JP2570631Y2 - 共焦点用光スキャナ - Google Patents
共焦点用光スキャナInfo
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- JP2570631Y2 JP2570631Y2 JP3640592U JP3640592U JP2570631Y2 JP 2570631 Y2 JP2570631 Y2 JP 2570631Y2 JP 3640592 U JP3640592 U JP 3640592U JP 3640592 U JP3640592 U JP 3640592U JP 2570631 Y2 JP2570631 Y2 JP 2570631Y2
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- Japan
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- pinhole
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Description
【０００１】
【産業上の利用分野】本考案は、共焦点蛍光顕微鏡など
に用いるピンホ−ル基板を走査する共焦点用光スキャナ
に関し、特に試料の位置探しやピント合わせを容易に
し、微弱蛍光測定を可能とするものである。
に用いるピンホ−ル基板を走査する共焦点用光スキャナ
に関し、特に試料の位置探しやピント合わせを容易に
し、微弱蛍光測定を可能とするものである。
【０００２】
【従来の技術】図２は本願出願人による共焦点用光スキ
ャナの先行例であり、共焦点蛍光顕微鏡に用いたもので
ある。図２において、１は共焦点用光スキャナであり、
この共焦点用光スキャナ１は、例えば、図３（イ）に示
すガラス基板の片面に形成された複数のフレネルレンズ
が、焦点位置を一画面分づつ半径方向にＰr だけ順次ず
らされて形成された集光ディスク１１１と、図３（ロ）
に示す基板に形成された複数のピンホ−ルが、半径方向
にＰr（周方向にＰθ）だけ順次ずらされて形成された
ピンホ−ルディスク１１２と、集光ディスク１１１とピ
ンホ−ルディスク１１２をフレネルレンズの焦点位置に
それぞれピンホ−ルが配置されるように連結するドラム
１１３から成るピンホ−ル基板１１と、集光ディスク１
１１とピンホ−ルディスク１１２の間に設置されたビ−
ムスプリッタ１２と、ピンホ−ル基板１１を一定速度で
回転するモ−タ１３で構成される。２は対物レンズであ
り、ピンホ−ルからの出射光を試料３に照射すると共
に、試料３からの戻り光が、再びピンホ−ルに入射する
位置に設置されている。４はフィルタ、５は接眼レンズ
である。
ャナの先行例であり、共焦点蛍光顕微鏡に用いたもので
ある。図２において、１は共焦点用光スキャナであり、
この共焦点用光スキャナ１は、例えば、図３（イ）に示
すガラス基板の片面に形成された複数のフレネルレンズ
が、焦点位置を一画面分づつ半径方向にＰr だけ順次ず
らされて形成された集光ディスク１１１と、図３（ロ）
に示す基板に形成された複数のピンホ−ルが、半径方向
にＰr（周方向にＰθ）だけ順次ずらされて形成された
ピンホ−ルディスク１１２と、集光ディスク１１１とピ
ンホ−ルディスク１１２をフレネルレンズの焦点位置に
それぞれピンホ−ルが配置されるように連結するドラム
１１３から成るピンホ−ル基板１１と、集光ディスク１
１１とピンホ−ルディスク１１２の間に設置されたビ−
ムスプリッタ１２と、ピンホ−ル基板１１を一定速度で
回転するモ−タ１３で構成される。２は対物レンズであ
り、ピンホ−ルからの出射光を試料３に照射すると共
に、試料３からの戻り光が、再びピンホ−ルに入射する
位置に設置されている。４はフィルタ、５は接眼レンズ
である。
【０００３】このような構成において、図示しないレ−
ザ光源からの出射光は、共焦点用光スキャナ１に入射さ
れる。共焦点用光スキャナ１に入射された光は、ピンホ
−ル基板１１の集光ディスク１１１上に形成されたフレ
ネルレンズにより集光され、ビ−ムスプリッタ１２を透
過して、ピンホ−ルディスク１１２上に形成されたピン
ホ−ルに集光する。ピンホ−ルを通った光は、対物レン
ズ２により、試料３上に照射される。試料３からの戻り
光は、再び対物レンズ２、ピンホールディスク１１２を
通って、ビ−ムスプリッタ１２で反射され（入射光の光
軸方向と直角方向に曲げられ）、フィルタ４および接眼
レンズ５を介して試料３の像を観察できる。この例で
は、ピンホ−ル基板１１がモ−タ１３により一定速度で
回転しており、ピンホール基板１１の回転により、ピン
ホ−ルの像が試料３上を走査している。また、ピンホ−
ルディスク１１２上のピンホ−ルと試料３上の光スポッ
ト（ピンホ−ルの像）が共焦点関係にあり、図示しない
レ−ザ光源からの入射光と試料３からの戻り光共に、ピ
ンホ−ルを通過するため、共焦点効果による高い分解能
を得られると共に、試料３からの戻り光は、集光ディス
ク１１１を通過しないため、ピンホ−ルの径によって得
られる共焦点の分解能を保持できる。
ザ光源からの出射光は、共焦点用光スキャナ１に入射さ
れる。共焦点用光スキャナ１に入射された光は、ピンホ
−ル基板１１の集光ディスク１１１上に形成されたフレ
ネルレンズにより集光され、ビ−ムスプリッタ１２を透
過して、ピンホ−ルディスク１１２上に形成されたピン
ホ−ルに集光する。ピンホ−ルを通った光は、対物レン
ズ２により、試料３上に照射される。試料３からの戻り
光は、再び対物レンズ２、ピンホールディスク１１２を
通って、ビ−ムスプリッタ１２で反射され（入射光の光
軸方向と直角方向に曲げられ）、フィルタ４および接眼
レンズ５を介して試料３の像を観察できる。この例で
は、ピンホ−ル基板１１がモ−タ１３により一定速度で
回転しており、ピンホール基板１１の回転により、ピン
ホ−ルの像が試料３上を走査している。また、ピンホ−
ルディスク１１２上のピンホ−ルと試料３上の光スポッ
ト（ピンホ−ルの像）が共焦点関係にあり、図示しない
レ−ザ光源からの入射光と試料３からの戻り光共に、ピ
ンホ−ルを通過するため、共焦点効果による高い分解能
を得られると共に、試料３からの戻り光は、集光ディス
ク１１１を通過しないため、ピンホ−ルの径によって得
られる共焦点の分解能を保持できる。
【０００４】
【考案が解決しようとする課題】このような上記従来技
術に示す共焦点用光スキャナを用いた共焦点蛍光顕微鏡
において、試料の位置探しやピント合わせ時には、回転
しているピンホール基板１１を図中の右方向へずらし
て、レーザ光は蛍光が褪色しないように、ＮＤフィルタ
を用いて減衰させ、通常の落射蛍光顕微鏡の光学系とし
ていた。その状態で、ピンホール基板１１を図中の左方
向へずらして挿入し、ＮＤフィルタを取り外し、光量を
増加させ、共焦点蛍光像を得ていた。なお、ピンホール
基板を入れると、共焦点のスライス像が得られる代わり
に光量が減少してしまうため、光量を増加させる必要が
ある。
術に示す共焦点用光スキャナを用いた共焦点蛍光顕微鏡
において、試料の位置探しやピント合わせ時には、回転
しているピンホール基板１１を図中の右方向へずらし
て、レーザ光は蛍光が褪色しないように、ＮＤフィルタ
を用いて減衰させ、通常の落射蛍光顕微鏡の光学系とし
ていた。その状態で、ピンホール基板１１を図中の左方
向へずらして挿入し、ＮＤフィルタを取り外し、光量を
増加させ、共焦点蛍光像を得ていた。なお、ピンホール
基板を入れると、共焦点のスライス像が得られる代わり
に光量が減少してしまうため、光量を増加させる必要が
ある。
【０００５】したがって、操作性が悪く、蛍光量が微弱
な場合は、ピンホールを通過できないため、観察不可能
になる場合があった。
な場合は、ピンホールを通過できないため、観察不可能
になる場合があった。
【０００６】本考案は、上記従来技術の課題を踏まえて
成されたものであり、回転しているピンホール基板およ
びＮＤフィルタの取付け取り外しをしなくても、試料の
位置探しやピント合わせが可能になるようにし、また、
微弱蛍光試料においても、半共焦点の画像を得ることが
できる共焦点用光スキャナを提供することを目的とした
ものである。
成されたものであり、回転しているピンホール基板およ
びＮＤフィルタの取付け取り外しをしなくても、試料の
位置探しやピント合わせが可能になるようにし、また、
微弱蛍光試料においても、半共焦点の画像を得ることが
できる共焦点用光スキャナを提供することを目的とした
ものである。
【０００７】
【課題を解決するための手段】上記課題を解決するため
の本考案の構成は、ピンホ−ル基板を回転させ、このピ
ンホ−ル基板を通過した照射光を試料に対して走査する
共焦点用光スキャナにおいて、複数の集光手段が形成さ
れた集光ディスクと、複数のピンホ−ルが形成されたピ
ンホ−ルディスクと、前記集光ディスクとピンホ−ルデ
ィスクとを前記複数の集光手段の焦点位置に前記ピンホ
−ルがそれぞれ配置されるように連結するドラムから成
るピンホ−ル基板と、このピンホ−ル基板を一定速度で
回転させる回転手段と、前記ピンホ−ル基板の集光ディ
スクとピンホ−ルディスクとの間に設置された第１の分
岐光学系と、前記ピンホール基板とこのピンホ−ル基板
からの出射光を前記試料に照射すると共に、前記試料か
らの戻り光が再び前記ピンホ−ル基板のピンホールに入
射する位置に設置された対物レンズとの間に設置され、
前記試料からの戻り光を前記ピンホール基板を通さずに
光軸の側方へ反射させる第２の分岐光学系と、この第２
の分岐光学系を光路から取付け取り外しするための手段
と、を備え、前記第２の分岐光学系を取り付けた状態で
は半共焦点の非スライス像を、また、前記第２の分岐光
学系を光路から取り外した状態では共焦点のスライス像
を得られるようにしたことを特徴とするものである。
の本考案の構成は、ピンホ−ル基板を回転させ、このピ
ンホ−ル基板を通過した照射光を試料に対して走査する
共焦点用光スキャナにおいて、複数の集光手段が形成さ
れた集光ディスクと、複数のピンホ−ルが形成されたピ
ンホ−ルディスクと、前記集光ディスクとピンホ−ルデ
ィスクとを前記複数の集光手段の焦点位置に前記ピンホ
−ルがそれぞれ配置されるように連結するドラムから成
るピンホ−ル基板と、このピンホ−ル基板を一定速度で
回転させる回転手段と、前記ピンホ−ル基板の集光ディ
スクとピンホ−ルディスクとの間に設置された第１の分
岐光学系と、前記ピンホール基板とこのピンホ−ル基板
からの出射光を前記試料に照射すると共に、前記試料か
らの戻り光が再び前記ピンホ−ル基板のピンホールに入
射する位置に設置された対物レンズとの間に設置され、
前記試料からの戻り光を前記ピンホール基板を通さずに
光軸の側方へ反射させる第２の分岐光学系と、この第２
の分岐光学系を光路から取付け取り外しするための手段
と、を備え、前記第２の分岐光学系を取り付けた状態で
は半共焦点の非スライス像を、また、前記第２の分岐光
学系を光路から取り外した状態では共焦点のスライス像
を得られるようにしたことを特徴とするものである。
【０００８】
【作用】本考案によれば、第２の分岐光学系を付加する
ことにより、試料の位置探しやピント合わせの際に、ピ
ンホール基板およびレーザのＮＤフィルタを取付け取り
外しする必要がなく、さらに微弱蛍光試料においても画
像を得ることができる。
ことにより、試料の位置探しやピント合わせの際に、ピ
ンホール基板およびレーザのＮＤフィルタを取付け取り
外しする必要がなく、さらに微弱蛍光試料においても画
像を得ることができる。
【０００９】
【実施例】以下、本考案を図面に基づいて説明する。図
１は本考案の共焦点用光スキャナを共焦点蛍光顕微鏡に
用いた一実施例を示す構成図である。なお、図１におい
て図２と同一要素には同一符号を付して重複する説明は
省略する。図１において、図２との相違点は、共焦点用
光スキャナ１ａを、ピンホールディスク１１１と対物レ
ンズ２との間に、試料３からの戻り光をピンホール基板
１１を通さずに光軸の側方へ反射させる第２の分岐光学
系１４を設けた構成とした点である。この第２の分岐光
学系１４として、図１では、例えばビームスプリッタ１
４１とミラー１４２，１４３を用いて構成している。な
お、この第２の分岐光学系１４は予め調整されており、
図示しない駆動機構により、光路からの取り外し、およ
び、光路への取付けが可能とされている。
１は本考案の共焦点用光スキャナを共焦点蛍光顕微鏡に
用いた一実施例を示す構成図である。なお、図１におい
て図２と同一要素には同一符号を付して重複する説明は
省略する。図１において、図２との相違点は、共焦点用
光スキャナ１ａを、ピンホールディスク１１１と対物レ
ンズ２との間に、試料３からの戻り光をピンホール基板
１１を通さずに光軸の側方へ反射させる第２の分岐光学
系１４を設けた構成とした点である。この第２の分岐光
学系１４として、図１では、例えばビームスプリッタ１
４１とミラー１４２，１４３を用いて構成している。な
お、この第２の分岐光学系１４は予め調整されており、
図示しない駆動機構により、光路からの取り外し、およ
び、光路への取付けが可能とされている。
【００１０】このような構成において、レーザ光はピン
ホール基板１１により走査され、ビームスプリッタ１
２，第２の分岐光学系１４のビームスプリッタ１４１を
透過して、対物レンズ２により試料３上に絞られる。試
料３からの戻り光（蛍光）は対物レンズ２を介して、第
２の分岐光学系１４のビ−ムスプリッタ１４１，ミラー
１４２，１４３で反射され、光量は減少せずに、接眼レ
ンズ５を介して、試料３の像が観察できる。したがっ
て、この状態で、ピンホール基板１１およびレーザのＮ
Ｄフィルタの取付け取り外しを行わずに、試料の位置探
しやピント合わせができる。また、この状態では半共焦
点の画像となり、微弱蛍光試料の場合に有効となる。一
方、第２の分岐光学系１４を図示しない駆動機構により
光路から取り外すことにより、従来技術に示した図２装
置と同様の共焦点画像が得られる。
ホール基板１１により走査され、ビームスプリッタ１
２，第２の分岐光学系１４のビームスプリッタ１４１を
透過して、対物レンズ２により試料３上に絞られる。試
料３からの戻り光（蛍光）は対物レンズ２を介して、第
２の分岐光学系１４のビ−ムスプリッタ１４１，ミラー
１４２，１４３で反射され、光量は減少せずに、接眼レ
ンズ５を介して、試料３の像が観察できる。したがっ
て、この状態で、ピンホール基板１１およびレーザのＮ
Ｄフィルタの取付け取り外しを行わずに、試料の位置探
しやピント合わせができる。また、この状態では半共焦
点の画像となり、微弱蛍光試料の場合に有効となる。一
方、第２の分岐光学系１４を図示しない駆動機構により
光路から取り外すことにより、従来技術に示した図２装
置と同様の共焦点画像が得られる。
【００１１】結果、本考案の共焦点用光スキャナを用い
ることにより、 （１）半共焦点の非スライス像：光量が大きく、試料全
体が見えるため、ピント合わせ時などの粗調に好適であ
る。 （２）共焦点のスライス像：高分解能のため、精密な計
測に好適であり、ピント合わせ時などの微調も容易であ
る。 この２つの場合を第２の分岐光学系の光路からの取付け
取り外しだけで、使い分けることができる。
ることにより、 （１）半共焦点の非スライス像：光量が大きく、試料全
体が見えるため、ピント合わせ時などの粗調に好適であ
る。 （２）共焦点のスライス像：高分解能のため、精密な計
測に好適であり、ピント合わせ時などの微調も容易であ
る。 この２つの場合を第２の分岐光学系の光路からの取付け
取り外しだけで、使い分けることができる。
【００１２】なお、上記実施例において、第２の分岐光
学系１４を構成するビームスプリッタ１４１の代わり
に、ダイクロイックミラー、ハーフミラー、偏光ビーム
スプリッタと１／４波長板の組み合わせを用いても良
く、同様の効果得られる。
学系１４を構成するビームスプリッタ１４１の代わり
に、ダイクロイックミラー、ハーフミラー、偏光ビーム
スプリッタと１／４波長板の組み合わせを用いても良
く、同様の効果得られる。
【００１３】
【考案の効果】以上、実施例と共に具体的に説明したよ
うに、本考案によれば、第２の分岐光学系を光路から取
付け取り外しするだけで、ピンホールによる蛍光光量の
減少をなくし、試料の位置探しやピント合わせが容易に
でき、また微弱蛍光の試料で共焦点画像の観察が困難な
場合にでも半共焦点の画像が得られるなどの効果を有す
る共焦点用光スキャナを実現できる。
うに、本考案によれば、第２の分岐光学系を光路から取
付け取り外しするだけで、ピンホールによる蛍光光量の
減少をなくし、試料の位置探しやピント合わせが容易に
でき、また微弱蛍光の試料で共焦点画像の観察が困難な
場合にでも半共焦点の画像が得られるなどの効果を有す
る共焦点用光スキャナを実現できる。
【図１】本考案の共焦点用光スキャナを共焦点蛍光顕微
鏡に用いた一実施例を示す構成図である。
鏡に用いた一実施例を示す構成図である。
【図２】共焦点用光スキャナを用いた共焦点蛍光顕微鏡
の一例を示す構成図である。
の一例を示す構成図である。
【図３】共焦点用光スキャナに用いる集光ディスクおよ
びピンホ−ルディスクの一例である。
びピンホ−ルディスクの一例である。
１ａ 共焦点用光スキャナ ２ 対物レンズ ３ 試料 １１ ピンホ−ル基板 １２、１４１ ビ−ムスプリッタ １３ モ−タ １４ 第２の分岐光学系 １１１ 集光ディスク １１２ ピンホ−ルディスク １１３ ドラム １４２、１４３ ミラー
Claims (1)
- 【請求項１】 ピンホ−ル基板を回転させ、このピンホ
−ル基板を通過した照射光を試料に対して走査する共焦
点用光スキャナにおいて、 複数の集光手段が形成された集光ディスクと、複数のピ
ンホ−ルが形成されたピンホ−ルディスクと、前記集光
ディスクとピンホ−ルディスクとを前記複数の集光手段
の焦点位置に前記ピンホ−ルがそれぞれ配置されるよう
に連結するドラムから成るピンホ−ル基板と、 このピンホ−ル基板を一定速度で回転させる回転手段
と、 前記ピンホ−ル基板の集光ディスクとピンホ−ルディス
クとの間に設置された第１の分岐光学系と、 前記ピンホール基板とこのピンホ−ル基板からの出射光
を前記試料に照射すると共に、前記試料からの戻り光が
再び前記ピンホ−ル基板のピンホールに入射する位置に
設置された対物レンズとの間に設置され、前記試料から
の戻り光を前記ピンホール基板を通さずに光軸の側方へ
反射させる第２の分岐光学系と、 この第２の分岐光学系を光路から取付け取り外しするた
めの手段と、 を備え、 前記第２の分岐光学系を取り付けた状態では半共焦点の
非スライス像を、また、前記第２の分岐光学系を光路か
ら取り外した状態では共焦点のスライス像を得られるよ
うにしたことを特徴とする共焦点用光スキャナ。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP3640592U JP2570631Y2 (ja) | 1992-05-29 | 1992-05-29 | 共焦点用光スキャナ |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP3640592U JP2570631Y2 (ja) | 1992-05-29 | 1992-05-29 | 共焦点用光スキャナ |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0596816U JPH0596816U (ja) | 1993-12-27 |
| JP2570631Y2 true JP2570631Y2 (ja) | 1998-05-06 |
Family
ID=12468936
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP3640592U Expired - Fee Related JP2570631Y2 (ja) | 1992-05-29 | 1992-05-29 | 共焦点用光スキャナ |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP2570631Y2 (ja) |
Families Citing this family (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2002023063A (ja) * | 2000-07-07 | 2002-01-23 | Nikon Corp | 紫外線顕微鏡及びその制御方法 |
| JP2008185432A (ja) * | 2007-01-30 | 2008-08-14 | Yokogawa Electric Corp | 創薬スクリーニング装置 |
| JP5257605B2 (ja) * | 2009-02-06 | 2013-08-07 | 横河電機株式会社 | 共焦点顕微鏡装置 |
-
1992
- 1992-05-29 JP JP3640592U patent/JP2570631Y2/ja not_active Expired - Fee Related
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH0596816U (ja) | 1993-12-27 |
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Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 Effective date: 19980113 |
|
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