JP2023092871A - 試料支持体 - Google Patents
試料支持体 Download PDFInfo
- Publication number
- JP2023092871A JP2023092871A JP2021208136A JP2021208136A JP2023092871A JP 2023092871 A JP2023092871 A JP 2023092871A JP 2021208136 A JP2021208136 A JP 2021208136A JP 2021208136 A JP2021208136 A JP 2021208136A JP 2023092871 A JP2023092871 A JP 2023092871A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- calibration
- sample
- substrate
- sample support
- porous structure
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Granted
Links
- 239000000758 substrate Substances 0.000 claims abstract description 69
- 238000005259 measurement Methods 0.000 claims abstract description 65
- XLYOFNOQVPJJNP-UHFFFAOYSA-N water Substances O XLYOFNOQVPJJNP-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims abstract description 21
- 239000011521 glass Substances 0.000 claims description 17
- 239000000463 material Substances 0.000 claims description 15
- 229910052751 metal Inorganic materials 0.000 claims description 15
- 239000002184 metal Substances 0.000 claims description 15
- 238000010521 absorption reaction Methods 0.000 claims description 14
- 239000011324 bead Substances 0.000 claims description 13
- 239000000919 ceramic Substances 0.000 claims description 9
- 239000005373 porous glass Substances 0.000 claims description 7
- 239000000945 filler Substances 0.000 claims description 5
- 238000011049 filling Methods 0.000 claims description 4
- 238000010292 electrical insulation Methods 0.000 claims description 3
- 238000002844 melting Methods 0.000 claims description 3
- 230000008018 melting Effects 0.000 claims description 3
- 229910052710 silicon Inorganic materials 0.000 claims description 3
- 239000010703 silicon Substances 0.000 claims description 3
- 239000000835 fiber Substances 0.000 claims 1
- 239000000523 sample Substances 0.000 description 107
- 238000012986 modification Methods 0.000 description 13
- 230000004048 modification Effects 0.000 description 13
- 150000002500 ions Chemical class 0.000 description 11
- 238000004949 mass spectrometry Methods 0.000 description 6
- 239000011148 porous material Substances 0.000 description 6
- 230000015572 biosynthetic process Effects 0.000 description 5
- 238000000034 method Methods 0.000 description 5
- 230000001788 irregular Effects 0.000 description 4
- 238000001819 mass spectrum Methods 0.000 description 4
- 238000001698 laser desorption ionisation Methods 0.000 description 3
- 230000035515 penetration Effects 0.000 description 3
- 239000002904 solvent Substances 0.000 description 3
- VYPSYNLAJGMNEJ-UHFFFAOYSA-N Silicium dioxide Chemical compound O=[Si]=O VYPSYNLAJGMNEJ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 238000007743 anodising Methods 0.000 description 2
- 239000012472 biological sample Substances 0.000 description 2
- 238000011088 calibration curve Methods 0.000 description 2
- 238000000688 desorption electrospray ionisation Methods 0.000 description 2
- 238000001514 detection method Methods 0.000 description 2
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 2
- 238000000752 ionisation method Methods 0.000 description 2
- 230000001678 irradiating effect Effects 0.000 description 2
- 239000007769 metal material Substances 0.000 description 2
- 150000002739 metals Chemical class 0.000 description 2
- 239000010955 niobium Substances 0.000 description 2
- 230000000149 penetrating effect Effects 0.000 description 2
- 239000007787 solid Substances 0.000 description 2
- 238000001269 time-of-flight mass spectrometry Methods 0.000 description 2
- 239000010936 titanium Substances 0.000 description 2
- 230000000007 visual effect Effects 0.000 description 2
- 239000011701 zinc Substances 0.000 description 2
- RTAQQCXQSZGOHL-UHFFFAOYSA-N Titanium Chemical compound [Ti] RTAQQCXQSZGOHL-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- HCHKCACWOHOZIP-UHFFFAOYSA-N Zinc Chemical compound [Zn] HCHKCACWOHOZIP-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- QCWXUUIWCKQGHC-UHFFFAOYSA-N Zirconium Chemical compound [Zr] QCWXUUIWCKQGHC-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 239000000853 adhesive Substances 0.000 description 1
- 230000001070 adhesive effect Effects 0.000 description 1
- 229910052782 aluminium Inorganic materials 0.000 description 1
- XAGFODPZIPBFFR-UHFFFAOYSA-N aluminium Chemical compound [Al] XAGFODPZIPBFFR-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- PNEYBMLMFCGWSK-UHFFFAOYSA-N aluminium oxide Inorganic materials [O-2].[O-2].[O-2].[Al+3].[Al+3] PNEYBMLMFCGWSK-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229910052787 antimony Inorganic materials 0.000 description 1
- WATWJIUSRGPENY-UHFFFAOYSA-N antimony atom Chemical compound [Sb] WATWJIUSRGPENY-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229910052797 bismuth Inorganic materials 0.000 description 1
- JCXGWMGPZLAOME-UHFFFAOYSA-N bismuth atom Chemical compound [Bi] JCXGWMGPZLAOME-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 239000002134 carbon nanofiber Substances 0.000 description 1
- 239000001913 cellulose Substances 0.000 description 1
- 229920002678 cellulose Polymers 0.000 description 1
- 239000011248 coating agent Substances 0.000 description 1
- 238000000576 coating method Methods 0.000 description 1
- 238000012937 correction Methods 0.000 description 1
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 1
- 238000005530 etching Methods 0.000 description 1
- 239000003365 glass fiber Substances 0.000 description 1
- 229910052735 hafnium Inorganic materials 0.000 description 1
- VBJZVLUMGGDVMO-UHFFFAOYSA-N hafnium atom Chemical compound [Hf] VBJZVLUMGGDVMO-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 238000003384 imaging method Methods 0.000 description 1
- 230000008595 infiltration Effects 0.000 description 1
- 238000001764 infiltration Methods 0.000 description 1
- 239000011810 insulating material Substances 0.000 description 1
- 238000000050 ionisation spectroscopy Methods 0.000 description 1
- 239000007788 liquid Substances 0.000 description 1
- VNWKTOKETHGBQD-UHFFFAOYSA-N methane Chemical class C VNWKTOKETHGBQD-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 239000002121 nanofiber Substances 0.000 description 1
- 229910052758 niobium Inorganic materials 0.000 description 1
- GUCVJGMIXFAOAE-UHFFFAOYSA-N niobium atom Chemical compound [Nb] GUCVJGMIXFAOAE-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 239000011368 organic material Substances 0.000 description 1
- 239000002245 particle Substances 0.000 description 1
- 238000012545 processing Methods 0.000 description 1
- 239000000377 silicon dioxide Substances 0.000 description 1
- 238000005245 sintering Methods 0.000 description 1
- 238000001228 spectrum Methods 0.000 description 1
- 229910052715 tantalum Inorganic materials 0.000 description 1
- GUVRBAGPIYLISA-UHFFFAOYSA-N tantalum atom Chemical compound [Ta] GUVRBAGPIYLISA-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 239000010409 thin film Substances 0.000 description 1
- 229910052719 titanium Inorganic materials 0.000 description 1
- WFKWXMTUELFFGS-UHFFFAOYSA-N tungsten Chemical compound [W] WFKWXMTUELFFGS-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229910052721 tungsten Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000010937 tungsten Substances 0.000 description 1
- 229910052725 zinc Inorganic materials 0.000 description 1
- 229910052726 zirconium Inorganic materials 0.000 description 1
Images
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N27/00—Investigating or analysing materials by the use of electric, electrochemical, or magnetic means
- G01N27/62—Investigating or analysing materials by the use of electric, electrochemical, or magnetic means by investigating the ionisation of gases, e.g. aerosols; by investigating electric discharges, e.g. emission of cathode
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01J—ELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
- H01J49/00—Particle spectrometers or separator tubes
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01J—ELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
- H01J49/00—Particle spectrometers or separator tubes
- H01J49/02—Details
- H01J49/04—Arrangements for introducing or extracting samples to be analysed, e.g. vacuum locks; Arrangements for external adjustment of electron- or ion-optical components
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01J—ELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
- H01J49/00—Particle spectrometers or separator tubes
- H01J49/02—Details
- H01J49/10—Ion sources; Ion guns
- H01J49/16—Ion sources; Ion guns using surface ionisation, e.g. field-, thermionic- or photo-emission
Landscapes
- Chemical & Material Sciences (AREA)
- Analytical Chemistry (AREA)
- Physics & Mathematics (AREA)
- Electrochemistry (AREA)
- Health & Medical Sciences (AREA)
- Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
- Chemical Kinetics & Catalysis (AREA)
- Biochemistry (AREA)
- General Health & Medical Sciences (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Immunology (AREA)
- Pathology (AREA)
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Plasma & Fusion (AREA)
- Other Investigation Or Analysis Of Materials By Electrical Means (AREA)
Abstract
Description
[試料支持体の構成]
[試料支持体の使用方法]
[作用及び効果]
[変形例]
Claims (12)
- 試料のイオン化に用いられる試料支持体であって、
第1表面、及び前記第1表面とは反対側の第2表面を有すると共に、前記第1表面及び前記第2表面を互いに連通させる多孔質構造が形成された測定領域を有する基板を備え、
前記基板内には、前記第1表面と面一な表面を有する校正部が形成されており、
前記校正部の吸水性は、前記測定領域の吸水性よりも低い、試料支持体。 - 前記校正部は、前記測定領域内に形成されている、請求項1に記載の試料支持体。
- 前記校正部は、前記基板の材料とは異なる材料により形成されている、請求項1又は2に記載の試料支持体。
- 前記校正部は、前記基板の材料と同一の材料により形成されている、請求項1又は2に記載の試料支持体。
- 前記校正部は、前記測定領域の吸水性よりも低い吸水性を有する部材が前記基板内に埋め込まれることにより形成されている、請求項1~4のいずれか一項に記載の試料支持体。
- 前記多孔質構造は、ガラスを含む材料により形成されており、
前記校正部は、前記多孔質構造の一部を溶融させた後に固化させることにより形成されている、請求項1,2,4のいずれか一項に記載の試料支持体。 - 前記校正部は、前記多孔質構造内に充填材が充填されることにより形成されている、請求項1~4のいずれか一項に記載の試料支持体。
- 前記校正部は、前記基板内に複数形成されている、請求項1~7のいずれか一項に記載の試料支持体。
- 前記校正部は、セラミックスにより形成されている、請求項1~8のいずれか一項に記載の試料支持体。
- 前記多孔質構造は、ガラスビーズの焼結体、多孔質ガラス、繊維多孔質体、陽極酸化されたシリコン、陽極酸化されたバルブ金属、多孔質セラミック、又は多孔質金属により形成されている、請求項1~8のいずれか一項に記載の試料支持体。
- 前記第1表面及び前記校正部の前記表面は、導電性を有する、請求項1~10のいずれか一項に記載の試料支持体。
- 前記第1表面及び前記校正部の前記表面は、電気絶縁性を有する、請求項1~10のいずれか一項に記載の試料支持体。
Priority Applications (3)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2021208136A JP7206365B1 (ja) | 2021-12-22 | 2021-12-22 | 試料支持体 |
EP22910468.2A EP4382903A1 (en) | 2021-12-22 | 2022-09-05 | Sample support |
PCT/JP2022/033317 WO2023119741A1 (ja) | 2021-12-22 | 2022-09-05 | 試料支持体 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2021208136A JP7206365B1 (ja) | 2021-12-22 | 2021-12-22 | 試料支持体 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP7206365B1 JP7206365B1 (ja) | 2023-01-17 |
JP2023092871A true JP2023092871A (ja) | 2023-07-04 |
Family
ID=84923485
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2021208136A Active JP7206365B1 (ja) | 2021-12-22 | 2021-12-22 | 試料支持体 |
Country Status (3)
Country | Link |
---|---|
EP (1) | EP4382903A1 (ja) |
JP (1) | JP7206365B1 (ja) |
WO (1) | WO2023119741A1 (ja) |
Citations (7)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US6627444B1 (en) * | 2000-08-07 | 2003-09-30 | Smiths Detection - Toronto Ltd. | Method and solid phase calibration sample for calibration of analytical instructions |
WO2007055293A1 (ja) * | 2005-11-14 | 2007-05-18 | Nec Corporation | マイクロチップおよびその使用方法、ならびに質量分析システム |
JP2008547030A (ja) * | 2005-06-30 | 2008-12-25 | バイオクラテス ライフ サイエンシズ アクチェンゲゼルシャフト | 代謝産物特性分析のための機器及び方法 |
JP2012083138A (ja) * | 2010-10-07 | 2012-04-26 | Shiseido Co Ltd | 分析方法、粘着テープ及びペン |
JP2013015516A (ja) * | 2011-06-07 | 2013-01-24 | Shiseido Co Ltd | 分析方法及び分析キット |
JP2019194604A (ja) * | 2017-09-21 | 2019-11-07 | 浜松ホトニクス株式会社 | 試料支持体 |
JP2021124344A (ja) * | 2020-02-04 | 2021-08-30 | 浜松ホトニクス株式会社 | 試料支持体及び試料支持体の製造方法 |
Family Cites Families (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US11251032B2 (en) | 2018-02-09 | 2022-02-15 | Hamamatsu Photonics K.K. | Sample support |
-
2021
- 2021-12-22 JP JP2021208136A patent/JP7206365B1/ja active Active
-
2022
- 2022-09-05 EP EP22910468.2A patent/EP4382903A1/en active Pending
- 2022-09-05 WO PCT/JP2022/033317 patent/WO2023119741A1/ja active Application Filing
Patent Citations (7)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US6627444B1 (en) * | 2000-08-07 | 2003-09-30 | Smiths Detection - Toronto Ltd. | Method and solid phase calibration sample for calibration of analytical instructions |
JP2008547030A (ja) * | 2005-06-30 | 2008-12-25 | バイオクラテス ライフ サイエンシズ アクチェンゲゼルシャフト | 代謝産物特性分析のための機器及び方法 |
WO2007055293A1 (ja) * | 2005-11-14 | 2007-05-18 | Nec Corporation | マイクロチップおよびその使用方法、ならびに質量分析システム |
JP2012083138A (ja) * | 2010-10-07 | 2012-04-26 | Shiseido Co Ltd | 分析方法、粘着テープ及びペン |
JP2013015516A (ja) * | 2011-06-07 | 2013-01-24 | Shiseido Co Ltd | 分析方法及び分析キット |
JP2019194604A (ja) * | 2017-09-21 | 2019-11-07 | 浜松ホトニクス株式会社 | 試料支持体 |
JP2021124344A (ja) * | 2020-02-04 | 2021-08-30 | 浜松ホトニクス株式会社 | 試料支持体及び試料支持体の製造方法 |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
WO2023119741A1 (ja) | 2023-06-29 |
JP7206365B1 (ja) | 2023-01-17 |
EP4382903A1 (en) | 2024-06-12 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
CN106796198B (zh) | 试样支撑体和试样支撑体的制造方法 | |
JP6905623B2 (ja) | イオン化方法及び質量分析方法 | |
US8450699B2 (en) | Electron beam device and electron beam application device using the same | |
JP6539801B1 (ja) | 試料支持体 | |
JP7217714B2 (ja) | 試料支持体 | |
CN111094967B (zh) | 试样支撑体 | |
WO2019058784A1 (ja) | レーザ脱離イオン化法及び質量分析方法 | |
WO2019155836A1 (ja) | 試料支持体、イオン化法及び質量分析方法 | |
CN111051874A (zh) | 激光解吸电离法、质量分析方法、试样支撑体及试样支撑体的制造方法 | |
CN111094963A (zh) | 激光解吸电离法及质量分析方法 | |
CN111512150B (zh) | 试样支承体、试样支承体的制造方法和试样的离子化方法 | |
WO2019155835A1 (ja) | 試料支持体、イオン化法及び質量分析方法 | |
JP7206365B1 (ja) | 試料支持体 | |
CN111094964B (zh) | 试样支撑体 | |
WO2022130764A1 (ja) | 試料支持体、イオン化法及び質量分析方法 | |
WO2022038843A1 (ja) | 試料支持体 | |
WO2021005849A1 (ja) | 試料支持体、アダプタ、イオン化法及び質量分析方法 | |
JP7186186B2 (ja) | 試料支持体、イオン化法及び質量分析方法 | |
WO2023119738A1 (ja) | 試料支持体ユニット、及び試料のイオン化方法 | |
JP2020153760A (ja) | 試料支持体、イオン化方法、及び質量分析方法 | |
CN113574372B (zh) | 试样支承体、离子化方法和质量分析方法 | |
WO2019155803A1 (ja) | 試料支持体及び試料支持体の製造方法 |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A621 | Written request for application examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 Effective date: 20221118 |
|
A871 | Explanation of circumstances concerning accelerated examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A871 Effective date: 20221118 |
|
TRDD | Decision of grant or rejection written | ||
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 Effective date: 20221220 |
|
A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61 Effective date: 20230104 |
|
R150 | Certificate of patent or registration of utility model |
Ref document number: 7206365 Country of ref document: JP Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150 |