JP2539222B2 - タイヤのバンピ−測定方法 - Google Patents
タイヤのバンピ−測定方法Info
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- JP2539222B2 JP2539222B2 JP62159577A JP15957787A JP2539222B2 JP 2539222 B2 JP2539222 B2 JP 2539222B2 JP 62159577 A JP62159577 A JP 62159577A JP 15957787 A JP15957787 A JP 15957787A JP 2539222 B2 JP2539222 B2 JP 2539222B2
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- Japan
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- tire
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- waveform
- bumpy
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Description
【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 この発明は、タイヤのバンピー測定方法に係わり、更
に詳しくは測定タイヤのサイド部に表れる微少な凹凸や
文字等を測定するタイヤのバンピー測定方法に関するも
のである。
に詳しくは測定タイヤのサイド部に表れる微少な凹凸や
文字等を測定するタイヤのバンピー測定方法に関するも
のである。
タイヤのバンピーは、特にラジアル構造のタイヤにお
いてカーカス材料の接合部の不均一やスチール材料の不
均一に起因してタイヤのサイド部に表れる微少な凹凸を
いい、このバンピーが決められた最大値以上の時には、
不良タイヤとして排除される。
いてカーカス材料の接合部の不均一やスチール材料の不
均一に起因してタイヤのサイド部に表れる微少な凹凸を
いい、このバンピーが決められた最大値以上の時には、
不良タイヤとして排除される。
ところで、従来のタイヤのバンピーの測定方法として
は、例えば第１図に示すようにタイヤサイド部Ｘに、接
触タイプのセンサー１を使用し、そしてセンサー１から
の出力をアナログアンプ２を介して制御装置３（コンピ
ュータ）で演算処理することによりタイヤのバンピーを
測定していた。
は、例えば第１図に示すようにタイヤサイド部Ｘに、接
触タイプのセンサー１を使用し、そしてセンサー１から
の出力をアナログアンプ２を介して制御装置３（コンピ
ュータ）で演算処理することによりタイヤのバンピーを
測定していた。
然しながら、このような従来測定方法の場合センサー
１が接触タイプであるために、タイヤサイド部Ｘにバー
コードや文字及びライン等があるとバンピーを測定する
ことができないと言う問題があり、また接触タイプのセ
ンサー１であることから、耐久性や寿命が短くなると言
う問題があり、更に位置決めや、段取り替えに多くの手
間と時間を要すると言う問題があった。
１が接触タイプであるために、タイヤサイド部Ｘにバー
コードや文字及びライン等があるとバンピーを測定する
ことができないと言う問題があり、また接触タイプのセ
ンサー１であることから、耐久性や寿命が短くなると言
う問題があり、更に位置決めや、段取り替えに多くの手
間と時間を要すると言う問題があった。
この発明は、かかる従来の問題点に着目して案出され
たもので、その目的とするところはタイヤサイド部に凹
凸部を有する場合であってもタイヤパンピーを精度良く
測定することが出来ると共に、非接触タイプのセンサー
を使用することにより、センサーの寿命を延ばすことが
出来る上、精度の良い測定を行うことが出来、更に位置
決めや段取り替えを効率良く行うことが出来るタイヤの
バンピー測定方法を提供するものである。
たもので、その目的とするところはタイヤサイド部に凹
凸部を有する場合であってもタイヤパンピーを精度良く
測定することが出来ると共に、非接触タイプのセンサー
を使用することにより、センサーの寿命を延ばすことが
出来る上、精度の良い測定を行うことが出来、更に位置
決めや段取り替えを効率良く行うことが出来るタイヤの
バンピー測定方法を提供するものである。
この発明は上記目的を達成するため、測定タイヤのサ
イド部に、非接触センサーを位置させて測定タイヤを回
転し、前記非接触センサーによりタイヤサイド部の凹凸
バーコードや文字及びライン等の波形を測定し、非接触
センサーで測定した測定データ出力を波形処理器に入力
して、前記凹凸バーコードや文字及びライン等の文字除
去処理の波形処理を行い、この波形処理したデータを制
御装置に入力してタイヤー回転におけるパンピーを測定
することで、測定値に影響を及ぼす凹凸部や文字及びラ
イン等の波形を除去して精度の良い測定を行うことが出
来る上、位置決めや段取り替えを効率良く行うことが出
来るようにしたことを要旨とするものである。
イド部に、非接触センサーを位置させて測定タイヤを回
転し、前記非接触センサーによりタイヤサイド部の凹凸
バーコードや文字及びライン等の波形を測定し、非接触
センサーで測定した測定データ出力を波形処理器に入力
して、前記凹凸バーコードや文字及びライン等の文字除
去処理の波形処理を行い、この波形処理したデータを制
御装置に入力してタイヤー回転におけるパンピーを測定
することで、測定値に影響を及ぼす凹凸部や文字及びラ
イン等の波形を除去して精度の良い測定を行うことが出
来る上、位置決めや段取り替えを効率良く行うことが出
来るようにしたことを要旨とするものである。
以下添付図面に基いて、この発明の実施例を説明す
る。
る。
第２図は、この発明を実施したタイヤのバンピー測定
装置の概略構成図を示し、10はタイヤトレッド部Ｘに配
設されたレーザセンサー等の非接触センサーであって、
11は増幅器、12は波形処理器、13は制御装置（コンピュ
ータ）を示している。
装置の概略構成図を示し、10はタイヤトレッド部Ｘに配
設されたレーザセンサー等の非接触センサーであって、
11は増幅器、12は波形処理器、13は制御装置（コンピュ
ータ）を示している。
そして、タイヤのバンピーの測定方法としては、測定
タイヤのサイド部Ｘに、非接触センサー10を自動段取り
替えを行って位置させ、測定タイヤを１回転させ、前記
非接触センサー10からの出力を増幅器11を介して波形処
理器12によりバンピー波形の処理を行い、サイド部の文
字やライン等の凹凸Ｚの影響を除去するように演算し、
このノイズ波形を除去したバンピー波形を制御装置13に
入力してタイヤー回転における波形の処理を行いタイヤ
バンピーを測定するのである。
タイヤのサイド部Ｘに、非接触センサー10を自動段取り
替えを行って位置させ、測定タイヤを１回転させ、前記
非接触センサー10からの出力を増幅器11を介して波形処
理器12によりバンピー波形の処理を行い、サイド部の文
字やライン等の凹凸Ｚの影響を除去するように演算し、
このノイズ波形を除去したバンピー波形を制御装置13に
入力してタイヤー回転における波形の処理を行いタイヤ
バンピーを測定するのである。
上記、波形処理器12によるバンピー波形処理方法（凹
凸除去の方法）を、第３図及び第４図を参照しながら更
に詳細に説明する。
凸除去の方法）を、第３図及び第４図を参照しながら更
に詳細に説明する。
第３図は、非接触センサーにより測定されたタイヤサ
イド部の凹凸バーコードや文字及びライン等の波形デー
タであり、第４図は、本装置の波形処理器及びバンピー
処理を行うコンピューターの構成図を示している。
イド部の凹凸バーコードや文字及びライン等の波形デー
タであり、第４図は、本装置の波形処理器及びバンピー
処理を行うコンピューターの構成図を示している。
まず、第４図の各回路の構成を説明をした後、第３図
及び第４図にて処理方法の説明を行う。
及び第４図にて処理方法の説明を行う。
第４図は、波形処理器12とバンピー処理用のコンピュ
ーター13から構成され、波形処理器12により「バーコー
ドや文字及びライン等」の文字除去処理を行いコンピュ
ーター13でバンピーの測定を行う。
ーター13から構成され、波形処理器12により「バーコー
ドや文字及びライン等」の文字除去処理を行いコンピュ
ーター13でバンピーの測定を行う。
まず、始めに波形処理器12について説明する。
始めの12aは、A/D処理回路で非接触センサーにより測
定されたサイド部の波形データをA/D（アナログ・デジ
タル）変換回路にて入力されたアナログデータをデジタ
ルデータに変換する。
定されたサイド部の波形データをA/D（アナログ・デジ
タル）変換回路にて入力されたアナログデータをデジタ
ルデータに変換する。
次の12bは、そのデジタルデータの２点の傾き（変化
量）を計算する回路で、第３図のS1,S2を例に取ると、
Ｐ＝（前回のA/D値（S1）−今回のA/D値（S2））を計算
する。
量）を計算する回路で、第３図のS1,S2を例に取ると、
Ｐ＝（前回のA/D値（S1）−今回のA/D値（S2））を計算
する。
12cは、この傾き（変化量）Ｐとあらかじめ設定され
たバーコードや文字等の傾きの設定値Ｖを比較する回路
で、設定値Ｖと傾（変化量）Ｐに「差無し」、即ち、
（|P|＜Ｖ）であるか、「差有り」すなわち（|P|＞Ｖ）
であるかを比較判定する。即ち、文字処理をするか／し
ないかを判定する。
たバーコードや文字等の傾きの設定値Ｖを比較する回路
で、設定値Ｖと傾（変化量）Ｐに「差無し」、即ち、
（|P|＜Ｖ）であるか、「差有り」すなわち（|P|＞Ｖ）
であるかを比較判定する。即ち、文字処理をするか／し
ないかを判定する。
12jは、12cにて「差無し」すなわち（|P|＜Ｖ）の場
合、即ち２点の傾き（変化量）が文字等の変化ではない
と判断した場合、12jは文字等の波形処理中かどうかを
文字等処理中フラグにてチェックする回路である。ま
た、12dは、12jにて文字等処理中フラグが“OFF"の時、
今回のA/D値（S2）を12hの記憶回路（メモリー）に記憶
させる回路である。
合、即ち２点の傾き（変化量）が文字等の変化ではない
と判断した場合、12jは文字等の波形処理中かどうかを
文字等処理中フラグにてチェックする回路である。ま
た、12dは、12jにて文字等処理中フラグが“OFF"の時、
今回のA/D値（S2）を12hの記憶回路（メモリー）に記憶
させる回路である。
また12kは、12jにて文字等処理中フラグが“ON"の
時、文字成分の除去された前回D/A値にあわせる為、今
回出力値Ｈ＝前回D/A値＋変化量Ｐを計算する。12iは、
12kにて計算されたＨを12hに書き込む。
時、文字成分の除去された前回D/A値にあわせる為、今
回出力値Ｈ＝前回D/A値＋変化量Ｐを計算する。12iは、
12kにて計算されたＨを12hに書き込む。
12mは、12cで「差有り」すなわち（P1＞Ｖ）となった
場合、文字等処理中フラグを“on"にする。
場合、文字等処理中フラグを“on"にする。
12eは、12mにて文字処理が終了するかどうかの計算を
し、前回D/A値と今回A/D値の差を計算する。
し、前回D/A値と今回A/D値の差を計算する。
Ｑ＝（前回D/A値−今回A/D値） 12fは、12eにて計算されたＱとメモリーに記憶された
終了基準設定値（Ｗ）とを比較し、（Ｑ＜Ｗ）であれば
文字処理をやめ、（Ｑ＞Ｗ）であれば文字処理を行う。
即ち、前回D/A値と今回A/D値の差がないということは文
字処理が終わったということである。
終了基準設定値（Ｗ）とを比較し、（Ｑ＜Ｗ）であれば
文字処理をやめ、（Ｑ＞Ｗ）であれば文字処理を行う。
即ち、前回D/A値と今回A/D値の差がないということは文
字処理が終わったということである。
12gにてＰが−であれば補正値（前回DA値＋上昇補正
値（Ｕ））をD/A領域にセットし、Ｐが＋であれば補正
値（前回D/A値−下降補正値（Ｄ））をセットする。12i
は12の波形処理器の出力端で、12hのデータをD/A変換器
にてアナログに変換し出力する。
値（Ｕ））をD/A領域にセットし、Ｐが＋であれば補正
値（前回D/A値−下降補正値（Ｄ））をセットする。12i
は12の波形処理器の出力端で、12hのデータをD/A変換器
にてアナログに変換し出力する。
以上が12の波形処理器の構成である。
次に第３図のS1〜Snまでの処理方法を、第４図の回路
とあわせて説明する。
とあわせて説明する。
（説明上の条件）但し、 S1−S2において|P1|＜V, S2−S3において|P2|＜Ｖ ＆ |Q2|＞W, S3−S4において|P3|＜Ｖ ＆ |Q3|＞W, S4−S5において|P4|＜Ｖ ＆ |Q4|＞W, S5−S6において|P5|＜Ｖ ＆ |Q5|＞W, S6−S7において|P6|＜Ｖ ＆ |Q6|＞W, S7−S8において|P7|＜Ｖ ＆ |Q7|＞W, S8−S9において|P8|＜Ｖ ＆ |Q8|＞W, S9−S10において|P9|＜Ｖ ＆ |Q9|＞W,。
まず、第３図のS1、S2に於いて説明すると、12bの回
路では２点の傾き（変化量）を計算する（傾きP1＝（前
回のA/D値（S1）−今回のA/D値（S2））を計算する。） 12cではこの傾きP1とあらかじめ設定されたバーコー
ドや文字等の傾きの設定値Ｖを比較し、「差無し」すな
わち|P1|＜Ｖであるので文字でないと判断し、12jにて
文字等処理中フラグをチェックし、“OFF"なので12dの
書き込み回路にて今回の値A/D（S2）を12hの記憶回路
（メモリー）に書き込み、12iにてD/A変換器にてデジタ
ル／アナログ変換し、アナログ（S2a）を出力する。
路では２点の傾き（変化量）を計算する（傾きP1＝（前
回のA/D値（S1）−今回のA/D値（S2））を計算する。） 12cではこの傾きP1とあらかじめ設定されたバーコー
ドや文字等の傾きの設定値Ｖを比較し、「差無し」すな
わち|P1|＜Ｖであるので文字でないと判断し、12jにて
文字等処理中フラグをチェックし、“OFF"なので12dの
書き込み回路にて今回の値A/D（S2）を12hの記憶回路
（メモリー）に書き込み、12iにてD/A変換器にてデジタ
ル／アナログ変換し、アナログ（S2a）を出力する。
次にS2、S3について説明すると、12bにて第３図のS
2、S3の２点の傾き（変化量）を計算する。
2、S3の２点の傾き（変化量）を計算する。
傾きP2＝（前回のA/D値（S2）−今回のA/D値（S3））
となり12cで文字等の傾きの設定値Ｖと傾きP2を比較
し、「差有り」すなわち|P2|＞Ｖなので文字処理を行
う。12mにて文字処理中フラグを“on"にし、12eにて前
回出力（S2a）と今回A/D値（S3）との差Q2を計算する
（Q2＝（前回D/A値（S2a）−今回A/D値（S3））。
となり12cで文字等の傾きの設定値Ｖと傾きP2を比較
し、「差有り」すなわち|P2|＞Ｖなので文字処理を行
う。12mにて文字処理中フラグを“on"にし、12eにて前
回出力（S2a）と今回A/D値（S3）との差Q2を計算する
（Q2＝（前回D/A値（S2a）−今回A/D値（S3））。
12fの文字終了比較回路にてこのQ2とあらかじめ設定
され終了基準設定値（Ｗ）とを比較し、（|Q2|＞Ｗ）と
なり、文字処理を継続する。
され終了基準設定値（Ｗ）とを比較し、（|Q2|＞Ｗ）と
なり、文字処理を継続する。
12gにてＰが−なので（S3a）＝（前回D/A値（S2a）＋
上昇補正値（Ｕ）を12hにセットし、12iにてD/A出力処
理（S3a）を行います。
上昇補正値（Ｕ）を12hにセットし、12iにてD/A出力処
理（S3a）を行います。
次にS3、S4について説明すると、12bにて第３図のS
3、S4の２点の傾き（変化量）を計算する。
3、S4の２点の傾き（変化量）を計算する。
傾きP3＝（前回のA/D値（S3）−今回のA/D値（S4））
となり12cで文字等の傾きの設定値Ｖと傾きP3を比較
し、「差有り」すなわち|P3|＞Ｖなので文字処理を行
う。
となり12cで文字等の傾きの設定値Ｖと傾きP3を比較
し、「差有り」すなわち|P3|＞Ｖなので文字処理を行
う。
12mにて文字処理中フラグを“on"にし、12eにて前回
出力（S3a）と今回A/D値（S4）との差Q3を計算する（Q3
＝（前回D/A値（S3a）−今回A/D値（S4））。
出力（S3a）と今回A/D値（S4）との差Q3を計算する（Q3
＝（前回D/A値（S3a）−今回A/D値（S4））。
12fの文字終了比較回路にてこのQ3とメモリーに記憶
された終了基準設定値（Ｗ）とを比較し、（|Q3|＞Ｗ）
となり、文字処理を継続する。12gにてＰが−なので、
（S4a）＝（前回D/A値（S3a）＋上昇補正値（Ｕ））を1
2hにセットし、12iにてD/A（S4a）出力処理を行う。
された終了基準設定値（Ｗ）とを比較し、（|Q3|＞Ｗ）
となり、文字処理を継続する。12gにてＰが−なので、
（S4a）＝（前回D/A値（S3a）＋上昇補正値（Ｕ））を1
2hにセットし、12iにてD/A（S4a）出力処理を行う。
次にS4、S5について説明すると、12bにて第３図のS
4、S5の２点の傾き（変化量）を計算する。
4、S5の２点の傾き（変化量）を計算する。
傾きP4＝（前回のA/D値（S4）−今回のA/D値（S5））
となり12cで文字等の傾きの設定値Ｖと傾きP4を比較
し、「差有り」すなわち|P4|＞Ｖなので文字処理をしな
い。しかし、12j文字等処理中フラグが“ON"なので、12
kにて前回D/A値に変化量P4を加算し（H4＝前回D/A値（s
4a）−変化量P4）、12lにて12kで計算したH4を12hに書
き込む。
となり12cで文字等の傾きの設定値Ｖと傾きP4を比較
し、「差有り」すなわち|P4|＞Ｖなので文字処理をしな
い。しかし、12j文字等処理中フラグが“ON"なので、12
kにて前回D/A値に変化量P4を加算し（H4＝前回D/A値（s
4a）−変化量P4）、12lにて12kで計算したH4を12hに書
き込む。
12iのD/A変換器にてデジタル／アナログ変換し、アナ
ログ（S5a）を出力する。
ログ（S5a）を出力する。
S5−S6、S6−S7、S7−S8はS4−S5と同じ処理をおこな
い、（S6a）、（S7a）、（S8a）をアナログ出力する。
い、（S6a）、（S7a）、（S8a）をアナログ出力する。
S8−S9では、12bにて第３図のS9、S10の２点の傾き
（変化量）を計算する。傾きＰ＝（前回のA/D値（S8）
−今回のA/D（S9））となり12cでメモリーに記憶された
バーコードや文字等の傾きの設定値Ｖと傾きP8を比較
し、「差有り」すなわち|P8|＞Ｖなので文字処理を行
う。
（変化量）を計算する。傾きＰ＝（前回のA/D値（S8）
−今回のA/D（S9））となり12cでメモリーに記憶された
バーコードや文字等の傾きの設定値Ｖと傾きP8を比較
し、「差有り」すなわち|P8|＞Ｖなので文字処理を行
う。
12mにて文字等処理中フラグを“on"にし、12eにて前
回出力と今回A/D値との差Q8を計算する（Q8＝（前回D/A
値（S8a）−今回A/D値（S9））。
回出力と今回A/D値との差Q8を計算する（Q8＝（前回D/A
値（S8a）−今回A/D値（S9））。
12fの文字終了比較回路にてこのQ8とメモリーに記憶
された終了基準設定値（Ｗ）とを比較し、|Q8|＜Ｖの
為、文字処理を終了し、12d書き込み回路にてA/D値（S
9）を12hの記憶回路（メモリー）に書き込み、12iD/A変
換器にてデジタル／アナログ変換し、アナログ（S9a）
を出力する。
された終了基準設定値（Ｗ）とを比較し、|Q8|＜Ｖの
為、文字処理を終了し、12d書き込み回路にてA/D値（S
9）を12hの記憶回路（メモリー）に書き込み、12iD/A変
換器にてデジタル／アナログ変換し、アナログ（S9a）
を出力する。
以上の処理にて、バーコードや文字及びライン等のラ
イン等の文字処理を行いコンピューターにてバンピーを
測定する。また、上記波形処理器はコンピューターにて
処理することも可能である。
イン等の文字処理を行いコンピューターにてバンピーを
測定する。また、上記波形処理器はコンピューターにて
処理することも可能である。
13のコンピューターは、13aのA/D変換器にて12の波形
処理器にて文字等を除去されたアナログ値を1msecのサ
ンプリング（1000p/r）にてデジタル値に変換し、13bの
ランニングＰ−Ｐ回路にて上下のタイヤサイド部の１回
転分（1000p/r）における、固定区間（25ポイント）の
ランニングＰ−Ｐ（サンプリングデータの25ポイントの
ピークtoピークの値を計算し、データを１ポイントずつ
ずらしピークtoピーク値の計算をし、全周に渡り計算
し、その最大値（Ｐ−Pmax）を計算する。13cの規格判
定回路にて13bの最大値（Ｐ−Pmax）が規格以内かどう
か、合否を判定する。
処理器にて文字等を除去されたアナログ値を1msecのサ
ンプリング（1000p/r）にてデジタル値に変換し、13bの
ランニングＰ−Ｐ回路にて上下のタイヤサイド部の１回
転分（1000p/r）における、固定区間（25ポイント）の
ランニングＰ−Ｐ（サンプリングデータの25ポイントの
ピークtoピークの値を計算し、データを１ポイントずつ
ずらしピークtoピーク値の計算をし、全周に渡り計算
し、その最大値（Ｐ−Pmax）を計算する。13cの規格判
定回路にて13bの最大値（Ｐ−Pmax）が規格以内かどう
か、合否を判定する。
以上の処理にて文字等の除去をおこないバンピー測定
を行うものである。
を行うものである。
上記のような波形処理器12により波形処理前の波形
と、波形処理後の波形とを表したのが第５図であり、バ
ンピー波形処理の場合、波形の谷の部分（凹凸部）の立
下がりを無視し、立上がりを有効なデータとして谷の部
分を削除している。
と、波形処理後の波形とを表したのが第５図であり、バ
ンピー波形処理の場合、波形の谷の部分（凹凸部）の立
下がりを無視し、立上がりを有効なデータとして谷の部
分を削除している。
即ち、第５図において波形処理前の谷の部分R1が波形
処理後の波形R2となり、バンピー波形の測定を行う場合
には、全て凹凸部Ｖによる波形の影響を除去した状態で
測定を行うので測定位置に制約を受けることなく精度の
良い測定が出来るのである。
処理後の波形R2となり、バンピー波形の測定を行う場合
には、全て凹凸部Ｖによる波形の影響を除去した状態で
測定を行うので測定位置に制約を受けることなく精度の
良い測定が出来るのである。
この発明は、上記のように測定タイヤのサイド部に、
非接触センサーを位置させて測定タイヤを回転し、前記
非接触センサーによりタイヤサイド部の凹凸バーコード
や文字及びライン等の波形を測定し、非接触センサーで
測定した測定データ出力を波形処理器に入力して、前記
凹凸バーコードや文字及びライン等の文字除去処理の波
形処理を行い、この波形処理したデータを制御装置に入
力してタイヤー回転におけるパンピーを測定するので、
タイヤサイド部に凹凸部や文字及びライン等を有する場
合であってもタイヤパンピーを精度良く測定することが
出来、また非接触タイプのセンサーを使用することによ
り、センサーの寿命を延ばすことが出来る上、精度の良
い測定を行うことが出来、更に位置決めや段取り替えを
効率良く行うことが出来る効果がある。
非接触センサーを位置させて測定タイヤを回転し、前記
非接触センサーによりタイヤサイド部の凹凸バーコード
や文字及びライン等の波形を測定し、非接触センサーで
測定した測定データ出力を波形処理器に入力して、前記
凹凸バーコードや文字及びライン等の文字除去処理の波
形処理を行い、この波形処理したデータを制御装置に入
力してタイヤー回転におけるパンピーを測定するので、
タイヤサイド部に凹凸部や文字及びライン等を有する場
合であってもタイヤパンピーを精度良く測定することが
出来、また非接触タイプのセンサーを使用することによ
り、センサーの寿命を延ばすことが出来る上、精度の良
い測定を行うことが出来、更に位置決めや段取り替えを
効率良く行うことが出来る効果がある。
第１図は従来の接触タイプのセンサーを使用してタイヤ
バンピーを測定する方法を示す説明図、第２図はこの発
明を実施した非接触タイプのセンサーを使用してタイヤ
バンピーを測定する方法を示す説明図、第３図はタイヤ
サイド部の説明図、第４図は波形処理器の説明図、第５
図は波形処理器により測定した波形処理前と波形処理後
の波形説明図である。 10……非接触センサー、11……増幅器、 12……波形処理器、13……制御装置（コンピュータ） Ｘ……タイヤサイド部。
バンピーを測定する方法を示す説明図、第２図はこの発
明を実施した非接触タイプのセンサーを使用してタイヤ
バンピーを測定する方法を示す説明図、第３図はタイヤ
サイド部の説明図、第４図は波形処理器の説明図、第５
図は波形処理器により測定した波形処理前と波形処理後
の波形説明図である。 10……非接触センサー、11……増幅器、 12……波形処理器、13……制御装置（コンピュータ） Ｘ……タイヤサイド部。
Claims (1)
- 【請求項１】測定タイヤのサイド部に、非接触センサー
を位置させて測定タイヤを回転し、前記非接触センサー
によりタイヤサイド部の凹凸バーコードや文字及びライ
ン等の波形を測定し、非接触センサーで測定した測定デ
ータ出力を波形処理器に入力して、前記凹凸バーコード
や文字及びライン等の文字除去処理の波形処理を行い、
この波形処理したデータを制御装置に入力してタイヤー
回転におけるパンピーを測定することを特徴とするタイ
ヤのバンピー測定方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP62159577A JP2539222B2 (ja) | 1987-06-29 | 1987-06-29 | タイヤのバンピ−測定方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP62159577A JP2539222B2 (ja) | 1987-06-29 | 1987-06-29 | タイヤのバンピ−測定方法 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS646715A JPS646715A (en) | 1989-01-11 |
| JP2539222B2 true JP2539222B2 (ja) | 1996-10-02 |
Family
ID=15696751
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP62159577A Expired - Lifetime JP2539222B2 (ja) | 1987-06-29 | 1987-06-29 | タイヤのバンピ−測定方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP2539222B2 (ja) |
Families Citing this family (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| WO2006115203A1 (ja) | 2005-04-22 | 2006-11-02 | Bridgestone Corporation | タイヤサイド部の外形異常検出方法および装置 |
Family Cites Families (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5269659A (en) * | 1975-12-09 | 1977-06-09 | Yokohama Rubber Co Ltd | Apparatus for detecting bumpiness of tire |
| JPS61240107A (ja) * | 1985-04-17 | 1986-10-25 | Sanyo Kiko Kk | センサユニット |
| JPH0765894B2 (ja) * | 1985-12-26 | 1995-07-19 | 株式会社ブリヂストン | タイヤの形状検査方法 |
-
1987
- 1987-06-29 JP JP62159577A patent/JP2539222B2/ja not_active Expired - Lifetime
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS646715A (en) | 1989-01-11 |
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