JP2544522Y2 - 光ディスクプレ−ヤのサ−ボ回路 - Google Patents
光ディスクプレ−ヤのサ−ボ回路Info
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- JP2544522Y2 JP2544522Y2 JP1991102305U JP10230591U JP2544522Y2 JP 2544522 Y2 JP2544522 Y2 JP 2544522Y2 JP 1991102305 U JP1991102305 U JP 1991102305U JP 10230591 U JP10230591 U JP 10230591U JP 2544522 Y2 JP2544522 Y2 JP 2544522Y2
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Description
【考案の詳細な説明】
【０００１】
【産業上の利用分野】本考案は、例えば、ＣＤ、ＣＤ
Ｖ、ＬＤ等の如き、光ディスクのプレ−ヤに関し、特
に、ディスク面に傷等が存在している場合の再生能力向
上の為のサ−ボ回路に関する。
Ｖ、ＬＤ等の如き、光ディスクのプレ−ヤに関し、特
に、ディスク面に傷等が存在している場合の再生能力向
上の為のサ−ボ回路に関する。
【０００２】
【従来の技術】光ディスク面に傷、ごみ等があった場
合、従来は図２に示すように、光学ピックアップからの
出力のＲＦ信号のエンベロ−プの異常を、エンベロ−プ
検出部１で検出し、傷検出信号として出力し、フォ−カ
スエラ−信号によって作動するフォ−カスサ−ボ回路２
及びトラッキングエラ−信号によって作動するトラッキ
ングサ−ボ回路３へ供給し、サ−ボ帯域を狭くしたり、
傷等成分を検出したりして、サ−ボが傷等に追従しサ−
ボはずれを起すのを防いでいた。
合、従来は図２に示すように、光学ピックアップからの
出力のＲＦ信号のエンベロ−プの異常を、エンベロ−プ
検出部１で検出し、傷検出信号として出力し、フォ−カ
スエラ−信号によって作動するフォ−カスサ−ボ回路２
及びトラッキングエラ−信号によって作動するトラッキ
ングサ−ボ回路３へ供給し、サ−ボ帯域を狭くしたり、
傷等成分を検出したりして、サ−ボが傷等に追従しサ−
ボはずれを起すのを防いでいた。
【０００３】
【考案が解決しようとする課題】上記従来例によれば、
光ディスク面の傷等の程度、種類等が判別できない為、
サ−ボ機能の最適な制御が出来ないと云う問題があっ
た。そこで、本考案は、上記問題点を解決しようとする
ものである。
光ディスク面の傷等の程度、種類等が判別できない為、
サ−ボ機能の最適な制御が出来ないと云う問題があっ
た。そこで、本考案は、上記問題点を解決しようとする
ものである。
【０００４】
【課題を解決するための手段】本願考案は、ディスク表
面の傷等をＲＦ信号のエンベロープの異常により検出す
るＲＦ信号のエンベロープ検出部と、ディスク裏面の傷
等をトラッキングエラー信号の高域成分により検出する
トラッキングエラー信号高域成分検出部と、前記二つの
検出部の何れか一方又は双方から出力のあった場合にフ
ォーカスサーボ及びトラッキングサーボの両サーボのサ
ーボ帯域を狭くするサーボ帯域切換部と、前記ＲＦ信号
のエンベロープ検出部からの異常検出出力に基づきディ
スク表面の傷等の巾が所定値より大きいか判断し、所定
値より大きいと判断した場合にトラッキングサーボに対
してディスクを外周方向に移動させるオフセット電圧を
加える傷等巾検出部とを備えたことを特徴とする。
面の傷等をＲＦ信号のエンベロープの異常により検出す
るＲＦ信号のエンベロープ検出部と、ディスク裏面の傷
等をトラッキングエラー信号の高域成分により検出する
トラッキングエラー信号高域成分検出部と、前記二つの
検出部の何れか一方又は双方から出力のあった場合にフ
ォーカスサーボ及びトラッキングサーボの両サーボのサ
ーボ帯域を狭くするサーボ帯域切換部と、前記ＲＦ信号
のエンベロープ検出部からの異常検出出力に基づきディ
スク表面の傷等の巾が所定値より大きいか判断し、所定
値より大きいと判断した場合にトラッキングサーボに対
してディスクを外周方向に移動させるオフセット電圧を
加える傷等巾検出部とを備えたことを特徴とする。
【０００５】
【作用】本願考案は、ＲＦ信号のエンベロープ検出部が
ディスク表面の傷等をＲＦ信号のエンベロープの異常に
より検出し、トラッキングエラー信号高域成分検出部が
ディスク裏面の傷等をトラッキングエラー信号の高域成
分により検出することにより、二つの検出部の何れか一
方又は双方から出力のあった場合にフォーカスサーボ及
びトラッキングサーボの両サーボのサーボ帯域を狭くす
るとともに、ＲＦ信号のエンベロープ検出部からの異常
検出出力に基づきディスク表面の傷等の巾が所定値より
大きいか判断し、所定値より大きいと判断した場合にト
ラッキングサーボに対してディスクを外周方向に移動さ
せるオフセット電圧を加える。
ディスク表面の傷等をＲＦ信号のエンベロープの異常に
より検出し、トラッキングエラー信号高域成分検出部が
ディスク裏面の傷等をトラッキングエラー信号の高域成
分により検出することにより、二つの検出部の何れか一
方又は双方から出力のあった場合にフォーカスサーボ及
びトラッキングサーボの両サーボのサーボ帯域を狭くす
るとともに、ＲＦ信号のエンベロープ検出部からの異常
検出出力に基づきディスク表面の傷等の巾が所定値より
大きいか判断し、所定値より大きいと判断した場合にト
ラッキングサーボに対してディスクを外周方向に移動さ
せるオフセット電圧を加える。
【０００６】
【実施例】図１は本考案の実施例図であって、同図にお
いて、図示を省略した光学ピックアップからの出力のＲ
Ｆ信号の一部はエンベロ−プ検出部４に送られ、この回
路は図３及び図４に示したように、正常なエンベロ−プ
１１が光ディスクの傷等によって異常１０を生じたとき
に符号１２の如きＲＦエンベロ−プ検出出力を出力す
る。
いて、図示を省略した光学ピックアップからの出力のＲ
Ｆ信号の一部はエンベロ−プ検出部４に送られ、この回
路は図３及び図４に示したように、正常なエンベロ−プ
１１が光ディスクの傷等によって異常１０を生じたとき
に符号１２の如きＲＦエンベロ−プ検出出力を出力す
る。
【０００７】一方、トラッキングエラ−信号は、トラッ
キングサ−ボ回路９へおくられるが、その一部は高域成
分検出部５において、図５及び図６に示したように、光
ディスクに傷等が存在していた場合に信号異常１３を生
じ、トラッキングエラ−信号高域成分検出出力１４を出
力する。
キングサ−ボ回路９へおくられるが、その一部は高域成
分検出部５において、図５及び図６に示したように、光
ディスクに傷等が存在していた場合に信号異常１３を生
じ、トラッキングエラ−信号高域成分検出出力１４を出
力する。
【０００８】上記両出力１２、１４は論理和回路１７に
供給されてサ−ボ帯域切り換え信号として前記トラッキ
ングサ−ボ回路９及びフォ−カスエラ−信号が送り込ま
れるフォ−カスサ−ボ回路８へ出力され、図示を省略し
たトラッキングアクチエ−タ及びフォ−カスアクチエ−
タを作動させる。
供給されてサ−ボ帯域切り換え信号として前記トラッキ
ングサ−ボ回路９及びフォ−カスエラ−信号が送り込ま
れるフォ−カスサ−ボ回路８へ出力され、図示を省略し
たトラッキングアクチエ−タ及びフォ−カスアクチエ−
タを作動させる。
【０００９】即ち、前述の構成によって、光ディスク表
面の傷、ごみ等はＲＦ信号エンベロ−プ検出出力及び光
ディスク裏面の例えば反射膜剥離等の傷はトラッキング
エラ−信号高域成分検出出力の何れか一方又は双方が次
段の論理和回路１７に供給され、この論理和回路１７に
よってサ−ボ帯域切り換え信号としてフォ−カスサ−ボ
回路８及びトラッキングサ−ボ回路９に信号を送って、
サ−ボ帯域を狭める等の、傷の状況に対応した適切な制
御を行なう。
面の傷、ごみ等はＲＦ信号エンベロ−プ検出出力及び光
ディスク裏面の例えば反射膜剥離等の傷はトラッキング
エラ−信号高域成分検出出力の何れか一方又は双方が次
段の論理和回路１７に供給され、この論理和回路１７に
よってサ−ボ帯域切り換え信号としてフォ−カスサ−ボ
回路８及びトラッキングサ−ボ回路９に信号を送って、
サ−ボ帯域を狭める等の、傷の状況に対応した適切な制
御を行なう。
【００１０】更に、前記エンベロ−プ検出出力は傷等巾
検出部６にも送られ、光ディスク表面の傷等の巾が一定
値より広い場合に、トラッキングサ−ボ回路９に対して
光ディスク外周方向のオフセット電圧を加えるように構
成されている。これは傷等の巾のレベルを数種類に定義
しておいて、それに応じたトラッキングオフセット信号
を出力させる。即ち、大きな傷等ではトラッキングオフ
セット電圧を高くするようにしてプレ−アビリティを向
上させる。
検出部６にも送られ、光ディスク表面の傷等の巾が一定
値より広い場合に、トラッキングサ−ボ回路９に対して
光ディスク外周方向のオフセット電圧を加えるように構
成されている。これは傷等の巾のレベルを数種類に定義
しておいて、それに応じたトラッキングオフセット信号
を出力させる。即ち、大きな傷等ではトラッキングオフ
セット電圧を高くするようにしてプレ−アビリティを向
上させる。
【００１１】尚、光ディスク表面の傷等に関しては、傷
等の巾が小さい場合にはオフセットをかけない方がプレ
−アビリティが良く、又、光ディスク裏面の傷等に対し
てはオフセットをかけない方が良い。
等の巾が小さい場合にはオフセットをかけない方がプレ
−アビリティが良く、又、光ディスク裏面の傷等に対し
てはオフセットをかけない方が良い。
【００１２】
【考案の効果】本願考案によれば、ディスク表面の傷等
をＲＦ信号のエンベロープの異常により検出するＲＦ信
号のエンベロープ検出部と、ディスク裏面の傷等をトラ
ッキングエラー信号の高域成分により検出するトラッキ
ングエラー信号高域成分検出部と、前記二つの検出部の
何れか一方又は双方から出力のあった場合にフォーカス
サーボ及びトラッキングサーボの両サーボのサーボ帯域
を狭くするサーボ帯域切換部と、前記ＲＦ信号のエンベ
ロープ検出部からの異常検出出力に基づきディスク表面
の傷等の巾が所定値より大きいか判断し、所定値より大
きいと判断した場合にトラッキングサーボに対してディ
スクを外周方向に移動させるオフセット電圧を加える傷
等巾検出部とを備えたので、特に、コンパクトディスク
のような光ディスクプレーヤに利用した場合に、ディス
クの表面と裏面の傷を明確にでき、より正確なプレーヤ
ビリティを得ることができるばかりではなく、また傷の
巾を考慮にいれて光学ピックアップをディスク上の傷部
分の影響のない外周領域に移動させるようにもしている
ためにさらに再生中のプレーアビリティが大巾に向上す
るという効果を奏する。
をＲＦ信号のエンベロープの異常により検出するＲＦ信
号のエンベロープ検出部と、ディスク裏面の傷等をトラ
ッキングエラー信号の高域成分により検出するトラッキ
ングエラー信号高域成分検出部と、前記二つの検出部の
何れか一方又は双方から出力のあった場合にフォーカス
サーボ及びトラッキングサーボの両サーボのサーボ帯域
を狭くするサーボ帯域切換部と、前記ＲＦ信号のエンベ
ロープ検出部からの異常検出出力に基づきディスク表面
の傷等の巾が所定値より大きいか判断し、所定値より大
きいと判断した場合にトラッキングサーボに対してディ
スクを外周方向に移動させるオフセット電圧を加える傷
等巾検出部とを備えたので、特に、コンパクトディスク
のような光ディスクプレーヤに利用した場合に、ディス
クの表面と裏面の傷を明確にでき、より正確なプレーヤ
ビリティを得ることができるばかりではなく、また傷の
巾を考慮にいれて光学ピックアップをディスク上の傷部
分の影響のない外周領域に移動させるようにもしている
ためにさらに再生中のプレーアビリティが大巾に向上す
るという効果を奏する。
【図１】本考案の一実施例のブロック図である。
【図２】従来例のブロック図である。
【図３】ＲＦ信号の波形概念図である。
【図４】ＲＦ信号エンベロ−プ検出出力波形概念図であ
る。
る。
【図５】本考案のトラッキングエラ−信号波形概念図で
ある。
ある。
【図６】本考案のトラッキングエラ−信号高域成分検出
出力波形概念図である。
出力波形概念図である。
【符号の説明】 ４ エンベロ−プ検出部 ５ 高域成分検出部 ６ 傷等巾検出部 ７ 論理和回路 ８ フォ−カスサ−ボ回路 ９ トラッキングサ−ボ回路
Claims (1)
- 【請求項１】 ディスク表面の傷等をＲＦ信号のエンベ
ロープの異常により検出するＲＦ信号のエンベロープ検
出部と、ディスク裏面の傷等をトラッキングエラー信号
の高域成分により検出するトラッキングエラー信号高域
成分検出部と、前記二つの検出部の何れか一方又は双方
から出力のあった場合にフォーカスサーボ及びトラッキ
ングサーボの両サーボのサーボ帯域を狭くするサーボ帯
域切換部と、前記ＲＦ信号のエンベロープ検出部からの
異常検出出力に基づきディスク表面の傷等の巾が所定値
より大きいか判断し、所定値より大きいと判断した場合
にトラッキングサーボに対してディスクを外周方向に移
動させるオフセット電圧を加える傷等巾検出部とを備え
たことを特徴とする光ディスクプレーヤのサーボ回路。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1991102305U JP2544522Y2 (ja) | 1991-11-15 | 1991-11-15 | 光ディスクプレ−ヤのサ−ボ回路 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1991102305U JP2544522Y2 (ja) | 1991-11-15 | 1991-11-15 | 光ディスクプレ−ヤのサ−ボ回路 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0543319U JPH0543319U (ja) | 1993-06-11 |
| JP2544522Y2 true JP2544522Y2 (ja) | 1997-08-20 |
Family
ID=14323899
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP1991102305U Expired - Fee Related JP2544522Y2 (ja) | 1991-11-15 | 1991-11-15 | 光ディスクプレ−ヤのサ−ボ回路 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP2544522Y2 (ja) |
Family Cites Families (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5982639A (ja) * | 1982-11-02 | 1984-05-12 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | 光学的情報再生装置 |
| JPS61158040A (ja) * | 1984-12-28 | 1986-07-17 | Toshiba Corp | 光学式デイスク再生装置の傷対策回路 |
| JPH0298825A (ja) * | 1988-10-05 | 1990-04-11 | Pioneer Electron Corp | ディスク演奏装置 |
-
1991
- 1991-11-15 JP JP1991102305U patent/JP2544522Y2/ja not_active Expired - Fee Related
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH0543319U (ja) | 1993-06-11 |
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Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 Effective date: 19970304 |
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