JP3523348B2 - 細隙灯顕微鏡 - Google Patents
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Description
灯顕微鏡に係り、さらに詳しくは共焦点走査顕微鏡観察
が可能な装置に関する。
ト光を投射し、このスリット光により照明された対象部
位を双眼実体顕微鏡で拡大観察する装置であり、眼科分
野において広く使用されているものである。従来の細隙
灯顕微鏡による観察では、眼内の中間透光体に混濁があ
ると、この混濁により投射したスリット光が散乱反射し
てフレアがかかり、対象部位の鮮明な像を得ることが困
難な場合があった。散乱光を除き鮮明な像を得るための
顕微鏡としては、米国特許第4884880号及び同第
4927254号に記載された、キノ顕微鏡が知られて
いる。このキノ顕微鏡の共焦点走査光学系を細隙灯顕微
鏡の顕微鏡ヘッド内に取り付けた装置が提案されてい
る。この装置は、顕微鏡ヘッドを改造して共焦点走査ユ
ニットを細隙灯顕微鏡の対物レンズと双眼部との間に挿
入する。
置は顕微鏡ヘッドを改造する必要があるので、既存の細
隙灯顕微鏡には取り付けられないという欠点があった。
また、上記装置の共焦点走査ユニットは対物レンズと双
眼部との間に設けられているので、高い倍率を作り出す
ことが難しい。しかし、低倍率での観察では像のコント
ラストアップ効果が小さいので、共焦点観察の有利性を
かなり減殺してしまう。
隙灯顕微鏡に大幅な改造を加えることなく、高倍率の共
焦点走査像が得られる細隙灯顕微鏡を提供することを技
術課題とする。
決するために、次のような構成を持つことを特徴とす
る。 (1) 被検眼をスリット照明するスリット照明光学系
と、スリット照明された被検眼を観察する対物レンズを
含む観察光学系とを有する細隙灯顕微鏡において、多数
のピンホ−ルを持つ回転円盤を照明し、回転円盤を通過
した照明光により被検眼観察面をピンホ−ル照明する照
明光学系と被検眼観察面で反射した光束を前記回転円盤
に結像させた後前記対物レンズに導光する導光光学系を
持つ共焦点走査顕微鏡ユニットと、該共焦点走査顕微鏡
ユニットを前記対物レンズの前に取付ける取付け手段
と、を有することを特徴とする。
点走査顕微鏡ユニットを観察光路から脱出及び観察光路
に挿入自在に保持する保持機構を持ち、前記共焦点走査
顕微鏡ユニットが観察光路から脱出したときは前記対物
レンズにより直接被検眼が観察可能であることを特徴と
する。
走査顕微鏡ユニットが回転する回転手段または上方に移
動する移動手段を持つことを特徴とする。
円盤の後方で光束を2つに分離する光束分離手段を持つ
ことを特徴とする。
ラ−から構成され、該複数のミラ−の位置関係を変更す
ることにより立体角を変えることを特徴とする。
明する。 [光学系の構成]図1は実施例の装置の光学系を示す概
略図であり、細隙灯顕微鏡部1に共焦点走査顕微鏡ユニ
ット2を取り付けた状態の光学系を横から見た図であ
り、図2は図1の光学系を上から見た図である。なお、
細隙灯顕微鏡はスリット光を被検眼に投光するスリット
照明系を備えるが、共焦点走査観察時にはこれを回旋さ
せて邪魔にならない位置に置くので、その説明は省略し
ている。
源であり、4はコンデンサレンズである。5は被検眼E
に有害な紫外光をカットするUVカットフィルタ、6は
被検眼Eに有害な赤外光をカットする赤外カットフィル
タである。7は絞り、8はポラライザであり、ポラライ
ザ8は光源3からの照明光を直線偏光にする。9はビ−
ムスプリッタである。照明光源3〜ポラライザ8までの
光学系が照明系固有の光学系であり、ビ−ムスプリッタ
9により照明系と観察系をカップリングする。10は回
転軸を中心として渦巻状に配置された多数のピンホ−ル
を持つ回転円盤であり、いわゆるニポ−ディスクと呼ば
れるものである。回転円盤10は後述する細隙灯顕微鏡
部1の物側焦点に位置している。回転円盤10はモ−タ
10aにより高速回転する。
リズムであり、ペンタプリズム12は像を反転させる作
用をする。13は光路を変えるためのミラ−である。1
4はλ/4板であり、λ/4板14は前述のポラライザ
8により直線偏光とされた照明光を円偏光の光に変え、
円偏光の光を直線偏光の光に変える。15は対物レンズ
であり、対物レンズ15は回転円盤10と被検眼観察面
とを共役な位置に置く。対物レンズ15は固定レンズ1
5aと光軸方向に移動可能な移動レンズ15bとからな
り、移動レンズ15bを動かすことにより微小なフォ−
カス合わせを行うことができる。
はその偏光軸がポラライザ8の偏光軸と直交するように
配置してある。観察面で反射した円偏光の光はλ/4板
14により直線偏光に変わるが、このとき偏光軸の方向
は照明光とは90度回転するので、アナライザ17を通
過することができる。回転円盤10、フィ−ルドレンズ
11及びペンタプリズム12等の表面での反射光はアナ
ライザ17により全てカットされる。18はミラ−であ
る。
−18で反射してきた光束を2つに分離する。これによ
り、検査者は細隙灯顕微鏡部1を介して被検眼Eの観察
面を立体観察することができる。また、2つの光束分割
ミラ−20は図示なきツマミにより左右方向に移動可能
であり、光束分割ミラ−19との位置関係を変えること
により分割した2光束の立体角が変わるため細隙灯顕微
鏡部1を覗く検査者は立体感を変更することができる。
21は窓ガラスである。
り、対物レンズ30の後方には左右一対の変倍レンズ3
1a,31b、結像レンズ32a,32b、正立プリズ
ム33a,33b及び視野絞り34a,34bが配置さ
れており、観察者は視野絞り34a,34bに形成され
た中間像を接眼レンズ35a,35bによって観察す
る。 [アタッチメント]次に、共焦点走査顕微鏡ユニット2
の細隙灯顕微鏡部1への着脱の構成を図3に基づいて3
例説明する。
微鏡ユニット2の後部2aが細隙灯顕微鏡部1の鏡筒に
固定される。この取付け自体の構成には格別な構成は必
要ないので、その説明は省略する。細隙灯顕微鏡部1の
共焦点走査顕微鏡ユニット2の前部2bは後部2aに対
してAで示す回転軸を中心として回転可能であり、クリ
ック機構により所定の位置に停止される。細隙灯顕微鏡
観察時には点線で示す位置にユニット前部2bを位置さ
せることにより、細隙灯顕微鏡部1の対物レンズ30の
前面から被検眼Eまでの光路を確保することができる。
2bが後部2aに対して上方向にスライド可能である。
図3の(c)に示すものは、ユニット前部2bが軸40
を回転中心として矢印Cで示すように回転移動可能であ
る。
察動作を説明する。スリット照明系を回旋させて、共焦
点走査顕微鏡ユニット2を取り付け、共焦点走査顕微鏡
ユニットを共焦点走査顕微鏡観察位置に置く。共焦点走
査顕微鏡ユニット2の電源を投入すると、照明光源3が
点灯するとともに、モ−タ10aが駆動して回転円盤1
0が高速回転する。照明光源3からの光はコンデンサレ
ンズ4で集光され、UVカットフィルタ5及び赤外カッ
トフィルタ6を介して絞り7に集光する。絞り7を出射
した光はポラライザ8により直線偏光にされた後、ビ−
ムスプリッタ9を透過して回転円盤10を照明する。回
転円盤10のピンホ−ルを出射した光束は、フィ−ルド
レンズ11およびペンタプリズム12を通り、ミラ−1
3で反射されて向きを変える。ミラ−13で反射した直
線偏光の光はλ/4板14を通ることにより円偏光に変
えられた後、対物レンズ群15を通って被検眼Eの観察
面に多数のピンホ−ル像を形成する。
物レンズ群15を介して再びλ/4板14を通ることに
より直線偏光に変わり、このとき直線偏光はその軸方向
が照明光に対して90度回転したものにされる。この直
線偏光の光は、ミラ−13、ペンタプリズム12および
フィ−ルドレンズ11を経て、回転円盤10上に結像
し、回転円盤10上のピンホ−ルを通ることができる。
円盤10のピンホ−ルを通過した光はビ−ムスプリッタ
9で反射し、アナライザ17に届く。アナライザ17は
その偏光軸がポラライザ8の偏光軸と直交するように配
置してあるので、回転円盤10、フィ−ルドレンズ11
及びペンタプリズム12等の表面での反射光をカット
し、被検眼観察面で散乱した光を通過させる。
で反射した後、光束分割ミラ−19、20により2光束
に分離され、窓ガラス21を通過して細隙灯顕微鏡部1
の対物レンズ30に向かい、検査者は細隙灯顕微鏡部1
の光学系を介してこれを観察する。回転円盤10上のピ
ンホ−ルにより照明された被検眼観察面の限られた領域
のみの光がまたピンホ−ルを通過して検査者眼に届く
が、このピンホ−ルは回転円盤10上に渦巻状に多数配
置され、かつ、回転円盤10はモ−タ10aにより高速
回転されるので、被検眼観察面全体が走査されることに
なり、検査者は観察面の全体を観察することができる。
なお、モ−タ10aによる回転円盤10の回転速度は、
検査者眼が走査によるちらつきを感じることがない速さ
以上であることが望ましい。
微鏡を改造することなく、容易に共焦点走査顕微鏡とし
て使用することができる。また、本発明による共焦点走
査顕微鏡ユニットの一部を動かすことで、取り付けた細
隙灯顕微鏡が持つ観察機能を損なわせずにすむ。さらに
本発明の共焦点走査顕微鏡ユニットは独自の対物レンズ
を持つため、この対物レンズを高倍率のものに代えるこ
とにより容易に高倍率の共焦点観察像を得ることができ
る。
隙灯顕微鏡部に共焦点走査顕微鏡ユニットを取り付けた
状態の光学系を横から見た図である。
の着脱の構成を説明するための図である。
Claims (5)
- 【請求項1】 被検眼をスリット照明するスリット照明
光学系と、スリット照明された被検眼を観察する対物レ
ンズを含む観察光学系とを有する細隙灯顕微鏡におい
て、多数のピンホ−ルを持つ回転円盤を照明し、回転円
盤を通過した照明光により被検眼観察面をピンホ−ル照
明する照明光学系と被検眼観察面で反射した光束を前記
回転円盤に結像させた後前記対物レンズに導光する導光
光学系を持つ共焦点走査顕微鏡ユニットと、該共焦点走
査顕微鏡ユニットを前記対物レンズの前に取付ける取付
け手段と、を有することを特徴とする細隙灯顕微鏡。 - 【請求項2】 請求項1の取付け手段は、前記共焦点走
査顕微鏡ユニットを観察光路から脱出及び観察光路に挿
入自在に保持する保持機構を持ち、前記共焦点走査顕微
鏡ユニットが観察光路から脱出したときは前記対物レン
ズにより直接被検眼が観察可能であることを特徴とする
細隙灯顕微鏡。 - 【請求項3】 請求項2の保持機構は、前記共焦点走査
顕微鏡ユニットが回転する回転手段または上方に移動す
る移動手段を持つことを特徴とする細隙灯顕微鏡。 - 【請求項4】 請求項1の導光光学系は、前記回転円盤
の後方で光束を2つに分離する光束分離手段を持つこと
を特徴とする細隙灯顕微鏡。 - 【請求項5】 請求項4の光束分離手段は複数のミラ−
から構成され、該複数のミラ−の位置関係を変更するこ
とにより立体角を変えることを特徴とする細隙灯顕微
鏡。
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DE19654208C2 (de) * | 1996-12-24 | 2001-05-10 | Leica Microsystems | Mikroskop |
US6147798A (en) * | 1997-10-24 | 2000-11-14 | Atto Instruments, Llc. | Microscope attachment for high precision and efficient imaging |
AUPP548298A0 (en) * | 1998-08-27 | 1998-09-17 | Optiscan Pty Limited | Compact confocal endoscope and endomicroscope method and apparatus |
JP2001027730A (ja) * | 1999-05-13 | 2001-01-30 | Keyence Corp | 共焦点顕微鏡 |
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JP2004361744A (ja) * | 2003-06-05 | 2004-12-24 | Olympus Corp | 実体顕微鏡用同軸落射照明装置 |
JP5179102B2 (ja) * | 2007-06-29 | 2013-04-10 | 株式会社ニデック | 走査型レーザ検眼鏡、及び走査型レーザ検眼鏡用広角レンズアタッチメント |
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US4884880A (en) * | 1987-11-16 | 1989-12-05 | Washington University | Kit for converting a standard microscope into a single aperture confocal scanning epi-illumination microscope |
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