JP2503114B2 - アナログ信号解析方法及び電子回路 - Google Patents
アナログ信号解析方法及び電子回路Info
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- JP2503114B2 JP2503114B2 JP3027816A JP2781691A JP2503114B2 JP 2503114 B2 JP2503114 B2 JP 2503114B2 JP 3027816 A JP3027816 A JP 3027816A JP 2781691 A JP2781691 A JP 2781691A JP 2503114 B2 JP2503114 B2 JP 2503114B2
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- Japan
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- analog signal
- coin
- electromagnetic sensor
- metal piece
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- G—PHYSICS
- G07—CHECKING-DEVICES
- G07D—HANDLING OF COINS OR VALUABLE PAPERS, e.g. TESTING, SORTING BY DENOMINATIONS, COUNTING, DISPENSING, CHANGING OR DEPOSITING
- G07D5/00—Testing specially adapted to determine the identity or genuineness of coins, e.g. for segregating coins which are unacceptable or alien to a currency
- G07D5/08—Testing the magnetic or electric properties
-
- G—PHYSICS
- G07—CHECKING-DEVICES
- G07D—HANDLING OF COINS OR VALUABLE PAPERS, e.g. TESTING, SORTING BY DENOMINATIONS, COUNTING, DISPENSING, CHANGING OR DEPOSITING
- G07D5/00—Testing specially adapted to determine the identity or genuineness of coins, e.g. for segregating coins which are unacceptable or alien to a currency
- G07D5/02—Testing the dimensions, e.g. thickness, diameter; Testing the deformation
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- Physics & Mathematics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Testing Of Coins (AREA)
- Measurement Of Current Or Voltage (AREA)
- Testing Electric Properties And Detecting Electric Faults (AREA)
- Electronic Switches (AREA)
Description
【０００１】
【産業上の利用分野】この発明はアナログ信号解析方法
及び該解析方法を実施するための電子回路に関し、特
に、ゲーム機、自動販売機及びそれらと同類のコイン投
入によって操作される機器に組み込まれた硬貨選別機等
に適用可能であって、コイン又は金属片の選別にあたり
高信頼性が保証されるものである。
及び該解析方法を実施するための電子回路に関し、特
に、ゲーム機、自動販売機及びそれらと同類のコイン投
入によって操作される機器に組み込まれた硬貨選別機等
に適用可能であって、コイン又は金属片の選別にあたり
高信頼性が保証されるものである。
【０００２】
【技術背景】導電材料、例えばコイン等が、例えば、電
磁コイルと発振回路とで構成された電磁センサの電磁場
を通過する際、該電磁場に変化が生じ、該電磁センサの
発振回路出力の振幅及び周波数に影響が及ぶことがよく
知られている。
磁コイルと発振回路とで構成された電磁センサの電磁場
を通過する際、該電磁場に変化が生じ、該電磁センサの
発振回路出力の振幅及び周波数に影響が及ぶことがよく
知られている。
【０００３】導電部材と電磁場間の相互作用はその形状
寸法、例えば、直径、厚み及び巻き線数、並びにそれの
電気特性、例えば合金の導電率及び透磁率等に依存する
ことが知られている。
寸法、例えば、直径、厚み及び巻き線数、並びにそれの
電気特性、例えば合金の導電率及び透磁率等に依存する
ことが知られている。
【０００４】従って、投入されたコインが該コインの走
行通路部に配置された電磁センサを通過するときにおけ
る該電磁センサからの検出アナログ信号の振動変化を解
析することにより上記コインの同定を行うことができ
る。
行通路部に配置された電磁センサを通過するときにおけ
る該電磁センサからの検出アナログ信号の振動変化を解
析することにより上記コインの同定を行うことができ
る。
【０００５】従来、導電材料が電磁センサの近傍を通過
した時、該電磁センサの出力の振動変化を解析して上記
導電材料を同定する、種々の装置が知られている。この
種の従来装置は電磁センサの出力アナログ信号の最大振
幅変化量、周波数の最大移相量又は所定波形部分の期間
の読み取り算術平均値等を算定し、このような解析結果
に基づいて上記電磁センサを通過した導電材料を同定す
るものであるが、いずれにしても、上記アナログ信号の
解析が不十分なものであり、得られたアナログ信号解析
情報は所定形態のコイン又は金属片を識別するのに不十
分なものであった。
した時、該電磁センサの出力の振動変化を解析して上記
導電材料を同定する、種々の装置が知られている。この
種の従来装置は電磁センサの出力アナログ信号の最大振
幅変化量、周波数の最大移相量又は所定波形部分の期間
の読み取り算術平均値等を算定し、このような解析結果
に基づいて上記電磁センサを通過した導電材料を同定す
るものであるが、いずれにしても、上記アナログ信号の
解析が不十分なものであり、得られたアナログ信号解析
情報は所定形態のコイン又は金属片を識別するのに不十
分なものであった。
【０００６】
【発明の開示】本発明のアナログ信号解析方法の原理
は、互いに異なった厚み、材質及び導電率を有するコイ
ン又は金属片等の電子選別に適用される、アナログ信号
解析方法であって、選別しようとするコイン又は金属片
の走行通路部に配置した電磁センサによりコイン又は金
属片が通過した際に検出されたアナログ信号の振幅変化
率がプラスからマイナスに及びマイナスからプラスに変
わる時点において論理レベル“１”及び“０”に変化す
るディジタル信号を生成し、このようにして生成された
ディジタル信号に基づいて上記電磁センサにより検出さ
れたコイン又は金属片を同定することにある。
は、互いに異なった厚み、材質及び導電率を有するコイ
ン又は金属片等の電子選別に適用される、アナログ信号
解析方法であって、選別しようとするコイン又は金属片
の走行通路部に配置した電磁センサによりコイン又は金
属片が通過した際に検出されたアナログ信号の振幅変化
率がプラスからマイナスに及びマイナスからプラスに変
わる時点において論理レベル“１”及び“０”に変化す
るディジタル信号を生成し、このようにして生成された
ディジタル信号に基づいて上記電磁センサにより検出さ
れたコイン又は金属片を同定することにある。
【０００７】上述したように、電磁センサから出力され
たアナログ信号の波形傾斜変化に対応したディジタル信
号は、演算増幅器を用いて上記アナログ信号を該演算増
幅器の一方の入力端子に印加するとともに他方の入力端
子に遅延回路を介して印加し、該演算増幅器において上
記アナログ信号と上記遅延回路により上記コイン又は金
属片が電磁センサを完全に通過するのに要する時間より
も僅かに短い時間をもって遅延されたアナログ信号とを
比較させることにより生成される。
たアナログ信号の波形傾斜変化に対応したディジタル信
号は、演算増幅器を用いて上記アナログ信号を該演算増
幅器の一方の入力端子に印加するとともに他方の入力端
子に遅延回路を介して印加し、該演算増幅器において上
記アナログ信号と上記遅延回路により上記コイン又は金
属片が電磁センサを完全に通過するのに要する時間より
も僅かに短い時間をもって遅延されたアナログ信号とを
比較させることにより生成される。
【０００８】上記ディジタル信号の各パルスの時間幅又
は期間及び隣接するパルス間でのパルス期間比及び周波
数比が算定され、これらデータが例えばマイクロプロセ
ッサ等の電子演算処理手段において上記電磁センサによ
り検出されたコイン又は金属片の同定に使用される。
は期間及び隣接するパルス間でのパルス期間比及び周波
数比が算定され、これらデータが例えばマイクロプロセ
ッサ等の電子演算処理手段において上記電磁センサによ
り検出されたコイン又は金属片の同定に使用される。
【０００９】本発明のアナログ信号解析方法を実施する
ための装置に、好ましくは、上記電磁センサの左右又は
上下位置に、例えば発光ダイオード−フォトトランジス
タから成る光電カプラーを配置して、コイン又は金属片
が電磁センサを通過するときの速度情報を得るようにし
てもよい。
ための装置に、好ましくは、上記電磁センサの左右又は
上下位置に、例えば発光ダイオード−フォトトランジス
タから成る光電カプラーを配置して、コイン又は金属片
が電磁センサを通過するときの速度情報を得るようにし
てもよい。
【００１０】
【本発明の好ましい実施例】本発明を、その構成および
特徴の完全な理解に寄与する、それらに限定されること
のない一実施例を示す添付図面とともに説明する。
特徴の完全な理解に寄与する、それらに限定されること
のない一実施例を示す添付図面とともに説明する。
【００１１】添付図面、特に第１図に詳細に示されるグ
ラフから理解されるように、本発明の方法の主要事項は
電磁センサにより得られたアナログ信号波形ＳＡに該ア
ナログ信号波形の変化率がプラスからマイナスに及びマ
イナスからプラスに変化する時点、すなわち該アナログ
信号波形の変曲点で論理レベル“１”及び“０”に変化
して種々のパルス時間幅又は期間を有する測定領域Ｔ
Ａ、ＴＢ、ＴＣ、…、を確立し、上記アナログ信号の変
曲点に対応した時点Ｐで種々の時間幅の測定領域を区分
するディジタル信号ＳＤを生成することである。このよ
うにして、測定しようとするコインの通過によって惹起
される変化がより完全にかつ正確に解析され、従ってよ
り高い信頼性のある同定を行うことができる。
ラフから理解されるように、本発明の方法の主要事項は
電磁センサにより得られたアナログ信号波形ＳＡに該ア
ナログ信号波形の変化率がプラスからマイナスに及びマ
イナスからプラスに変化する時点、すなわち該アナログ
信号波形の変曲点で論理レベル“１”及び“０”に変化
して種々のパルス時間幅又は期間を有する測定領域Ｔ
Ａ、ＴＢ、ＴＣ、…、を確立し、上記アナログ信号の変
曲点に対応した時点Ｐで種々の時間幅の測定領域を区分
するディジタル信号ＳＤを生成することである。このよ
うにして、測定しようとするコインの通過によって惹起
される変化がより完全にかつ正確に解析され、従ってよ
り高い信頼性のある同定を行うことができる。
【００１２】上記アナログ信号ＳＡを、図１に示す方法
にしたがって各種領域Ｔに区分するには、図２に示すよ
うな基本的回路によって行なわれる。この基本的回路は
演算増幅器１及び該演算増幅器１の一方の入力と接続さ
れた遅延回路２により構成され、この基本的回路により
アナログ信号の傾きがプラス＋からマイナス−へ又はそ
れと逆に変化する、変曲点が検出される。
にしたがって各種領域Ｔに区分するには、図２に示すよ
うな基本的回路によって行なわれる。この基本的回路は
演算増幅器１及び該演算増幅器１の一方の入力と接続さ
れた遅延回路２により構成され、この基本的回路により
アナログ信号の傾きがプラス＋からマイナス−へ又はそ
れと逆に変化する、変曲点が検出される。
【００１３】図１に示すように、アナログ信号の傾きが
負又はマイナスのとき演算増幅器１の出力は論理レベル
“０”であり、該アナログ信号の傾きが正もしくはプラ
ス又は零のとき演算増幅器１の出力は論理レベル“１”
である。
負又はマイナスのとき演算増幅器１の出力は論理レベル
“０”であり、該アナログ信号の傾きが正もしくはプラ
ス又は零のとき演算増幅器１の出力は論理レベル“１”
である。
【００１４】上記アナログ信号は、基本的に、図１に示
すように３つの測定領域に区分される。測定領域の区分
数はアナログ信号の複合成分に応じたものとなってい
る。遅延回路２は測定片又は試料片が電磁センサの感知
部を通過するのに要する時間より僅かに小さい時定数を
有する、例えばＲＣタイプの遅延回路とされる。
すように３つの測定領域に区分される。測定領域の区分
数はアナログ信号の複合成分に応じたものとなってい
る。遅延回路２は測定片又は試料片が電磁センサの感知
部を通過するのに要する時間より僅かに小さい時定数を
有する、例えばＲＣタイプの遅延回路とされる。
【００１５】測定又は選別しようとする金属片が走行通
路部に配置された電磁センサを構成する電磁コイル４を
通過して該磁場から離間したとき、該電磁コイルの出力
部と接続された発振器５から出力されたアナログ信号の
に対応するして生成されたディジタル信号の各隣接領域
間での期間比及び周波数比が得られ、これらの比を表す
信号はコイン又は試料片を同定するのに使用される。
路部に配置された電磁センサを構成する電磁コイル４を
通過して該磁場から離間したとき、該電磁コイルの出力
部と接続された発振器５から出力されたアナログ信号の
に対応するして生成されたディジタル信号の各隣接領域
間での期間比及び周波数比が得られ、これらの比を表す
信号はコイン又は試料片を同定するのに使用される。
【００１６】図３から明らかなように、一般に、発振器
５が電磁コイル４の出力部と接続され、該発振器５によ
り発生されたアナログ信号が一方では直接マイクロプロ
セッサ３に送出されるとともに他方では該信号を図２の
基本的回路を介して該マイクロプロセッサ３に送出され
る。該マイクロプロセッサ３は所定のプログラムメモリ
６を備えている。
５が電磁コイル４の出力部と接続され、該発振器５によ
り発生されたアナログ信号が一方では直接マイクロプロ
セッサ３に送出されるとともに他方では該信号を図２の
基本的回路を介して該マイクロプロセッサ３に送出され
る。該マイクロプロセッサ３は所定のプログラムメモリ
６を備えている。
【００１７】更により正確な選別又は測定を行うため
に、図４に示すように、図３の装置にコイン７の直径を
測定する手段を付加するようにしてもよい。該コイン直
径測定手段は２つの発光ダイオード−フォトトランジス
タの光電カップラー８、８′から構成され、これらの光
電カップラー８、８′は好ましくは電磁センサを構成す
る電磁コイル４の左右又は上下の上流位置及び下流位置
に配置され、選別又は測定しようとするコイン又は試料
片７が通過するときの速度情報をマイクロプロセッサ３
に提供する。上記コインの通過速度が分かると、各測定
領域の時間測定値が正規化又は調整され、これにより測
定しようとするコイン又は試料片７の通過速度、たとえ
ば該コイン投入部の傾斜面等の案内特性によって変化す
るコイン通過速度と無関係なもの、すなわち該通過速度
に依存しないものとされる。
に、図４に示すように、図３の装置にコイン７の直径を
測定する手段を付加するようにしてもよい。該コイン直
径測定手段は２つの発光ダイオード−フォトトランジス
タの光電カップラー８、８′から構成され、これらの光
電カップラー８、８′は好ましくは電磁センサを構成す
る電磁コイル４の左右又は上下の上流位置及び下流位置
に配置され、選別又は測定しようとするコイン又は試料
片７が通過するときの速度情報をマイクロプロセッサ３
に提供する。上記コインの通過速度が分かると、各測定
領域の時間測定値が正規化又は調整され、これにより測
定しようとするコイン又は試料片７の通過速度、たとえ
ば該コイン投入部の傾斜面等の案内特性によって変化す
るコイン通過速度と無関係なもの、すなわち該通過速度
に依存しないものとされる。
【００１８】以上に説明したことにより、当該技術分野
の専門家に本発明の技術的範囲における全ての技術的事
項及び作用効果が十分に理解されたものと確信する。
の専門家に本発明の技術的範囲における全ての技術的事
項及び作用効果が十分に理解されたものと確信する。
【００１９】各構成部分の材料、形状、大きさ及びレイ
アウトは本発明の本質的な技術的範囲を逸脱しないかぎ
り変形することができる。
アウトは本発明の本質的な技術的範囲を逸脱しないかぎ
り変形することができる。
【００２０】この明細書における各用語は限定的ではな
くより広い意味に解釈されるべきものである。
くより広い意味に解釈されるべきものである。
【図１】本発明の解析方法にしたがってアナログ信号を
ディジタル信号に変換した一例を示す概略説明図であ
る。
ディジタル信号に変換した一例を示す概略説明図であ
る。
【図２】本発明の上記方法を実施する基本的電子回路の
ブロック図である。
ブロック図である。
【図３】本発明の方法を実施するための装置であって、
マイクロプロセッサを電子演算処理手段として用いた装
置のブロック図である。
マイクロプロセッサを電子演算処理手段として用いた装
置のブロック図である。
【図４】図３の装置に更に２つの光電カップラーを付加
して構成された、装置の変形例のブロック図である。
して構成された、装置の変形例のブロック図である。
１…演算増幅器、 ２…遅延回路、 ３…マイクロプロセッサ（電子演算処理手段）、 ４…電磁コイル、 ５…発振器、 ６…プログラムメモリ、 ７…コイン又は金属試料片、 ８、８′…発光ダイオード−フォトトランジスタ光電カ
ップラー。
ップラー。
Claims (3)
- 【請求項１】 互いに異なった厚み、材質及び導電率を
有するコイン又は金属片等の選別に適用される、アナロ
グ信号解析方法であって、 選別しようとするコイン又は金属片の送行通路部に配置
した電磁センサ手段が送行通路を移動するコイン又は金
属片を検出した際、該電磁センサ手段からコイン又は金
属片の通過に応じて生じた磁気的変化を表すアナログ信
号を得、該電気アナログ信号の変曲点を検出して変化率
がプラスからマイナスに及びマイナスからプラスに変わ
る時点で論理レベル“１”及び“０”に変化するディジ
タル信号を得、電子演算処理手段により上記ディジタル
信号を基準ディジタル信号と比較対照して上記電磁セン
サにより検出されたコイン又は金属片を同定することを
特徴とする、アナログ信号解析方法。 - 【請求項２】 電磁センサにより検出されたアナログ信
号の変曲点に応じて論理レベルを変えるディジタル信号
の各パルス幅又は期間と、隣接パルス間のパルス幅比又
は期間比とに基づいてコイン又は金属片を同定する、第
１項記載の方法。 - 【請求項３】 選別しようとするコイン又は金属片の送
行通路部に配置された電磁センサ手段が送行通路を移動
するコイン又は金属片を検出した際、該電磁センサ手段
から出力されたコイン又は金属片の通過に応じて生じた
磁気的変化を表すアナログ信号をコイン又は金属片の同
定判別用のディジタル信号に変換する、第１項及び第２
項に記載のアナログ信号解析方法を実施するための電子
回路であって、 演算増幅器と遅延回路とにより構成され、上記電磁セン
サ手段からのアナログ信号を上記演算増幅器の一方の入
力端子に入力するするとともに他方の入力端子に上記遅
延回路を介して入力し、これにより該演算増幅器からア
ナログ信号の変化率がプラスからマイナスに及びマイナ
スからプラスに変わる時点で論理レベル“１”及び
“０”に変化するディジタル信号を出力するようにした
ことを特徴とする、電子回路。
Applications Claiming Priority (2)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| ES9000252A ES2020410A6 (es) | 1990-01-29 | 1990-01-29 | Metodo y circuito electronico para analisis de senales analogicas. |
| ES9000252 | 1990-01-29 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH04213190A JPH04213190A (ja) | 1992-08-04 |
| JP2503114B2 true JP2503114B2 (ja) | 1996-06-05 |
Family
ID=8265672
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP3027816A Expired - Lifetime JP2503114B2 (ja) | 1990-01-29 | 1991-01-28 | アナログ信号解析方法及び電子回路 |
Country Status (6)
| Country | Link |
|---|---|
| US (1) | US5191956A (ja) |
| JP (1) | JP2503114B2 (ja) |
| DE (1) | DE4100283A1 (ja) |
| ES (2) | ES2020410A6 (ja) |
| GB (1) | GB2240649B (ja) |
| IT (1) | IT1247811B (ja) |
Families Citing this family (11)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| EP0570692B1 (de) * | 1992-05-22 | 1997-07-16 | Journomat Ag | Münzenkassierautomat |
| ES2046119B1 (es) * | 1992-06-01 | 1994-10-16 | Azkoyen Ind Sa | Procedimiento para la verificacion de monedas. |
| US5489014A (en) * | 1994-08-03 | 1996-02-06 | Journomat Ag | Apparatus for checking coins and reading cards in an article vending machine |
| US5662205A (en) * | 1994-11-03 | 1997-09-02 | Coin Acceptors, Inc. | Coin detection device |
| ES2108643B1 (es) * | 1995-09-28 | 1998-07-01 | Azkoyen Ind Sa | Procedimiento de identificacion de monedas. |
| US5673781A (en) * | 1995-11-21 | 1997-10-07 | Coin Acceptors, Inc. | Coin detection device and associated method |
| US5992603A (en) * | 1997-12-18 | 1999-11-30 | Ginsan Industries Inc | Coin acceptance mechanism and method of determining an acceptable coin |
| JP2000242823A (ja) * | 1999-02-24 | 2000-09-08 | Nippon Conlux Co Ltd | 硬貨選別方法および装置 |
| US6230870B1 (en) * | 2000-02-10 | 2001-05-15 | Coin Acceptors, Inc. | Coin detection device |
| WO2005014360A1 (de) * | 2003-07-28 | 2005-02-17 | Wabco Gmbh & Co. Ohg | Verfahren und vorrichtung zum erkennen eines ausfalls eines druckluftverbraucherkreises in einer elektronischen druckluftanlage für fahrzeuge |
| KR100688527B1 (ko) * | 2005-02-03 | 2007-03-02 | 삼성전자주식회사 | 아날로그 반도체 장치를 테스트하는 디지털 테스트 장치 |
Family Cites Families (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US3958178A (en) * | 1975-02-11 | 1976-05-18 | The United States Of America As Represented By The United States Energy Research And Development Administration | Automatic ranging circuit for a digital panel meter |
| DE2831407C3 (de) * | 1978-07-17 | 1986-06-19 | Siemens AG, 1000 Berlin und 8000 München | Elektronische Meßeinrichtung für analoge elektrische Signale |
| JPS56149687A (en) * | 1980-04-22 | 1981-11-19 | Tokyo Shibaura Electric Co | Printed end detector |
| US4705154A (en) * | 1985-05-17 | 1987-11-10 | Matsushita Electric Industrial Co. Ltd. | Coin selection apparatus |
-
1990
- 1990-01-29 ES ES9000252A patent/ES2020410A6/es not_active Expired - Lifetime
-
1991
- 1991-01-07 DE DE4100283A patent/DE4100283A1/de not_active Withdrawn
- 1991-01-08 US US07/638,622 patent/US5191956A/en not_active Expired - Fee Related
- 1991-01-09 GB GB9100377A patent/GB2240649B/en not_active Expired - Fee Related
- 1991-01-25 IT ITMI910185A patent/IT1247811B/it active IP Right Grant
- 1991-01-28 JP JP3027816A patent/JP2503114B2/ja not_active Expired - Lifetime
-
1993
- 1993-08-30 ES ES09301877A patent/ES2065862A6/es not_active Expired - Fee Related
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| ES2065862A6 (es) | 1995-02-16 |
| GB9100377D0 (en) | 1991-02-20 |
| GB2240649B (en) | 1994-04-20 |
| JPH04213190A (ja) | 1992-08-04 |
| ITMI910185A0 (it) | 1991-01-25 |
| US5191956A (en) | 1993-03-09 |
| ES2020410A6 (es) | 1991-08-01 |
| DE4100283A1 (de) | 1991-08-01 |
| GB2240649A (en) | 1991-08-07 |
| ITMI910185A1 (it) | 1992-07-25 |
| IT1247811B (it) | 1995-01-02 |
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