JP2535292B2 - ケ―ブルの絶縁性能の低下を診断する方法 - Google Patents
ケ―ブルの絶縁性能の低下を診断する方法Info
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- G01R31/1227—Testing dielectric strength or breakdown voltage ; Testing or monitoring effectiveness or level of insulation, e.g. of a cable or of an apparatus, for example using partial discharge measurements; Electrostatic testing of components, parts or materials
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- G01R31/1272—Testing dielectric strength or breakdown voltage ; Testing or monitoring effectiveness or level of insulation, e.g. of a cable or of an apparatus, for example using partial discharge measurements; Electrostatic testing of components, parts or materials of solid or fluid materials, e.g. insulation films, bulk material; of semiconductors or LV electronic components or parts; of cable, line or wire insulation of cable, line or wire insulation, e.g. using partial discharge measurements
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- Measurement Of Resistance Or Impedance (AREA)
Description
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明は高圧ケーブルの絶縁性能
の低下を診断する方法に関する。更に詳しくは、熱劣化
や水トリー或はサルファイドトリーの発生によって高圧
ケーブルの絶縁体に部分的な絶縁性能の低下が生じた場
合、絶縁体の誘電損の増加を測定することにより高圧ケ
ーブルの絶縁性能の低下を診断するようにしたものに関
する。
の低下を診断する方法に関する。更に詳しくは、熱劣化
や水トリー或はサルファイドトリーの発生によって高圧
ケーブルの絶縁体に部分的な絶縁性能の低下が生じた場
合、絶縁体の誘電損の増加を測定することにより高圧ケ
ーブルの絶縁性能の低下を診断するようにしたものに関
する。
【０００２】
【従来の技術】一般に高圧ケーブル（以下、ケーブルと
いう）の経年劣化の主要因として熱劣化が考えられる
が、絶縁体に架橋ポリエチレン或いはポリエチレンを使
用したケーブルは、熱劣化以前に吸湿あるいは含水によ
る水トリーの発生が劣化の主要因を構成することが非常
に多い。ケーブルの絶縁体に水トリーが発生した場合、
つまりケーブルの絶縁性能の低下が生じた場合は事故に
つながるために、事前に測定装置で水トリーの発生を検
出してケーブルを交換するなどの対策を取らなければな
らない。
いう）の経年劣化の主要因として熱劣化が考えられる
が、絶縁体に架橋ポリエチレン或いはポリエチレンを使
用したケーブルは、熱劣化以前に吸湿あるいは含水によ
る水トリーの発生が劣化の主要因を構成することが非常
に多い。ケーブルの絶縁体に水トリーが発生した場合、
つまりケーブルの絶縁性能の低下が生じた場合は事故に
つながるために、事前に測定装置で水トリーの発生を検
出してケーブルを交換するなどの対策を取らなければな
らない。
【０００３】ケーブルの絶縁性能の低下を測定する手段
としては、直流漏れ電流法、直流重畳法、低周波重畳
法、活線ｔａｎδ測定法、直流成分法を利用したものが
ある。しかし、これらの手段は、水トリーがケーブルを
貫通する寸前でないと検出が困難であったり、更にはケ
ーブルが均等に劣化している場合でないと検出が困難で
ある等、何れも十分とは言えなかった。その中の一方法
である活線ｔａｎδ測定法は、水トリーがケーブル全体
にほぼ均一に発生している場合にはそれを検出すること
が可能である。しかし、実際の敷設ケーブルには、水ト
リーは局部的に発生しているケースが殆どであり、この
場合は、ｔａｎδの値に誤差を生じ検出できない。この
ため、ケーブルの絶縁性能の低下診断を行う場合には数
種の測定方法を組み合わせて測定し、従来のデーターと
の総合評価で良否の判定をせざるをえず、測定に多大の
労力を有するにもかかわらず、正確な診断ができなかっ
た。
としては、直流漏れ電流法、直流重畳法、低周波重畳
法、活線ｔａｎδ測定法、直流成分法を利用したものが
ある。しかし、これらの手段は、水トリーがケーブルを
貫通する寸前でないと検出が困難であったり、更にはケ
ーブルが均等に劣化している場合でないと検出が困難で
ある等、何れも十分とは言えなかった。その中の一方法
である活線ｔａｎδ測定法は、水トリーがケーブル全体
にほぼ均一に発生している場合にはそれを検出すること
が可能である。しかし、実際の敷設ケーブルには、水ト
リーは局部的に発生しているケースが殆どであり、この
場合は、ｔａｎδの値に誤差を生じ検出できない。この
ため、ケーブルの絶縁性能の低下診断を行う場合には数
種の測定方法を組み合わせて測定し、従来のデーターと
の総合評価で良否の判定をせざるをえず、測定に多大の
労力を有するにもかかわらず、正確な診断ができなかっ
た。
【０００４】ところで、送電中のケーブルを考えてみる
と、導体と遮蔽体との間に絶縁体を有しており、一種の
コンデンサーを構成していることが分かる。本発明者
は、ケーブルの絶縁体の誘電損を測定することによって
水トリーが発生しているかどうかの診断ができないかと
いうことに着目し、実験を試みた。測定試料としては、
次のケーブルを準備した。 （１）新品のＣＶケーブル（８mm2 ×２０ｍ） ＊表面の漏れ電流除去用のガード付きである。 （２）水トリーの多数あるケーブル（３８〜５００mm2
１ｍ×１０本） ＊実フィールドで水トリーの発生により破壊し、撤去さ
れた各種ケーブルから水トリーの発生が目視で確認でき
る部分（長さ約１ｍ）を取り実際の使用に近づけるため
に一週間以上水に浸漬し、測定ケーブルとした。なお、
端部には電圧印加時の漏れ電流を考慮してガードを施し
た。 （３）前記（２）で使用した水トリーの多数あるケーブ
ルと、前記（１）で使用した新品のＣＶケーブルとを直
列に接続したケーブル ＊本資料は前記二種のケーブルを組み合わせることによ
り、部分的に水トリーが発生したケーブルを模した測定
試料である。
と、導体と遮蔽体との間に絶縁体を有しており、一種の
コンデンサーを構成していることが分かる。本発明者
は、ケーブルの絶縁体の誘電損を測定することによって
水トリーが発生しているかどうかの診断ができないかと
いうことに着目し、実験を試みた。測定試料としては、
次のケーブルを準備した。 （１）新品のＣＶケーブル（８mm2 ×２０ｍ） ＊表面の漏れ電流除去用のガード付きである。 （２）水トリーの多数あるケーブル（３８〜５００mm2
１ｍ×１０本） ＊実フィールドで水トリーの発生により破壊し、撤去さ
れた各種ケーブルから水トリーの発生が目視で確認でき
る部分（長さ約１ｍ）を取り実際の使用に近づけるため
に一週間以上水に浸漬し、測定ケーブルとした。なお、
端部には電圧印加時の漏れ電流を考慮してガードを施し
た。 （３）前記（２）で使用した水トリーの多数あるケーブ
ルと、前記（１）で使用した新品のＣＶケーブルとを直
列に接続したケーブル ＊本資料は前記二種のケーブルを組み合わせることによ
り、部分的に水トリーが発生したケーブルを模した測定
試料である。
【０００５】図１及、図２及び図３を参照しながら測定
の原理及び手順を説明する。 試料とするケーブルにＶO の電圧を印加し、検出抵
抗ｒに現れる電圧ＶX をロックインアンプで測定する。
（ＶO ＝６．００Ｖ） ＶX に逆加算電圧ＶX'を加え、ゲイン調整してθを
±５°以内に追い込む。（ＡＴＴ１とフェイズシフタ出
力で調整する。） ロックインアンプの値が最小になるところを見つ
け、ＶX の実部ＶXRとする。 ＶX の虚部ＶXCについてはロックインアンプで測定
したＶX とＶXRより算出する。
の原理及び手順を説明する。 試料とするケーブルにＶO の電圧を印加し、検出抵
抗ｒに現れる電圧ＶX をロックインアンプで測定する。
（ＶO ＝６．００Ｖ） ＶX に逆加算電圧ＶX'を加え、ゲイン調整してθを
±５°以内に追い込む。（ＡＴＴ１とフェイズシフタ出
力で調整する。） ロックインアンプの値が最小になるところを見つ
け、ＶX の実部ＶXRとする。 ＶX の虚部ＶXCについてはロックインアンプで測定
したＶX とＶXRより算出する。
【数１】 ＶXRはかなり微小な電圧となるために、測定値から
ノイズＶN の有効分ＶNRを差し引く必要がある。従って
検出抵抗を試料から切り離してノイズ分のみをロックイ
ンアンプに取り込みＶNRを測定する。測定した結果を図
４に示す。図４は絶縁体の誘電損を測定した結果を示し
たものであり、絶縁体の誘電損をワット（Ｗ）で表して
いる。図５は比較のためにtan δ測定法で測定した結果
を示している。
ノイズＶN の有効分ＶNRを差し引く必要がある。従って
検出抵抗を試料から切り離してノイズ分のみをロックイ
ンアンプに取り込みＶNRを測定する。測定した結果を図
４に示す。図４は絶縁体の誘電損を測定した結果を示し
たものであり、絶縁体の誘電損をワット（Ｗ）で表して
いる。図５は比較のためにtan δ測定法で測定した結果
を示している。
【０００６】図４から明らかなように、水トリーの多数
あるケーブルと、新品のＣＶケーブルと水トリーの多数
あるケーブルとを直列に接続したケーブルとは、ほぼ同
じ誘電損である。即ち、水トリーが部分的に発生したケ
ーブルでも不良品であることが分かる。これに対して、
ｔａｎδ測定法で測定すると静電容量の影響でｔａｎδ
の値が暖昧になってくる。つまり、水トリーが多数発生
しているケーブル単体では、ｔａｎδの値が大きく出て
不良品であることが分かるが、良品と不良品との組み合
わせではｔａｎδの値が小さくなって、測定値全体は水
トリーが発生していない新品側に移行しており、絶縁性
能が悪いものがよく見える結果となる。以上のことか
ら、水トリーが発生しているケーブルと新品のケーブル
とを直列に接続した試料での測定結果から、全体的な劣
化も局部的な劣化も、何れも絶縁体の誘電損を調べるこ
とによって検出できることが判明した。また、絶縁体の
熱劣化や、絶縁体にサルファイドトリーが発生した場合
も水トリーの発生と同様に誘電損が増加することが判明
した。本発明はこれらの知見に基づいてなされたもので
ある。
あるケーブルと、新品のＣＶケーブルと水トリーの多数
あるケーブルとを直列に接続したケーブルとは、ほぼ同
じ誘電損である。即ち、水トリーが部分的に発生したケ
ーブルでも不良品であることが分かる。これに対して、
ｔａｎδ測定法で測定すると静電容量の影響でｔａｎδ
の値が暖昧になってくる。つまり、水トリーが多数発生
しているケーブル単体では、ｔａｎδの値が大きく出て
不良品であることが分かるが、良品と不良品との組み合
わせではｔａｎδの値が小さくなって、測定値全体は水
トリーが発生していない新品側に移行しており、絶縁性
能が悪いものがよく見える結果となる。以上のことか
ら、水トリーが発生しているケーブルと新品のケーブル
とを直列に接続した試料での測定結果から、全体的な劣
化も局部的な劣化も、何れも絶縁体の誘電損を調べるこ
とによって検出できることが判明した。また、絶縁体の
熱劣化や、絶縁体にサルファイドトリーが発生した場合
も水トリーの発生と同様に誘電損が増加することが判明
した。本発明はこれらの知見に基づいてなされたもので
ある。
【０００７】
【発明の目的】そこで本発明の目的は、ケーブルの絶縁
体の誘電損を測定することによって、ケーブルの絶縁体
の部分的な絶縁性能の低下でも測定でき、これによって
ケーブルの絶縁性能の低下を診断できるようにすること
にある。
体の誘電損を測定することによって、ケーブルの絶縁体
の部分的な絶縁性能の低下でも測定でき、これによって
ケーブルの絶縁性能の低下を診断できるようにすること
にある。
【０００８】
【課題を解決する為の手段】上記目的を達成するために
講じた発明の構成は次の通りである。即ち本発明は、ケ
ーブルの絶縁性能の低下を診断する方法であって、この
方法は、絶縁性能の低下を測定するケーブルの絶縁体の
誘電損を測定するステップ、該誘電損と正常なケーブル
の絶縁体の誘電損とを比較して誘電損の増加の有無を判
断するステップ、を含み、前記誘電損の測定は、交流電
圧を信号源とし、ケーブルに流れる電流を測定信号とし
て検出し、前記交流電圧に対して９０度位相が遅れた逆
加算信号を発生させて前記測定信号に加算して、前記交
流電圧を参照信号としたロックインアンプに入力し、ロ
ックインアンプの出力が最小になるように逆加算信号の
大きさを調整して、その出力の大きさから誘電損を算出
するようにした、ケーブルの絶縁性能の低下を診断する
方法である。
講じた発明の構成は次の通りである。即ち本発明は、ケ
ーブルの絶縁性能の低下を診断する方法であって、この
方法は、絶縁性能の低下を測定するケーブルの絶縁体の
誘電損を測定するステップ、該誘電損と正常なケーブル
の絶縁体の誘電損とを比較して誘電損の増加の有無を判
断するステップ、を含み、前記誘電損の測定は、交流電
圧を信号源とし、ケーブルに流れる電流を測定信号とし
て検出し、前記交流電圧に対して９０度位相が遅れた逆
加算信号を発生させて前記測定信号に加算して、前記交
流電圧を参照信号としたロックインアンプに入力し、ロ
ックインアンプの出力が最小になるように逆加算信号の
大きさを調整して、その出力の大きさから誘電損を算出
するようにした、ケーブルの絶縁性能の低下を診断する
方法である。
【０００９】
【実施例】本発明を図面に示した実施例に基づき更に詳
細に説明する。図６は測定装置の一実施例を示した回路
図である。図６において、符号１０は交流の発振器、１
２は逆加算電圧ＶＸ’（ＶＸの無効成分と逆位相で同じ
大きさの電圧）を測定電圧ＶＯに対して９０度遅らせる
移相器、１３は測定電圧ＶＯをロックインアンプの参照
信号として適当なレベルにするために減衰させる減衰
器、１５は検出抵抗ｒで検出される電圧ＶＸに前記
ＶＸ’を加算するための加算器、１６は前記ＶＸ’を前
記ＶＸの無効成分（測定電圧ＶＯに対して９０度位相の
進んだ成分）の電圧と同し大きさにするための減衰器を
示している。 前記発振器１０は、導体側測定端子１
１、移相器１２及び減衰器１３と接続してある。１４は
外皮側測定端子で、検出抵抗ｒの一端及び加算器１５と
接続してある。検出抵抗ｒの他端はアースしてある。前
記移相器１２はスイッチＳＷ及び減衰器１６を介して前
記加算器１５と接続してある。そうして、減衰器１３と
加算器１５は共にロックインアンプ１７と接続してあ
る。なお、ケーブルの誘電損を測定する場合には、無効
成分が非常に大きいので、ロックインアンプでは損失成
分を直接には精度良く測定出来ない。 しかし、逆加算電
圧を加算することによって精度良く誘電損の測定が可能
となる。 作 用 測定電圧をＶＯとすると、試料ケーブルを通って検出抵
抗ｒで検出される電圧ＶＸには、厳密にはＶＯに対して
９０度位相の進んだ無効成分と、ＶＯと同位相の損失成
分ＶＸＲの合成されたものとなっており、この微少信号
であるＶＸＲを測定する。ＶＸＲはＶＸの無効成分（Ｖ
Ｏに対して９０度位相の進んだ無効成分）をキャンセル
してやれば測定できる。つまり、 測定電圧ＶＯを用い、移相器でＶＸの無効成分と全
く逆位相の電圧（ＶＯに対して９０度位相の遅れた電
圧）を作り出す。 ＶＸの無効成分と逆位相の電圧を減衰器ＡでＶＸの
無効成分と同じ大きさにし、ＶＸ’を作り出す。
（ＶＸ’は、ＶＸの無効成分と逆位相で同じ大きさの電
圧となる。） 加算器でＶＸにＶＸ’を加算することによりＶＸの
損失成分ＶＸＲを得る。そこで、実施例に示す回路を有
する測定器の使用方法は次の通りである。 （１）導体側測定端子１１を測定ケーブルの導体２０
に、また外皮側測定端子１４を測定ケーブルの外皮２１
に接続する。 （２）発振器１０から測定ケーブルの導体２０にＶＯの
測定電圧を印加し、検出抵抗ｒに現れる電圧ＶＸをロッ
クインアンプ１７で測定する。なお、このときスイッチ
ＳＷはＯＦＦとしておく。 （３）スイッチＳＷをＯＮにし、ＶＯの位相を移相器１
２によって−９０°ずらし、減衰器１６で減衰させたＶ
Ｘ’を加算器１５で検出抵抗ｒに現れる電圧ＶＸに加算
する。 （４）ＶＸ’はロックインアンプ１７の値が最小になる
ように減衰器１６でゲインを調整する。 （５）ゲイン調整後に、ロックインアンプ１７に現れる
電圧ＶＸＲが測定できる。なお、上記実施例では基本的
な回路を示しているが、商用電圧が印加されている実使
用状態（活線状態）のケーブルに信号を重畳して得られ
た信号を処理することもできる。また、発振器を使用せ
ずに商用電圧を信号源として測定することもできる等、
本発明は上記実施例に限定されるものではなく、特許請
本発明は上記実施例に限定されるものではなく、特許請
求の範囲の記載内において数々の変形が可能である。
細に説明する。図６は測定装置の一実施例を示した回路
図である。図６において、符号１０は交流の発振器、１
２は逆加算電圧ＶＸ’（ＶＸの無効成分と逆位相で同じ
大きさの電圧）を測定電圧ＶＯに対して９０度遅らせる
移相器、１３は測定電圧ＶＯをロックインアンプの参照
信号として適当なレベルにするために減衰させる減衰
器、１５は検出抵抗ｒで検出される電圧ＶＸに前記
ＶＸ’を加算するための加算器、１６は前記ＶＸ’を前
記ＶＸの無効成分（測定電圧ＶＯに対して９０度位相の
進んだ成分）の電圧と同し大きさにするための減衰器を
示している。 前記発振器１０は、導体側測定端子１
１、移相器１２及び減衰器１３と接続してある。１４は
外皮側測定端子で、検出抵抗ｒの一端及び加算器１５と
接続してある。検出抵抗ｒの他端はアースしてある。前
記移相器１２はスイッチＳＷ及び減衰器１６を介して前
記加算器１５と接続してある。そうして、減衰器１３と
加算器１５は共にロックインアンプ１７と接続してあ
る。なお、ケーブルの誘電損を測定する場合には、無効
成分が非常に大きいので、ロックインアンプでは損失成
分を直接には精度良く測定出来ない。 しかし、逆加算電
圧を加算することによって精度良く誘電損の測定が可能
となる。 作 用 測定電圧をＶＯとすると、試料ケーブルを通って検出抵
抗ｒで検出される電圧ＶＸには、厳密にはＶＯに対して
９０度位相の進んだ無効成分と、ＶＯと同位相の損失成
分ＶＸＲの合成されたものとなっており、この微少信号
であるＶＸＲを測定する。ＶＸＲはＶＸの無効成分（Ｖ
Ｏに対して９０度位相の進んだ無効成分）をキャンセル
してやれば測定できる。つまり、 測定電圧ＶＯを用い、移相器でＶＸの無効成分と全
く逆位相の電圧（ＶＯに対して９０度位相の遅れた電
圧）を作り出す。 ＶＸの無効成分と逆位相の電圧を減衰器ＡでＶＸの
無効成分と同じ大きさにし、ＶＸ’を作り出す。
（ＶＸ’は、ＶＸの無効成分と逆位相で同じ大きさの電
圧となる。） 加算器でＶＸにＶＸ’を加算することによりＶＸの
損失成分ＶＸＲを得る。そこで、実施例に示す回路を有
する測定器の使用方法は次の通りである。 （１）導体側測定端子１１を測定ケーブルの導体２０
に、また外皮側測定端子１４を測定ケーブルの外皮２１
に接続する。 （２）発振器１０から測定ケーブルの導体２０にＶＯの
測定電圧を印加し、検出抵抗ｒに現れる電圧ＶＸをロッ
クインアンプ１７で測定する。なお、このときスイッチ
ＳＷはＯＦＦとしておく。 （３）スイッチＳＷをＯＮにし、ＶＯの位相を移相器１
２によって−９０°ずらし、減衰器１６で減衰させたＶ
Ｘ’を加算器１５で検出抵抗ｒに現れる電圧ＶＸに加算
する。 （４）ＶＸ’はロックインアンプ１７の値が最小になる
ように減衰器１６でゲインを調整する。 （５）ゲイン調整後に、ロックインアンプ１７に現れる
電圧ＶＸＲが測定できる。なお、上記実施例では基本的
な回路を示しているが、商用電圧が印加されている実使
用状態（活線状態）のケーブルに信号を重畳して得られ
た信号を処理することもできる。また、発振器を使用せ
ずに商用電圧を信号源として測定することもできる等、
本発明は上記実施例に限定されるものではなく、特許請
本発明は上記実施例に限定されるものではなく、特許請
求の範囲の記載内において数々の変形が可能である。
【００１０】
【発明の効果】以上の説明から明らかなように、ｔａｎ
δ測定法で測定すると、ケーブルの一部分の絶縁性能が
低下しているケーブル、例えばケーブルの一部分に水ト
リーが発生して絶縁性能が低下しているケーブルも、ケ
ーブル全長で見ると水トリーが発生していないケーブル
と同じような測定結果となる。しかし、本発明によれ
ば、被測定ケーブルの絶縁体の誘電損を測定し、正常な
ケーブルの絶縁体の誘電損と比較して誘電損が増加して
おれば、一部分に水トリーが発生しているケーブルでも
正常部分の影響を受けずに絶縁性能の低下を測定するこ
とができる効果がある。また、ケーブルの誘電損を測定
する場合には、無効成分が非常に大きいので、ロックイ
ンアンプでは損失成分を直接には精度良く測定出来な
い。 しかし、逆加算電圧を加算することによって精度良
く誘電損の測定が可能となる。
δ測定法で測定すると、ケーブルの一部分の絶縁性能が
低下しているケーブル、例えばケーブルの一部分に水ト
リーが発生して絶縁性能が低下しているケーブルも、ケ
ーブル全長で見ると水トリーが発生していないケーブル
と同じような測定結果となる。しかし、本発明によれ
ば、被測定ケーブルの絶縁体の誘電損を測定し、正常な
ケーブルの絶縁体の誘電損と比較して誘電損が増加して
おれば、一部分に水トリーが発生しているケーブルでも
正常部分の影響を受けずに絶縁性能の低下を測定するこ
とができる効果がある。また、ケーブルの誘電損を測定
する場合には、無効成分が非常に大きいので、ロックイ
ンアンプでは損失成分を直接には精度良く測定出来な
い。 しかし、逆加算電圧を加算することによって精度良
く誘電損の測定が可能となる。
【図１】本発明に係る方法を実施する測定装置を示す図
である。
である。
【図２】本発明に係る方法の測定原理を示すベクトル図
である。
である。
【図３】本発明に係る方法の測定原理を示すベクトル図
関係を示すグラフである。
関係を示すグラフである。
【図５】印加電流の周波数とｔａｎδとの関係を示すグ
ラフである。
ラフである。
【図６】本発明に係る方法に使用する測定装置の一実施
例を示す図である。
例を示す図である。
１０ 発振器 １２ 移相器 １３ 減衰器 １５ 加算器 １６ 減衰器
Claims (1)
- 【請求項１】 ケーブルの絶縁性能の低下を診断する方
法であって、この方法は、 絶縁性能の低下を測定する ケーブルの絶縁体の誘電損を
測定するステップ、 該誘電損と 正常なケーブルの絶縁体の誘電損とを比較し
て誘電損の増加の有無を判断するステップ、 を含み、前記誘電損の測定は、 交流電圧を信号源とし、ケーブルに流れる電流を測定信
号として検出し、前記交流電圧に対して９０度位相が遅
れた逆加算信号を発生させて前記測定信号に加算して、
前記交流電圧を参照信号としたロックインアンプに入力
し、ロックインアンプの出力が最小になるように逆加算
信号の大きさを調整して、その出力の大きさから誘電損
を算出するようにしたことを特徴とする、 ケーブルの絶縁性能の低下を診断する方法。
Priority Applications (2)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP4309485A JP2535292B2 (ja) | 1992-10-23 | 1992-10-23 | ケ―ブルの絶縁性能の低下を診断する方法 |
| US08/139,702 US5469066A (en) | 1992-10-23 | 1993-10-22 | Method and apparatus for measuring deterioration of power cable insulation |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP4309485A JP2535292B2 (ja) | 1992-10-23 | 1992-10-23 | ケ―ブルの絶縁性能の低下を診断する方法 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH06138169A JPH06138169A (ja) | 1994-05-20 |
| JP2535292B2 true JP2535292B2 (ja) | 1996-09-18 |
Family
ID=17993557
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP4309485A Expired - Lifetime JP2535292B2 (ja) | 1992-10-23 | 1992-10-23 | ケ―ブルの絶縁性能の低下を診断する方法 |
Country Status (2)
| Country | Link |
|---|---|
| US (1) | US5469066A (ja) |
| JP (1) | JP2535292B2 (ja) |
Families Citing this family (24)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
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