JP2516704Y2 - 共焦点用光スキャナ - Google Patents

共焦点用光スキャナ

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JP2516704Y2
JP2516704Y2 JP3730191U JP3730191U JP2516704Y2 JP 2516704 Y2 JP2516704 Y2 JP 2516704Y2 JP 3730191 U JP3730191 U JP 3730191U JP 3730191 U JP3730191 U JP 3730191U JP 2516704 Y2 JP2516704 Y2 JP 2516704Y2
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JP
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pinhole
substrate
optical scanner
center
pinhole substrate
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健雄 田名網
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Yokogawa Electric Corp
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Yokogawa Electric Corp
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Description

【考案の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】本考案は、共焦点顕微鏡などに用
いるピンホ−ル基板を走査する共焦点用光スキャナに関
し、特にピンホ−ル基板の回転時の偏心を減少させるも
のである。
【0002】
【従来の技術】図4は共焦点用光スキャナに用いるピン
ホ−ル基板の従来例、図5は本願出願人による特願平0
1−329164号『ピンホ−ル基板及びその作製方
法』による共焦点用光スキャナに用いるピンホ−ル基板
の先行例である。図4に示すピンホ−ル基板3は、基板
32に複数のピンホ−ル31が螺旋状に形成されてい
る。また、図5に示すピンホ−ル基板3aは、ピンホ−
ル31が設けられた基板32の入射光側に透明樹脂が球
面状に硬化して成るマイクロレンズ33がピンホ−ル3
1の入口部分に形成されている。
【0003】図6は図4および図5に示すピンホ−ル基
板を用いた共焦点用光スキャナを共焦点顕微鏡に応用し
た一例を示す構成図である。図6において、図示しない
光源からの出射光は、偏向子1a、ビ−ムスプリッタ2
を通って、ピンホ−ル基板3(3a)に照射される。こ
の照射光の内、ピンホ−ル基板3(3a)に螺旋状に配
置された多数のピンホ−ル31の幾つかを通過した光
は、1/4波長板4、対物レンズ5を経て試料6に集光
される。試料6からの反射光は、同一の光路を通って、
ピンホ−ル基板3(3a)のピンホ−ル31の1つに集
光され、ピンホ−ル31を通って、ビ−ムスプリッタ
2、偏向子1bを経て、接眼レンズ7を介して、試料6
の像を目で捕らえることができる。この装置では、ピン
ホ−ル基板3(3a)をモ−タ8で一定速度で回転させ
ており、ピンホ−ル基板3(3a)の回転に伴うピンホ
−ル31の移動により、試料6への集束光点を走査して
いる。
【0004】
【考案が解決しようとする課題】この図6に示す共焦点
用光スキャナを用いた共焦点顕微鏡において、ピンホ−
ル基板3(3a)は、モ−タ8で一定速度で回転させ、
ピンホ−ル基板3(3a)の回転に伴うピンホ−ル31
の移動により、試料6への集束光点を走査しているた
め、ピンホ−ル基板3(3a)の中心、即ち、ピンホ−
ルまたはマイクロレンズに対しての中心とモ−タ8によ
る回転中心とを一致させる必要がある。
【0005】しかしながら、ピンホ−ル基板3(3a)
の中心は離散的なピンホ−ル31やマイクロレンズ33
を介して合わせなければならないため、その中心位置を
正確に求めることが困難であり、ピンホ−ル基板3(3
a)の中心とモ−タ8などによる回転中心とを一致させ
ることができず、回転時の偏心を招いていた。
【0006】本考案は上記従来技術の課題を踏まえて成
されたものであり、共焦点用光スキャナに用いるピンホ
−ル基板に、基板の中心位置を調整するための連結した
トラックを設けることにより、容易にピンホ−ル基板の
中心とモ−タなどによる回転中心を一致させ、回転時の
偏心を減少させることができる共焦点用光スキャナを提
供することを目的としたものである。
【0007】
【課題を解決するための手段】上記課題を解決するため
の本考案の構成は、ピンホ−ル基板を回転させ、このピ
ンホ−ル基板を通過した照射光を試料に対して走査する
共焦点用光スキャナにおいて、前記ピンホ−ル基板は、
複数のピンホ−ルまたはこのピンホ−ルの入射光側の入
口に形成されたマイクロレンズを備えた構成であって、
このピンホ−ル基板の入射光側の面かつ前記ピンホ−ル
またはマイクロレンズが形成された領域より内周側また
は外周側に少なくとも1本の濃淡または凸凹または屈折
率分布による連結したトラックを形成したことを特徴と
するものである。
【0008】
【作用】本考案によれば、共焦点用光スキャナに用いる
ピンホ−ル基板に形成した連結したトラックにより、容
易にピンホ−ル基板の中心を求めることができ、このピ
ンホ−ル基板の中心とモ−タなどによる回転中心を合わ
せることにより、回転時の偏心を減少できる。
【0009】
【実施例】以下、本考案を図面に基づいて説明する。図
1は本考案の共焦点用光スキャナに用いるピンホ−ル基
板の一実施例を示す構成図である。なお、図1において
図4および図5と同一要素には同一符号を付して重複す
る説明は省略する。図1において図4および図5との相
違点は、螺旋状に配置された複数のピンホ−ル31また
はこのピンホ−ル31の入射光側の入口に形成されたマ
イクロレンズ33を備えたピンホ−ル基板3または3a
の入射光側の面かつピンホ−ル31またはマイクロレン
ズ33が形成された領域より外周側に1本の凸形状の連
結したトラック34を形成した点である。
【0010】この1本の凸形状の連結したトラック34
は、例えば、凸形状のマイクロレンズ33が結晶化ガラ
スにマイクロレンズ部分を遮光したマスクを密着させ、
光によってマイクロレンズ部分以外を結晶化させ、体積
収縮をおこさせることにより形成できることを利用し
て、このマスクを用いて、マイクロレンズと同芯の1本
の凸形状の連結したトラック部分を遮光することは容易
である。このようにしたマスクを用いて、1本の凸形状
の連結したトラック34を高精度に形成することができ
る。この連結したトラック34もマイクロレンズ33の
中心をその中心としている。
【0011】ピンホ−ル基板3bの中心とモ−タなどに
よる回転の中心(ピンホ−ル基板3bのモ−タクランプ
の中心)を一致させるには、図2に示すように、連結し
たトラック34を顕微鏡で観察しながら、ピンホ−ル基
板3bを回転させ、連結したトラック34の偏心が最少
となる位置でモ−タクランプとピンホ−ル基板3bを接
着やねじ止めなどにより固定すれば良い。
【0012】ここで、図3は図1のピンホ−ル基板を用
いた本考案の共焦点用光スキャナを共焦点顕微鏡に応用
した一実施例を示す構成図である。図3において、図示
しないレ−ザ光源からの出射光(レ−ザ光だけでなく、
白色光などでも良い)は、偏光ビ−ムスプリッタ2aに
より、ピンホ−ル基板3b上に平行光として入射する。
ピンホ−ル基板3bに入射された光は、図1において、
マイクロレンズ33により、ピンホ−ル31の入口に集
光される。図3に戻り、ピンホ−ル31を通った光は、
1/4波長板4を通過後、対物レンズ5により、試料6
上に照射される。試料6からの反射光は、再びピンホ−
ル基板3bを通って、偏光ビ−ムスプリッタ2aを介し
て、受光器8に入射され、モニタ9に試料6の像が表示
される。ピンホ−ル基板3bは、図示しないモ−タなど
により、一定速度で回転しており、ピンホ−ル基板3b
の回転により、ピンホ−ル31の像が試料6上を走査し
ている。なお、ピンホ−ル基板3b上のピンホ−ル31
の像と試料6上の光スポット(ピンホ−ルの像)が共焦
点関係にあり、レ−ザ光源からの入射光と試料6からの
反射光共に、ピンホ−ル31を通過するため、共焦点効
果による高い分解能を得られる。また、この場合、共焦
点用光スキャナに用いるピンホ−ル基板は、基板の中心
位置を調整するための連結したトラックを設けた図1の
ものを使用している。したがって、容易にピンホ−ル基
板の中心とモ−タなどによる回転中心を一致させ、回転
時の偏心を減少させることができる。
【0013】なお、上記実施例において、螺旋状に配置
された複数のピンホ−ル31またはこのピンホ−ル31
の入射光側の入口に形成されたマイクロレンズ33を備
えたピンホ−ル基板3または3aの入射光側の面かつピ
ンホ−ル31またはマイクロレンズ33が形成された領
域より外周側に形成した1本の凸形状の連結したトラッ
ク34は、ピンホ−ル31またはマイクロレンズ33が
形成された領域より内周側に形成しても同様の効果を得
ることができる。
【0014】又、マイクロレンズが凸形ではなく、低屈
折率の基板に高屈折率物質をド−プした屈折率分布形の
場合においても、その形成はマスクを用いるため、容易
に本考案の連結したトラックを形成できる。
【0015】更に、マイクロレンズの代わりにフレネル
レンズを用いたピンホ−ル基板においては、位相形フレ
ネルレンズの場合、フレネルレンズを描画する光ビ−ム
により、容易に本考案の連結したトラックを屈折率分布
として形成できる。振幅形フレネルレンズの場合には、
フレネルレンズは金属薄膜の有無などにより形成されて
いるため、本考案の連結したトラックも濃淡の光量振幅
形として容易に形成できる。
【0016】したがって、いずれの共焦点用光スキャナ
に用いるピンホ−ル基板においても、ピンホ−ル基板の
入射光側の面かつピンホ−ル31またはマイクロレンズ
33が形成された領域より外周側に少なくとも1本の濃
淡または凸凹または屈折率分布による連結したトラック
34を形成することは容易であり、容易にピンホ−ル基
板の中心を求めることができ、このピンホ−ル基板の中
心とモ−タなどによる回転中心を合わせることにより、
回転時の偏心を減少できる。
【0017】更に、ピンホ−ル基板の中心とモ−タなど
による回転中心の位置合わせは、上記実施例に示した目
視によるものだけではなく、プッシュプル方式や3ビ−
ム方式を用いてアナログ量として評価することによって
も良い。
【0018】
【考案の効果】以上、実施例と共に具体的に説明したよ
うに、本考案によれば、共焦点用光スキャナに用いるピ
ンホ−ル基板に基板の中心位置を調整するための連結し
たトラックを設けることにより、容易にピンホ−ル基板
の中心とモ−タなどによる回転中心を一致させることが
でき、回転時の偏心を減少させることができる共焦点用
光スキャナを実現できる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本考案の共焦点用光スキャナに用いるピンホ−
ル基板の一実施例を示す構成図である。
【図2】図1のピンホ−ル基板の中心とモ−タなどによ
る回転の中心との位置合わせ動作を示す図である。
【図3】図1のピンホ−ル基板を用いた本考案の共焦点
用光スキャナを共焦点顕微鏡に応用した一実施例を示す
構成図である。
【図4】共焦点用光スキャナに用いるピンホ−ル基板の
従来例である。
【図5】共焦点用光スキャナに用いるピンホ−ル基板の
先行例である。
【図6】図4および図5に示すピンホ−ル基板を用いた
共焦点用光スキャナを共焦点顕微鏡に応用した一例を示
す構成図である。
【符号の説明】
3b ピンホ−ル基板 31 ピンホ−ル 32 基板 33 マイクロレンズ 34 連結したトラック

Claims (1)

    (57)【実用新案登録請求の範囲】
  1. 【請求項1】 ピンホ−ル基板を回転させ、このピンホ
    −ル基板を通過した照射光を試料に対して走査する共焦
    点用光スキャナにおいて、前記ピンホ−ル基板は、複数
    のピンホ−ルまたはこのピンホ−ルの入射光側の入口に
    形成されたマイクロレンズを備えた構成であって、この
    ピンホ−ル基板の入射光側の面かつ前記ピンホ−ルまた
    はマイクロレンズが形成された領域より内周側または外
    周側に少なくとも1本の濃淡または凸凹または屈折率分
    布による連結したトラックを形成したことを特徴とする
    共焦点用光スキャナ。
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JP2-400288 1990-12-10
JP40028890 1990-12-10
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JPH0489906U JPH0489906U (ja) 1992-08-05
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