては、ショーティング
用部材に一対のおす形コネクタ端子が設けられる。ショ
ーティング用部材は、例えば、導電性外被に一対のおす
形コネクタ端子を設けて構成することもできるし、両端
におす形コネクタ端子が設けられた同軸ケーブルにより
構成することもできる。前者の場合、コネクタ端子の各
外部導体はショーティング用部材の外被にそれぞれ接続
され、各内部導体はショーティングバーにより短絡され
る。この場合には、測定装置のシャーシのグランド端子
・ガード端子間距離および出力端子・ガード端子間距離
はショーティング用部材に設けられた前記一対のコネク
タ端子間距離と等距離となるように設けられる。ショー
ティング部材を同軸ケーブルにより構成した場合には、
グランド端子，ガード端子および出力端子間の距離は任
意にできることは言うまでもない。

【０００７】なお、本考案では、コネクタ端子としてＢ
ＮＣ形のものが使用される。オペレータは、グランド端
子・ガード端子の対または出力端子・ガード端子の対の
何れかを選択して短絡する。これにより、高抵抗測定の
ための測定回路が構成される。例えば、接地されていな
い高抵抗ＤＵＴの抵抗値を本考案の高抵抗測定装置の端
子構造を用いて測定する場合には、ショーティング用部
材により、グランド端子・ガード端子間が短絡される。
そして、入力端子から引き出される同軸ケーブルの中心
導体はＤＵＴの一方の端子に接続される。したがって、
高電圧源→出力端子→ＤＵＴ→上記入力端子→電流計→
ガード端子→ショーティング用部材→グランド端子→グ
ランドの経路で測定電流が流れる。この場合、出力端子
の外部導体とＤＵＴが収納された導電性外被等とは同軸
ケーブルの外部導体を介して接続される。

【０００８】また、接地された高抵抗ＤＵＴの抵抗値を
測定する場合には、ショーティング用部材により、出力
端子・ガード端子間が短絡され、ＤＵＴが接地されてい
ないときと同様、入力端子から引き出される同軸ケーブ
ルの中心導体はＤＵＴの一方の端子に接続される。した
がって、高電圧源→出力端子→ショーティング用部材→
ガード端子→電流計→上記入力端子→ＤＵＴ→グランド
の経路で測定電流が流れる。この場合には、グランド端
子は開放された状態にある。なお、ＤＵＴを接地するた
めに同軸ケーブルを使用し、ＤＵＴと同軸ケーブルの中
心導体とを接続し、ＤＵＴが収納された導電性外被等と
該ケーブルの外部導体とを接続することで、接地線につ
いても十分なシールドが行われる。

【０００９】なお上記の何れの場合であっても、入力端
子の外部導体は、前記高抵抗ＤＵＴが収納された外被等
に接続され、内部導体はＤＵＴの他方の端子と接続され
る。なお、入力端子は、通常はトライアキシャルコネク
タ端子により構成され、中間導体（中心導体と外部導体
との間に位置する導体）が電源電圧と同電位とされるこ
とで測定精度の向上が図られる。

【００１０】このように、本考案の端子構造では、グラ
ンド端子，ガード端子間および出力端子をめす形コネク
タ端子により構成し、グランド端子・ガード端子間また
は出力端子・ガード端子間を一対のおす形コネクタ端子
が設けられたショーティング用部材により短絡している
ので、高電圧が露出することはなく、また該各端子間を
含めて、高電圧源からＤＵＴを通ってグランドまでの経
路は全てコネクタ端子，同軸ケーブルの外部導体、測定
装置のシャーシ、ショーティング用部材の外被、ＤＵＴ
を収納する導電性外被等によりシールドされる。したが
って、オペレータが、高電圧部分に触れる可能性が皆無
に近くなり、また外部電磁界により測定電流にノイズが
入ることに起因する測定誤差が生じる可能性は極めて小
さくなり測定精度が向上する。

【００１１】

【実施例】図１において、絶縁抵抗計のシャーシ１０に
は、おす形のトライアキシャル同軸コネクタ端子により
構成された入力端子１、めす形同軸コネクタ端子により
構成されたグランド端子２，ガード端子３，高電圧出力
端子４が一列に配置されている。グランド端子２・ガー
ド端子３間、ガード端子３・出力端子４間は等距離とさ
れ、かつこの距離は後述するショーティング用部材５の
おす形同軸コネクタ端子６，７間距離と同一距離とされ
る。なお、めす形端子２，３，４およびおす形端子６，
７のコネクタタイプとしてＢＮＣ形のものが用いられ
る。

【００１２】入力端子１の外側の外部導体は接地（図
２，図３ではシャーシ１０に接続）されており、中心導
体はシャーシ１０に内蔵された電流計（ピコアンペアメ
ータ）１５の第２端子１５ｂに接続され、入力端子１の
中間の導体は、図１では図示は省略するが（図２，図３
では破線で示す）電流計１５の第１端子１５ａに接続さ
れている。これにより、入力端子１の外側の外部導体は
電流計１５の第１端子電位（高電圧源１６の電圧）と同
電位にされている。なお、入力端子１は、図示しないお
す形トライアキシャルコネクタ端子が接続されたトライ
アキシャル同軸ケーブル２５を介して高抵抗ＤＵＴ３０
に接続される（図２，図３参照）。

【００１３】グランド端子２，ガード端子３および出力
端子４の各外部導体は、入力端子１の外部導体と同様、
シャーシ１０に接続されており、グランド端子２の中心
導体はシャーシ１０に接続（同図では、入力端子１の外
部導体を介して接地）され、ガード端子３の中心導体は
前述した電流計１５の第１端子に接続され、また出力端
子４の中心導体は高電圧源１６の第１端子１６ａに接続
されている。グランド端子２・ガード端子３間または出
力端子４・ガード端子３間は、図１に示すショーティン
グ用部材５により接続される。図１においては、ショー
ティング用部材５の導電性外被（金属外被）８には外部
導体が該外被８に接続された一対のおす形コネクタ端子
６，７が設けられている。また、これらのおす形端子
６，７の中心導体はショーティングバー９により短絡さ
れている。これらのおす形端子６，７はグランド端子
２，ガード端子３または出力端子４の各めす形端子と嵌
合でき、またおす形端子６，７間距離は前述したよう
に、グランド端子２・ガード端子３間，ガード端子３・
出力端子４間距離と同一距離としてある。

【００１４】次に、上記端子構造の使用態様例を図２お
よび図３により説明する。図２は、接地されていないＤ
ＵＴ３０を、図３は接地されたＤＵＴ３０をそれぞれ測
定する場合の接続態様を示している。図２においては、
グランド端子２とガード端子３とがショーティング用部
材５により短絡される。これにより、測定電流は、高電
圧源１６→出力端子４→同軸ケーブル１１→ＤＵＴ３０
（導電性外被１３により被覆されている）→トライアキ
シャル同軸ケーブル２５→入力端子１→電流計１５→ガ
ード端子３→ショーティング用部材５→グランド端子２
→シャーシの経路で流れる。

【００１５】図３においては、出力端子４とガード端子
３とがショーティング用部材５により短絡される。ま
た、ＤＵＴ３０は接地用の同軸ケーブル２６により接地
されている。これにより、測定電流は、高電圧源１６→
出力端子４→ガード端子３→電流計１５→入力端子１→
トライアキシャル同軸ケーブル２５→ＤＵＴ３０→同軸
ケーブル２６→グランドの経路で流れる。なお、図２，
図３においては、トライアキシャル同軸ケーブル２５の
中間導体２５′を破線で示してあり、該中間導体２５′
はグランド端子１の中間導体を介して電流計１５の第１
端子１５ａに接続されている。

【００１６】以上説明したように、本考案の端子構造を
使用することで、従来のショーティングバー２８（図６
参照）を使用する場合と比較して極めて簡単に端子間接
続を行うことができる。また、グランド端子２，ガード
端子３，出力端子４をめす形のコネクタ端子により構成
し、グランド端子２・ガード端子３間，出力端子４・ガ
ード端子３間をおす形コネクタ端子付のショーティング
用部材５で短絡しているので、高電圧源１６の高電圧が
露出することはなく、また前記端子２，３間、４，３間
を含めて、高電圧源１６からＤＵＴ３０を通ってグラン
ドまでの経路は全てコネクタ端子１〜４，同軸ケーブル
１１，１２の外部導体、測定装置のシャーシ１０、ショ
ーティング用部材５の外被８、ＤＵＴ３０を収納する導
電性外被１３，ＤＵＴ３０の接地用の同軸ケーブル２６
の外部導体等によりシールドされる。したがって、オペ
レータは、高電圧部分に触れる可能性が極めて小さくな
り、また外部電磁界により測定電流にノイズが入ること
による測定誤差が生じる可能性は極めて小さくなった。
更に、グランド端子２，ガード端子３，出力端子４にシ
ョーティング用部材５を接続してしまえば、従来のよう
に、一の端子に測定ケーブル等を重ねて接続することは
できないので、不注意等による人為的な接続ミスを未然
に防止することができると共に、測定装置の保護をも図
ることができる。

【００１７】なお、上記の実施例では、ショーティング
用部材５として導電性外被８により構成されたものを使
用したが、ショーティング用部材５として両端におす形
コネクタ端子が取り付けられた同軸ケーブルにより構成
することもできる。この場合には、シャーシ１０に設け
るグランド端子２，ガード端子３，出力端子４間の距離
は任意にとることができる。

【００１８】

【考案の効果】以上説明したように、本考案の端子構造
によれば、以下の効果を奏することができる。 （１）例えば、絶縁抵抗計における従来のバインィング
ポストの端子構造にも増して、極めて簡単に端子間の接
続を行うことができる。 （２）安全性に優れ、かつ外部電磁界による測定誤差を
最小限にした測定装置の端子構造を提供できる。 （３）人為的な接続ミスを未然に防止することができ、
測定装置回路の保護をも図ることができる。 （４）ショーティングバーとして同軸ケーブルを使用す
ることで、ショーティング用部材を非導電性外被により
構成することができ、安価に端子構造を実現できる。

【図面の簡単な説明】

【図１】本考案の端子構造の一実施例を示す説明図であ
る。

【図２】図１の端子構造を用いて、接地されていない高
抵抗を測定する態様を示す説明図である。

【図３】図１の端子構造を用いて、接地されている高抵
抗を測定する態様を示す説明図である。

【図４】従来の測定装置の端子構造を示す図である。

【図５】従来の端子構造を用いて高抵抗を測定する場合
を示す説明図である。

【図６】従来のショーティングバーを示す説明図であ
る。

【符号の説明】

１ 入力端子 ２ グランド端子 ３ ガード端子 ４ 高電圧出力端子５ ショーティング用部材 ６，７ ショーティング用部材のコネクタ端子 ８ ショーティング用部材の外被 ９ ショーティングバー １０ 測定装置のシャーシ １５ 電流計 １６ 高電圧源

Claims (1)

(57)【実用新案登録請求の範囲】
1. 【請求項１】 内部導体がショーティングバーにより短
   絡された一対のおす形同軸コネクタ端子が設けられてな
   るショーティング用部材と、電流計，高電圧源を内蔵
   し、被測定高抵抗に同軸ケーブルを介して接続される入
   力端子を有する測定装置であって、前記ショーティング
   用部材の同軸コネクタ端子と嵌合し得るめす形同軸コネ
   クタ端子により構成されたグランド端子，ガード端子お
   よび高電圧出力端子が設けられ、前記グランド端子の中
   心導体が測定装置のシャーシに接続され、前記ガード端
   子の中心導体が前記電流計に接続され、前記出力端子の
   中心導体が前記高電圧源に接続されると共に、前記グラ
   ンド端子，ガード端子および出力端子の各外部導体が前
   記シャーシに接続されている測定装置と、からなること
   を特徴とする高抵抗測定装置の端子構造。