JP2023115684A - 放射線撮像装置、放射線撮像システム、放射線撮像装置の制御方法、および、画像処理装置 - Google Patents

Abstract

【課題】時間変動するノイズの補正に有利な技術を提供する。【解決手段】放射線画像を取得するための複数の画素が配された画素領域と、前記画素領域から出力される複数の画像データを処理する信号処理部と、を含む放射線撮像装置であって、前記画素領域は、放射線の照射が遮られた状態の信号を出力する第１領域と、前記放射線画像のそれぞれの画素に対応する第２領域と、を含み、前記複数の画像データは、第１画像データと、前記第１画像データよりも後に出力される複数の第２画像データと、を含み、前記信号処理部は、前記第１画像データのうち前記第１領域の信号値の第１平均値を取得し、前記複数の第２画像データのそれぞれについて、第２画像データのうち前記第１領域の信号値の第２平均値と、前記第１平均値と、の差分に応じて補正用データを取得し、当該第２画像データのうち前記第２領域の信号値を、前記補正用データに従って補正する。【選択図】図５

Description

本発明は、放射線撮像装置、放射線撮像システム、放射線撮像装置の制御方法、および、画像処理装置に関する。

医療画像診断や非破壊検査において、半導体材料によって構成される平面検出器（ＦＰＤ）を用いた放射線撮像装置が実用化されている。放射線撮像装置において、画素から信号を読み出す伝送経路に配される半導体素子に起因して、１／ｆノイズや温度ドリフトなどが発生し、ランダムノイズ、縦線ノイズなどが画像に現れうる。特許文献１には、撮像開始指示を受ける前に各画素から読み出されたリセット信号および蓄積信号に基づく補正用画像と、撮像開始指示を受けた後に各画素から読み出されたリセット信号に基づくリセット画像と、を用いて放射線画像を補正することが示されている。補正用画像とリセット画像とを用いた補正によって、時間変動する１／ｆノイズや温度ドリフトの影響が抑制される。

特開２０１９－０６２３９１号公報

特許文献１に示される動作において、リセット画像の取得と放射線画像の取得とのタイミングが異なるため、時間変動するノイズの補正が不十分な可能性がある。

本発明は、時間変動するノイズの補正に有利な技術を提供することを目的とする。

上記課題に鑑みて、本発明の実施形態に係る放射線撮像装置は、放射線画像を取得するための複数の画素が配された画素領域と、前記画素領域から出力される複数の画像データを処理する信号処理部と、を含む放射線撮像装置であって、前記画素領域は、放射線の照射が遮られた状態の信号を出力する第１領域と、前記放射線画像のそれぞれの画素に対応する第２領域と、を含み、前記複数の画像データは、第１画像データと、前記第１画像データよりも後に出力される複数の第２画像データと、を含み、前記信号処理部は、前記第１画像データのうち前記第１領域の信号値の第１平均値を取得し、前記複数の第２画像データのそれぞれについて、第２画像データのうち前記第１領域の信号値の第２平均値と、前記第１平均値と、の差分に応じて補正用データを取得し、当該第２画像データのうち前記第２領域の信号値を、前記補正用データに従って補正することを特徴とする。

本発明によれば、時間変動するノイズの補正に有利な技術を提供することができる。

本実施形態の放射線撮像装置の画素の構成例を示す等価回路図。 本実施形態の放射線撮像装置の画素領域および読出回路の構成例を示す等価回路図。 本実施形態の放射線撮像装置の構成例を示す模式図。 本実施形態の放射線撮像装置の信号処理部の構成例を示すブロック図。 本実施形態の放射線撮像装置の信号処理の流れを示すフロー図。 本実施形態の放射線撮像装置の信号処理の効果を示す図。 本実施形態の放射線撮像装置の信号処理部の構成例を示すブロック図。 本実施形態の放射線撮像装置の信号処理の流れを示すフロー図。 本実施形態の放射線撮像装置の信号処理の効果を示す図。 本実施形態の放射線撮像装置の信号処理部の構成例を示すブロック図。 本実施形態の放射線撮像装置の信号処理の流れを示すフロー図。 本実施形態の放射線撮像装置の信号処理の効果を示す図。

以下、添付図面を参照して実施形態を詳しく説明する。なお、以下の実施形態は特許請求の範囲に係る発明を限定するものではない。実施形態には複数の特徴が記載されているが、これらの複数の特徴の全てが発明に必須のものとは限らず、また、複数の特徴は任意に組み合わせられてもよい。さらに、添付図面においては、同一若しくは同様の構成に同一の参照番号を付し、重複した説明は省略する。

また、本発明における放射線には、放射線崩壊によって放出される粒子（光子を含む）の作るビームであるα線、β線、γ線などの他に、同程度以上のエネルギを有するビーム、例えばＸ線や粒子線、宇宙線なども含みうる。

図１～図１２を参照して、本開示の実施形態による放射線撮像システムについて説明する。図１は、本開示の一部の実施形態の放射線撮像装置１００（図３に示されている。）における１つの画素Ｐの概略回路を説明する等価回路図である。画素Ｐは、変換部ＣＰ、増幅部ＡＰ、リセット部ＲＰ、保持部ＳＨ１～ＳＨ３、出力部ＯＰ１～ＯＰ３、を含む。以下の例では、これらの構成のそれぞれが回路で構成される。例えば、変換部ＣＰは、変換回路によって構成される。

変換部ＣＰは、フォトダイオードＰＤ、トランジスタＭ１、フローティングディフュージョン容量Ｃｆｄ（以下、ＦＤ容量Ｃｆｄと示す場合がある。）、感度切替用の追加の容量Ｃｆｄ’を含む。フォトダイオードＰＤは、光電変換素子の一例であり、波長変換体であるシンチレータに入射した放射線に応じて生じた光を電荷に変換する。すなわち、放射線を光に変換する波長変換体と、光を電荷に変換する光電変換素子と、によって、放射線を電荷に変換する変換素子が構成される。これに代えて、変換素子として、放射線を直接、電荷に変換する素子が用いられてもよい。放射線に応じた量の電荷がフォトダイオードＰＤで発生し、発生した電荷量に応じたＦＤ容量Ｃｆｄの電圧が増幅部ＡＰに出力される。また、感度切替用の容量Ｃｆｄ’は、放射線に対する画素Ｐの感度を切り替えるために用いられ、トランジスタＭ１（スイッチ素子とも呼ばれうる。）を介してフォトダイオードＰＤに接続されている。感度切替用の制御信号ＷＩＤＥが活性化されることによってトランジスタＭ１が導通状態になり、ＦＤ容量Ｃｆｄと容量Ｃｆｄ’との合成容量の電圧が増幅部ＡＰに出力される。すなわち、トランジスタＭ１の導通状態を制御することによって、高感度の変換部ＣＰで変換された電荷に応じた電圧である高感度信号と、低感度の変換部ＣＰで変換された電荷に応じた電圧である低感度信号と、の何れかが出力される。

増幅部ＡＰは、制御トランジスタＭ３、増幅トランジスタＭ４、クランプ容量Ｃｃｌ、制御トランジスタＭ６、増幅トランジスタＭ７、各定電流源を含む。制御トランジスタＭ３と増幅トランジスタＭ４と定電流源（例えば、カレントミラー構成のトランジスタ。）とは、電流経路を形成するように直列に接続されている。制御トランジスタＭ３のゲートに入力されるイネーブル信号ＥＮが活性化されることによって、変換部ＣＰからの電圧を受ける増幅トランジスタＭ４が動作状態となる。このようにしてソースフォロワ回路が形成され、変換部ＣＰからの電圧を増幅した電圧が増幅トランジスタＭ４から出力される。増幅トランジスタＭ４から出力された電圧は、クランプ容量Ｃｃｌを介して増幅トランジスタＭ７に入力される。制御トランジスタＭ６と増幅トランジスタＭ７と定電流源とは、電流経路を形成するように直列に接続されている。制御トランジスタＭ６のゲートに入力されるイネーブル信号ＥＮが活性化されることによって、増幅トランジスタＭ４からの電圧を受ける増幅トランジスタＭ７が動作状態となる。このようにしてソースフォロワ回路が形成され、増幅トランジスタＭ４からの電圧を増幅した電圧が、増幅トランジスタＭ７から出力される。クランプ容量Ｃｃｌは、増幅トランジスタＭ４と増幅トランジスタＭ７との間に直列に配置されている。クランプ容量Ｃｃｌによるクランプ動作については、後に説明するリセット部ＲＰと併せて説明する。

リセット部ＲＰは、リセットトランジスタＭ２とリセットトランジスタＭ５とを含む。リセットトランジスタＭ２は、リセット信号ＰＲＥＳが活性化されるとフォトダイオードＰＤに所定の電位を供給し、それによってフォトダイオードＰＤの電荷をリセット（初期化）し、増幅部ＡＰに出力される電圧をリセットする。リセットトランジスタＭ５は、クランプ容量Ｃｃｌと増幅トランジスタＭ７との間の接続ノードに所定の電位を供給することによって、増幅トランジスタＭ７から出力される電圧をリセットする。リセットトランジスタＭ２によるリセット時の変換部ＣＰからの電圧に応じた電圧が、クランプ容量Ｃｃｌの入力端子ｎ１に入力される。また、クランプ信号ＰＣＬが活性化されることによってリセットトランジスタＭ５が導通状態になり、所定の電位であるクランプ電圧ＶＣＬが、クランプ容量Ｃｃｌの出力端子ｎ２に入力される。このようにして、クランプ容量Ｃｃｌの両端子間で生じた電位差をノイズ成分としてクランプし、その後のフォトダイオードＰＤでの電荷の発生および蓄積に伴い変化した電圧を信号成分として出力する。これがクランプ容量Ｃｃｌを用いたクランプ動作であり、クランプ動作によって変換部ＣＰで生じるｋＴＣノイズや増幅トランジスタＭ４のオフセットなどのノイズ成分が抑制される。

変換部ＣＰと増幅部ＡＰとによって、入射する放射線を電荷に変換し、変換部ＣＰに蓄積された電荷に基づく信号を生成する信号生成部が構成される。変換部ＣＰに蓄積された電荷に応じた信号を蓄積信号と呼ぶ。変換部ＣＰに蓄積された電荷は、入射した放射線に応じて発生した電荷と、放射線に起因せずに発生する電荷（いわゆる暗電荷）とを含む。蓄積信号は、上述の高感度信号または低感度信号に基づく。この信号生成部をリセット部ＲＰが電荷を蓄積する前の状態にリセットすることによって信号生成部が生成する信号をリセット信号と呼ぶ。信号生成部のリセットは、上述のように、光電変換素子ＰＤの電位とクランプ容量Ｃｃｌの出力端子ｎ２の電位とをリセットすることによって行われる。蓄積信号とリセット信号とを総称して画素信号と呼ぶ。変換部ＣＰに電荷が蓄積された後に信号生成部が出力する画素信号が蓄積信号であり、信号生成部がリセット状態において出力する画素信号がリセット信号である。

保持部ＳＨ１は、増幅部ＡＰから出力された画素信号を保持可能な部分であり、転送トランジスタＭ８と保持容量ＣＳ１とを含むサンプルホールド回路である。具体的には、サンプルホールド制御信号ＴＳ１を用いて転送トランジスタＭ８の状態（導通状態または非導通状態）を切り替えることによって、画素信号を容量ＣＳ１に転送して保持するサンプリングを行う。出力部ＯＰ１は、増幅トランジスタＭ１０と出力スイッチＳＷ９とを含む。増幅トランジスタＭ１０は、保持容量ＣＳ１に保持された画素信号を増幅して出力するためのトランジスタである。出力スイッチＳＷ９は増幅トランジスタＭ１０によって出力された画素信号を転送するスイッチである。具体的には、出力スイッチＳＷ９に入力される垂直走査信号ＶＳＲによって出力スイッチＳＷ９が導通状態となることによって、列信号線４０６で接続される後段の定電流源ＣＣＳｐと増幅トランジスタＭ１０とでソースフォロワ回路が形成される。これにより、出力部ＯＰ１によって、保持部ＳＨ１に保持された画素信号が増幅されて画素Ｐから出力される。以下では、画素Ｐから出力された増幅後の画素信号を画素信号Ｓ１と呼ぶ。また、画素信号が蓄積信号である場合は蓄積信号Ｓ１、リセット信号である場合はリセット信号Ｓ１と呼ぶ。

保持部ＳＨ２は、増幅部ＡＰから出力された画素信号を保持可能な部分であり、転送トランジスタＭ１１と保持容量ＣＳ２とを含むサンプルホールド回路である。具体的には、サンプルホールド制御信号ＴＳ２を用いて転送トランジスタＭ１１の状態（導通状態または非導通状態）を切り替えることによって、画素信号を容量ＣＳ２に転送して保持するサンプリングを行う。出力部ＯＰ２は、増幅トランジスタＭ１３と出力スイッチＳＷ１２とを含む。増幅トランジスタＭ１３は、保持容量ＣＳ２に保持された画素信号を増幅して出力するためのトランジスタである。出力スイッチＳＷ１２は増幅トランジスタＭ１３によって出力された画素信号を転送するスイッチである。具体的には、出力スイッチＳＷ１２に入力される垂直走査信号ＶＳＲによって出力スイッチＳＷ１２が導通状態となることによって、列信号線４０７で接続される後段の定電流源ＣＣＳｐと増幅トランジスタＭ１３とでソースフォロワ回路が形成される。これにより、出力部ＯＰ２によって、保持部ＳＨ２に保持された画素信号が増幅されて画素Ｐから出力される。以下では、画素Ｐから出力された増幅後の画素信号を画素信号Ｓ２と呼ぶ。また、画素信号が蓄積信号である場合は蓄積信号Ｓ２、リセット信号である場合はリセット信号Ｓ２と呼ぶ。

保持部ＳＨ３は、増幅部ＡＰから出力された画素信号を保持可能な部分であり、転送トランジスタＭ１４と保持容量ＣＳ３とを含むサンプルホールド回路である。具体的には、サンプルホールド制御信号ＴＳ３を用いて転送トランジスタＭ１４の状態（導通状態または非導通状態）を切り替えることによって、画素信号を容量ＣＳ３に転送して保持するサンプリングを行う。出力部ＯＰ３は、増幅トランジスタＭ１６と出力スイッチＳＷ１５とを含む。増幅トランジスタＭ１６は、保持容量ＣＳ３に保持された画素信号を増幅して出力するためのトランジスタである。出力スイッチＳＷ１５は増幅トランジスタＭ１６によって出力された画素信号を転送するスイッチである。具体的には、出力スイッチＳＷ１５に入力される垂直走査信号ＶＳＲによって出力スイッチＳＷ１５が導通状態となることによって、列信号線４０８で接続される後段の定電流源ＣＣＳｐと増幅トランジスタＭ１６とでソースフォロワ回路が形成される。これにより、出力部ＯＰ３によって、保持部ＳＨ３に保持された画素信号が増幅されて画素Ｐから出力される。以下では、画素Ｐから出力された増幅後の画素信号を画素信号Ｓ３と呼ぶ。また、画素信号が蓄積信号である場合は蓄積信号Ｓ３、リセット信号である場合はリセット信号Ｓ３と呼ぶ。

容量ＣＳ１、容量ＣＳ２および容量ＣＳ３のサンプルホールド後は、転送トランジスタＭ８、転送トランジスタＭ１１および転送トランジスタＭ１４がオフ（非導通状態）となり、これによって容量ＣＳ１、容量ＣＳ２および容量ＣＳ３が前段の増幅部ＡＰから切り離される。このため、保持された画素信号（蓄積信号またはリセット信号）は、再度、サンプルホールドされるまで非破壊で読み出すことが可能である。

次に、図２（Ａ）、２（Ｂ）を用いて、本実施形態の放射線撮像装置１００の画素領域１２０および読出回路２０について説明する。図１に示される画素Ｐが、二次元アレイ状に複数配列されて画素領域１２０が構成される。画素領域１２０からの信号は、読出回路２０によって読み出される。まず、図２（Ａ）を用いて、本実施形態の放射線撮像装置１００の画素領域１２０について説明する。図２（Ａ）は、本実施形態の放射線撮像装置１００の画素領域１２０の概略構成を説明するための等価回路図である。

画素領域１２０は、行列状に配された放射線画像を取得するための複数の画素Ｐと、それぞれの画素Ｐを駆動するための垂直走査回路４０３と、それぞれの画素Ｐから信号の読み出しを行うための水平走査回路４０４と、を含む。垂直走査回路４０３および水平走査回路４０４は、例えば、シフトレジスタで構成されており、制御部１０９（図３に示される。）から入力する制御信号に基づいて動作する。垂直走査回路４０３は、制御線４０５を介してそれぞれの画素Ｐに垂直走査信号ＶＳＲを供給し、当該垂直走査信号ＶＳＲに基づいてそれぞれの画素Ｐを行単位で駆動する。すなわち、垂直走査回路４０３は行選択部として機能し、信号の読み出しを行う画素Ｐを行ごとに選択する。また、水平走査回路４０４は列選択部として機能し、水平走査信号ＨＳＲに基づいてそれぞれの画素Ｐを列単位で選択して、それぞれの画素Ｐからの信号を順に出力させる（水平転送と呼ばれうる）。ここで、行選択部（垂直走査回路４０３）の動作周波数は、列選択部（水平走査回路４０４）の動作周波数に比べて低く、すなわち、行選択部（垂直走査回路４０３）は、列選択部（水平走査回路４０４）に比べて動作が遅い。

また、画素領域１２０は、それぞれの画素Ｐの容量ＣＳ１に保持された画素信号を読み出すための端子Ｅｓ１、容量ＣＳ２に保持された画素信号を読み出すための端子Ｅｓ２、容量ＣＳ３に保持された画素信号を読み出すための端子Ｅｓ３、を備える。また、画素領域１２０は、セレクト端子Ｅｃｓをさらに備え、端子Ｅｃｓが受ける信号が活性化されることによって、当該画素領域１２０のそれぞれの画素Ｐの画素信号が、端子Ｅｓ１、Ｅｓ２およびＥｓ３を介して読み出される。具体的には、前述のそれぞれの画素Ｐの画素信号Ｓ１、画素信号Ｓ２および画素信号Ｓ３が、各端子に対応する列信号線４０６～４０８に供給される。

制御トランジスタＳＷｃｈと増幅トランジスタＡｖと定電流源ＣＣＳｖとは、電流経路を形成するように直列に接続されている。増幅トランジスタＡｖの出力は、水平走査回路４０４からの水平走査信号ＨＳＲに応答してオン（導通状態）になる転送トランジスタＳＷａｈを介して、アナログ信号線４０９～４１１に接続されている。制御トランジスタＳＷｃｈのゲートに入力される水平走査信号ＨＳＲが活性化されることによって、列信号線４０６～４０８からの電圧をそれぞれに受ける増幅トランジスタＡｖが動作状態になる。このようにしてソースフォロワ回路が形成され、列信号線４０６～４０８からの電圧を増幅した電圧が、水平走査信号ＨＳＲに応答して導通状態になる転送トランジスタＳＷａｈを介してアナログ信号線４０９～４１１に出力される。

増幅トランジスタＡｏｕｔと定電流源ＣＣＳｏｕｔとは、電流経路を形成するように直列に接続され、動作状態のソースフォロワ回路が形成されている。これによって、アナログ信号線４０９～４１１からの電圧を増幅した電圧が、端子Ｅｃｓが受ける信号に応答して導通状態になる転送トランジスタＳＷｃｓを介して、端子Ｅｓ１、Ｅｓ２およびＥｓ３から出力される。

また、画素領域１２０は、垂直走査回路４０３および水平走査回路４０４を制御するための各制御信号を受ける端子ＨＳＴ、ＣＬＫＨ、ＶＳＴおよびＣＬＫＶをさらに備える。端子ＨＳＴは、水平走査回路４０４に入力されるスタートパルスを受ける。端子ＣＬＫＨは、水平走査回路４０４に入力されるクロック信号を受ける。端子ＶＳＴは、垂直走査回路４０３に入力されるスタートパルスを受ける。端子ＣＬＫＶは、垂直走査回路４０３に入力されるクロック信号を受ける。これらの各制御信号は、後述する制御部１０９から入力される。水平走査回路４０４は、入力されたスタートパルスとクロック信号とに基づいて水平走査信号ＨＳＲを生成して出力する。垂直走査回路４０３は、入力されたスタートパルスとクロック信号とに基づいて垂直走査信号ＶＳＲを生成して出力する。これによって、画素信号Ｓ１、画素信号Ｓ２および画素信号Ｓ３が、それぞれの画素PからＸ‐Ｙアドレス方式で順次、読み出される。すなわち、画素領域１２０では、画素Ｐは行ごとに制御され、保持部ＳＨ１～ＳＨ３に保持された信号が列ごとに出力される（水平転送される）ことによって、信号が読み出される。

次に、図２（Ｂ）を用いて本実施形態の放射線撮像装置１００の読出回路２０について説明する。図２（Ｂ）は、本実施形態の放射線撮像装置１００の読出回路２０の概略構成を説明するための等価回路図である。読出回路２０は、例えば、差動増幅器などを含む信号増幅部１０７とＡＤ変換を行うＡＤ変換部１０８とを含む。

端子Ｅｓ３からの画素信号Ｓ３は、信号増幅部１０７の非反転入力端子ＡＭＰ＋に入力される。また、端子Ｅｓ１からの画素信号Ｓ１は、制御端子に入力される制御信号ＴＲＯ１に応答して導通状態になるスイッチＭ５１を介して、信号増幅部１０７の反転入力端子ＡＭＰ－に入力される。また、端子Ｅｓ２からの画素信号Ｓ２は、制御端子に入力される制御信号ＴＲＯ２に応答して導通状態になるスイッチＭ５２を介して、反転入力端子ＡＭＰ－に入力される。スイッチＭ５１およびスイッチＭ５２は、端子Ｅｓ１および端子Ｅｓ２の一方の信号が反転入力端子ＡＭＰ－に入力されるように制御される。スイッチＭ５１およびスイッチＭ５２並びに信号増幅部１０７は、信号ＡＤＣＬＫの周期に追従可能な応答特性を有するように設計される。

信号増幅部１０７では、端子Ｅｓ１からの信号と端子Ｅｓ３からの信号との差分、または、端子Ｅｓ２からの信号と端子Ｅｓ３からの信号との差分が増幅される。この差分は、ＡＤ変換部１０８で、端子ＡＤＣＬＫを介して入力されるクロック信号に基づいてデジタルデータにＡＤ変換される。このような構成によって、画素領域１２０の画像データ（デジタルデータ）が得られ、端子ＡＤＯＵＴを介して後述する制御部１０９に出力される。

以上のような画素領域１２０および読出回路２０を用いて、本実施形態の放射線撮像装置１００および放射線撮像システムＳＹＳが構成される。次に、図３を用いて本実施形態の放射線撮像装置１００および放射線撮像システムＳＹＳについて説明する。図３は、本実施形態の放射線撮像装置１００および放射線撮像システムＳＹＳの概略構成を説明するための模式図である。

放射線撮像システムＳＹＳは、放射線撮像装置１００、放射線を発生する放射線発生装置１０４、照射制御部１０３、ディスプレイなどを含む表示部１０２を備える。放射線画像の撮像（「撮影」と表記する場合がある）を行う際には、信号処理部１０１によって放射線撮像装置１００と照射制御部１０３とが同期制御される。被検者（被写体）を通過した放射線に基づいて放射線撮像装置１００が信号を生成し、この信号に対して信号処理部１０１などにおいて所定の処理がなされた後に、当該放射線に基づく画像データが生成される。当該画像データは、表示部１０２に放射線画像として表示される。放射線撮像装置１００は、画素領域１２０から出力される複数の画像データの処理およびシステム制御を行う信号処理部１０１、撮像領域１０を有する撮像パネル１０５と、撮像領域１０から信号を読み出す読出回路２０と、各ユニットを制御する制御部１０９と、を含む。

撮像パネル１０５は、複数の画素領域１２０が板状の基台の上にタイリング（２次元配列）されて構成され、このような構成によって大型の撮像パネル１０５が形成される。それぞれの画素領域１２０には複数の画素Ｐが配列されており、撮像領域１０は、複数の画素領域１２０によって複数の行および複数の列を構成するように配された複数の画素Ｐを含む。また、ここでは、複数の画素領域１２０が７列×２行を形成するようにタイリングされた構成が例示されているが、この構成に限られるものではない。

制御部１０９は、例えば、信号処理部１０１との間で、制御コマンドの通信を行い、同期信号の通信を行い、信号処理部１０１への画像データの出力を行う。また、制御部１０９は、撮像領域１０または各ユニットを制御し、例えば、各画素領域１２０の基準電圧の設定、それぞれの画素Ｐの駆動制御や動作モード制御を行う。また、制御部１０９は、読出回路２０のＡＤ変換部１０８によってＡＤ変換されたそれぞれの画素領域１２０の画像データ（デジタルデータ）を用いて１つのフレーム画像データに合成し、信号処理部１０１に出力する。制御部１０９は、ＣＰＵなどのプロセッサと、ＲＡＭやＲＯＭなどのメモリと、を含み構成されてもよい。制御部１０９のプロセッサがメモリに格納されたプログラムを実行することによって、後述する放射線撮像装置１００の動作が実行されてもよい。これに代えて、制御部１０９は、ＡＳＩＣ（特定用途向け集積回路）などの専用回路で構成されてもよい。信号処理部１０１も同様に、ＣＰＵなどのプロセッサと、ＲＡＭやＲＯＭなどのメモリと、を含み構成されたコンピュータであってもよいし、ＡＳＩＣなどの専用回路で構成されてもよい。信号処理部１０１は、後述するように画像データの補正処理を実施するため、画像処理装置と呼ぶこともできる。本実施形態において、信号処理部１０１は、放射線撮像装置１００に含まれるが、例えば、信号処理部１０１のうち画像データの補正処理を実施するための機能が、画像処理装置として独立していてもよい。信号処理部１０１には、信号処理部１０１の処理で用いられるデータを記憶可能な記憶部１１５が接続されている。記憶部１１５は、例えば、磁気ディスクや半導体ドライブなどを含み構成されていてもよい。

制御部１０９と信号処理部１０１との間では、各種インターフェースを介して、制御コマンドまたは制御信号および画像データの授受が行われる。信号処理部１０１は、制御用インターフェース１１０を介して、動作モードや各種パラメータなどの設定情報または撮像情報を制御部１０９に出力する。また、制御部１０９は、制御用インターフェース１１０を介して、放射線撮像装置１００の動作状態などの装置情報を信号処理部１０１に出力する。また、制御部１０９は、画像データインターフェース１１１を介して、放射線撮像装置１００で得られた画像データを信号処理部１０１に出力する。また、制御部１０９は、ＲＥＡＤＹ信号１１２を用いて、放射線撮像装置１００が撮像可能な状態になったことを信号処理部１０１に通知する。また、信号処理部１０１は、同期信号１１３を用いて、制御部１０９からのＲＥＡＤＹ信号１１２に応答して制御部１０９に、放射線の照射開始のタイミングを通知する。また、また、照射許可信号１１４は撮像パネル１０５が蓄積中であることを信号処理部１０１に通知する信号である。信号処理部１０１は、照射許可信号１１４がイネーブル状態の間に、照射制御部１０３に制御信号を出力して放射線照射を開始させる。

本実施形態において、撮像パネル１０５の外縁部は、放射線から読出回路２０や制御部１０９、信号処理部１０１などの周辺回路を保護するための放射線の入射を抑制する遮蔽部材によって覆われている。遮蔽部材には、例えば、鉛やタングステンなどが用いられる。このため、画素領域１２０は、放射線の照射が遮られた状態の信号を出力する領域１２２と、放射線画像のそれぞれの画素に対応する領域１２１と、を含むことになる。領域１２２は、無効画素領域、オプティカルブラック（ＯＢ）画素領域などと呼ばれる場合がある。また、領域１２１は、有効画素領域などと呼ばれる場合がある。領域１２２は、放射線の入射を抑制する遮蔽部材によって覆われることに限られることはない。例えば、上述のように、放射線を光に変換する波長変換体（シンチレータ）と、光を電荷に変換する光電変換素子（フォトダイオードＰＤ）と、を変換素子として用いる場合、シンチレータと光電変換素子との間に遮光部材が配されていてもよい。遮光部材には、アルミニウムなどの金属や黒色の樹脂などが用いられてもよい。また、例えば、遮光部材として、光電変換素子に電力を供給するための配線パターンなどが用いられてもよい。

図４は、信号処理部１０１のうち画素領域１２０から出力される複数の画像データの各画像データ間のオフセットレベル差を補正する上述の画像処理装置として機能する構成の一例を示すブロック図である。図５は、信号処理部１０１の各画像データ間のオフセットレベルの差を補正する処理の一例を示すフロー図である。

Ｓ１０１において、信号処理部１０１は、ユーザが入力する撮像モードなどの設定を、放射線撮像装置１００の制御部１０９に制御用インターフェース１１０を介して制御コマンドとして送信する。制御部１０９は、制御コマンドに従って撮像モードなどの設定を行う。また、信号処理部１０１は、信号処理部１０１内のカウンタ（不図示）を０にリセットする。

次いで、Ｓ１０２で、信号処理部１０１は、同期信号１１３を介して同期信号パルスを制御部１０９へ出力する。同期信号パルスに従って、制御部１０９は、撮像パネル１０５、読出回路２０を駆動し、画素領域１２０のそれぞれの画素Ｐに信号を蓄積、保持させる。

画素Ｐに蓄積、保持された信号は、Ｓ１０３において、画素領域１２０の領域１２２、領域１２１の順に読出回路２０によって読み出される。読出回路２０は、読み出した信号をＡＤ変換し、画像データとして信号処理部１０１に転送する。信号処理部１０１に画像データが転送されると、Ｓ１０４において、信号処理部１０１は、領域判定部２０１を用い、画像データのそれぞれの信号値が、領域１２１の画素Ｐから出力されたデータであるか、領域１２２の画素Ｐから出力されたデータであるかを判定する。

領域１２２から出力されたデータである場合、Ｓ１０５に遷移し、領域１２２の信号値の積算を行い、Ｓ１０６で領域１２２の最後のデータであるか否かを判定する。領域１２２の最後のデータであった場合、処理はＳ１０７に遷移する。Ｓ１０７において、信号処理部１０１は、平均値算出部２０２を用いて、画像データのうち領域１２２の平均値Ａ（ｎ）を算出する。ここで、「ｎ」は、上述の信号処理部１０１内のカウンタのカウント値を示す。ユーザの撮像開始指示を受けて画素領域１２０から出力される複数の画像データのうち最初に出力される画像データの領域１２２の平均値はＡ（０）、以降、Ａ（１）、Ａ（２）・・・、となりうる。Ｓ１０６において、領域１２２の画素Ｐから出力された最後のデータでない場合、処理はＳ１０３に戻り、次の画素Ｐのデータを読み出す。

画像データのうち領域１２２から出力されたデータのそれぞれの信号値の平均値Ａ（ｎ）を取得すると、処理はＳ１０８に遷移する。Ｓ１０８において、信号処理部１０１は、平均値Ａ（ｎ）を取得した画像データが、後続の画像データの補正の基準になる第１画像データであるか否かを判定する。ここでは、第１画像データとして、ユーザの撮像開始指示を受けて画素領域１２０から出力される複数の画像データのうち最初に出力される画像データ（ｎ＝０）を用いるとして説明を行う。しかしながら、これに限られることはなく、ｎ＝５など、ｎ＋１番目に画素領域１２０から出力される画像データを第１画像データとして用いてもよい。第１画像データは、ユーザが適宜設定してもよいし、撮像モードなどに応じて設定されてもよい。

Ｓ１０８において、平均値Ａ（ｎ）を取得した画像データが第１画像データの領域１２２の平均値Ａ（０）であった場合、処理はＳ１０９に遷移し、信号処理部１０１の平均値保持部２０３に平均値Ａ（０）を格納する。平均値Ａ（０）が格納されると、処理はＳ１０３に戻り次の画像データが読み出される。

Ｓ１０８において、平均値Ａ（ｎ）を取得した画像データが第１画像データよりも後に出力された第２画像データ（本実施形態において、ｎ≧１）の領域１２２の平均値Ａ（ｎ）であった場合、処理はＳ１１０に遷移する。Ｓ１１０において、信号処理部１０１は、差分算出部２０４を用いて、Ｓ１０７で取得した平均値Ａ（ｎ）と、平均値保持部２０３に保持された平均値Ａ（０）と、の差分を補正用データとして取得し、差分保持部２０５に格納する。補正用データは、平均値Ａ（０）から平均値Ａ（ｎ）を減じた減算値でありうる。平均値Ａ（０）と平均値Ａ（ｎ）との差分が格納されると、処理はＳ１０３に戻り次の画像データが読み出される。

Ｓ１０４において領域１２１の画素Ｐから出力されたデータであると判定された場合、処理はＳ１１１に遷移する。Ｓ１１１において、画像データが、補正の基準になる第１画像データであるか、第１画像データよりも後に出力された第２画像データであるか否かを判定する。第２画像データである場合、処理はＳ１１２に遷移する。Ｓ１１２において、信号処理部１０１は、第２画像データの領域１２１のそれぞれの信号値を、差分保持部２０５に保持された補正用データに従って補正する補正処理を行う。より具体的には、信号処理部１０１の差分付加部２０６は、第２画像データの領域１２１のそれぞれの信号値に補正用データとして差分保持部２０５に保持された減算値を加算することによって、第２画像データの領域１２１のデータを補正する。この補正処理によって、第２画像データのオフセットレベル補正が行われる。Ｓ１１１において、画像データが、補正の基準になる第１画像データである場合、オフセットレベル補正は行われない。Ｓ１１３において、領域１２２の画素Ｐの補正されたデータの出力が行われる。本実施形態において、補正用データを平均値Ａ（０）から平均値Ａ（ｎ）を減じた減算値としたが、これに限られることはない。差分算出部２０４は、補正用データとして平均値Ａ（ｎ）から平均値Ａ（１）を減じた減算値を取得し、差分付加部２０６は、第２画像データの領域１２１のそれぞれの信号値から減算値を減算してもよい。

次いで、Ｓ１１４において、Ｓ１１３で出力された補正された信号値のデータが、画像データの領域１２１の最後の画素Ｐから出力されたデータである否かを判定し、最後の画素Ｐでない場合、処理はＳ１０３に戻り、次の画素のデータを読み出し、最後の画素である場合、処理はＳ１１５に遷移する。Ｓ１１５において、信号処理部１０１内のカウンタのカウント値の更新（ｎ＋１）が行われる。カウント値を更新した後、Ｓ１１６において、信号処理部１０１は、撮像終了か否かを判定する。撮像が終了せずに続行される場合、処理はＳ１０２に遷移し、上述の処理を繰り返し、必要な数だけ画像の撮像が行われる。例えば、複数の画像データによって動画像が生成されてもよい。

このように、信号処理部１０１は、まず、補正の基準になる第１画像データのうち領域１２２の信号値の平均値Ａ（０）を取得する。次いで、信号処理部１０１は、第１画像データよりも後に出力される複数の第２画像データのそれぞれについて、第２画像データのうち領域１２２の信号値の平均値Ａ（ｎ）と、平均値Ａ（０）と、の差分に応じて補正用データを取得し、第２画像データのうち領域１２１の信号値を、補正用データに従って補正する。この効果について、図６を用いて説明する。

図６は、上述したオフセットレベル補正を実施する前後の、画像データのうち放射線の照射が遮られた状態の信号を出力する領域１２２の画素Ｐから出力された信号値の平均値をブロットしたグラフである。画像データのうち領域１２１の信号値は、被写体によって変化するため、図６には示されていない。横軸は、ｎ＝０～６３のそれぞれ画像データを示している。図６から、第１画像データ（ｎ＝０）の領域１２２の平均値Ａ（０）を基準にして、各第２画像データ（ｎ≧１）の領域１２２の平均値との差分をそれぞれの信号値に付加することによって、オフセット補正により除去しきれない１／ｆノイズや温度ドリフトによる画像間のオフセットレベル差が低減されていることがわかる。つまり、放射線撮像装置１００が、上述の構成を有し、かつ、上述の処理を行うことによって、時間変動するノイズに対して、より高精度な補正が実現される。

次いで、図７、８を用いて、上述の放射線撮像装置１００の構成および処理の変形例について説明する。図７は、信号処理部１０１のうち画素領域１２０から出力される複数の画像データの各画像データ間のオフセットレベル差を補正する画像処理装置として機能する構成の一例を示すブロック図である。図７に示されるブロック図は、図４に示される構成と比較して、差分付加部２０６が補正値生成付加部２０７に変更されている。図８は、信号処理部１０１の各画像データ間のオフセットレベルの差を補正する処理の一例を示すフロー図である。図８に示されるフロー図は、図５に示されるフロー図と比較して、Ｓ１１３の処理が、Ｓ１１７に変更されている。これ以外は、上述の構成および処理と同様であってもよいため、以下、補正値生成付加部２０７を用いたＳ１１７の処理について説明し、他の構成および処理については、適宜、説明を省略する。

Ｓ１１７において、信号処理部１０１の補正値生成付加部２０７は、第２画像データの領域１２１から出力されたデータの信号値を補正するための補正用データとして平均値Ａ（０）から平均値Ａ（ｎ）を減じた減算値に基づいて複数の補正値を生成する。次いで、信号処理部１０１の補正値生成付加部２０７は、第２画像データのうち領域１２１のそれぞれの信号値に複数の補正値のうち何れかの補正値を加算することによって、領域１２１のデータを補正する。このとき、信号処理部１０１の補正値生成付加部２０７は、第２画像データのうち領域１２１のそれぞれの信号値に、複数の補正値のうちディザ法を用いて割当てた何れかの補正値を加算してもよい。

例えば、図６に示される第１画像データの平均値Ａ（０）は「５９８４．２」であり、複数の第２画像データのうちｎ＝１の第２画像データの平均値Ａ（１）は「５９７９．８」である。信号処理部１０１の補正値生成付加部２０７は、まず、平均値Ａ（０）から平均値Ａ（１）を減じた減算値である「４．４」に基づいて複数の補正値、例えば、「４」と「５」とを生成する。ここでは、２つの整数の補正値を生成する場合について説明するが、「４」、「４．５」、「５」など、３つ以上の補正値や小数成分を含む補正値が生成されてもよい。

次いで、信号処理部１０１の補正値生成付加部２０７は、第２画像データのうち領域１２１のそれぞれの信号値に「４」または「５」を加算することによって、領域１２１のデータを補正する。このとき、複数の補正値「４」、「５」のうち領域１２１のそれぞれの信号値に加算されたそれぞれの補正値の平均値が、減算値「４．４」に等しくなるように、信号処理部１０１の補正値生成付加部２０７は、それぞれの信号値に対して補正値「４」または「５」を割り当ててもよい。この場合、信号処理部１０１の補正値生成付加部２０７は、ランダムに「４」または「５」を割り当ててもよい。また、上述のように、信号処理部１０１の補正値生成付加部２０７は、ディザ法を用いて「４」または「５」を割り当ててもよい。ディザ法として、例えば、誤差拡散法やマトリクスパターンを用いたディザ法が使用されうる。

ここで、上述の減算値がマイナスの値（例えば、「－４．４」）だった場合、補正値は、マイナスの値（例えば、「―４」、「－５」）になる。この場合、第２画像データのうち領域１２１のそれぞれの信号値にマイナスの補正値が加算され、結果的には信号値は減算される。

図９は、図７に示される構成および図８に示される処理を用いたオフセットレベル補正を実施する前後の、画像データのうち領域１２２の画素Ｐから出力された信号値の平均値をブロットしたグラフである。補正前の平均値は、上述の図６に示される平均値と同じである。図９には、信号処理部１０１の補正値生成付加部２０７が、ディザ法の１つである誤差拡散法を用いて補正を行った各画像データの平均値がプロットされている。放射線の照射が遮られた領域１２２の画素Ｐから出力された信号値の平均値のオフセットレベル差が、図６に示される場合よりも、さらに平滑化されている。このように、ディザ法を用いることによって、オフセット補正により除去しきれない１／ｆノイズや温度ドリフトによる画像間のオフセットレベル差が低減されていることがわかる。つまり、放射線撮像装置１００が、図７に示される構成を有し、かつ、図８に示される処理を行うことによって、時間変動するノイズに対して、より高精度な補正が実現される。

次いで、図１０、１１を用いて、図７、８を用いて説明した放射線撮像装置１００の構成および処理の変形例について説明する。図１０は、信号処理部１０１のうち画素領域１２０から出力される複数の画像データの各画像データ間のオフセットレベル差を補正する画像処理装置として機能する構成の一例を示すブロック図である。図１０に示されるブロック図は、図７に示される構成と比較して、補正値生成付加部２０７が、整数補正値生成付加部２０８、小数補正値生成付加部２０９に変更されている。図１１は、信号処理部１０１の各画像データ間のオフセットレベルの差を補正する処理の一例を示すフロー図である。図１１に示されるフロー図は、図５に示されるフロー図と比較して、Ｓ１１７の処理が、Ｓ１１８、１１９に変更されている。これ以外は、上述の構成および処理と同様であってもよいため、以下、整数補正値生成付加部２０８を用いたＳ１１８、小数補正値生成付加部２０９を用いたＳ１１９の処理について説明し、他の構成および処理については、適宜、説明を省略する。

図７、８を用いて説明した構成および処理では、例えば、第１画像データの領域１２２の平均値Ａ（０）から第２画像データの領域１２２の平均値Ａ（１）を減じた減算値である「４．４」に基づいて複数の補正値として「４」、「５」を生成した。このとき、小数成分を有する減算値に対して、整数成分と小数成分とを分割して補正することも可能であり、図７、８を用いて説明した構成および処理と同様の効果が得られる。

Ｓ１１８において、信号処理部１０１の整数補正値生成付加部２０８は、補正用データとして第１画像データの領域１２２の平均値から第２画像データの領域１２２の平均値を減じた減算値のうち整数成分に基づいた第１補正値を生成し、第２画像データのうち領域１２１のそれぞれの信号値に第１補正値を加算する。上述のように減算値が「４．４」である場合、信号処理部１０１の整数補正値生成付加部２０８は、第１補正値として「４」を生成し、第２画像データのうち領域１２１のそれぞれの信号値に「４」を加算する。

次いで、Ｓ１１９において、信号処理部１０１の小数補正値生成付加部２０９は、補正用データとして第１画像データの領域１２２の平均値から第２画像データの領域１２２の平均値を減じた減算値のうち小数成分に基づいた複数の第２補正値を生成する。このとき、減算値がプラスの値の場合は、第２補正値は「０」または「１」であってもよい。同様に、減算値がマイナスの値の場合は、第２補正値は「０」または「－１」であってもよい。つまり、第２補正値は、整数であってもよい。

また、例えば、減算値が「４．４」である場合、信号処理部１０１の整数補正値生成付加部２０８は、第１補正値として「５」を生成し、第２画像データのうち領域１２１のそれぞれの信号値に「５」を加算してもよい。この場合、減算値がプラスの値の場合は、第２補正値は「０」または「－１」であってもよい。同様に、減算値がマイナスの値の場合は、第２補正値は「０」または「１」であってもよい。

信号処理部１０１の小数補正値生成付加部２０９は、第２画像データのうち領域１２１のそれぞれの信号値に「０」または「１（－１）」を加算することによって、領域１２１のデータを補正する。このとき、複数の補正値「０」、「１（－１）」のうち領域１２１のそれぞれの信号値に加算されたそれぞれの補正値の平均値が、減算値のうち小数成分に等しくなるように、信号処理部１０１の補正値生成付加部２０７は、それぞれの信号値に対して補正値「０」または「１（－１）」を割り当ててもよい。この場合、信号処理部１０１の小数補正値生成付加部２０９は、ランダムに「０」または「１（－１）」を割り当ててもよい。また、信号処理部１０１の小数補正値生成付加部２０９は、上述と同様にディザ法を用いて「０」または「１（－１）」を割り当ててもよい。ディザ法として、例えば、誤差拡散法やマトリクスパターンを用いたディザ法が使用されうる。

図１２は、図１０に示される構成および図１１に示される処理を用いたオフセットレベル補正を実施する前後の、画像データのうち領域１２２の画素Ｐから出力された信号値の平均値をブロットしたグラフである。補正前の平均値は、上述の図６、９に示される平均値と同じである。図１２には、信号処理部１０１の小数補正値生成付加部２０９が、ディザ法の１つである誤差拡散法を用いて補正を行った各画像データの平均値がプロットされている。

上述のように、信号処理部１０１は、補正用データとして第１画像データの領域１２２の平均値Ａ（０）から第２画像データの領域１２２の平均値Ａ（ｎ）（本実施形態において、ｎ≧１）を減じた減算値のうち整数成分に基づいた第１補正値および小数成分に基づいた複数の第２補正値を生成し、第２画像データの領域１２１のそれぞれの信号値に、第１補正値と、複数の第２補正値のうち何れかの補正値と、を加算する。この場合であっても、オフセット補正により除去しきれない１／ｆノイズや温度ドリフトによる画像間のオフセットレベル差が低減されていることがわかる。つまり、放射線撮像装置１００が、図１０に示される構成を有し、かつ、図１１に示される処理を行うことによって、時間変動するノイズに対して、より高精度な補正が実現される。上述では、減算値のうち整数成分の補正（Ｓ１１８）を行った後に、小数成分の補正（Ｓ１１９）を行っているが、先に小数成分の補正が行われてもよい。

発明は上記実施形態に制限されるものではなく、発明の精神及び範囲から離脱することなく、様々な変更及び変形が可能である。従って、発明の範囲を公にするために請求項を添付する。

１００：放射線撮像装置、１０１：信号処理部、１２０：画素領域、１２１，１２２：領域、Ｐ：画素

Claims (15)

1. 放射線画像を取得するための複数の画素が配された画素領域と、
   前記画素領域から出力される複数の画像データを処理する信号処理部と、
   を含む放射線撮像装置であって、
   前記画素領域は、放射線の照射が遮られた状態の信号を出力する第１領域と、前記放射線画像のそれぞれの画素に対応する第２領域と、を含み、
   前記複数の画像データは、第１画像データと、前記第１画像データよりも後に出力される複数の第２画像データと、を含み、
   前記信号処理部は、
   前記第１画像データのうち前記第１領域の信号値の第１平均値を取得し、
   前記複数の第２画像データのそれぞれについて、第２画像データのうち前記第１領域の信号値の第２平均値と、前記第１平均値と、の差分に応じて補正用データを取得し、当該第２画像データのうち前記第２領域の信号値を、前記補正用データに従って補正することを特徴とする放射線撮像装置。
2. 前記信号処理部は、前記補正用データとして前記第１平均値から前記第２平均値を減じた減算値を取得し、当該第２画像データのうち前記第２領域のそれぞれの信号値に前記減算値を加算することによって、前記第２領域のデータを補正することを特徴とする請求項１に記載の放射線撮像装置。
3. 前記信号処理部は、前記補正用データとして前記第１平均値から前記第２平均値を減じた減算値に基づいて複数の補正値を生成し、当該第２画像データのうち前記第２領域のそれぞれの信号値に前記複数の補正値のうち何れかの補正値を加算することによって、前記第２領域のデータを補正し、
   前記複数の補正値のうち前記第２領域のそれぞれの信号値に加算されたそれぞれの補正値の平均値が、前記減算値に等しいことを特徴とする請求項１に記載の放射線撮像装置。
4. 前記信号処理部は、前記補正用データとして前記第１平均値から前記第２平均値を減じた減算値に基づいて複数の補正値を生成し、当該第２画像データのうち前記第２領域のそれぞれの信号値に前記複数の補正値のうちディザ法を用いて割当てた何れかの補正値を加算することによって、前記第２領域のデータを補正することを特徴とする請求項１に記載の放射線撮像装置。
5. 前記第２領域のそれぞれの信号値に加算されたそれぞれの補正値の平均値が、前記減算値に等しいことを特徴とする請求項４に記載の放射線撮像装置。
6. 前記信号処理部は、前記補正用データとして前記第１平均値から前記第２平均値を減じた減算値のうち整数成分に基づいた第１補正値および小数成分に基づいた整数の複数の第２補正値を生成し、当該第２画像データのうち前記第２領域のそれぞれの信号値に、前記第１補正値と、前記複数の第２補正値のうち何れかの補正値と、を加算することによって、前記第２領域のデータを補正し、
   前記複数の第２補正値のうち前記第２領域のそれぞれの信号値に加算されたそれぞれの第２補正値の平均値が、前記減算値のうち前記小数成分に等しいことを特徴とする請求項１に記載の放射線撮像装置。
7. 前記信号処理部は、前記補正用データとして前記第１平均値から前記第２平均値を減じた減算値のうち整数成分に基づいた第１補正値および小数成分に基づいた整数の複数の第２補正値を生成し、当該第２画像データのうち前記第２領域のそれぞれの信号値に、前記第１補正値と、前記複数の第２補正値のうちディザ法を用いて割当てた何れかの補正値と、を加算することによって、前記第２領域のデータを補正することを特徴とする請求項１に記載の放射線撮像装置。
8. 前記複数の第２補正値のうち前記第２領域のそれぞれの信号値に加算されたそれぞれの第２補正値の平均値が、前記減算値の前記小数成分に等しいことを特徴とする請求項７に記載の放射線撮像装置。
9. 前記ディザ法が、誤差拡散法またはマトリクスパターンを用いたディザ法を含むことを特徴とする請求項４、５、７および８の何れか１項に記載の放射線撮像装置。
10. 前記第１画像データが、ユーザの撮像開始指示を受けて前記画素領域から出力される前記複数の画像データのうち最初に出力される画像データであることを特徴とする請求項１乃至９の何れか１項に記載の放射線撮像装置。
11. 前記複数の画像データによって動画像が生成されることを特徴とする請求項１乃至１０の何れか１項に記載の放射線撮像装置。
12. 前記第１領域が、放射線の入射を抑制するための遮蔽部材によって覆われていることを特徴とする請求項１乃至１１の何れか１項に記載の放射線撮像装置。
13. 請求項１乃至１２の何れか１項に記載の放射線撮像装置と、
    前記放射線撮像装置に放射線を照射するための放射線発生装置と、
    を備えることを特徴とする放射線撮像システム。
14. 放射線画像を取得するための複数の画素が配された画素領域を備える放射線撮像装置の制御方法であって、
    前記画素領域は、放射線の照射が遮られた状態の信号を出力する第１領域と、前記放射線画像のそれぞれの画素に対応する第２領域と、を含み、
    前記画素領域から出力される複数の画像データは、第１画像データと、前記第１画像データよりも後に出力される複数の第２画像データと、を含み、
    前記第１画像データのうち前記第１領域の信号値の第１平均値を取得する工程と、
    前記複数の第２画像データのそれぞれについて、第２画像データの前記第１領域の信号値の第２平均値と、前記第１平均値と、の差分に応じた補正用データを生成し、当該第２画像データの前記第２領域の信号値を、前記補正用データに従って補正する工程と、
    を含むことを特徴とする処理方法。
15. 放射線画像を取得するための複数の画素が配された画素領域から出力される複数の画像データを処理する信号処理部を含む画像処理装置であって、
    前記画素領域は、放射線の照射が遮られた状態の信号を出力する第１領域と、前記放射線画像のそれぞれの画素に対応する第２領域と、を含み、
    前記複数の画像データは、第１画像データと、前記第１画像データよりも後に出力される複数の第２画像データと、を含み、
    前記信号処理部は、
    前記第１画像データのうち前記第１領域の信号値の第１平均値を取得し、
    前記複数の第２画像データのそれぞれについて、第２画像データの前記第１領域の信号値の第２平均値と、前記第１平均値と、の差分に応じた補正用データを生成し、当該第２画像データの前記第２領域の信号値を、前記補正用データに従って補正することを特徴とする画像処理装置。

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