JP2542879Y2 - 光記録装置 - Google Patents

光記録装置

Info

Publication number
JP2542879Y2
JP2542879Y2 JP1991003227U JP322791U JP2542879Y2 JP 2542879 Y2 JP2542879 Y2 JP 2542879Y2 JP 1991003227 U JP1991003227 U JP 1991003227U JP 322791 U JP322791 U JP 322791U JP 2542879 Y2 JP2542879 Y2 JP 2542879Y2
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
light
wavelength
light source
dependent filter
amount
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Expired - Lifetime
Application number
JP1991003227U
Other languages
English (en)
Other versions
JPH0576738U (ja
Inventor
誠 熊谷
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Konica Minolta Inc
Original Assignee
Konica Minolta Inc
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Konica Minolta Inc filed Critical Konica Minolta Inc
Priority to JP1991003227U priority Critical patent/JP2542879Y2/ja
Publication of JPH0576738U publication Critical patent/JPH0576738U/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP2542879Y2 publication Critical patent/JP2542879Y2/ja
Anticipated expiration legal-status Critical
Expired - Lifetime legal-status Critical Current

Links

Landscapes

  • Laser Beam Printer (AREA)
  • Mechanical Optical Scanning Systems (AREA)
  • Fax Reproducing Arrangements (AREA)
  • Optical Recording Or Reproduction (AREA)
  • Optical Head (AREA)
  • Dot-Matrix Printers And Others (AREA)

Description

【考案の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】本考案はレーザビームプリンタ等
のレーザ光等を用いて感光材料に画像を記録する光記録
装置に関する。
【0002】
【従来の技術】レーザ光源として半導体レーザを用いる
のが一般的である。半導体レーザの出射光の波長は、図
14に示すように、約+0.3nm/℃の温度特性を有し、レー
ザチップ温度に依存して波長が変化する。また、レーザ
チップ温度が変化するとレーザ光の出射角が微妙に変わ
り、パッケージやコリメータ等において光が反射,散乱
し、実質的な出射光の光量が変動する。レーザ光の光量
の変動が記録画像の濃度の変動につながるのはもちろん
であるが、第15図に示すように、感光材料の感度は入射
光の波長によって変化するため、レーザ光の波長変動に
よっても記録画像濃度が変化する。
【0003】したがって、半導体レーザチップの温度が
安定し(すなわち、熱平衡状態となり)、レーザ光の波
長および光量が安定した後に、感光材料への記録(露
光)を開始する必要がある。ただし、レーザチップの温
度を測定することは困難であるため、経験的に、電源投
入からある時間(一例として約20分)おいた後に露光を
開始するようにしている。
【0004】
【考案が解決しようとする課題】上述した、経験的に得
た時間の経過後に露光を開始する方法は、環境が変化し
たとき、あるいは半導体レーザ等を交換してレーザ特性
が変わったときには、従来の経験が通用せず、レーザ光
の波長と光量がいつ安定するかをすぐには把握できない
という問題点がある。本考案はこのような問題点に鑑み
てなされたものであり、その目的は、レーザ光の波長と
光量の安定を、正確にかつ自動的に判定する機能をもっ
たレーザ光記録装置を提供することにある。
【0005】
【課題を解決するための手段】本考案では、例えば、分
岐したレーザ光を波長依存フィルタを通して受光部で受
け、この受光部からの電気信号のレベルが所定の範囲内
に入っている(あるいは所定時間その範囲にとどまって
いる)ことをもって光量および波長が安定したと判定す
る。この判定は、例えば、ウインドウコンパレータを用
いて行う。
【0006】
【作用】 波長依存フィルタの過光の光量は、入射光
の波長が変動した場合にも、光量が変動した場合にも変
化する。したがって、過光の光量が安定したときが波
長と光量が安定したときであり、受光部からの電気信号
レベルを検出することにより、正確な判定が行える。
【0007】
【実施例】次に、本考案の実施例について図面を参照し
て説明する。
【0008】実施例1(図1,図2,図3) 図1は本考案の一実施例(レーザチップがDC点灯の場
合)の構成を示す図である。本実施例は、レーザチップ
とレンズ系からなる発光ユニット1と、自動パワー制御
部(APC)2と、ハーフミラー3と、波長依存フィル
タ4と、受光部5と、ウインドウコンパレータを具備す
る判定部6と、波長および光量の安定を表示する表示部
7とを有している。
【0009】 発光ユニットから出射されたレーザ光
はハーフミラー3で分岐され、この分岐された光は波長
依存フィルタ4を通して受光部5で電気信号に変換され
る。波長依存フィルタ4は、図2に示されるように、レ
ーザ光の波長変動幅X1に対して透過率が大きく変化す
る特性をもつ。波長依存フィルタ過光の光量は、
レーザ光の波長が変動しても変化し、また、光量が変動
しても変化する。したがって、過光が安定したときが
波長および光量ともに安定したときである。受光部5の
出力と時間の関係を図16に示す。破線が波長の変動を示
し、一点鎖線が光量の変動を示している。受光部5の出
力は、この2つの効果が相乗されるので、実線に示され
るような特性を示す。判定部6のウインドウコンパレー
タは、図3に示すように、2つのしきい値Y1,Y2を
もち、入力信号レベルがこれらのしきい値の内側(ウイ
ンドウ幅a内)にあれば出力はローレベルとなり、しき
い値の外側にあればハイレベルとなる特性を有し、ウイ
ンドウ幅aの範囲を許容変動幅とすることにより、受光
部出力のレベルからレーザ光の波長および光量の安定を
正確に、かつ常時監視しながら判定できる。すなわち、
入力信号がウインドウ幅a内ならば、光量,波長は安定
しており、それ以外ならば安定していないと判断する。
図16を用いて説明する。すなわち、ウインドウコンパレ
ータのウインドウ幅aを図16のaxに設定すればよいこ
とになる。また、判定部6からの出力は表示部7に送出
され、安定状態となったことが表示される。したがっ
て、作業者は装置が使用可であることを容易に知ること
ができる。
【0010】 また、本実施例の変形として、ハーフミ
ラー3に波長依存性をもたせてもよい。この場合、波長
依存フィルタは除去できる。また、波長等の安定を表
示する場合、判定部6の出力を装置全体を統括的に制御
する図示しないCPUに入力し、このCPUが表示部7
を制御して表示を行うようにすることもできる。
【0011】 実施例2(図4,図5,図6) 図4は
第2の実施例の構成を示す図である。本実施例は、レー
ザ光の波長変動と光量変動を別々にモニタするようにし
たものであり、ハーフミラー3で分岐されたレーザ光を
ハーフミラー6で再度、分岐する。分岐された光は受光
部7に入射し、ハーフミラー6の透過光は波長依存フィ
ルタ4を通して受光部5に入射する。受光部7の出力A
はそのまま判定部9に入力されるとともに、レーザ光の
光量変動をモニタする信号として差動アンプ8に入力さ
れる。波長依存フィルタは、図5に示されるように、
波長変動幅X2に対して透過率が大きく変化する特性を
もつ。波長依存フィルタ過光の光量はレーザ光の
波長,光量双方の変動に対して変化するため、受光部5
の出力信号Bは(光量変動+波長変動)の情報をもって
いる。このため、受光部7からの光量変動の情報をもつ
信号Aと、受光部5からの(光量変動+波長変動)の情
報をもつ信号Bとを差動アンプ8に入力することによ
り、光量変動分は相殺され、波長変動の情報をもつ信号
Cが得られる。判定部9は、信号Aに基づいてレーザ光
の光量が所定の範囲内になっているかを判定し、信号B
に基づいてレーザ光の波長が所定の範囲内になっている
かを判定する。この判定には、図6のような、しきい値
Y3,Y4をもつウインドウコンパレータを用いる。入
力信号がウインドウ幅a内ならば、光量,波長は安定し
ており、それ以外ならば安定していないと判定する。判
定部9は表示部10に判定結果を送出し、表示部10は、波
長,光量の安定を例えば、別々に表示する。この場合、
波長,光量の双方が安定した場合にのみ安定を表示する
ようにしてもよい。また、一旦、図示しないCPUに判
定信号を入力し、CPUの制御により表示部10を制御し
て表示を行うこともできる。
【0012】実施例3(図7,図8) レーザチップが直接変調されている場合には、光を常時
モニタすることができず、間欠的にモニタすることが必
要となる。例えば、図7に示すように、有効走査領域T
1の後の非有効走査期間T2にレーザチップをDC点灯
させ、その間にレーザ光をモニタして、波長と光量の安
定を判定するようにする。装置構成は、図1または図4
の構成と同様である。
【0013】 また、波長,光量が安定するまでDC点
灯しておき、この間に常時モニタし、安定した後に、上
述のように間欠的にモニタするようにしてもよい。ま
た、図8に示すように、画像を記録している(書込みし
いる)期間T5にはレーザ光のモニタを行わず、画像
を記録していない期間(T4,T6)において、レーザ
をDC点灯し、レーザ光のモニタを行うようにしてもよ
い。
【0014】 実施例4(図9) レーザ光を音響光学
変調器(以下、AOMという)により強度変調して画像
の書込みを行う場合には、図9のような構成により、レ
ーザ光のモニタを行うことができる。この場合、AOM
13からの0次光および1次光をハーフミラーで分岐
し、波長依存フィルタ4を通すようにする。0次光およ
び1次光を取り込めば、ほとんどの光を取り込むことに
なり、常時、レーザ光のモニタを行える。また、AOM
13, AOMドライバ14の特性の変動もモニタすることが
できる。すなわち、AOMの1次光のスイッチオンから
の光量変動は温度によって変動し、変動は、図12に示す
ように、ある程度の時間の経過とともに減少する。ま
た、AOMドライバも温度特性を有し、レーザ光の光量
に影響を与える。温度に対する光量変動率の一例を図13
に示す。図中、特性アはレーザチップの発光量の変動率
であり、特性イはAOMの回折効率による変動率であ
り、特性ウはAOMドライバの特性による変動率であ
る。本実施例によれば、これらの特性が温度的に安定し
たことを自動的に判定できる。
【0015】 実施例5(図10) 図10に示す構成に
より、AOMによる強度変調を行う場合にも、図4の場
合と同様に、差動構成を用いた、光量,波長の別個のモ
ニタを実施できる。
【0016】実施例6(図11) 図11のように、非画像記録期間にAOM13からの0次光
をモニタするようにしてもよい。この場合、画像を書く
ために使用する1次光の損失がなく、書込み光の有効利
用ができる。また、0次光の代わりに1次光を用いるこ
ともできる、この場合には、実際に使用している光のモ
ニタができるという利点がある。
【0017】
【考案の効果】 以上説明したように本考案によれば、
波長依存フィルタの通過光を利用することにより、光源
の波長と光量が共に安定した状態についての正確かつ自
動的な判定が可能となる。また、安定状態をランプ等で
表示することにより、作業者は経験によることなく、容
易に装置が使用可の状態となったことを知ることがで
き、作業性が向上する。
【図面の簡単な説明】
【図1】本考案のレーザ光記録装置の第1の実施例の構
成を示す図である。
【図2】図1中の波長依存フィルタ4の特性を示す図で
ある。
【図3】図1中の判定部6に使用されているウインドウ
コンパレータの特性を示す図である。
【図4】本考案の第2の実施例の構成を示す図である。
【図5】図4中の波長依存フィルタ4の特性を示す図で
ある。
【図6】図4中の判定部6に使用されているウインドウ
コンパレータの特性を示す図である。
【図7】本考案の第3の実施例におけるモニタタイミン
グの一例を示す図である。
【図8】本考案の第3の実施例におけるモニタタイミン
グの他の例を示す図である。
【図9】本考案の第4の実施例の構成を示す図である。
【図10】本考案の第5の実施例の構成を示す図である。
【図11】本考案の第6の実施例の構成を示す図である。
【図12】音響光学変調器(AOM)の1次光の光量変動
の一例を示す図である。
【図13】AOM結晶,AOMドライバ,レーザチップの
温度による光量変動率の一例を示す図である。
【図14】レーザチップの出射光の波長と温度との関係を
示す図である。
【図15】感光材料の特性の一例を示す図である。
【図16】時間に対する受光部5の出力の変動を説明する
ための図である。
【符号の説明】
1 発光ユニット 2 自動パワー制御(APC)回路 3 ハフミラー 4 波長依存フィルタ 5 受光部 6 判定部 7 表示部 8 差動アンプ 9 判定部 10 表示部 12 レーザチップ 13 音響光学変調器(AOM)
フロントページの続き (51)Int.Cl.6 識別記号 庁内整理番号 FI 技術表示箇所 H04N 1/23 103 H04N 1/23 103A

Claims (4)

    (57)【実用新案登録請求の範囲】
  1. 【請求項1】 光源から出射される光を用いて感光材料
    に記録を行う装置であって、 前記光源からの入射光の光量変動および波長の変動の双
    方に対応して通過光の光量が変動する波長依存フィルタ
    と、 前記波長依存フィルタの通過光を電気信号に変換する受
    光手段と、 前記受光手段の出力の安定を判定する安定判定手段と、 を具備する ことを特徴とする光記録装置。
  2. 【請求項2】 光源から出射される光を用いて感光材料
    に記録を行う装置であって、 前記光源からの入射光の光量変動および波長の変動の双
    方に対応して通過光の光量が変動する波長依存フィルタ
    と、 前記波長依存フィルタの通過光を電気信号に変換する第
    1の受光手段と、 前記波長依存フィルタを通過する前の光を電気信号に変
    換する第2の受光手段と、 前記第1および第2の受光手段の出力信号を入力とする
    差動アンプと、 前記第2の受光手段の出力により光量の安定を判定し前
    記差動アンプの出力により波長の安定を判定する安定判
    定手段と、 を具備することを特徴とする 光記録装置。
  3. 【請求項3】 前記光源の光を変調する音響光学変調器
    を備え、 前記音響光学変調器からの出射光を前記波長依存フィル
    タに入射するように構成したことを特徴とする請求項1
    または2に 記載の光記録装置。
  4. 【請求項4】 前記光源が半導体レーザであることを特
    徴とする請求項1〜3のいずれか1つに記載の光記録装
    置。
JP1991003227U 1991-02-01 1991-02-01 光記録装置 Expired - Lifetime JP2542879Y2 (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP1991003227U JP2542879Y2 (ja) 1991-02-01 1991-02-01 光記録装置

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP1991003227U JP2542879Y2 (ja) 1991-02-01 1991-02-01 光記録装置

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JPH0576738U JPH0576738U (ja) 1993-10-19
JP2542879Y2 true JP2542879Y2 (ja) 1997-07-30

Family

ID=11551566

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP1991003227U Expired - Lifetime JP2542879Y2 (ja) 1991-02-01 1991-02-01 光記録装置

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP2542879Y2 (ja)

Families Citing this family (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP6199662B2 (ja) * 2013-08-22 2017-09-20 地方独立行政法人東京都立産業技術研究センター 照明器具の測光量測定安定性評価方法、測光量測定安定性評価装置、測光量測定安定性評価プログラム、およびその記録媒体

Family Cites Families (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS61260693A (ja) * 1985-05-14 1986-11-18 Fujitsu Ltd 半導体レ−ザの波長制御方法
JPH02125764A (ja) * 1988-11-04 1990-05-14 Konica Corp 光量安定化光源ユニット

Also Published As

Publication number Publication date
JPH0576738U (ja) 1993-10-19

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JPS61175656A (ja) 半導体レ−ザの出力制御装置
JPS63271225A (ja) 光出力安定化方法および該方法に使用する光検出器
JP2542879Y2 (ja) 光記録装置
JP2675827B2 (ja) レーザ走査装置
US5369272A (en) Laser beam scanning apparatus having beam intensity control
EP0347202A2 (en) Excitation system for a semiconductor laser device
CA2016302C (en) Fiber optic gyro
JPS6065659A (ja) 半導体レ−ザ光源装置
JPH0722318B2 (ja) 記録装置
JP2521674B2 (ja) 半導体レ−ザ出力制御装置
JPS58127955A (ja) 電子写真式印字装置
JP2888989B2 (ja) レーザーダイオードの光出力制御のための方法および回路装置
US4048644A (en) Warning device for a camera
JPS6276965A (ja) Ccdラインセンサの画像信号処理装置
JPS59225671A (ja) レ−ザプリンタのパワ−制御方式
JPH09311283A (ja) レーザ光走査装置
JPS6327161A (ja) 半導体レ−ザ光量制御装置
JPS59134977A (ja) レ−ザプリンタの水平同期方法
JPH01101772A (ja) レーザ記録装置
JPH0651219A (ja) 画像形成装置
JPH0584967A (ja) 画像形成装置及びそのレーザダイオードの発光光量制御方法
JPS61175655A (ja) 半導体レ−ザの出力制御装置
JPS61107317A (ja) 音響光学変調器の温度制御方法
JPH10272801A (ja) 画像処理装置及びその制御方法
JPS63213983A (ja) 半導体レ−ザ出力制御装置

Legal Events

Date Code Title Description
S531 Written request for registration of change of domicile

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R323531

S533 Written request for registration of change of name

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R323533

R350 Written notification of registration of transfer

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R350

EXPY Cancellation because of completion of term