JP2535479Y2 - 磁気検出器 - Google Patents
磁気検出器Info
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- JP2535479Y2 JP2535479Y2 JP6156289U JP6156289U JP2535479Y2 JP 2535479 Y2 JP2535479 Y2 JP 2535479Y2 JP 6156289 U JP6156289 U JP 6156289U JP 6156289 U JP6156289 U JP 6156289U JP 2535479 Y2 JP2535479 Y2 JP 2535479Y2
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Description
【考案の詳細な説明】 (イ)産業上の利用分野 この考案は、地磁気等を測定する磁気検出器であっ
て、特に磁気センサ器体の鉛直再現性能を光学的にテス
トし得る磁気検出器に関する。
て、特に磁気センサ器体の鉛直再現性能を光学的にテス
トし得る磁気検出器に関する。
(ロ)従来の技術 一般に、磁気検出器は、ケーシングの内部空室に、2
軸ジンバル機構により支持される磁気センサ器体を配備
している。2軸ジンバル機構は、枠体の両側片間に軸受
けされる短軸と、この枠体の両端片に固着された短軸と
直角方向へ突出された長軸とからなり、長軸の両端部は
ケーシング内の軸受け部により軸承され、長軸の先端部
は給電用のヘアスプリングに直結されている。そして、
磁気センサ器体は上記短軸に垂下され、ヘアスプリング
によりリード線を介して給電されるようになっている
(図示せず)。従って、磁気センサ器体はジンバル機構
により、長軸方向及び短軸方向に対し回動可能に保持さ
れ、下部に取付けた重りにより、常に鉛直方向に定位す
るように設定されている。
軸ジンバル機構により支持される磁気センサ器体を配備
している。2軸ジンバル機構は、枠体の両側片間に軸受
けされる短軸と、この枠体の両端片に固着された短軸と
直角方向へ突出された長軸とからなり、長軸の両端部は
ケーシング内の軸受け部により軸承され、長軸の先端部
は給電用のヘアスプリングに直結されている。そして、
磁気センサ器体は上記短軸に垂下され、ヘアスプリング
によりリード線を介して給電されるようになっている
(図示せず)。従って、磁気センサ器体はジンバル機構
により、長軸方向及び短軸方向に対し回動可能に保持さ
れ、下部に取付けた重りにより、常に鉛直方向に定位す
るように設定されている。
(ハ)考案が解決しようとする課題 磁気検出器の磁気センサ器体は、ジンバル機構により
常に鉛直方向に定位するように設定されており、この磁
気センサ器体の鉛直再現性能の良否によって正確な磁気
検出の精度が左右される。この磁気センサ器体の鉛直再
現性能は、特にジンバル機構の摩擦力の大小の影響を受
け、摩擦力が小さいほど鉛直再現性が高くなる。従っ
て、都度、あるいは磁気検出器が完成したとき磁気検出
器が適正に機能するか否かを確認するために、磁気セン
サ器体の鉛直再現性能のテストが行なわれている。
常に鉛直方向に定位するように設定されており、この磁
気センサ器体の鉛直再現性能の良否によって正確な磁気
検出の精度が左右される。この磁気センサ器体の鉛直再
現性能は、特にジンバル機構の摩擦力の大小の影響を受
け、摩擦力が小さいほど鉛直再現性が高くなる。従っ
て、都度、あるいは磁気検出器が完成したとき磁気検出
器が適正に機能するか否かを確認するために、磁気セン
サ器体の鉛直再現性能のテストが行なわれている。
従来、この鉛直再現性をテストする場合は、テスト用
の磁気検出器を3軸ヘルムホルツコイルの中心に対応さ
せた状態で、鉛直保持台に載置する。そして、この鉛直
保持台ごと回転させる。この回転状態において、テスト
用の磁気検出器を駆動させ(通電状態のもとにおき)、
鉛直検出軸の磁気信号の変化量を測定することで、この
軸の傾きを計測し再現性能を確認している。
の磁気検出器を3軸ヘルムホルツコイルの中心に対応さ
せた状態で、鉛直保持台に載置する。そして、この鉛直
保持台ごと回転させる。この回転状態において、テスト
用の磁気検出器を駆動させ(通電状態のもとにおき)、
鉛直検出軸の磁気信号の変化量を測定することで、この
軸の傾きを計測し再現性能を確認している。
従って、この再現性能テスト方式では、鉛直検出軸の
傾きの計測は可能であるが、その傾きの原因が機械的理
由、例えば検出軸保持用軸受け部による誤差であるの
か、或いは電気的理由、例えば給電装置(ヘアスプリン
グ、スリップリング、リード線)の不具合による誤差で
あるかが判別出来ない。また、磁気検出器に給電し、且
つ3軸ヘルムホルツコイルの中心に設置してテストする
ため、周辺部の磁気的影響を受け易く、測定環境に制約
がある等の不利があった。
傾きの計測は可能であるが、その傾きの原因が機械的理
由、例えば検出軸保持用軸受け部による誤差であるの
か、或いは電気的理由、例えば給電装置(ヘアスプリン
グ、スリップリング、リード線)の不具合による誤差で
あるかが判別出来ない。また、磁気検出器に給電し、且
つ3軸ヘルムホルツコイルの中心に設置してテストする
ため、周辺部の磁気的影響を受け易く、測定環境に制約
がある等の不利があった。
この考案は、以上のような課題を解消させ、外部環境
の制約なく鉛直再現性能をテストし得る磁気検出器を提
供することを目的とする。
の制約なく鉛直再現性能をテストし得る磁気検出器を提
供することを目的とする。
(ニ)課題を解決するための手段及び作用 この目的を達成させるために、この考案の磁気検出器
では、次のような構成としている。
では、次のような構成としている。
磁気検出器は、2軸ジンバル機構により垂下支持され
て鉛直方向に定位するように設定された磁気センサ器体
の下部に、四角錐形状の鉛直状態被検出部を備えたこと
を特徴としている。
て鉛直方向に定位するように設定された磁気センサ器体
の下部に、四角錐形状の鉛直状態被検出部を備えたこと
を特徴としている。
磁気センサ器体を垂下支持したものにおいて、この磁気
センサ器体の下部に、四角錐形状の鉛直状態被検出部を
備えたことを特徴としている。
センサ器体の下部に、四角錐形状の鉛直状態被検出部を
備えたことを特徴としている。
従って、磁気センサ器体は常態において鉛直状態が保
持され、鉛直再現性能を有している。この磁気センサ器
体の下部の鉛直状態被検出部は、四角錐形状に設定して
あり、例えば重りを兼用している。
持され、鉛直再現性能を有している。この磁気センサ器
体の下部の鉛直状態被検出部は、四角錐形状に設定して
あり、例えば重りを兼用している。
磁気センサ器体の鉛直再現性能テストを実行する場合
は、公知の距離センサを用いる。つまり磁気センサ器体
の下方に、その直角部から同距離に配置された2個の距
離センサを載置した直角L字形のテスト治具を配置す
る。そして、一方の距離センサは、鉛直状態被検出部
(四角錐形状)のX軸方向の面に対向させ、他方の距離
センサはY軸方向の面に対向させる。この状態におい
て、距離センサと対向しているX軸面、及びY軸面は、
それぞれ距離センサと平行状態、つまり光学的軸線に対
し直角方向に位置している。従って、磁気センサ器体が
鉛直状態に定位していれば、鉛直状態被検出部(四角錐
形状)の尖端は、当然に鉛直方向を指向しており、各距
離センサとX軸面及びY軸面間の各対向距離は等しいか
ら、2つの距離センサの距離計測値は同一となり、磁気
センサ器体の鉛直位置を確認できる。また、磁気センサ
器体を自由に揺動させた後、再び静止した状態におい
て、仮に二つの距離センサの距離測定値が同一でない場
合は、磁気センサ器体(鉛直状態被検出部)がいずれか
の方向に傾いていることが判明する (ホ)実施例 第1図は、この考案に係る磁気検出器の具体的な一実
施例を示す斜視図である。
は、公知の距離センサを用いる。つまり磁気センサ器体
の下方に、その直角部から同距離に配置された2個の距
離センサを載置した直角L字形のテスト治具を配置す
る。そして、一方の距離センサは、鉛直状態被検出部
(四角錐形状)のX軸方向の面に対向させ、他方の距離
センサはY軸方向の面に対向させる。この状態におい
て、距離センサと対向しているX軸面、及びY軸面は、
それぞれ距離センサと平行状態、つまり光学的軸線に対
し直角方向に位置している。従って、磁気センサ器体が
鉛直状態に定位していれば、鉛直状態被検出部(四角錐
形状)の尖端は、当然に鉛直方向を指向しており、各距
離センサとX軸面及びY軸面間の各対向距離は等しいか
ら、2つの距離センサの距離計測値は同一となり、磁気
センサ器体の鉛直位置を確認できる。また、磁気センサ
器体を自由に揺動させた後、再び静止した状態におい
て、仮に二つの距離センサの距離測定値が同一でない場
合は、磁気センサ器体(鉛直状態被検出部)がいずれか
の方向に傾いていることが判明する (ホ)実施例 第1図は、この考案に係る磁気検出器の具体的な一実
施例を示す斜視図である。
磁気検出器は、公知のようにケーシング(図示せず)
内部に2軸ジンバル機構2に支持された磁気センサ器体
1を配備している。2軸ジンバル機構2は、例えば矩形
状の枠体21の両端片間に短軸22を軸承配備し、枠体21の
両側片には長軸23を突設(短軸22と直角方向へ突設)し
て構成している。この長軸23の両端部は、それぞれケー
シングの軸受け部により軸承されている。また、長軸23
の一方の先端部を給電用ヘアスプリングに直結されてい
る(図示せず)。前記磁気センサ器体1は、上記短軸22
に固定垂下されており、したがってこの磁気センサ器体
1は、2軸ジンバル機構2により長軸方向(短軸22の回
転)及び短軸方向(長軸23の回転)へ回動可能であり、
常に鉛直方向へ定位するように設定されている。
内部に2軸ジンバル機構2に支持された磁気センサ器体
1を配備している。2軸ジンバル機構2は、例えば矩形
状の枠体21の両端片間に短軸22を軸承配備し、枠体21の
両側片には長軸23を突設(短軸22と直角方向へ突設)し
て構成している。この長軸23の両端部は、それぞれケー
シングの軸受け部により軸承されている。また、長軸23
の一方の先端部を給電用ヘアスプリングに直結されてい
る(図示せず)。前記磁気センサ器体1は、上記短軸22
に固定垂下されており、したがってこの磁気センサ器体
1は、2軸ジンバル機構2により長軸方向(短軸22の回
転)及び短軸方向(長軸23の回転)へ回動可能であり、
常に鉛直方向へ定位するように設定されている。
この考案の特徴は、直方体形状の磁気センサ器体1の
下部に鉛直状態被検出部3を設けた点にある。
下部に鉛直状態被検出部3を設けた点にある。
鉛直状態被検出部3は、下部が尖がった四角錐形状
で、尖端32を下方に設定して磁気センサ器体1の底面に
一体に止着してある。この鉛直状態被検出部3は、重り
を兼用し磁気センサ器体1の起立性能を向上させてい
る。この実施例においては、鉛直状態被検出部(四角錐
形状)3の逆三角形をした4つの面の内、X軸方向の面
(短軸22側の面)31aと、Y軸方向の面(長軸23側の
面)31が、鉛直状態被検出面として使用される。この鉛
直状態被検出部3は、磁気センサ器体1が鉛直状態に定
位する時、尖端32が鉛直方向を指向している。
で、尖端32を下方に設定して磁気センサ器体1の底面に
一体に止着してある。この鉛直状態被検出部3は、重り
を兼用し磁気センサ器体1の起立性能を向上させてい
る。この実施例においては、鉛直状態被検出部(四角錐
形状)3の逆三角形をした4つの面の内、X軸方向の面
(短軸22側の面)31aと、Y軸方向の面(長軸23側の
面)31が、鉛直状態被検出面として使用される。この鉛
直状態被検出部3は、磁気センサ器体1が鉛直状態に定
位する時、尖端32が鉛直方向を指向している。
磁気センサ器体1の鉛直再現性能をテストする場合
は、例えば、特開昭60−162901号公報に記載された非接
触変位測定装置を用いる。この公報に記載された非接触
変位測定装置(距離センサ)は、例えば三角測距法を応
用した方式のもので、発光素子と光位置検出素子(PS
D)等の組み合わせで構成されている。発光素子、例え
ば半導体レーザからの光は、投光レンズを介して測定対
象物上に照射され、この対象物からの拡散反射光の一部
は受光レンズを介して光位置検出素子上にスポットを結
び、そのスポットが対象物の移動(変位)による検出距
離に応じて光位置検出素子上を移動して位置ズレを生じ
るので、この位置ズレ(移動量)を対象物までの距離と
して測定するもので同出願人より“レーザ式変位センサ
LBシリーズ”として販売されている。
は、例えば、特開昭60−162901号公報に記載された非接
触変位測定装置を用いる。この公報に記載された非接触
変位測定装置(距離センサ)は、例えば三角測距法を応
用した方式のもので、発光素子と光位置検出素子(PS
D)等の組み合わせで構成されている。発光素子、例え
ば半導体レーザからの光は、投光レンズを介して測定対
象物上に照射され、この対象物からの拡散反射光の一部
は受光レンズを介して光位置検出素子上にスポットを結
び、そのスポットが対象物の移動(変位)による検出距
離に応じて光位置検出素子上を移動して位置ズレを生じ
るので、この位置ズレ(移動量)を対象物までの距離と
して測定するもので同出願人より“レーザ式変位センサ
LBシリーズ”として販売されている。
実施例では、磁気センサ器体1の下側に、上記の2つ
の距離センサ4、4aを備えた直角L字形のテスト用治具
5を配置する。この場合、一方の距離センサ4aは、鉛直
状態被検出部(四角錐形状)3のX軸方向の面31aに対
向し、他方の距離センサ4はY軸方向の面31に対向させ
る。この状態において、距離センサ4aと対向しているX
軸面31a、及び距離センサ4と対向しているY軸面31
は、それぞれ距離センサ4、4aと平行状態、つまり光学
的軸線に対し直角方向に位置している。従って、第2図
で示すように、磁気センサ器体1が鉛直方向に定位して
いれば(鉛直状態被検出部3の尖端32が鉛直方向を指向
していれば)、各距離センサ4aと4との出力は全く同一
となり、それぞれ対向するX軸面31a、Y軸面31との対
向距離は同じである。つまり、各距離センサ4、4aの距
離計測値が同一であることから、磁気センサ器体1が鉛
直状態にあることが確認できる。
の距離センサ4、4aを備えた直角L字形のテスト用治具
5を配置する。この場合、一方の距離センサ4aは、鉛直
状態被検出部(四角錐形状)3のX軸方向の面31aに対
向し、他方の距離センサ4はY軸方向の面31に対向させ
る。この状態において、距離センサ4aと対向しているX
軸面31a、及び距離センサ4と対向しているY軸面31
は、それぞれ距離センサ4、4aと平行状態、つまり光学
的軸線に対し直角方向に位置している。従って、第2図
で示すように、磁気センサ器体1が鉛直方向に定位して
いれば(鉛直状態被検出部3の尖端32が鉛直方向を指向
していれば)、各距離センサ4aと4との出力は全く同一
となり、それぞれ対向するX軸面31a、Y軸面31との対
向距離は同じである。つまり、各距離センサ4、4aの距
離計測値が同一であることから、磁気センサ器体1が鉛
直状態にあることが確認できる。
また、磁気センサ器体1を自由に揺動させた後、再び
静止した状態において、仮に二つの距離センサ4、4aの
距離測定値が同一でない場合、例えば鉛直状態被検出部
3が角度+θだけ位置ずれし鉛直状態被検出部からの反
射光、つまり反射スポットの位置がズレるので、センサ
出力の値が変化し、つまり2つの距離センサ4、4aの測
定値が同一でなくなり、磁気センサ器体1が鉛直状態に
定位していないこと(傾いていること)を精度よく確認
できる。
静止した状態において、仮に二つの距離センサ4、4aの
距離測定値が同一でない場合、例えば鉛直状態被検出部
3が角度+θだけ位置ずれし鉛直状態被検出部からの反
射光、つまり反射スポットの位置がズレるので、センサ
出力の値が変化し、つまり2つの距離センサ4、4aの測
定値が同一でなくなり、磁気センサ器体1が鉛直状態に
定位していないこと(傾いていること)を精度よく確認
できる。
仮に、距離センサ4、4aの距離測定値が同一であり、
磁気センサ器体1が鉛直状態に定位しているにも拘ら
ず、磁気検出器の磁気出力に不具合があれば、機械的
(例えば軸受け部の誤差)な理由でなく、電気的な理由
(例えばヘアスプリング等の給電装置側の理由)による
と判別し得る。
磁気センサ器体1が鉛直状態に定位しているにも拘ら
ず、磁気検出器の磁気出力に不具合があれば、機械的
(例えば軸受け部の誤差)な理由でなく、電気的な理由
(例えばヘアスプリング等の給電装置側の理由)による
と判別し得る。
かくして、この磁気検出器では、四角錐形状の鉛直状
態被検出部(X軸面31a、Y軸面31)3と、距離センサ
4、4a間の変位による測定値の変化より鉛直状態(鉛直
再現性能)を光学的に検出するから、外部の磁気的影響
を全く考慮する必要がなく、テスト環境を制約されな
い。また、従来のように磁気検出器の磁気信号の変化量
で、磁気センサ器体1の傾きを計測するものではないか
ら、傾きの原因が機械的理由或いは電気的理由に基づく
ものかを容易に判別し得る。
態被検出部(X軸面31a、Y軸面31)3と、距離センサ
4、4a間の変位による測定値の変化より鉛直状態(鉛直
再現性能)を光学的に検出するから、外部の磁気的影響
を全く考慮する必要がなく、テスト環境を制約されな
い。また、従来のように磁気検出器の磁気信号の変化量
で、磁気センサ器体1の傾きを計測するものではないか
ら、傾きの原因が機械的理由或いは電気的理由に基づく
ものかを容易に判別し得る。
(ヘ)考案の効果 この考案では、以上のように、2軸ジンバル機構によ
り支持される磁気センサ器体の下部に、四角錐形状の鉛
直状態被検出部を配備することとしたから、距離センサ
を用いることで光学的に磁気センサ器体の鉛直状態及び
鉛直再現性能をテストし得る。従って、従来のように外
部の磁気的影響を全く考慮する必要がなく、点検(テス
ト)環境を制約されることがない。また、従来のように
磁気検出器の磁気信号の変化量で、磁気センサ器体の傾
きを計測するものではないから、傾きの原因が機械的理
由であるか、或いは電気的理由に基づくものであるかを
容易に判別し得る等、考案目的を達成した優れた効果を
有する。
り支持される磁気センサ器体の下部に、四角錐形状の鉛
直状態被検出部を配備することとしたから、距離センサ
を用いることで光学的に磁気センサ器体の鉛直状態及び
鉛直再現性能をテストし得る。従って、従来のように外
部の磁気的影響を全く考慮する必要がなく、点検(テス
ト)環境を制約されることがない。また、従来のように
磁気検出器の磁気信号の変化量で、磁気センサ器体の傾
きを計測するものではないから、傾きの原因が機械的理
由であるか、或いは電気的理由に基づくものであるかを
容易に判別し得る等、考案目的を達成した優れた効果を
有する。
第1図は、実施例磁気検出器を示す斜視図、第2図は、
実施例磁気検出器の鉛直再現性能をテストする状態を示
す説明図である。 1:磁気センサ器体、2:ジンバル機構 3:鉛直状態被検出部、4、4a:距離センサ
実施例磁気検出器の鉛直再現性能をテストする状態を示
す説明図である。 1:磁気センサ器体、2:ジンバル機構 3:鉛直状態被検出部、4、4a:距離センサ
Claims (1)
- 【請求項1】2軸ジンバル機構により垂下支持されて鉛
直方向に定位するように設定された磁気センサ器体を備
えた磁気検出器において、前記磁気センサ器体の下部
に、四角錐形状の鉛直状態被検出部を備えたことを特徴
とする磁気検出器。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP6156289U JP2535479Y2 (ja) | 1989-05-26 | 1989-05-26 | 磁気検出器 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP6156289U JP2535479Y2 (ja) | 1989-05-26 | 1989-05-26 | 磁気検出器 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH032282U JPH032282U (ja) | 1991-01-10 |
JP2535479Y2 true JP2535479Y2 (ja) | 1997-05-14 |
Family
ID=31589918
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP6156289U Expired - Fee Related JP2535479Y2 (ja) | 1989-05-26 | 1989-05-26 | 磁気検出器 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP2535479Y2 (ja) |
Families Citing this family (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US4979932A (en) * | 1989-03-02 | 1990-12-25 | International Paper Box Machine Co., Inc. | Apparatus and method for sealing box blanks |
JP4743504B2 (ja) * | 2005-09-30 | 2011-08-10 | 株式会社吉野工業所 | 計量スプーン付き容器 |
-
1989
- 1989-05-26 JP JP6156289U patent/JP2535479Y2/ja not_active Expired - Fee Related
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JPH032282U (ja) | 1991-01-10 |
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Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
LAPS | Cancellation because of no payment of annual fees |