JP2501914C

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Publication number: JP2501914C
Authority: JP
Original assignee: Sharp Corp
Current assignee: Sharp Corp
Publication date: 1997-12-17

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【発明の詳細な説明】〔産業上の利用分野〕本発明は、例えば、光磁気メモリ装置など、各種情報記録再生装置に関し、よ
り詳しくは情報記録再生装置における再生回路に関するものである。〔従来の技術〕従来の情報記録再生装置について、ここでは光磁気メモリ装置を例に挙げて説
明する。光磁気メモリ装置の一例として光磁気ディスクメモリ装置をとりあげ、光磁気
ディスクに対する情報の記録、記録された情報の再生、およびその消去の各動作
について第２８図ないし第３８図に基づいて説明すると以下のとおりである。まず光磁気ディスクへの情報の記録、および光磁気ディスクに記録された情報
の消去の各動作について第２８図に基づいて説明する。情報の記録・消去が可能な光磁気記録媒体としての光磁気ディスクは、同図（
ａ）に示すように、ディスク基板２８０４上に、成膜された記録磁性膜２８０５
が形成されている。記録磁性膜２８０５は、磁化容易軸がその膜面に垂直な方向
になるように成膜されており、予め同一の向き（例えば、同図中の磁化の向きＡ
）にイニシャライズされている。さて、半導体レーザ２８０１から出射されたレ
ーザビーム２８０３は対物レンズ２８０２で１μｍ程度の径に集光され、記録磁
性膜２８０５に照射される。記録すべき情報に対応する記録信号２８０７（同図
（ｂ）に示す）に基づいてレーザビーム２８０３の光強度の強弱が制御される。
光強度の強いレーザビーム２８０３が照射された部分の温度は局所的に上昇してキュリー温度を越えると、その部分の保磁力が著しく低下する。そして、その部
分の磁化の向きは、予め印加されていた外部印加磁場２８０６と同一の向き（同
図中の磁化の向きＢ）に反転する。このようにして、記録信号２８０７と同一の
情報が記録磁性膜２８０５に記録されることになる。以下、上記のようにして記
録された記録部分をマーク２８０９、そうでない部分を非マーク２８１０と称す
る。即ち、例えばマーク２８０９が２値信号の符号（１）に対応するようにし、
非マーク２８１０が２値信号の符号（０）に対応するようにして、マーク２８０
９および非マーク２８１０により記録情報が構成される。また、この方法で記録
することを光磁気記録と称する。記録磁性膜２８０５に記録された情報の消去は
、外部印加磁場２８０６の向きを逆にして記録時と同様の方法であこない、磁化
の向きを元のイニシャライズ時の向き（即ち、同図中の磁化の向きＡ）に戻すこ
とによりおこなわれる。この結果、消去された部分は非マーク２８１０となる。なお、本例ではレーザビーム２８０３を記録信号２８０７に応じて変調し、一
定の強さの外部印加磁場２８０６を印加して記録する光変調方式を示したが、そ
の他にこれとは逆に、レーザビーム２８０３の強さを一定にし、外部印加磁場２
８０６の向きを記録信号２８０７に応じて変調して記録する磁界変調方式で記録
してもよい。また、本例のディスク基板２８０４にはガラス、またはプラスチック等のディ
スク板が用いられており、第２８図（ａ）に示すように、トラックやセクタの番
地を示すアドレス情報が、予め物理的な凹凸２８０８の形状で刻み込まれて形成
されている。この凹凸２８０８もマーク、および非マークである。アドレス情報
は予め一定のフォーマットで刻み込まれているので、それ以後は記録・消去の各
動作はできないようになっている。予め物理的な凹凸２８０８の形状で刻み込ま
れた部分を以後プリフォーマット部と称する。これに対して情報の記録・消去の
各動作はプリフォーマット部以外の部分でおこなわれ、この部分をＭＯ（データ
）部と称する。通常、このプリフォーマット部３００３、およびＭＯ（データ）
部３００２は、第３０図に示すように、渦巻状または同心円状のトラック３００
５上に交互に配置されている。プリフォーマット部３００３とＭＯ部３００２と
が一対でひとつのセクタ３００４を構成している。光磁気ディスク３００１はト
ラック３００５上に、それぞれアドレス（番地）情報を含んだ多数のセクタを含む構成となっている。情報の記録・再生・消去の各動作は、セクタ単位ごとにお
こなわれる。また、第３１図に示すように、上記トラック３００５上のプリフォ
ーマット部３００３にマーク２８０８が予め刻み込まれているとともに、ＭＯ（
データ）部３００２に光磁気記録によるマーク２８０９が記録されることになる
。光磁気ディスクの再生動作を第２９図に基づいて以下に説明する。同図（ａ）に示すように、半導体レーザ２８０１から出射され、対物レンズ２
８０２で１μｍ程度の径に集光されたレーザビーム２８０３は、記録磁性膜２８
０５に照射される。ただし、レーザビーム２８０３は直線偏光されており、レー
ザビーム２８０３の光強度は記録・消去の各動作時よりも弱くしてある。直線偏
光されたレーザビーム２８０３の光磁気ディスク３００１からの反射光は、記録
磁性膜２８０５を通過、および反射する際にファラデー効果、およびカー効果に
よってその偏光面が回転する。この回転方向は、マーク２８０９と非マーク２８
１０とでは、互いに偏光面の回転角分だけ逆方向に回転する。この偏光方向の違
いを検出することにより再生をおこない、同図（ｂ）（ｃ）に示すような再生信
号Ｓ１、Ｓ２が生成される。第３２図は再生光学系の構成の要部を示すものであり、同図に基づいて上記再
生信号Ｓ１、Ｓ２の分離を以下に説明する。反射光３２０１はＰＢＳ（検光子）３２０２に入射され、２つの検波光３２１
０、３２１１がそれぞれの偏光方向ごとに光検出器３２０３、３２０４に導かれ
る。そして、光検出器３２０３、３２０４においてそれぞれ光強度に応じて変化
する電気信号に変換され、再生信号Ｓ１、Ｓ２として出力される。従って、再生
信号Ｓ１、Ｓ２からマーク２８０９と非マーク２８１０とが分離して読み出せる
ので、記録磁性膜２８０５に記録された情報の再生をおこなうことができる。第３３図に基づいて光磁気記録されたＭＯ（データ）部３００２を再生した時
に分離される再生信号Ｓ１、Ｓ２の極性について以下に説明する。光磁気記録に
よる非マーク２８１０（磁化の向きＡ）からの反射光ベクトルをα、マーク２８
０９（磁化の向きＢ）からの反射光ベクトルをβとすると、αとβとは互いに偏
光面の回転角分だけ逆方向に回転した反射光ベクトルである。反射光ベクトルα
、βは検光子（ＰＢＳ）３２０２におけるふたつの偏光方向Ｘ、Ｙへそれぞれ検波される。このふたつの偏光方向Ｘ、Ｙは互いに直角な関係にある。反射光ベク
トルα、βを偏光方向Ｘ、Ｙにそれぞれ投影した検波光ベクトルα_X、β_Yの大き
さが再生信号Ｓ１および再生信号Ｓ２に対応している。さらに検波光ベクトルα
_X、β_Yは、第３２図の検波光３２１０、３２１１にそれぞれ対応している。第３
３図に示すように、再生信号Ｓ１は非マーク２８１０に対してハイレベル、マー
ク２８０９に対してはローレベルが対応している。また、再生信号Ｓ２は非マー
ク２８１０に対してローレベル、マーク２８０９に対してはハイレベルが対応し
ており、再生信号Ｓ１とは逆極性となっている。そして、再生信号Ｓ１、Ｓ２は
、Ｓ／Ｎ比を向上させるために差動増幅器に入力され、差動増幅されて情報の再
生がおこなわれるようになっている。次に、第３４図に基づいて物理的な凹凸２８０８で刻み込まれたプリフォーマ
ット部３００３を再生したときの再生信号Ｓ１、Ｓ２の極性について以下に説明
する。プリフォーマット部３００３は記録・消去の各動作がおこなわれないので、磁
化の向きはＡのみである。この部分では、凹凸２８０８の形状によりレーザビー
ムの回折が生じる。従って、同図に示すように、反射光ベクトルは凹凸２８０８
に応じてそれぞれ長い反射光ベクトルα（凹凸の非マークの再生に対応する）、
および短い反射光ベクトルγ（凹凸のマークの再生に対応する）となる。これを
検光子（ＰＢＳ）３２０２の偏光方向Ｘ、Ｙに投影すると検波光ベクトルα_X、
γ_Yがそれぞれ得られる。検波光ベクトルα_X、γ_Yの大きさが再生信号Ｓ１、Ｓ
２に対応している。再生信号Ｓ１および再生信号Ｓ２はともに、凹凸２８０８の
非マークに対してハイレベル、マークに対してローレベルに対応している。従っ
て、この再生信号Ｓ１、Ｓ２は第３３図に示した光磁気記録のマーク２８０９、
非マーク２８１０のものとは異なり、極性が同じものとなる。即ち、第２９図に
示すように、再生信号Ｓ１、Ｓ２はプリフォーマット部３００３において極性が
同じであり、ＭＯ（データ）部３００２においては互いに極性が反転した信号に
なる。第３５図、および第３６図に基づいて光磁気ディスクメモリ装置における再生
回路について以下に説明する。第３５図において再生信号Ｓ１、Ｓ２は再生回路３５０１に入力され、２値化された出力信号３５１０がアドレス発生回路３５０２、およびタイミング発生回
路３５０３に入力される。アドレス発生回路３５０２において第３０図に示した
セクタ単位のプリフォーマット部３００３に含まれるアドレス（番地）情報が出
力信号３５１０から読み出され、アドレス信号３５１１が出力される。また、タ
イミング発生回路３５０３においては同じくプリフォーマット部に含まれるセク
タ同期用のセクタマークが検出され、記録・再生・消去基準タイミング信号３５
１２が出力される。光磁気ディスクメモリ装置においてこのアドレス信号３５１
１と記録・再生・消去基準タイミング信号３５１２とに基づいて、所望のアドレ
スのセクタに情報の記録・再生・消去をおこなうようになっている。第３６図に基づいて、第３５図における従来の再生回路３５０１の入力段に配
置されているバッファアンプ３６０１について以下に説明する。再生信号Ｓ１は、バッファアンプ３６０１内のコンデンサ３６０２と抵抗３６
０３で構成されたハイパスフィルターに入力される。同図に示すように、抵抗３
６０３の一方は電圧Ｖ₀に固定されている。このハイパスフィルターにより再生
信号Ｓ１中のＤＣ成分が除去され、容易にＡＣ成分に含まれる情報信号だけを再
生できるようになっている。ハイパスフィルターの出力信号３６１０はアンプ３
６０４に入力され、その出力信号３６１２が後段の再生回路３５０１に伝送され
る。再生信号Ｓ２も同様にバッファアンプ３６０１内のコンデンサ３６０５と抵
抗３６０６とで構成されたハイパスフィルターに入力され、再生信号Ｓ２中のＤ
Ｃ成分が除去され、容易にＡＣ成分に含まれる情報信号だけを再生できるように
なっている。ハイパスフィルターの出力信号はアンプ３６０７を介して、出力信
号３６１３として後段の再生回路３５０１に伝送される。〔発明が解決しようとする課題〕ところが、第３６図のバッファアンプ３６０１を用いた上記従来の装置では、
情報の記録・消去の各動作直後のプリフォーマット部の情報が読み出せない場合
がある。これは情報の高速転送、および高密度記録をおこなう際に特に問題とな
る。このことについて第３７図および第３８図に基づいて以下に説明する。第３７図および第３８図は、バッファアンプ３６０１の各部の波形例を示した
ものである。第３７図（ａ）に示すように、プリフォーマット部３７０１とＭＯ
（データ）部３７０２とで構成されたセクタでは情報の記録がおこなわれ、プリフォーマット部３７０３とＭＯ（データ）部３７０４で構成されたセクタでは情
報の再生がおこなわれ、プリフォーマット部３７０５とＭＯ（データ）部３７０
６で構成されたセクタでは情報の消去がおこなわれるものとする。これら情報の
記録・再生・消去の各動作は、プリフォーマット部３７０１、３７０３、３７０
５の同期タイミング情報、およびアドレス情報を読み出し、所定の同期タイミン
グが検出され、しかも所定のアドレスであることを逐次確認しながらおこなわれ
なければならない。さて、再生信号Ｓ１、Ｓ２は、第３７図（ｂ）に示すように、記録・消去の各
動作時にその振幅が過大な信号になる。これは、記録・消去の各動作時において
光強度の大きい反射光が光検出器３２０３、３２０４に入射するためである。こ
れに伴って、同図（ｃ）に示すように、バッファアンプ３６０１の出力信号３６
１２、３６１３は、ハイパスフィルターの過渡応答が反映された波形になってい
る。つまり記録、および消去の各動作直後の信号レベルが上下に振られる。記録
、および消去の各動作直後にはプリフォーマット部３７０３、３７０７を再生し
なければならない。一方、バッファアンプ３６０１を含めた再生回路３５０１に
は、同図（ｃ）に示すように、再生限界レベル範囲があり、この範囲を越えると
再生信号Ｓ１、Ｓ２から情報を読み出すことは不可能となる。なお、上記の再生
レベル限界範囲は、回路が電気的に正常動作可能な範囲であり、例えば信号レベ
ルが飽和する限界である。また、後段にＡＧＣ（ＡｕｔｏｍａｔｉｃＣａｉｎ
Ｃｏｎｔｒｏｌ）アンプが存在する場合は、その応答時間を含めた再生可能な
範囲である。この場合、同図（ｃ）に示すように、記録・消去の各動作直後のプ
リフォーマット部３７０３、３７０７におけるバッファアンプ３６０１の出力信
号３６１０、３６１１は上記範囲を遥かに越えている。特に、消去時の再生信号
Ｓ１、Ｓ２のＤＣ成分は記録時に比べて大きいため、消去直後は上記範囲をさら
に大きく越えている。従って、記録、および消去直後のプリフォーマット部３７
０３、およびプリフォーマット部３７０７を再生して得られる同期タイミング情
報、およびアドレス情報は読み出し困難になり、所定の同期タイミングが検出さ
れず、しかも所定のアドレスであることが確認できないという問題点を有してい
る。つまり、情報の記録・再生・消去の各動作をおこなうことが不可能になり、
このことは特に消去直後に顕著である。なお、ハイパスフィルターの過渡応答時間を考慮して、その過渡応答時間より充分に長い時間間隔に相当する間隔でプリ
フォーマット部３７０３、３７０７を配置すれば、上記問題点は解決する。しか
し、このようにするとプリフォーマット部間の間隔が大きくなるので、情報の転
送速度の低下を招来し、情報記録の高密度化に支障を来すことになり、本質的な
解決策とはならない。また、ハイパスフィルターの時定数を小さくすると、過渡
応答時間が短くなるので上記の問題は解決する。しかし、このようにすると、再
生信号中のデータに位相のずれが生じるようになり、再生エラーの原因となる。
従って、ハイパスフィルターの時定数には下限があり、これよりも小さくするこ
とは困難である。第３８図に基づいて情報の記録・消去の各動作直後のプリフォーマット部の情
報が読み出せない場合に、上記ＡＧＣアンプの出力信号３８０１に与える影響に
ついて以下に説明する。再生信号Ｓ１、Ｓ２に対して、ＡＧＣアンプは自動的に増幅度調整をおこない
、記録、および消去レベルに基づいて応答するようになっている。従って、同図
（ｂ）で示すような信号がＡＧＣアンプに入力されると、その増幅度は、しだい
に本来の再生時の増幅度と比較して遥かに低下したものになる。これに伴って、
同図（ｃ）に示すように、ＡＧＣアンプの出力信号のレベルも著しく低下する。
このようにＡＧＣアンプの増幅度は瞬時に元に戻ることができないため、ＡＧＣ
アンプの出力信号３８０１が定常状態に達した直後は、同図（ａ）で示すプリフ
ォーマット部３７０３、３７０７を再生した時の再生信号の振幅が非常に小さい
ものとなり、情報が読み取れなくなる。従って、第３７図に基づいて説明した場
合と同様に、この場合も記録、および消去の各動作直後にプリフォーマット部３
７０３、３７０７を再生して得られる同期タイミング情報、およびアドレス情報
は読み出し困難になり、所定の同期タイミングが検出されず、しかも所定のアド
レスであることが確認できないという問題点を有している。つまり、以降の情報
の記録・再生・消去の各動作をおこなうことが不可能になる。なお、ＡＧＣアン
プの応答時間を考慮して、充分に長い時間間隔に相当する間隔でプリフォーマッ
ト部３７０３、３７０７を配置すれば、上記問題点は解決する。しかし、このよ
うにするとプリフォーマット部間の間隔が大きくなるので、情報の転送速度の低
下を招来し、情報記録の高密度化に支障を来すことになり、本質的な解決策とはならない。以上第３７図、および第３８図に基づいて説明したように、従来の装置では所
望のセクタへの確実な情報の記録・再生・消去の各動作が不可能になり、また、
光磁気メモリ装置における情報の高速転送、および高密度化に支障を来すという
問題点を有している。〔課題を解決するための手段〕本発明に係る情報記録再生装置は、上記の課題を解決するために、情報の記録
、再生、または消去をおこなう情報記録再生装置において、情報の記録・消去の
各動作時における再生信号中に含まれる過大振幅を所定のレベルに制限すると共
に該所定のレベル内では前記再生信号をそのまま出力する信号レベル制限手段を
情報の再生をおこなう再生回路の前段に設けたことを特徴としている。〔作用〕上記の構成により、情報の再生をおこなう再生回路の前段に信号レベル制御手
段を設け、情報の記録・消去の各動作時に再生信号中に含まれる過大振幅を所定
のレベルに制限すると共に該所定のレベル内では前記再生信号をそのまま出力す
るようにしたので、記録・消去の各動作直後のプリフォーマット部における再生
信号が受けるＡＣ結合の過渡応答の影響を低く抑えることができる。つまり、常
に再生信号を再生限界レベル範囲内に抑えることができるので、記録・消去の各
動作直後のプリフォーマット部の同期タイミング情報、およびアドレス情報を正
確に読み出すことができ、所定の同期タイミングを検出し、しかも所定のアドレ
スであることを逐次確認しながら、情報の記録・再生・消去の各動作をおこなう
ことができる。従って、ＡＣ結合の過渡応答やＡＧＣ回路の応答に影響されずに、プリフォー
マット部の配置を決めることができ、光磁気ディスクメモリ装置における情報の
高速転送、および高密度化が可能となる。〔実施例１〕本発明の第１の実施例を第１図ないし第２３図に基づいて説明すれば、以下の
とおりである。まず本発明に係る情報記録再生装置として光磁気メモリ装置について第８図な
いし第１６図に基づいて以下に説明する。第８図は光磁気メモリ装置の構成を示すブロック図である。光磁気ディスク１２０１はスピンドルモータ１２０２によ
って回転され、光ヘッド１２０３から出射されたレーザビーム１２０４によって
情報の記録・再生・消去がおこなわれる。この時、外部印加磁石１２０５をモー
タ等で回転させて磁場の向きを反転させることよって記録・消去のための外部印
加磁場を得る。また、電磁石により記録・消去のための外部印加磁場を得てもよ
い。光ヘッド１２０３内の半導体レーザ（同図中には図示しない）へは、記録回
路１２０６から半導体レーザ駆動電流１２１０が入力される。同駆動電流１２１
０によって半導体レーザの光強度が適切に制御されるとともに、記録情報が光磁
気ディスク１２０１に記録される。光ヘッド１２０３からは再生回路１２０７へ
再生信号１２１１（再生信号Ｓ１、Ｓ２）が出力される。再生回路１２０７にお
いて再生された再生データ１２１２はコントローラ１２０８へ送られる。コント
ローラ１２０８では、再生データ１２１２に基づいて各種の制御信号のタイミン
グをとるとともに、入力される信号の状態に基づく制御信号を出力するようにな
っている。即ち、コントローラ１２０８からは各種制御信号１２１３が記録回路
１２０６、および再生回路１２０７へ送られる。また、コントローラ１２０８か
ら磁場制御信号１２１４が外部印加磁石１２０５へ伝送され、外部印加磁場の向
きが制御される。第９図に基づいて上記記録回路１２０６について以下に説明する。コントロー
ラ１２０８（同図中には図示しない）から送られた記録データ１３１１は記録回
路１２０６内の変調回路１３０２に入力される。変調回路１３０２では、記録デ
ータ１３１１が、制御信号１２１３によって記録フォーマットに応じた変調デー
タ１３１０に変換される。この変調は、例えば第１２図に示すような変調方式（
後述する）に従っておこなわれる。変調データ１３１０は、半導体レーザ駆動回
路１３０１へ出力される。半導体レーザ駆動回路１３０１からは半導体レーザ駆
動電流１２１０が出力され、光ヘッド１２０３内の半導体レーザ２８０１へ伝送
される。同時に、半導体レーザ駆動回路１３０１へはコントローラ１２０８から
の制御信号１２１３が入力され、半導体レーザ２８０１の光強度が記録、再生、
および消去の各動作に応じて適切に制御される。第１０図に基づいて上記再生回路１２０７について以下に説明する。光ヘッド
１２０３（同図中には図示しない）からの再生信号１２１１（再生信号Ｓ１、Ｓ２）は、再生回路１２０７内の信号処理回路１４０１に入力される。信号処理回
路１４０１からは、同期データ１４１０が復調回路１４０２へ送られ、同時にセ
クタマーク信号１４１１がコントローラ１２０８へ伝送される。同期データ１４
１０の復調は、第１２図に示すような方式（後述する）に従っておこなわれる。
つまり、第９図に示す変調回路１３０２とは逆の変換をおこなうことによって復
調される。信号処理回路１４０１、復調回路１４０２へはコントローラ１２０８
から各種制御信号１２１３が伝送される。復調回路１４０２からは再生データ１
２１２がコントローラ１２０８へ出力される。第１１図に基づいて上記コントローラ１２０８について以下に説明する。上述
の信号処理回路１４０１からのセクタマーク信号１４１１は、コントローラ１２
０８内のタイミング発生回路１５０１に入力され、セクタ単位のタイミングで基
準タイミング信号１５１０がコントロール回路１５０２へ伝送される。また、上
述の復調回路１４０２からの再生データ１２１２がコントロール回路１５０２に
入力される。コントロール回路１５０２では、上記２つの入力信号から各種制御
信号１２１３が生成されるとともに、外部装置との情報の入出力がおこなわれる
ようになっている。次に、第１２図ないし第１６図に基づいて、第９図に示した記録回路１２０６
の動作を以下に説明する。第９図における変調回路１３０２では、例えば第１２図に示す変調方式に基づ
いて変調がおこなわれる。これは、所謂、２，７変調方式と呼ばれるものである
。第１２図に示すように、入力データ（記録情報）は所定の変調データのパター
ンに変換される。さらに、第１３図に示すフォーマットに従って適切なタイミン
グで、変調データ１３１０を第９図に示した半導体レーザ駆動回路１３０１へ出
力する。第１３図は、第３０図に示したセクタ３００４のフォーマットを示すも
ので以後セクタフォーマットと称する。第１３図においてプリフォーマット部３
００３は、セクタ単位の同期タイミングを得るためのセクタマーク部１７０１と
、セクタのアドレス（番地）情報を含んだＩＤ部１７０２とから構成される。こ
れらは第３０図に示したように、記録・消去できないマーク、および非マークに
対応する物理的な凹凸が光磁気ディスク１２０１に刻み込まれている。ＭＯ（デ
ータ）部３００２は、情報データを記録・再生・消去するためのデータ部１７０３と、ふたつのギャップ部１７０４、１７０５とから構成されている。データ部
１７０３に上記変調データ１３１０が記録される。この時の記録は、第２８図ま
たは第２９図に示したように、光磁気記録によるマーク、および非マークでおこ
なわれる。なお、プリフォーマット部３００３とＭＯ（データ）部３００２との
間に配置されたギャップ部１７０４、１７０５は、データ部１７０３に情報を記
録する際の余裕領域である。つまり、これらのギャップ部１７０４、１７０５は
、スピンドルモータ１２０２の回転と上記セクタ単位の同期タイミングとの間に
発生する位相誤差によって、記録開始位置、および記録終了位置が前後にずれる
ため、これを見込んだ領域である。第１４図に基づいて上記半導体レーザ駆動回路１３０１について以下に説明す
る。半導体レーザ駆動回路１３０１とコントローラ１２０８との間では４つの各
種制御信号１８１０、１８１１、１８１２、および１８１３が入出力される。ま
た、変調回路１３０２（同図中には図示しない）からは変調データ１３１０が半
導体レーザ駆動回路１３０１に入力される。上記の再生光量制御信号１８１０は
、再生光量制御回路１８０１に入力され、再生時に光ヘッド１２０３内の半導体
レーザ２８０１の再生光量が適切に制御されるようになっている。記録・消去光
量制御信号１８１１は、記録・消去光量制御回路１８０３に入力され、記録時・
消去時に対応する半導体レーザ２８０１の光量が制御されるようになっている。
高周波重畳スイッチ信号１８１２は、高周波重畳回路１８０２に入力され、半導
体レーザ２８０１の戻り光によるノズルが低減される。再生光量制御回路１８０
１、記録・消去光量制御回路１８０３、高周波重畳回路１８０２の各出力信号１
８１４、１８１５、および１８１６は、加算回路１８０５で加算され、半導体レ
ーザ駆動電流１２１０が半導体レーザ２８０１に入力される。半導体レーザ２８
０１の光量（光強度）は、光ヘッド１２０３内の光検出器１８０６によってその
光強度に応じて変化する電気信号に変換され、光量モニター回路１８０４を介し
て光量モニター信号１８１３がコントローラ１２０８（同図中には図示しない）
へ伝送されるようになっている。コントローラ１２０８では、光量モニター信号
１８１３に基づいて、上記３つの制御信号１８１０、１８１１、および１８１２
が出力される。つまり、半導体レーザ２８０１の光強度（光量）が再生時と、記
録・消去時とで適切な強度になるように制御される。なお、高周波重畳回路１８０２の出力信号１８１６は再生時にのみ加算回路１８０５へ出力されるようにな
っている。第１５図、および第１６図に基づいて、第１４図における情報の記録・消去の
各動作、および再生動作を以下に説明する。第１５図（ｂ）に示すように、高周波重畳スイッチ信号１８１２は、データ部
１７０３（同図（ａ）参照）においてローレベル（０）になり、それ以外ではハ
イレベル（１）になる。即ち、ＭＯ（テータ）部３００２内のデータ部１７０３
において高周波重畳をオフし、データ部１７０３以外ではオンするようになって
いる。これに伴って、同図（ｃ）に示すように、変調データ１３１０はデータ部
１７０３において光磁気記録される。この時、同図（ｄ）に示すように、半導体
レーザ２８０１の光量レベル（光強度）１９１０はデータ部１７０３で高レベル
になり、それ以外では低レベルになる。つまり、プリフォーマット部３００３内
のセクタマーク部１７０１からセクタ同期タイミングを検出し、ＩＤ部１７０２
からアドレス（番地）情報等を読み出して、所定のアドレス（番地）を確認しな
がら、ＭＯ（データ）部３００２において情報が記録・消去される。一方、情報再生時には、第１６図（ｂ）に示すように、プリフォーマット部３
００３、およびＭＯ（データ）部３００２のいずれの部分でも高周波重畳スイッ
チ信号１８１２はハイレベル（１）である。また、同図（ｃ）に示すように、変
調データ１３１０はローレベル（０）である。さらに、同図（ｄ）に示すように
、光量レベル１９１０は低レベルである。つまり、プリフォーマット部３００３
（同図（ａ）を参照）内のセクタマーク部１７０１からセクタ同期タイミングを
検出し、ＩＤ部１７０２からアドレス（番地）情報等を読み出して、所定のアド
レス（番地）を逐次確認しながら、今度はＭＯ（データ）部３００２から記録さ
れた情報が再生される。次に、第１７図ないし第２０図に基づいて第１１図に示したタイミング発生回
路１５０１、およびコントロール回路１５０２の動作について以下に説明する。第１７図はタイミング発生回路１５０１の構成を示すブロック図であり、信号
処理回路１４０１（同図中に図示しない）から出力されたセクタマーク信号１４
１１はタイミング発生回路１５０１内のセクタマーク検出回路２１０１に入力さ
れる。同回路２１０１は、セクタマーク検出信号２１１０を出力する。セクタマーク検出回路２１０１では、セクタマークの有無が検出される。セクタマーク検
出信号２１１０は、カウンタ２１０２、タイマー回路２１０４、判定回路２１０
６へそれぞれ伝送される。カウンタ２１０２、およびタイマー回路２１０４の出
力信号２１１１、および２１１２は、それぞれスイッチ回路２１０３に入力され
、同回路２１０３でどちらか一方が選択された後に基準タイミング信号１５１０
として出力される。また、同信号１５１０は、データ部発生回路２１０７にも入
力され、これに基づいてデータ部発生信号２１１６が出力される。タイマー回路
２１０４からは、別の出力信号２１１３がウインドウ発生回路２１０５へ伝送さ
れる。同回路２１０５の出力信号であるウインドウ信号２１１４は、判定回路２
１０６へ入力される。判定回路２１０６では、ウインドウ信号２１１４とセクタ
マーク検出信号２１１０とから、タイミング判定信号２１１５が出力される。同
判定信号２１１５により、スイッチ回路２１０３では、カウンタ２１０２の出力
信号２１１１とタイマー回路２１０４の出力信号２１１２のどちらか一方が選択
される。基準タイミング信号１５１０、データ部発生信号２１１６、およびタイ
ミング判定信号２１１５は、それぞれコントロール回路１５０２（第１１図参照
）へ伝送される。コントロール回路１５０２は、これらのタイミング発生回路１
５０１から出力される各種信号と、再生データ１２１２とに基づいて、前述した
各種制御信号１２１３を記録回路１２０６、および再生回路１２０７（第８図参
照）へ伝送し、情報の記録・再生・消去の各制御をおこなうようになっている。第１８図に基づいて第１７図に示したセクタマーク検出各制御２１０１につい
て以下に説明する。信号処理回路１４０１（同図中には図示しない）から出力さ
れたセクタマーク信号１４１１は、カウンタ回路２２０１を構成するカウンタ１
〜９の各入力へ伝送される。カウンタ１〜９の各出力信号２２１１〜２２１９は
、判定回路２２０２へそれぞれ伝送され、この結果に基づいてセクタマーク検出
信号２１１０が出力される。換言すれば、セクタマーク検出回路２１０１は、セ
クタマーク部１７０１（第１３図参照）を検出し、セクタ単位の記録・再生・消
去の各動作をおこなうのに必要な同期タイミングを得る回路である。第１９図に基づいて上記のカウンタ１〜９の動作を以下に説明する。セクタマーク部１７０１のパターンの一例として、同図（ｂ）に示すようなマ
ーク、および非マークから構成されるものを示す。このセクタマーク部１７０１のパターンには、第１２図に示したデータの変調方式とは全く異なるものが用い
られる。従って、情報データとは分離して検出できるようになっている。ここに
例示するものは同図（ａ）に示すようなものであり、マーク長、および非マーク
長の比が５：３：３：７：３：３：３：３：５の順序になるようにマークが刻み
込まれている。このマーク、および非マークのパターンを再生して得られるセク
タマーク信号１４１１は、同図（ｃ）に示すように、マークの部分でローレベル
（０）、非マークの部分でハイレベル（１）となる２値信号に変換される。この
セクタマーク信号１４１１が上記カウンタ１〜９にそれぞれ入力されると、まず
カウンタ１は、マーク長５の長さに対応するカウンタロック２３１０クロック数
をカウントする。カウンタクロック２３１０は、同図（ｄ）で示すように、セク
タマーク信号１４１１よりも高い周波数を有している。そして、このカウント数
が所定範囲内であれば最初のマーク（マーク長５）が正確に検出されたことにな
る。続いて、カウンタ２において同様に非マーク長３の長さの非マークが検出さ
れる。このように順次セクタマーク部１７０１のマーク、および非マークが検出
され、最後にマーク長５の長さをカウンタ９が検出する。このようにして得られ
た９個の、マークまたは非マークの検出信号２２１１〜２２１９が判定回路２２
０２へ伝送される。そして、この９個の検出結果のうち、全て、またはその一部
がセクタマーク部１７０１のパターンと一致しているか否かが判定されるととも
に、マーク・非マークの順序が判定される。この結果、セクタマーク部であると
判定された場合のみ、セクタマーク検出信号２１１０がローレベル（０）になる
。従って、この信号２１１０はセクタ単位の同期タイミングとして使用すること
ができる。第２０図に基づいてタイミング発生回路１５０１の各部の波形を以下に説明す
る。同図（ｂ）に示すように、セクタマーク検出信号２１１０はプリフォーマット
部３００３内のセクタマーク部１７０１（同図中（ａ）に示す）を検出するとロ
ーレベルになる。同検出信号２１１０の立ち下がりエッジがセクタの同期タイミ
ングになる。同図（ｃ）に示すように、カウンタ２１０２は、同検出信号２１１
０の立ち下がりエッジから所定カウント後にカウンタ出力信号２１１１をローレ
ベルにする。一方、タイマー回路２１０４のカウント数は、上記カウンタ２１０２のカウント数を加えて１つのセクタ長分だけカウント数が大きい。従って、同
図（ｄ）に示すように、タイマー回路２１０４の出力であるタイマー回路出力信
号２１１２の立ち下がりエッジは、次のセクタの信号２１１１の立ち下がりエッ
ジとタイミングがほぼ一致する。また、同図（ｅ）に示すように、ウインドウ発
生回路２１０５の出力信号２１１４は、セクタマーク検出信号２１１０の立ち下
がりエッジを基準に、次のセクタにおけるセクタマーク検出信号２１１０の立ち
下がりエッジ付近で所定のウインドウ幅をもってローレベルになるようになって
いる。判定回路２１０６の出力信号であるタイミング判定信号２１１５は、ウイ
ンドウ発生回路２１０５の出力信号２１１４がローレベルの時に、セクタマーク
検出信号２１１０の立ち下がりエッジが存在すれば、同図（ｆ）中の実線で示す
ように、ハイレベルになるようになっている。一方、セクタマーク検出信号２１
１０の立ち下がりエッジが存在しなければローレベルになるようになっている（
同図（ｆ）中の破線で示す）。従って、タイミング判定信号２１１５は、セクタ
マークの検出が所定の範囲で検出できたか、あるいは検出ミスであったかを判定
する信号になる。スイッチ回路２１０３においては、セクタマークの検出ができ
た場合には信号２１１１が選択され、そうでなく検出ミスである場合には信号２
１１２が選択されるようになっている。この結果、同図（ｇ）に示すように、基
準タイミング信号１５１０はセクタマークの検出ミスが発生してもそのタイミン
グ信号を確実に出力できる。即ち、上記に示したようにひとつ前のセクタのタイ
ミングに基づいて補正をおこなうことができる。このようにして得られた基準タ
イミング信号１５１０は、データ部発生回路２１０７へ伝送される。同回路２１
０７はカウンタの一種であり、その出力であるデータ部発生信号２１１６はデー
タ部１７０３でローレベルになる（同図（ｈ）を参照）。つまり、データ部発生
信号２１１６は、プリフォーマット部３００３とＭＯ（データ）部３００２とを
判別する信号として利用できる。このようにして得られた基準タイミング信号１
５１０、タイミング判定信号２１１５、およびデータ部発生信号２１１６は、第
１１図に示したコントロール回路１５０２へ伝送される。同回路１５０２では、
これらの信号に基づいて前述の各種制御信号１２１３が生成される。次に、第２１図ないし第２３図に基づいて、第１０図に示した信号処理回路１
４０１の動作について以下に説明する。光磁気ディスク１２０１から再生された再生信号１２１１（再生信号Ｓ１、Ｓ
２）は、信号処理回路１４０１内のバッファアンプ２５０１に入力される。その
出力信号２５１０は、ＭＯ波形処理部２５０２とプリフォーマット波形処理部２
５０３へと伝送される。これらの回路からは、ＭＯ（データ）部３００２とプリ
フォーマット部３００３とのマーク、および非マークに対応した２値化信号２５
１１、２５１２がそれぞれ出力される。これらの２値化信号はデータ同期部２５
０４に入力され、データ同期部２５０４内のＰＬＬ（ＰｈａｓｅＬｏｃｋｅｄ
Ｌｏｏｐ）において、クロックと同期した同期データ２５１３が出力され、復
調回路１４０２（同図中には図示しない）へ伝送される。また、プリフォーマッ
ト波形処理部２５０３ではセクタマーク信号１４１１が生成され、タイミング発
生回路１５０１へ伝送される。信号処理コントロール部２５０５では、信号処理
回路１４０１内の各部間の各種制御信号２５１４〜２５１７が入出力される。ま
た、第１１図に示したコントローラ１２０８との間で各種制御信号１２１３が入
出力される。第２２図および第２３図は、信号処理回路１４０１の各部の波形を示す図であ
る。第２２図（ｂ）、および同図（ｃ）に示すように、再生信号Ｓ１、Ｓ２はＭ
Ｏ波形処理部２５０２において差動されてＭＯ（データ）部３００２（同図（ａ
）を参照）の情報のみが分離され、さらに２値化され、ＭＯ２値化信号２５１１
が生成される（同図（ｄ）を参照）。また、再生信号Ｓ１、Ｓ２はプリフォーマ
ット波形処理部２５０３において加算されてプリフォーマット部３００３の情報
のみが分離され、さらに２値化されて、ＩＤ２値化信号２５１２とセクタマーク
信号１４１１が得られる（同図（ｅ）、および同図（ｇ）を参照）。再生信号Ｓ
１、Ｓ２の差動および加算によってＭＯ（データ）部３００２とプリフォーマッ
ト部３００３が分離できる理由は、第２９図に示したように、再生信号Ｓ１、Ｓ
２の極性がＭＯ（データ）部３００２では逆であり、プリフォーマット部３００
３においては同じだからである。ＭＯ２値化信号２５１１とＩＤ２値化信号２５
１２とは、同図（ｆ）に示すように、それぞれデータ同期部２５０４においてク
ロックと同期した同期データ２５１３に変換される。なお、ＭＯ２値化信号２５
１１からは情報データが再生され、ＩＤ２値化信号２５１２からはアドレス情報
が再生される。第２３図は、第２２図の波形を詳細に説明する図である。変調データ１３１０
（第２３図（ａ）参照）に基づいて記録されたマーク、および非マークはレーザ
スポット２７０１の照射によって再生される（同図（ｂ）を参照）。同図（ｃ）
に示すように、再生信号Ｓ１、Ｓ２はマークの中心でピークになる信号である。
ＭＯ２値化信号２５１１またはＩＤ２値化信号２５１２は、このピーク位置を検
出した信号であり、その立ち上がりエッジがピーク位置と一致している（同図（
ｄ）を参照）。データ同期部２５０４内のＰＬＬにおいて、ＭＯ２値化信号２５
１１またはＩＤ２値化信号２５１２から同期クロックを生成し、このクロックと
同期させて同期データ２５１３を得ている。同図（ｅ）に示すように、同期デー
タ２５１３は変調データ１３１０を忠実に再生したデータとなる。次に、本実施例における信号処理回路１４０１内のバッファアンプ２５０１に
ついて第１図ないし第７図に基づいて以下に説明する。第１図において再生信号Ｓ１は、バッファアンプ２５０１内のリミッター１０
１（信号レベル制限手段）に入力される。このリミッター１０１では、再生信号
Ｓ１に含まれる過大振幅が所定のレベルに制限される。リミッター出力信号１１
１はコンデンサ１０２、および抵抗１０３を含む構成から成るハイパスフィルタ
ーに入力される。なお、抵抗１０３の一方はコンデンサ１０２に接続され、他方
は電圧Ｖ₀に接続されている。ハイパスフィルターは、再生信号Ｓ１中のＤＣ成
分を除去し、ＡＣ成分に含まれる情報信号だけの再生を容易にしている。また、
ハイパスフィルターの時定数は、再生信号中のデータに位相のずれが生じて再生
エラーにならない程度に、できるだけ小さく設定する。つまり、過渡応答時間が
できるだけ短くなるようにハイパスフィルターの時定数を設定する。そして、ハ
イパスフィルターの出力信号１１２はアンプ１０４に伝送され、その出力信号１
１５が後段の再生回路（図示しない）に伝送される。同様に、再生信号Ｓ２はリ
ミッター１０５においてその過大振幅が所定のレベルに制限された後、コンデン
サ１０６、および抵抗１０７を含む構成から成るハイパスフィルターへ伝送され
て、再生信号Ｓ２中のＤＣ成分が除去され、ＡＣ成分に含まれる情報信号だけが
容易に再生される。ハイパスフィルターの出力信号１１４はアンプ１０８を介し
て出力信号１１６として後段の再生回路（図示しない）へ伝送される。第２図は、第１図におけるリミッター１０１、１０５の第１の実施例を示している。再生信号Ｓ１はリミッター１０１内の抵抗２０１、２０２、２０４、ＰＮ
Ｐトランジスタ２０３を含む構成から成るエミッタフォロワに入力される。エミ
ッタフォロワの出力信号１１１は、ダイオード２０５とコンデンサ１０２とに入
力される。コンデンサ１０２と抵抗１０３で構成されたハイパスフィルターの出
力信号１１２は次段バッファアンプ１０４（同図中には図示しない）へ伝送され
る。一方ダイオード２０５は抵抗２０６を介してオープンコレクタ２１３と抵抗
２１２へ伝送される。抵抗２１２は電源Ｖｃｃでプルアップされている。なお、
オープンコレクタ２１３は、例えばテキサスインスツルメンツ社製の７４０６を
使用すればよい。さて、リミッタータイミング信号２５０がハイレベル（１）に
なると、オープンコレクタ２１３の出力はローレベルになり、抵抗２０６、ダイ
オード２０５を介してリミッター出力信号１１１のレベルが制限電圧Ｖ_Lに制限
される。なぜなら、エミッタフォロワを構成するＰＮＰトランジスタ２０３のベ
ース電圧が制限電圧Ｖ_Lを越えるとＰＮＰトランジスタ２０３がオフ状態になり
、電源Ｖｃｃが抵抗２０４・２０６、およびダイオード２０５で決まる電圧に分
圧され、この分圧された電圧、即ち制限電圧Ｖ_Lが同エミッタ電圧となるためで
ある。一方、ベース電圧が制限電圧Ｖ_L以下では、ＰＮＰトランジスタ２０３が
オン状態になるので、再生信号Ｓ１がほぼそのまま同トランジスタ２０３のエミ
ッタ電圧となり、その振幅が制限されずにそのままリミッター出力信号１１１と
なる。再生信号Ｓ２についても同様に、エミッタフォロワを構成するＰＮＰトラ
ンジスタ２０９のベース電圧が制限電圧Ｖ_Lを越えるとＰＮＰトランジスタ２０
９がオフ状態になり、電源Ｖｃｃが抵抗２１０・２０６、およびダイオード２１
１で決まる電圧に分圧され、この分圧された電圧、即ち制限電圧Ｖ_Lが同エミッ
タ電圧となる。一方、ベース電圧が制限電圧Ｖ_L以下では、ＰＮＰトランジスタ
２０９がオン状態になり、再生信号Ｓ２が制限されずにそのままリミッター出力
信号１１３となる。なお、上記の構成では再生信号Ｓ１、Ｓ２をリミッタータイ
ミング信号２５０で同時に制限することが可能であり、リミッタータイミング信
号２５０がハイレベル（１）の時は再生信号Ｓ１、Ｓ２のレベルが制限され、ロ
ーレベル（０）の時は制限されない。第３図に基づいて、第１図におけるハイパスフィルターとアンプとを兼ね備え
たブロック１０９の一実施例について以下に説明する。リミッター出力信号１１１は、主としてコンデンサ３０１、抵抗３０２、３０
３、３０５、３０６、３０８、ＮＰＮトランジスタ３０４、３０９、可変抵抗３
０７で構成されたハイパスフィルター、およびアンプ機能を兼ね備えた回路に入
力される。この出力信号１１５の増幅度は可変抵抗３０７によって調整可能なよ
うになっている。リミッター出力信号１１３も同様に構成を有するハイパスフィ
ルター、およびアンプ機能を兼ね備えた回路に入力され、回路の出力信号１１６
の増幅度は固定で調整できないようになっている。なお、上記では出力信号１１
６の増幅度が固定の場合について説明したが、これに限定されるものではなく、
出力信号１１５のようにその増幅度が可変できるようになっているものでもよい
。これらバッファアンプ１１０の出力信号１１５、１１６は次段の差動増幅器、
加算増幅器（いずれも同図中には図示しない）へ伝送される。第４図に基づいて、第２１図に示したＭＯ波形処理部２５０２、およびプリフ
ォーマット波形処理部２５０３の要部について以下に説明する。バッファアンプ１１０の出力信号１１５、１１６はＭＯ波形処理部２５０２、
およびプリフォーマット波形処理部２５０３内の差動増幅器４０１、加算増幅器
４０３にそれぞれ入力される。差動増幅器４０１において再生信号Ｓ１、Ｓ２の
差動増幅をおこなうことにより、Ｓ／Ｎ比を向上させると同時に、ＭＯ（データ
）部３００２の情報だけを抽出することができる。なお、差動をおこなう際の差
動比率は、例えば第３図における可変抵抗３０７によって適切な差動比率に調整
される。差動増幅器４０１の出力信号４１０はＡＧＣアンプ４０２に入力され、
適切な信号レベルに制御される。ＡＧＣアンプ４０２の出力信号４１１は次段の
２値化回路（同図中には図示しない）に入力され、ＭＯ（データ）部３００２の
情報が２値化されて読み取られる。また、加算増幅器４０３において再生信号Ｓ
１、Ｓ２を加算することにより、プリフォーマット部３００２の情報だけを抽出
することができる。この出力信号４１２はＡＧＣアンプ４０４に入力され、適切
な信号レベルに制御される。この出力信号４１３は次段の２値化回路（同図中に
は図示しない）に入力され、プリフォーマット部３００３の情報が２値化されて
読み取られる。第５図は、第２図に示したリミッター回路の各部の波形を示している。第５図においてプリフォーマット部３７０１とＭＯ（データ）部３７０２とで構成され
たセクタ（第５図（ａ）を参照）では情報の記録がおこなわれ、プリフォーマッ
ト部３７０３、およびＭＯ（データ）部３７０４で構成されたセクタでは情報の
再生がおこなわれ、プリフォーマット部３７０５とＭＯ（データ）部３７０６と
で構成されたセクタでは情報の消去がおこなわれるものとする。これら情報の記
録・再生・消去の各動作は、プリフォーマット部３７０１、３７０３、３７０５
の同期タイミング情報、およびアドレス情報を読み出し、所定の同期タイミング
が検出され、しかも所定のアドレスであることを逐次確認しながらおこなわれる
。さて、再生信号Ｓ１、Ｓ２は記録・消去の各動作時にその振幅が過大な信号に
なる（同図（ｂ）を参照）。これは、記録・消去の各動作時には、上記セクタか
らの光強度の大きい反射光が光検出器３２０３、３２０４に入射するためである
。この時、リミッター出力信号１１１、１１３は、上述したようにリミッター１
０１、１０５によって制限電圧Ｖ_Lのレベルに制限される。リミッター出力信号
が制限される区間はリミッタータイミング信号２５０によって制御される（同図
（ｅ）を参照）。即ち、ＭＯ（データ）部３７０２における記録区間、およびＭ
Ｏ（データ）部３７０６における消去区間においてそのレベルが制限される（同
図（ｃ）を参照）。バッファアンプ出力信号１１５、１１６の記録・消去の各動
作直後の波形は、ハイパスフィルターの過渡応答による影響が殆どなくなる（同
図（ｄ）を参照）。従って、再生限界レベル範囲を超えることがないため、記録
・消去の各動作直後にプリフォーマット部３７０３、３７０７の同期タイミング
情報、およびアドレス情報を読み出すことができ、所定の同期タイミングが検出
され、かつ所定のアドレスであることを逐次確認しながら記録・再生・消去の各
動作をおこなうことができる。この結果、光磁気ディスク装置における情報の高
速転送、および光密度化が可能となる。なお、上記リミッタータイミング信号２５０は記録・消去の各区間、つまり半
導体レーザ２８０１の光強度が再生時のものでない区間にハイレベル（１）であ
ればよい。例えば、第１４図、および第１５図に示した高周波重畳スイッチ信号
１８１２をリミッタータイミング信号としてそのまま使用してもよい。この時、
第１４図における高周波重畳回路１８０２の動作が高周波重畳スイッチ信号１８
１２に対して遅れを伴う場合がある。この場合には、上記動作の遅れ分を見込んでリミッタータイミング信号２５０による制限区間を多少広げてもよい。また、
第９図における変調回路１３０２におけるデータ変調タイミング等、上記と同様
な区間を有する信号を用いてもよい。また、リミッター１０１、１０５における振幅の制限レベルＶ_Lに関しては、
記録・消去時のレベル制限後のＭＯ（データ）部の信号の平均値レベルが、プリ
フォーマット信号のレベル付近にあるように設定すると効果が大きい。つまり、
プリフォーマット部の信号の上縁レベルをＶ_U、記録時のＭＯ（データ）部の信
号の下縁レベルをＶ_dとすると、Ｖ_d≦Ｖ_L≦Ｖ_U＋（Ｖ_U−Ｖ_d）である。その理由のひとつは、過渡応答の影響を最小限に抑えることができるこ
とである。他の理由は、同じ種類の複数の光磁気ディスク間、および同一の光磁
気ディスク内における再生信号Ｓ１、Ｓ２のレベル誤差がほぼ上記範囲内に存在
するためである。再生信号Ｓ１、Ｓ２のレベル誤差は、例えば同じ種類の複数の
光磁気ディスク間、および同一の光磁気ディスク内における反射率変化等によっ
て生じる。また、上記制限レベルＶ_Lをプリフォーマット部の信号の上縁レベル
Ｖ_Uよりも若干高くしておき、リミッタータイミング信号２５０を常にハイレベ
ル（１）にしておいても同様の効果が得られる。さて、光磁気ディスク１２０１は第７図に示すように、情報の記録・再生・消
去をおこなうデータ領域７０２以外に、内周側の複数のトラックで構成されたコ
ントロールトラック７０１と呼ばれるもう一つの領域を備えているものがある。
これは、特性およびフォーマットの異なる光磁気ディスクに、誤って記録・再生
・消去をおこなわないためのものである。このことについて以下に詳細に説明す
る。光磁気ディスク１２０１は、記録磁性膜の特性、およびフォーマット等の違い
により多種多様な種類がある。従って、１台の光磁気ディスク装置において、こ
れら全ての種類の光磁気ディスクに体して記録・再生・消去の各動作をおこなう
ことは困難である。つまり、光磁気ディスクの特性、およびフォーマットに対応
した光磁気ディスク装置においてのみ情報の記録・再生・消去の各動作をおこな
う必要がある。例えば、特性およびフォーマットの異なる２種類の光磁気ディス
クをＡ、Ｂとし、これに対応した光磁気ディスク装置をそれぞれＤａ、Ｄｂとすると、光磁気ディスクＡを光磁気ディスク装置Ｄａにおいて情報を記録・再生・
消去することはできるが、光磁気ディスク装置Ｄｂにおいて情報を記録・再生・
消去することはできない。また、光磁気ディスクＢを光磁気ディスク装置Ｄｂに
おいて情報を記録・再生・消去することはできるが、光磁気ディスク装置Ｄａに
おいて情報を記録・再生・消去することはできない。この場合、例えば以下のよ
うな問題が発生することもある。光磁気ディスクＡを誤って光磁気ディスク装置
Ｄｂにおいて情報を記録、再生、または消去してしまう場合もある。この場合、
光磁気ディスクＡ内の情報が破壊されたり、信頼性を失ったり、ひいては光磁気
ディスクＡそのものが破壊される危険性もある。このような問題点を解決するために、例えば以下に示す対策が提案されている
。光磁気ディスクＡ内にその特性、およびフォーマットの情報を予め物理的な凹
凸の形状のマーク、および非マークで刻み込んでおき、このプリフォーマット情
報だけは光磁気ディスク装置Ｄｂを含めたあらゆる他の光磁気ディスク装置にお
いても再生できるようにしておくのである。こうすれば、記録、再生、または消
去をおこなう前に光磁気ディスクＡの特性、およびフォーマットの違いが検知で
き、それ以後の記録・再生・消去の各動作を停止させることができる。このプリ
フォーマット情報を刻み込んでおく領域が上記コントロールトラック７０１であ
る。この領域では、情報の記録・消去はおこなわれない。コントロールトラック
７０１のプリフォーマット情報は、たとえ光磁気ディスクの特性（例えば反射率
など）が異なる場合でも、あらゆる光磁気ディスク装置間で読み出せるようにフ
ォーマットだけは統一されている。第６図に基づいて、上記コントロールトラック７０１の特性、およびフォーマ
ット情報の再生について以下に説明する。同図（ａ）に示すように、コントロールトラック７０１は、第７図に示したデ
ータ領域７０２とは異なり、予め物理的な凹凸の形状のマーク、および非マーク
で光磁気ディスク１２０１の特性、およびフォーマットが刻み込まれている（プ
リフォーマット）。第５図に示した各波形は、例えば光磁気ディスクＡを光磁気
ディスク装置Ｄａにおいて、記録・再生・消去する場合のものであり、第６図の
各波形は、例えば光磁気ディスクＢを光磁気ディスク装置Ｄａにおいて、コント
ロールトラック内の特性、およびフォーマット情報を再生する場合のものである。さらに、第６図の各波形は、光磁気ディスクＢの反射率が光磁気ディスクＡよ
りも大きい例であり、第６図における再生信号Ｓ１、Ｓ２のレベル（同図（ｂ）
を参照）は、第５図に示したものよりは高くなっている。このコントロールトラ
ック７０１を再生する時は、リミッタータイミング信号２５０をローレベル（０
）にしておく（同図（ｅ）を参照）。この時、リミッター１０１、１０５は信号
の振幅のレベル制限をおこなわないため、リミッター出力信号１１１、１１３（
同図（ｃ）を参照）のＡＣ成分はそのままバッファアンプ出力信号１１５、１１
６として出力される（同図（ｄ）を参照）。バッファアンプ出力信号１１５、１
１６は、第４図におけるＡＧＣアンプ４０２、４０４において適切な信号レベル
に制御され、光磁気ディスクＢの特性、およびフォーマットが読み取られる。つ
まり、光磁気ディスクＢの特性、およびフォーマットが検知できるため、誤って
記録・再生・消去の各動作がおこなわれることを回避できる。さらに、この結果
を外部機器に知らせたり、または表示手段等によって特性、およびフォーマット
の異なる光磁気ディスクであることを知らせることもできる。このように、第２図に示したリミッター回路１０１、１０５を備えることによ
り、記録・消去の各動作直後にプリフォーマット部３７０３、３７０７の同期タ
イミング情報、およびアドレス情報を読み出すことが、所定の同期タイミングが
検出され、しかも所定のアドレスであることを逐次確認しながら、情報の記録・
再生・消去の各動作をおこなうことができる。即ち、ハイパスフィルターの過渡
応答、およびＡＧＣアンプの応答に影響されることなく、光磁気ディスク装置に
おける情報の高速転送、および高密度化が可能になる。さらに、特性、およびフ
ォーマットの異なる光磁気ディスクに対して、誤って情報の記録・再生・消去の
各動作をおこなうことが回避でき、情報が破壊されて信頼性を失ったり、光磁気
ディスクそのものが破壊されるという危険性も事前に回避できる。〔実施例２〕第２４図ないし第２７図に基づいて本発明に係る情報記録再生装置の第２の実
施例を説明すると以下のとおりである。なお、実施例１で使用した部材と同一の
機能を有する部材については同一の符号を付し、便宜上、その説明を省略する。第２４図は、本発明に係る情報記録再生装置のリミッターの他の例を示してい
る。再生信号Ｓ１は、主としてリミッター１０１内の抵抗８０１、８０２、８０４、ＰＮＰトランジスタ８０３で構成されたエミッタフォロワに入力される。エ
ミッタフォロワの出力信号１１１はトランジスタ８０５のエミッターとコンデン
サ１０２に伝送される。コンデンサ１０２、および抵抗１０３を含む構成から成
るハイパスフィルターの出力信号１１２は、次段バッファアンプ１０４（同図中
には図示しない）へ伝送される。一方トランジスタ８０５のベースは抵抗８０６
を介して電圧Ｖ₁に接続されている。リミッター出力信号１１１の振幅はＰＮＰ
トランジスタ８０５のエミッター電圧にレベル制限される。なぜなら、この制限
電をＶ_Lとすると、Ｖ_L≒Ｖ₁＋Ｖ_BE （Ｖ_BE：トランジスタ８０５のベース−エミッター間電圧）となり、再生信号Ｓ１のレベルが大きくなってＰＮＰトランジスタ８０３のベ
ース電圧がエミッター電圧を越えるとＰＮＰトランジスタ８０３がオフ状態にな
る。この時、ＰＮＰトランジスタ８０５がオン状態になる。これに伴って、リミ
ッター出力信号１１１のレベルは、ほぼ（Ｖ₁＋Ｖ_BE）のレベルになる。即ち、
制限電圧Ｖ_Lをほぼ（Ｖ₁＋Ｖ_BE）のレベルになるように設定しておけば、再生信
号Ｓ１のレベルは制限電圧Ｖ_Lより大きくなることはない。一方、再生信号Ｓ１
のレベルが小さくなってＰＮＰトランジスタ８０３のベース電圧がエミッター電
圧、即ち、上記制限電圧Ｖ_Lよりも小さいと、ＰＮＰトランジスタ８０３がオン
状態となる。この時、ＰＮＰトランジスタ８０５がオフ状態になり、再生信号Ｓ
１はそのままリミッター出力信号１１１としてハイパスフィルターを介して次段
バッファアンプへ出力される。再生信号Ｓ２についても同様に、制限電圧Ｖ_Lがほぼ（Ｖ₁＋Ｖ_BE）のレベルに
なるように設定しておけば、再生信号Ｓ２のレベルが制限電圧Ｖ_Lより小さい場
合にはそのままリミッター出力信号１１３としてハイパスフィルターを介して次
段バッファアンプへ出力され、再生信号Ｓ２のレベルが制限電圧Ｖ_Lより大きい
場合でも、制限電圧Ｖ_Lより大きくなることはない。なお、回路動作の詳細につ
いては、上記再生信号Ｓ１の場合と同様な動作になるので、便宜上、その説明を
省略する。また、この例では回路の簡略化のため制限電圧Ｖ_Lを再生信号Ｓ１、
再生信号Ｓ２に対して同じレベルに設定してあるが、これに限定されるものでは
なく、個々に制限レベルを設定してもよい。第２５図に基づいて、第２４図に示したリミッター回路の各部の動作波形を以
下に説明する。第２５図に示すように、プリフォーマット部３７０１とＭＯ（データ）部３７
０２で構成されたセクタでは情報の記録がおこなわれ、プリフォーマット部３７
０３とＭＯ（データ）部３７０４で構成されたセクタでは情報の再生がおこなわ
れ、プリフォーマット部３７０５とＭＯ（データ）部３７０６で構成されたセク
タでは情報の消去がおこなわれるものとする（同図（ａ）を参照）。この記録・
再生・消去の各動作は、プリフォーマット部３７０１、３７０３、３７０５の同
期タイミング情報、およびアドレス情報を再生して読み出し、所定の同期タイミ
ングが検出され、しかも所定のアドレスであることを逐次確認しながらおこなわ
れる。さて、同図（ｂ）に示すように、再生信号Ｓ１、Ｓ２は記録・消去の各動
作時にその振幅が過大な信号になる。これは、記録・消去時における光磁気ディ
スク１２０１からの光強度の大きい反射光が光検出器３２０３、３２０４に入射
するためである。この時、リミッター出力信号１１１、１１３に含まれる過大な
振幅は、前述のリミッター１０１、１０５によって制限電圧Ｖ_Lに制限される（
同図（ｃ）を参照）。なお、この第２の実施例においては第１の実施例と異なり
、記録・消去の各動作時に限らず、再生動作時にもレベルが制限される。これに
伴って、バッファアンプ出力信号１１５、１１６の記録・消去の各動作直後の波
形はハイパスフィルターの過渡応答による影響が殆どなくなる（同図（ｄ）を参
照）。従って、再生限界レベルを越えることがないため、記録・消去の各動作直
後にプリフォーマット部３７０３、３７０７の同期タイミング情報、およびアド
レス情報を正確に読み出すことができ、所定の同期タイミングが検出され、しか
も所定のアドレスであることを逐次確認しながら記録・再生・消去をおこなうこ
とが可能となるので、光磁気ディスク装置における情報の高速転送、および光密
度化が可能になる。なお、この第２の実施例では特性、およびフォーマットが異なる光磁気ディス
クにおけるコントロールトラック７０１内の特性、およびフォーマット情報の再
生ができない場合がある。第２６図に基づいて以下にこのことを詳細に説明する
。第２６図は、上記コントロールトラック７０１内の特性、およびフォーマット情報の再生についてその時の各部の波形を示す図である。同図（ａ）に示すよう
にコントロールトラック７０１は、第７図に示したデータ領域とは異なり、予め
物理的な凹凸の形状を有するマーク、および非マークで光磁気ディスク１２０１
の特性、およびフォーマットが刻み込まれている（プリフォーマット）。第２５
図に示した波形は、例えば前述した光磁気ディスクＡを光磁気ディスク装置Ｄａ
において、情報の記録・再生・消去の各動作をおこなう場合に相当するものであ
り、一方、第２６図中の波形は、例えば前述の光磁気ディスクＢを光磁気ディス
ク装置Ｄａにおいて、コントロールトラック内の特性、およびフォーマット情報
を再生する場合に相当するものである。即ち、第２６図の波形例は光磁気ディス
クＢの反射率が光磁気ディスクＡよりも高い例であり、同図（ｂ）中における再
生信号Ｓ１、Ｓ２のレベルは第５図に示したものよりは高くなっている。従って
、信号レベルが図に示す制限レベルＶ_Lを越えることがある。つまり、同図（ｃ
）に示すように、リミッター出力信号１１１、１１３は制限レベルＶ_Lで飽和し
てしまい（同図（ｃ）中の破線部分は再生信号Ｓ１、Ｓ２の振幅が制限される前
の振幅を示す）、同図（ｄ）に示すように、バッファアンプ出力信号１１５、１
１６中には再生信号が現れない場合がある（これは制限レベルＶ_Lの設定値によ
って異なる）。結局、光磁気ディスクＢの特性、およびフォーマットが検知でき
ないために、誤って情報の記録・再生・消去をおこなう場合がある。従って、こ
こに示した第２の実施例は、光磁気ディスク装置における情報の高速転送、およ
び高密度化においては効果があるが、特性、およびフォーマットが異なる光磁気
ディスクにおける情報の記録・再生・消去は、事実上、困難である。このような
問題点を解決するには、第２４図に示したＰＮＰトランジスタ８０５、８１１の
ベースに印加される電圧Ｖ₁をリミッタータイミング信号２５０で切り換えれて
やればよい。また、リミッター回路１０１、１０５は第２４図に示したような回路に限定さ
れることはなく、例えば第２７図に示すような回路を用いても同じ効果が得られ
る。その回路動作について以下に説明する。ここに例示する回路は、演算増幅器を用いたリミッター回路である。再生信号
Ｓ１は、抵抗１１０１を介して演算増幅器１１０５の反転入力に伝送される。こ
の時、再生信号Ｓ１の振幅が基準電圧Ｖ₂を越えると、同増幅器１１０５の出力が正符号から負符号の出力電圧に変化するが、定電圧ダイオード１１０４の定格
出力電圧値に制限される。また、再生信号Ｓ１のレベルが基準電圧Ｖ₂以下の場
合には、同増幅器１１０５の出力が負符号から正符号の出力電圧に変化するが、
定電圧ダイオード１１０３の定格出力電圧値よりも大きくなることはない。以上
のように、再生信号Ｓ１の振幅は、定電圧ダイオード１１０３・１１０４の定格
出力電圧値（正・負ふたつの制限レベル）に制限されてリミッター出力信号１１
１として後続のハイパスフィルタ伝送される。同様に、再生信号Ｓ２も、その振
幅が基準電圧Ｖ₂を越えると定電圧ダイオード１１０９の定格出力電圧値に制限
され、再生信号Ｓ２の振幅が基準電圧Ｖ₂以下の場合には定電圧ダイオード１１
０８の定格出力電圧値よりも大きくなることはない。以上のように、ここで例示
したリミッター回路は、定電圧ダイオードの定格出力電圧値が制限電圧値になり
、前述した第２４図の場合とは異なり、再生信号Ｓ１、Ｓ２の正、負両方のレベ
ル制限をおこなうことができる。なお、上述のリミッター回路においては、リミッター制限電圧は再生信号Ｓ１
、Ｓ２と同じレベルに設定することによって、回路構成の簡素化を実現している
。しかし、光磁気ディスク装置の中には、再生信号Ｓ１のレベルとＳ２のレベル
が異なる場合もある。例えば、再生光学系の特性による誤差、再生光学系内にお
ける再生信号Ｓ１、Ｓ２の再生方式の違い等がその原因として挙げられる。この
ような場合は、上記の場合とは異なり、再生信号Ｓ１、Ｓ２に対して異なるリミ
ッター制限電圧を設定すれば、上記と同様な効果が得られる。また、特に光磁気ディスクメモリ装置を含めた光メモリ装置においては、第５
図、または第２５図に示したように、再生信号Ｓ１、Ｓ２中のＤＣ成分の変動が
激しく、例えば記録・消去の各動作時のレベルが図中で高レベルの方だけに極端
に偏る傾向がある。従って、本発明では、第２図、および第２４図に示したよう
に、信号レベル中の高レベルだけレベル制限をおこなうリミッターを用い、回路
構成の簡素化をおこなうことを可能にしている。しかし、信号レベルが低い方向
にも偏るようであれば、上記に示した回路に限らず、例えば第２７図に示したよ
うに、低レベルのレベル制限をおこなうリミッター回路を用いてもよい。また、光磁気ディスクメモリ装置においては、一般に、上記２つの実施例に示
したように、再生信号がふたつ（Ｓ１、Ｓ２）あるため、これに対応してリミッター回路もふたつ（１０１、１０５）備えている。しかし、例えば追記型の光メ
モリ装置等のように再生信号がひとつのものもあり、この場合はリミッター回路
はひとつでよい。また、第２図、第３図、および第２４図においては、ＰＮＰトランジスタ２０
３、２０９を用いたが、これに限定されず、ＮＰＮトランジスタから成る構成に
してもよい。さらに、リミッター１０１、１０５の代わりにサンプルホールド回
路を使用して、記録・消去の各区間において再生信号Ｓ１、Ｓ２をホールドし、
再生区間においてサンプルしても前述と同様の効果が得られる。しかし、サンプ
ルホールド回路は、一般に回路が複雑で高価であり、しかも周波数特性がよくな
いため再生信号の品質が低下しやすく、情報の高速転送、および高密度化に支障
を来す。また、リミッター１０１、１０５の代わりにアナログスイッチを用いて
、記録・消去時に再生信号を一定電圧に固定しても上記と同様な効果が得られる
。しかし、この場合、アナログスイッチの切り換え時に発生するスイッチングパ
ルスが再生信号よりも大きくなることが多く、このスイッチングパルスが再生動
作に悪影響を及ぼす原因となる（例えばＡＧＣやＰＬＬ等に悪影響を及ぼす）。
一方、第２図に示すように本発明によれば簡単でしかも安価な回路で上記の効果
を得ることができる。なお、本発明では、光磁気ディスクメモリ装置を例に挙げて説明したが、これ
に限定されず、光磁気カードメモリ装置等の他の光磁気メモリ装置、追記型光メ
モリ装置等の他の光メモリ装置、さらには情報の記録・再生・消去をおこなう磁
気ディスク装置等の他の情報記録再生装置においても適用可能である。〔発明の効果〕本発明に係る情報記録再生装置は、以上のように、情報の記録・再生、または
消去をおこなう情報記録再生装置において、情報の記録・消去の各動作時におけ
る再生信号中に含まれる過大振幅を所定のレベルに制限すると共に該所定のレベ
ル内では前記再生信号をそのまま出力する信号レベル制限手段を情報の再生をお
こなう再生回路の前段に設けた構成である。これにより、記録・消去の各動作直
後のプリフオーマット部における再生信号が受けるＡＣ結合の過渡応答の影響を
低く抑えることができ、常に再生信号が再生限界レベル範囲内に抑えることがで
きる。従って、記録・消去の各動作直後のプリフオーマット部の同期タイミング情報、およびアドレス情報を正確に読み出すことができ、所定の同期タイミング
を検出し、しかも所定のアドレスであることを逐次確認しながら、情報の記録消
去をおこなうことができる。即ち、ＡＣ結合の過渡応答やＡＧＣ回路の応答に影
響されずに、プリフオーマット部の配置を決めることができ、光磁気ディスクメ
モリ装置における情報の高速転送、および高密度化が可能となる。また、特性、
およびフォーマットの異なる光磁気ディスクに対して、誤って情報の記録・再生
・消去をおこなうことを回避でき、情報が破壊され信頼性を失ったり、光磁気デ
ィスクそのものが破壊されるという危険性を事前に回避することができる等の効
果を併せて奏する。【図面の簡単な説明】第１図ないし第７図は、本発明の一実施例を示すものである。第１図は、バッファアンプの構成を示すブロック図である。第２図は、本発明に係る情報記録再生装置のリミッター回路の回路構成を示す
図である。第３図は、リミッター回路の出力信号に対して増幅度が可変できる回路構成を
示す図である。第４図は、ＭＯ波形処理部、およびプリフオーマット波形処理部のそれぞれの
回路構成を示すブロック図である。第５図は、第２図に示したリミッター回路の各部の波形を示す図である。第６図は、コントロールトラックの特性、およびフオーマット情報の再生につ
いての説明図である。第７図は、コントロールトラックを備えた光磁気ディスクを示す平面図である
。第８図ないし第２３図は、本発明に係る光磁気メモリ装置の構成を説明するた
めのものである。第８図は、光磁気メモリ装置の構成を示すブロック図である。第９図は、記録回路の構成を示すブロック図である。第１０図は、再生回路の構成を示すブロック図である。第１１図は、コントローラの構成を示すブロック図である。第１２図は、記録情報の変調方式の一例として、２，７変調方式を説明した図である。第１３図は、セクタのフオーマットを示す図である。第１４図は、半導体レーザ駆動回路の構成を示す図である。第１５図もよび第１６図は、第１４図における情報の記録・消去の各動作、お
よび再生動作時の半導体レーザ駆動回路の各部の波形を示す図である。第１７図は、タイミング発生回路の構成を示すブロック図である。第１８図は、セクタマーク検出回路の構成を示すブロック図である。第１９図は、第１８図を構成するカウンタの動作を模式的に説明した図である
。第２０図は、タイミング発生回路の各部の波形を示す図である。第２１図は、信号処理回路の構成を示すブロック図である。第２２図は、信号処理回路の各部の波形を示す図である。第２３図は、第２２図をさらに詳しく説明した図で、ＭＯ（データ）部および
プリフオーマット部のマークから２値化データの生成過程を説明する図である。第２４図ないし第２７図は本発明の他の実施例を示すものである。第２４図は、本発明に係る情報記録再生装置のリミッターの他の例を示す図で
ある。第２５図は、第２４図に示したリミッター回路の各部の動作波形を示す図であ
る。第２６図は、特性、およびフオーマットが異なる光磁気ディスクにおいてコン
トロールトラック内の特性、およびフオーマット情報の再生ができない場合のバ
ッファアンプの各部の波形を示す図である。第２７図は、リミッターの変形例を示す図である。第２８図ないし第３８図は従来例を示す図である。第２８図は、光磁気ディスクへの情報の記録、および光情報ディスクに記録さ
れた情報の消去の各動作を説明する図である。第２９図は、光磁気ディスクの再生動作を示す図である。第３０図、および第３１図は、光磁気ディスク上におけるプリフオーマット部
とＭＯ（データ）部との関係を示す図である。第３２図は、再生時の光学系の要部の構成を示すブロック図である。第３３図および第３４図は、ＭＯ（データ）部、およびプリフオーマット部に
おける再生信号Ｓ１、Ｓ２のそれぞれの極性についての説明図である。第３５図は、再生回路と、アドレス発生回路およびタイミング発生回路との関
係を示す図である。第３６図は、バッファアンプの構成を示すブロック図である。第３７図は、第３６図に示したバッファアンプの入力段であるＡＣ結合部に過
大振幅が入力された時のバッファアンプの出力信号に与える影響を示す図である
。第３８図は、第３６図に示したバッファアンプの入力段であるＡＣ結合部に過
大振幅が入力された時のＡＧＣアンプの出力信号に与える影響を示す図である。１０１、１０５はリミッター（信号レベル制限手段）、４０２，４０４はＡＧ
Ｃアンプ、１２０１は光磁気ディスク、１２０３は光ヘッド、１２０６は記録回
路、１２０７は再生回路、１２０８はコントローラである。

Claims

【特許請求の範囲】１．情報の記録、再生、または消去をおこなう情報記録再生装置において、情
報の記録・消去の各動作時における再生信号中に含まれる過大振幅を所定のレベ
ルに制限すると共に該所定のレベル内では前記再生信号をそのまま出力する信号
レベル制限手段を情報の再生をおこなう再生回路の前段に設けたことを特徴とす
る情報記録再生装置。