JP2023015710A - 加熱調理器 - Google Patents

Abstract

【課題】ドリップが貯留容器から溢れることなく、長時間の減圧調理を実現することができる加熱調理器を提供する。【解決手段】加熱調理器は、内容物を収容する容器と、容器を収納する本体と、容器を覆う蓋体と、容器を加熱する加熱手段と、容器と蓋体とによって形成される容器内の空間の空気を吸引して容器内を減圧する減圧手段と、減圧沸騰状態を維持するように加熱手段および減圧手段を制御する制御装置とを備え、制御装置は、内容物の調理の際に、所定時間だけ、減圧手段を間欠的に駆動させる間欠減圧を行う。【選択図】図７

Description

本開示は、食材を調理する加熱調理器に関するものである。

従来、真空下で容器内の内容物を加熱し、１００℃未満の低温で沸騰させることにより、低温でも内容物を攪拌して全体を均一に調理できることが知られている。例えば、特許文献１には、低温での調理を行う加熱調理器として、減圧ポンプを搭載し、調理容器内を減圧ポンプで減圧して真空とし、真空下で調理容器を加熱するようにした加熱調理器が開示されている。

特許文献１に記載の加熱調理器は、減圧ポンプを用いて調理容器内を内容物の飽和水蒸気圧まで減圧させることにより、１００℃未満の低温度帯でも内容物を沸騰させることができる。例えば、６０℃の水の飽和水蒸気圧は０．２気圧であるため、加熱調理器は、調理容器内を約０．２気圧まで減圧させることにより、６０℃の水を沸騰させることができる。また、沸騰により調理容器内に水蒸気が発生し、発生した水蒸気が調理容器内から排出されることにより、調理容器内の内容物を１００℃未満の低温でも濃縮させることができる。

特開２０１９－０７６５５７号公報

ところで、通常、大気圧下において約１００℃で調理を行う場合、沸騰によって生じた水蒸気は、調理容器の外部へ排出される。その後、外部へ排出された水蒸気は、外気によって冷却されて凝縮して湯気となるが、高温であるため、すぐに蒸発して外気中に拡散する。

しかしながら、特許文献１に記載の加熱調理器のように、減圧ポンプによって例えば６０℃程度の１００℃未満の水蒸気を吸引した場合には、水蒸気の温度が低く、そのほとんどがドリップと称する液化した状態で排出される。そのため、排出された液体は、１００℃の水蒸気と比較して、蒸発が起こりにくい。したがって、調理容器内の内容物を濃縮させたり、内容物を強く沸騰させたりするために、低温の水蒸気を減圧ポンプで吸引する場合、減圧ポンプの排出側からは、大量のドリップが排出される。

この場合、加熱調理器には、排出側にドリップを貯留するための貯留容器を設ける必要がある。貯留容器は、理想的には、調理容器と同等の容量の貯留容器が必要であり、非常に大型化してしまうので実際に設けられる貯留容器は、調理容器の容量よりも小さくなる。そのため、減圧調理を長時間行うことによって多くのドリップが排出され続けた場合には、ドリップが貯留容器から溢れてしまうという課題があった。

本開示は、上記の課題に鑑みてなされたものであって、ドリップが貯留容器から溢れることなく、長時間の減圧調理を実現することができる加熱調理器を提供することを目的とする。

本開示の加熱調理器は、内容物を収容する容器と、前記容器を収納する本体と、前記容器を覆う蓋体と、前記容器を加熱する加熱手段と、前記容器と前記蓋体とによって形成される前記容器内の空間の空気を吸引して前記容器内を減圧する減圧手段と、減圧沸騰状態を維持するように前記加熱手段および前記減圧手段を制御する制御装置とを備え、前記制御装置は、前記内容物の調理の際に、所定時間だけ、前記減圧手段を間欠的に駆動させる間欠減圧を行うものである。

以上のように、本開示によれば、減圧沸騰状態を維持する際に、所定時間だけ間欠減圧が行われ、容器内に発生する水蒸気の吸引が適切な量に抑制されることにより、ドリップが貯留容器から溢れることなく、長時間の減圧調理を実現することができる。

実施の形態１に係る加熱調理器の構成の一例を示す模式断面図である。 図１の加熱調理器の構成の一例を示すブロック図である。 図１の制御装置の構成の一例を示す機能ブロック図である。 図３の制御装置の構成の一例を示すハードウェア構成図である。 図３の制御装置の構成の他の例を示すハードウェア構成図である。 内容物の温度と飽和水蒸気圧との関係を示すグラフである。 実施の形態１に係る加熱調理器の調理制御について説明するためのグラフである。 実施の形態１に係る加熱調理器の第１調理モードによる調理制御について説明するためのグラフである。 実施の形態１に係る加熱調理器の第２調理モードによる調理制御について説明するためのグラフである。 実施の形態１に係る制御装置による処理の流れの一例を示すフローチャートである。

以下、図面を参照して実施の形態について説明する。なお、以下の説明に用いられる図面では、同一または相当する部分には、同一の符号を付し、その説明を適宜省略または簡略化する。また、各図に記載の構成について、その形状、大きさ、および配置等は、本開示の範囲内で適宜変更することができる。また、明細書全文に表わされている構成要素の形態は、あくまでも例示であって、これらの記載に限定されるものではない。

実施の形態１．
本実施の形態１に係る加熱調理器について説明する。本実施の形態１に係る加熱調理器は、容器内を減圧して容器内の内容物を低温状態で沸騰させる減圧低温沸騰を利用して調理を行うものである。

［加熱調理器１００の構成］
図１は、本実施の形態１に係る加熱調理器の構成の一例を示す模式断面図である。加熱調理器１００は、本体１と、本体１に開閉自在に係止された外蓋２とを備えている。

本体１の内側には、容器収納部３が内装固着されている。容器収納部３には、有底筒状で上面が開口した鍋状の容器４が着脱自在に収納されている。容器４内には、被加熱物である食材等の内容物が収容される。容器４の上面開口の周囲には、外方に向かって延びるフランジ部４ａが形成されている。

容器収納部３の外壁には、加熱手段５が設けられている。加熱手段５は、例えば、容器収納部３にスパイラル状に旋回された電磁誘導加熱用の加熱コイル５ａであり、高周波電流が供給されることにより発生する磁界で容器４を誘導加熱する。加熱手段５の加熱動作は、後述する制御装置５０によって制御される。なお、この例に限られず、加熱手段５として、電流が供給されることによって熱を発生するヒータ等が用いられてもよい。

容器収納部３の底面の中央部には貫通孔が形成され、貫通孔内に鍋底温度センサ６が配置されている。鍋底温度センサ６は、圧縮バネ７によって下方から支持され、容器４の底部に接触するように配置される。鍋底温度センサ６は、容器４の温度を計測する。

外蓋２には、容器４の上面開口を覆う蓋体である内蓋９が連結されている。内蓋９の周縁には、シール材である蓋パッキン１０が設けられている。蓋パッキン１０は、外蓋２を閉じた際に、容器４のフランジ部４ａおよび内壁と内蓋９との密閉性が得られるようになっている。

内蓋９には蒸気孔１１が形成されている。蒸気孔１１には蒸気排出弁１２が配置されている。蒸気排出弁１２は、容器４内の圧力によって自動的に開閉し、容器４内を密閉または非密閉とする。通常時において、蒸気排出弁１２は、自重により蒸気孔１１を閉塞するように設けられている。一方、容器４内が密閉された状態で、容器４内に蒸気が発生し、容器４内の圧力が大気圧を超えると、蒸気は蒸気排出弁１２を押しのけて容器４外へ放出されるようになっている。なお、蒸気排出弁１２は、容器４内が低圧となるときにも、蒸気孔１１の周囲の内蓋９と外蓋２とを密閉するための蒸気孔パッキン２３を介して、容器４内を密閉するように構成される。

蒸気排出弁１２の下流には、カートリッジ１３が配置されている。カートリッジ１３には、ドリップ容器２４が接続されている。カートリッジ１３は、蒸気排出口１４および凝縮水回収口１５を備えている。カートリッジ１３は、蒸気排出弁１２を介して容器４内の蒸気を蒸気排出口１４から排出する。

また、カートリッジ１３は、凝縮水回収口１５を備え、凝縮水回収口１５を介して、内部に排出された凝縮水をドリップ容器２４へと導く。ドリップ容器２４は、カートリッジ１３から供給された凝縮水を貯留する露受けとして機能する。なお、この例では、ドリップ容器２４は、本体１の内部に配置されているが、これに限られず、外蓋２あるいはそれ以外の外部等に設けられてもよい。

内蓋９には、貫通するセンサ孔１６が設けられている。外蓋２には、蓋温度センサ１７が配置されている。蓋温度センサ１７は、センサ孔１６を介して容器４内の上部空間温度を計測する。上部空間温度は、容器４内の内容物以外の空間のうち、内蓋９近傍の空間の温度である。なお、外蓋２には、センサ孔１６の周囲の内蓋９と外蓋２とを密閉するための蓋温度センサパッキン１８が設けられている。

内蓋９には、貫通する第１の内蓋通気孔１９ａおよび第２の内蓋通気孔１９ｂが設けられている。また、外蓋２には、中空状に形成された連通管２１ａ～２１ｆ、三方向電磁弁３１、減圧ポンプ３２、圧力検知部３３および電磁弁３４が配置されている。

三方向電磁弁３１には、第１の内蓋通気孔１９ａに接続された連通管２１ａと、減圧ポンプ３２に接続された連通管２１ｂと、外蓋２の内部に開口する外蓋内通気孔２０に接続された連通管２１ｄとが接続されている。減圧ポンプ３２には、連通管２１ｂと、カートリッジ１３に接続された連通管２１ｃとが接続されている。

三方向電磁弁３１は、連通管２１ｂと、連通管２１ａまたは連通管２１ｄとが接続されるように、三方向電磁弁３１の開閉動作が制御装置５０によって制御される。連通管２１ｂと連通管２１ｄとが接続されることにより、外蓋２の内部と容器４の外部とが連通する。また、連通管２１ａと連通管２１ｂとが接続されることにより、容器４の内外が連通する。

減圧ポンプ３２は、吸引側から空気を吸引し、排出側から排気する減圧手段である。減圧ポンプ３２は、容器４内の圧力を変化させる圧力変化手段として機能する。減圧ポンプ３２の吸引側には、連通管２１ｂが接続されている。減圧ポンプ３２の排出側には、連通管２１ｃが接続されている。減圧ポンプ３２の駆動は、制御装置５０によって制御される。

減圧ポンプ３２は、三方向電磁弁３１によって連通管２１ａと連通管２１ｂとが接続された場合に、第１の内蓋通気孔１９ａ、連通管２１ａ、三方向電磁弁３１および連通管２１ｂを介して容器４内の空気を吸引する。そして、減圧ポンプ３２は、吸引した空気を、連通管２１ｃおよびカートリッジ１３の蒸気排出口１４を介して外部に排出する。これにより、容器４内の空気が吸引されて外部に排出されるため、容器４内が減圧する。以下では、このような第１の内蓋通気孔１９ａから連通管２１ａ、三方向電磁弁３１、連通管２１ｂ、減圧ポンプ３２、連通管２１ｃおよびカートリッジ１３を経て蒸気排出口１４に至る連通流路を「流路Ａ」と適宜称して説明する。

また、減圧ポンプ３２は、三方向電磁弁３１によって連通管２１ｂと連通管２１ｄとが接続された場合に、外蓋内通気孔２０、連通管２１ｄ、三方向電磁弁３１および連通管２１ｂを介して容器４内の空気を吸引する。そして、減圧ポンプ３２は、吸引した空気を、連通管２１ｃおよびカートリッジ１３の蒸気排出口１４を介して外部に排出する。以下では、このような外蓋内通気孔２０から連通管２１ｄ、三方向電磁弁３１、連通管２１ｂ、減圧ポンプ３２、連通管２１ｃおよびカートリッジ１３を経て蒸気排出口１４に至る連通流路を「流路Ｂ」と適宜称して説明する。

減圧ポンプ３２が容器４内の蒸気を吸引した場合、減圧ポンプ３２から凝縮水が排出されることがある。この凝縮水は、連通管２１ｃを通ってカートリッジ１３に排出され、カートリッジ１３内において、重力によって凝縮水回収口１５へ導かれる。そして、凝縮水は、凝縮水回収口１５からドリップ容器２４に貯留される。

圧力検知部３３は、連通管２１ａの途中から分岐する分岐部分に接続されている。
圧力検知部３３は、例えば圧力センサであり、連通管２１ａを含む容器４内の圧力を検知する。なお、圧力検知部３３は、これに限られず、容器４に連通する連通流路を設け、この連通流路に接続するように配置されてもよい。

電磁弁３４には、第２の内蓋通気孔１９ｂに接続された連通管２１ｅと、カートリッジ１３に接続された連通管２１ｆとが接続されている。電磁弁３４は、容器４内と外部との連通を許容または阻止するように開閉する。電磁弁３４の開閉動作は、制御装置５０によって制御される。

電磁弁３４が開くことにより、連通管２１ｅと連通管２１ｆとが接続され、容器４内と外部とが連通する。容器４内が減圧された状態で電磁弁３４が開状態となった場合には、蒸気排出口１４、カートリッジ１３、連通管２１ｆ、電磁弁３４、連通管２１ｅを介して外気が容器４内に取り込まれ、容器４内の圧力が常圧に戻る。このように、電磁弁３４の開閉状態によって容器４内の圧力が変化するため、電磁弁３４は、減圧ポンプ３２と同様に圧力変化手段として機能する。なお、以下では、このような蒸気排出口１４からカートリッジ１３、連通管２１ｆ、電磁弁３４および連通管２１ｅを経て第２の内蓋通気孔１９ｂに至る連通流路を「流路Ｃ」と適宜称して説明する。

連通管２１ａの第１の内蓋通気孔１９ａとの接続部分には、第１の内蓋通気孔１９ａと密閉接続するための経路パッキン２２ａが配置されている。また、連通管２１ｅの第２の内蓋通気孔１９ｂとの接続部分には、第２の内蓋通気孔１９ｂと密閉接続するための経路パッキン２２ｂが配置されている。

なお、外蓋内通気孔２０は、外蓋２の内部に配置される。これは、減圧ポンプ３２への異物の侵入を防ぎ、故障を抑制するためである。また、外蓋内通気孔２０および連通管２１ｄは、外気を吸引するための通気孔として配置されているため、外蓋内通気孔２０および連通管２１ｄには、外部の埃等を吸引しないように、フィルターまたはメッシュ構造が設けられてもよい。

外蓋２には、操作表示部３５が設置されている。操作表示部３５は、ユーザによる操作指示等の入力および動作状態等の表示を行う。なお、操作表示部３５は、外蓋２に設置される場合に限られず、例えば本体１に設置されてもよい。また、操作表示部３５に対する操作および表示等の各種機能は、以下で説明する制御装置５０に含まれてもよいし、スマートフォン等の外部の機器によって実現されてもよい。

（制御装置５０）
さらに、加熱調理器１００は、制御装置５０を備えている。制御装置５０は、加熱調理器１００全体を制御する。制御装置５０は、鍋底温度センサ６および蓋温度センサ１７の計測結果に基づき、加熱コイル５ａ、三方向電磁弁３１、減圧ポンプ３２および電磁弁３４を制御し、後述する調理制御を実施するための制御を行う。

また、本実施の形態１において、制御装置５０は、後述する温調工程で行われる間欠減圧の際に、三方向電磁弁３１、減圧ポンプ３２および電磁弁３４を制御し、容器４の減圧および減圧停止を制御する。なお、制御装置５０は、本体１に設けられてもよいし、外蓋２に設けられてもよい。また、制御装置５０は、上述した操作表示部３５の各種機能を含んでもよい。

図２は、図１の加熱調理器の構成の一例を示すブロック図である。図２に示すように、制御装置５０には、三方向電磁弁３１、減圧ポンプ３２、圧力検知部３３、電磁弁３４、鍋底温度センサ６、蓋温度センサ１７、操作表示部３５およびインバータ部３６が電気的に接続されている。インバータ部３６は、加熱コイル５ａに高周波電流を供給するために設けられている。

図３は、図１の制御装置の構成の一例を示す機能ブロック図である。図３に示すように、制御装置５０は、情報取得部５１、比較判断部５２、機器制御部５３、タイマ５４および記憶部５５を備えている。制御装置５０は、マイクロコンピュータなどの演算装置上でソフトウェアを実行することにより各種機能が実現され、もしくは各種機能を実現する回路デバイスなどのハードウェア等で構成されている。

情報取得部５１は、鍋底温度センサ６で計測された容器４の温度と、蓋温度センサ１７によって計測された容器４内の上部空間温度とを取得する。また、情報取得部５１は、圧力検知部３３で検知された容器４内の圧力を取得する。情報取得部５１は、鍋底温度センサ６および蓋温度センサ１７からの温度情報と、圧力検知部３３からの圧力情報とを定期的に取得する。

比較判断部５２は、後述する温調工程での間欠減圧の際に各種の比較および判断を行い、容器４の温度状態、圧力状態ならびに容器４に対する減圧時間等を判断する。例えば、比較判断部５２は、タイマ５４のカウント値と予め設定された値とを比較し、間欠減圧の際の減圧時間および減圧休止時間が予め設定された時間だけ経過したか否かを判断する。

機器制御部５３は、比較判断部５２による判断結果に基づき、加熱調理器１００の各部の動作を制御する。例えば、機器制御部５３は、比較判断部５２による各種の判断結果に基づき、加熱コイル５ａ、三方向電磁弁３１、減圧ポンプ３２、電磁弁３４、インバータ部３６を制御する。

タイマ５４は、後述する温調工程における各種の時間をカウントする。本実施の形態１において、タイマ５４は、後述する間欠減圧時の減圧時間および減圧休止時間をカウントする。また、タイマ５４は、間欠減圧時における減圧ポンプ３２の駆動回数をカウントする。

記憶部５５は、制御装置５０の各部で用いられる各種の値を記憶する。本実施の形態１において、記憶部５５は、比較判断部５２でタイマ５４によるカウント値と比較される減圧時間および減圧休止時間を記憶する。

図４は、図３の制御装置の構成の一例を示すハードウェア構成図である。制御装置５０の各種機能がハードウェアで実行される場合、図３の制御装置５０は、図４に示すように、処理回路４１および入出力装置４２で構成される。図３の情報取得部５１、比較判断部５２、機器制御部５３、タイマ５４および記憶部５５の各機能は、処理回路４１により実現される。また、操作表示部３５の各種機能が制御装置５０に含まれている場合、操作表示部３５は、図４の入出力装置４２に対応する。

各機能がハードウェアで実行される場合、処理回路４１は、例えば、単一回路、複合回路、プログラム化したプロセッサ、並列プログラム化したプロセッサ、ＡＳＩＣ（Application Specific Integrated Circuit）、ＦＰＧＡ（Field-Programmable Gate Array）、またはこれらを組み合わせたものが該当する。情報取得部５１、比較判断部５２、機器制御部５３、タイマ５４および記憶部５５の各部の機能それぞれを処理回路４１で実現してもよいし、各部の機能を１つの処理回路４１で実現してもよい。

図５は、図３の制御装置の構成の他の例を示すハードウェア構成図である。制御装置５０の各種機能がソフトウェアで実行される場合、図３の制御装置５０は、図５に示すように、プロセッサ４３、メモリ４４および入出力装置４５で構成される。情報取得部５１、比較判断部５２、機器制御部５３、タイマ５４および記憶部５５の各機能は、プロセッサ４３およびメモリ４４により実現される。また、操作表示部３５の各種機能が制御装置５０に含まれている場合、図３の操作表示部３５は、図５の入出力装置４５に対応する。

各機能がソフトウェアで実行される場合、情報取得部５１、比較判断部５２、機器制御部５３、タイマ５４および記憶部５５の機能は、ソフトウェア、ファームウェア、またはソフトウェアとファームウェアとの組み合わせにより実現される。ソフトウェアおよびファームウェアは、プログラムとして記述され、メモリ４４に格納される。プロセッサ４３は、メモリ４４に記憶されたプログラムを読み出して実行することにより、各部の機能を実現する。

メモリ４４として、例えば、ＲＡＭ（Random Access Memory）、ＲＯＭ（Read Only Memory）、フラッシュメモリ、ＥＰＲＯＭ（Erasable and Programmable ROM）およびＥＥＰＲＯＭ（Electrically Erasable and Programmable ROM）等の不揮発性または揮発性の半導体メモリ等が用いられる。また、メモリ４４として、例えば、磁気ディスク、フレキシブルディスク、光ディスク、ＣＤ（Compact Disc）、ＭＤ（Mini Disc）およびＤＶＤ（Digital Versatile Disc）等の着脱可能な記録媒体が用いられてもよい。

［加熱調理器１００の動作］
次に、上記構成を有する加熱調理器１００の動作について説明する。まず、加熱調理器１００の動作について説明する前に、調理における温度と圧力との関係について説明する。

図６は、内容物の温度と飽和水蒸気圧との関係を示すグラフである。図６のグラフは、内容物の温度に対する飽和水蒸気圧、すなわち、内容物が沸騰する際の圧力と沸点との関係を示す。図６に示すように、容器４内の内容物の沸点は、容器４内の圧力によって変動する。例えば、容器４内の内容物である水を６０℃で沸騰させるためには、容器４内を０．２気圧程度まで減圧すればよい。

図６に示す内容物の温度と飽和水蒸気圧との関係から、本実施の形態１に係る加熱調理器１００は、容器４内の内容物を調理する際に、容器４内を減圧するとともに加熱し、大気圧未満の圧力で１００℃未満の温度帯から沸騰が継続される減圧沸騰状態を維持する。このように、減圧沸騰状態を維持することにより、容器４内の煮汁の対流が促進されるとともに、沸騰によって発生した水蒸気により、煮汁に浸かっていない食材が蒸すようにして加熱される。そのため、沸騰していない場合と比較して、容器４内の内容物の加熱ムラが軽減される。そして、加熱ムラが軽減されることにより、容器４内の内容物が均一に加熱され、食材の仕上がりが安定するため、おいしさを向上させることができる。

（基本動作）
本実施の形態１に係る加熱調理器１００の基本動作について、図１および図２を参照しながら説明する。加熱調理器１００では、主に、容器４を加熱する昇温工程と、容器４の温度を設定調理温度に維持しながら沸騰状態を維持する温調工程とを含む調理制御が行われる。

まず、ユーザによって、任意のメニューを調理するのに必要な米、肉、魚、野菜、水および調味料等の材料が容器４内に投入される。その後、ユーザによって容器４が容器収納部３に載置され、外蓋２が閉じられる。これにより、内蓋９の蓋パッキン１０が容器４のフランジ部４ａに圧接され、容器４内が密閉される。

次に、ユーザによる操作表示部３５に対する操作によってメニューが選択され、図示しない開始スイッチがオンとされると、制御装置５０に調理開始指示が与えられ、調理が開始される。このとき、制御装置５０には、選択されたメニューに応じて、設定調理温度Ｔ［℃］、減圧ポンプ３２の駆動パターン、ならびに設定調理温度Ｔを維持する設定調理時間等の調理条件を含む調理シーケンスが、調理開始指示として与えられる。

なお、設定調理温度Ｔおよび設定調理時間等の調理条件は、それぞれユーザによって直接選択されるようにしてもよい。また、食材の種類および量、ならびに調理方法等についても、それぞれユーザによって直接選択されてもよい。

ここで、本実施の形態１では、減圧低温沸騰が開始される設定調理圧力Ｐ［ａｔｍ］は設定されない。本実施の形態１では、容器４内の空間温度の上昇等により、低温沸騰が開始されたこと、すなわち、容器４内の圧力が設定調理温度Ｔの飽和水蒸気圧である設定調理圧力Ｐに到達したことが判断される。

なお、この例に限られず、設定調理圧力Ｐが予め設定されるようにしてもよい。また、例えば、設定可能な各温度に対する飽和水蒸気圧の関係をテーブルとして予め用意しておき、設定調理温度Ｔで沸騰する圧力が自動的に設定され、そのときの圧力が操作表示部３５等に表示されるようにしてもよい。加えて、予約調理のように、設定した時刻までに調理が完了するように、設定調理時間と設定完了時刻とが設定されるようにしてもよい。

調理開始指示が制御装置５０に与えられると、昇温工程および温調工程を含む調理制御が開始される。電磁弁３４は、調理開始時には流路Ｃが連通するように開状態となっているが、調理制御が開始されると、流路Ｃを遮断するように閉状態とされる。

加熱コイル５ａには、インバータ部３６から高周波電流が供給され、高周波磁界が発生する。容器４の加熱コイル対向面は、発生した高周波磁界によって加熱コイル５ａと磁気結合して励磁され、容器４の底面に渦電流が誘起される。そして、誘起された渦電流と容器４の抵抗とによりジュール熱が生じ、容器４の底面が発熱して容器４の内容物に対する加熱が行われる。本実施の形態１では、容器４が設定調理温度Ｔに到達した後、インバータ部３６が制御され、設定調理温度Ｔを維持するように、設定調理温度Ｔの近傍での温度調節が行われる。

また、三方向電磁弁３１は、調理開始時には流路Ｂが連通する状態となっており、容器４内の減圧が行われるときのみ流路Ａが連通する状態とされる。そして、減圧ポンプ３２が駆動された場合には、容器４内の空気が第１の内蓋通気孔１９ａ、連通管２１ａ、三方向電磁弁３１、連通管２１ｂ、減圧ポンプ３２、連通管２１ｃおよびカートリッジ１３の蒸気排出口１４を介して外部に排出される。これにより、容器４内の圧力が徐々に低下する。そして、図６に示すように、容器４内の圧力が、容器４の温度または容器４内の内容物の温度における飽和水蒸気圧となると、容器４内に収容された内容物が激しく蒸発および沸騰し、減圧低温沸騰が開始される。なお、本実施の形態１において、このときの圧力は、大気圧である１．０ａｔｍ以下の圧力となる。

指示された設定調理時間が経過すると、調理が終了し、インバータ部３６および減圧ポンプ３２の駆動が停止され、加熱および減圧が停止する。また、三方向電磁弁３１は、連通流路が流路Ａから流路Ｂに切り替えられるように制御される。このとき、例えば操作表示部３５により、調理が終了したことがユーザに対して報知されるようにしてもよい。

その後、内容物および容器４内の温度が低下し、予め設定された保温温度に到達した場合に、インバータ部３６が制御され、設定保温温度で内容物の温度を調節する保温工程が行われる。

図７は、本実施の形態１に係る加熱調理器の調理制御について説明するためのグラフである。図７は、容器４の温度［℃］および容器４内の圧力［ａｔｍ］と、加熱コイル５ａ、減圧ポンプ３２、三方向電磁弁３１、電磁弁３４および蒸気排出弁１２のそれぞれの動作タイミングとの一例を示す。図７に示すように、加熱調理器１００は、調理の際に、昇温工程および温調工程を含む調理制御を行う。

（昇温工程）
昇温工程は、容器４内の温度が設定調理温度Ｔに達するまで昇温する工程である。昇温工程において、制御装置５０の機器制御部５３は、まず、電磁弁３４が閉状態となるように制御して流路Ｃを遮断する。また、機器制御部５３は、鍋底温度センサ６で計測された容器４の温度が設定調理温度Ｔ［℃］となるように加熱手段５を駆動し、容器４の加熱を開始する。そして、時点ｔ１において容器４の温度が設定調理温度Ｔに到達すると、温調工程が開始される。

（温調工程）
温調工程は、容器４の温度を設定調理温度Ｔの近傍となるように調節する工程である。すなわち、機器制御部５３は、鍋底温度センサ６で計測された容器４の温度が設定調理温度Ｔを含む一定の温度範囲内に収まるように加熱コイル５ａを制御する。以下では、「設定調理温度Ｔを含む一定の温度範囲」を「設定調理温度範囲」と称し、「設定調理温度Ｔを含む一定の温度範囲内に収まる」ことが「設定調理温度Ｔを維持する」ことを意味するものとする。

時点ｔ１において、容器４の温度が設定調理温度Ｔに到達すると、機器制御部５３は、連通流路が流路Ａとなるように、三方向電磁弁３１を切り替える。また、機器制御部５３は、蒸気排出弁１２を閉にして減圧ポンプ３２を駆動し、容器４内の減圧を開始する。このとき、機器制御部５３は、容器４内の内容物の沸騰が検知されるまで、減圧ポンプ３２による減圧を継続する。

このように容器４内の減圧が行われることにより、容器４内は、大気圧である１．０［ａｔｍ］から徐々に減圧される。そして、容器４内の圧力が、容器４の温度における飽和水蒸気圧以下になると、容器４の底面を中心に内容物が急激に蒸発し、沸騰状態となる。

機器制御部５３は、時点ｔ２において内容物の沸騰を検知すると、沸騰検知から所定時間経過した時点ｔ３において、連通流路が流路Ｂとなるように、三方向電磁弁３１を切り替え、容器４を密閉状態にする。また、機器制御部５３は、時点ｔ３において、減圧ポンプ３２の駆動を停止させ、容器４内の減圧を停止する。

なお、機器制御部５３は、沸騰の検知直後に減圧ポンプ３２による減圧を停止させてもよいし、沸騰の検知に関わらず、減圧開始から予め設定された所定時間だけ減圧を行うようにしてもよい。内容物の沸騰検知として、従来から用いられている各種公知の方法が用いられる。具体的には、例えば、蓋温度センサ１７で計測された容器４内の上部空間温度と、鍋底温度センサ６で計測された容器４の温度との温度差が設定値以下になった場合に、制御装置５０は、沸騰を検知することができる。

本実施の形態では、容器４の温度が設定調理温度Ｔに到達した後に、容器４内の減圧を開始するように説明したが、これはこの例に限られない。例えば、容器４の加熱と容器４内の減圧とを同時に開始してもよい。また、例えば、容器４内を減圧してから容器４の加熱を開始してもよい。本実施の形態１に係る加熱調理器１００は、調理中または調理後に減圧沸騰状態を維持することが求められる。そのため、減圧のタイミングに関わらず、容器４内の圧力が容器４の温度における飽和水蒸気圧以下まで減圧されれば、加熱および減圧のタイミングは問わない。

上述したように、機器制御部５３は、時点ｔ３において連通流路が流路Ｂとなるように三方向電磁弁３１を切り替えた際に、減圧ポンプ３２の駆動を停止させてもよいが、減圧ポンプ３２をそのまま駆動させてもよい。これにより、減圧ポンプ３２は、外蓋内通気孔２０から外気を吸引するため、流路Ｂを介してカートリッジ１３に凝縮水および空気を排出することができる。

ここで、容器４内の空間が完全に密閉されていれば、容器４内の空間は、常に気液平衡状態となる。制御装置５０の制御により、容器４は温調されているため、加熱の際にはそのエネルギーが沸騰に寄与して内容物の沸騰が起こり、容器４内の圧力は微増する。一方、加熱が停止された場合には沸騰が落ち着き、容器４内の圧力が低下する。そのため、容器４の加熱および加熱停止を繰り返すことにより、容器４内の内容物は十分に攪拌されるとともに、容器４内全体を均一な温度に維持することができる。

一方で、容器４の密閉状態が維持され続ける限り、例え沸騰状態が続いたとしても、容器４内の内容物が濃縮されることはない。また、何らかの原因によって、スローリークが発生している場合、容器４内の圧力は徐々に上昇するため、沸騰を維持することが困難となる。容器４内の内容物が完全に沸騰しなくなり、外気が流入し続けると、場合によっては容器４を温調していた場合でも、容器４の空間温度が低下する。そうすると、容器４内の内容物にしっかり火が通せない等、ユーザの所望の仕上がりを実現できない可能性がある。

そこで、本実施の形態１に係る加熱調理器１００では、減圧沸騰の維持および容器４内の内容物の濃縮を目的として、減圧ポンプ３２が間欠的に繰り返し駆動する。すなわち、機器制御部５３は、減圧ポンプ３２による減圧を停止させてから所定の時間が経過した後、連通流路が流路Ａとなるように三方向電磁弁３１を切り替えるとともに、減圧ポンプ３２を駆動し、容器４内を減圧する。また、機器制御部５３は、減圧ポンプ３２の駆動を再開してから所定時間が経過した後、減圧ポンプ３２の駆動を停止するとともに、連通流路が流路Ｂとなるように三方向電磁弁３１を切り替える。そして、このような容器４内の減圧と密閉維持（減圧休止）とを間欠的に行う間欠減圧が繰り返される。

温調工程が開始されてから設定調理時間が経過すると、機器制御部５３は、容器４の加熱を停止させ、電磁弁３４を開状態として調理制御を終了する。ただし、この後に、調理制御を継続してもよい。例えば、機器制御部５３は、容器４の温度が設定調理温度Ｔよりも高い所定の温度となるまで加熱を行い、第２の温調工程を行ってもよい。なお、設定調理時間のカウントは、沸騰が検知された時点から開始されるようにしてもよい。

（設定調理時間に応じた間欠減圧について）
ところで、設定調理時間、すなわち、減圧沸騰状態を維持する時間は、調理内容等によって異なる。例えば、煮込み調理および低温調理では、減圧沸騰状態を数時間維持する必要がある。また、一般的な炊飯器では、最低でも１２時間の保温を保証するものが多い。したがって、このように減圧沸騰状態を長時間維持する場合であっても、ドリップ容器２４から凝縮水であるドリップが溢れないようにする必要がある。

そこで、本実施の形態１に係る加熱調理器１００では、温調工程における間欠減圧の回数が増えるほど、間欠減圧時に減圧ポンプ３２を駆動する減圧時間を短くし、間欠減圧時に減圧ポンプ３２の駆動を停止する減圧休止時間を長くする。

煮込み調理、低温調理および保温では、調理時間に数時間を要するが、その他のほとんどの料理は、調理時間が１時間前後で完結するものが多い。したがって、このような場合には、調理の前半に減圧を集中させ、強い沸騰を得るとともに、水蒸気の排出を行い、調理後半では減圧沸騰状態を維持する程度とする。これにより、比較的長い調理時間に対しても減圧調理を継続することができる。また、沸騰による攪拌および蒸気の排出等、仕上がりに影響を与えやすい調理を調理時間の前半に行うため、様々な調理メニューに対しても比較的安定した仕上がりを得ることができる。

なお、間欠減圧における減圧時間は、減圧回数が増加するにつれて毎回減らしてもよいし、減圧回数が所定の回数に到達する毎に減らしてもよい。具体的には、制御装置５０は、タイマ５４により減圧回数をカウントし、タイマ５４の値が規定数以上となった場合に減圧時間を減らす、あるいは、減圧休止時間を増やすようにする。また、例えば、間欠減圧においては、途中までは回が増加する毎に減圧時間を減らし、その後は減圧時間を一定としてもよい。

さらに、例えば、間欠減圧においては、減圧時間を積算し、積算時間が規定値以上となった場合に、減圧時間を減らす、あるいは、減圧休止時間を増やすようにしてもよい。

また、一般に、真空度が高くなればなるほど、容器４内の気体の密度は小さくなるため、減圧ポンプ３２が単位時間あたりに吸引および排出できる気体の量は、容器４内の真空度が高くなるに従って少なくなる。したがって、減圧ポンプ３２から排出されるドリップの量は、設定調理温度Ｔが高温になるほど多くなる。そのため、設定調理温度Ｔに関わらず、より長時間の減圧調理を可能とするためには、設定調理温度Ｔに応じて、間欠減圧の回数を調整する必要がある。

この場合、例えば、設定調理温度Ｔと間欠減圧の回数とを関連付けたテーブルを予め用意しておき、設定調理温度Ｔに基づき、テーブルを参照することで間欠減圧の回数が設定される。なお、このときのそれぞれの間欠減圧における減圧時間および減圧休止時間は、予め設定されていてもよい。これにより、間欠減圧における減圧時間を、減圧回数に応じて適切に設定することができる。

（設定調理温度Ｔが異なる調理モードでの間欠減圧について）
設定調理温度が異なる２つの調理モードにおける間欠減圧時の減圧時間および減圧休止時間について説明する。以下では、加熱調理器１００が、第１調理モードおよび第２調理モードの、設定調理温度Ｔが異なる２つの調理モードによる調理を行うことができる場合を例にとって説明する。ここで、第１調理モードは、設定調理温度Ｔを６０［℃］程度の設定調理温度Ｔ１として調理を行うモードである。第２調理モードは、設定調理温度Ｔを８０［℃］程度の設定調理温度Ｔ１よりも高い設定調理温度Ｔ２として調理を行うモードである。

上述したように、設定調理温度Ｔが高温であるほど、減圧ポンプ３２から排出される凝縮水であるドリップの量が多くなる。そのため、設定調理温度Ｔが異なる第１調理モードおよび第２調理モードに対して、温調工程の間欠減圧におけるそれぞれの減圧時間および減圧休止時間を同一時間とした場合、１回の減圧の際のドリップ排出量が多い、設定調理温度Ｔが高い第２調理モードでは、設定調理温度Ｔが低い第１調理モードと比較して、ドリップ容器２４からドリップが早く溢れてしまう。

したがって、設定調理温度Ｔが高いほど、間欠減圧の回数を少なくするようにするとよい。具体的には、例えば、第２調理モードにおける温調工程では、第１調理モードにおける温調工程よりも間欠減圧の回数を少なくする。すなわち、第２調理モードの温調工程では、間欠減圧の減圧時間を第１調理モードよりも短くし、減圧休止時間を長くする。これにより、設定調理温度Ｔの高さに関わらず、減圧調理を行うことができ、設定調理温度Ｔが比較的高温である場合であっても、減圧調理を長時間行うことができる。

図８は、本実施の形態１に係る加熱調理器の第１調理モードによる調理制御について説明するためのグラフである。図９は、本実施の形態１に係る加熱調理器の第２調理モードによる調理制御について説明するためのグラフである。図８および図９は、それぞれ、容器４の温度［℃］および容器４内の圧力［ａｔｍ］と、加熱コイル５ａ、減圧ポンプ３２、三方向電磁弁３１、電磁弁３４および蒸気排出弁１２のそれぞれの動作タイミングとの一例を示す。

第１調理モードでは、例えば、設定調理温度Ｔを６０［℃］程度の設定調理温度Ｔ１として調理が行われるものとする。第２調理モードでは、例えば、設定調理温度Ｔを８０［℃］程度の設定調理温度Ｔ１よりも高い設定調理温度Ｔ２として調理が行われるものとする。

図８に示すように、第１調理モードでは、沸騰が検知されてから時間ｔ１１が経過した後に、減圧ポンプ３２が停止し、容器４内の減圧が停止する。減圧ポンプ３２が停止してから時間ｔ１２が経過すると、減圧ポンプ３２が駆動し、容器４内の減圧が行われる。減圧ポンプ３２が駆動してから時間ｔ１４が経過すると、減圧ポンプ３２が停止し、容器４内の減圧が停止する。減圧ポンプ３２が停止してから時間ｔ１３が経過すると、減圧ポンプ３２が駆動し、容器４内の減圧が行われる。減圧ポンプ３２が駆動してから時間ｔ１５が経過すると、減圧ポンプ３２が停止し、容器４内の減圧が停止する。以下、同様にして、第１調理モードによる温調工程が終了するまで間欠減圧が行われ、減圧ポンプ３２の駆動および駆動停止が所定の回数だけ繰り返される。

また、図９に示すように、第２調理モードでは、沸騰が検知されてから時間ｔ２１が経過した後に、減圧ポンプ３２が停止し、容器４内の減圧が停止する。減圧ポンプ３２が停止してから時間ｔ２２が経過すると、減圧ポンプ３２が駆動し、容器４内の減圧が行われる。減圧ポンプ３２が駆動してから時間ｔ２４が経過すると、減圧ポンプ３２が停止し、容器４内の減圧が停止する。減圧ポンプ３２が停止してから時間ｔ２３が経過すると、減圧ポンプ３２が駆動し、容器４内の減圧が行われる。減圧ポンプ３２が駆動してから時間ｔ２５が経過すると、減圧ポンプ３２が停止し、容器４内の減圧が停止する。以下、同様にして、第２調理モードによる温調工程が終了するまで間欠減圧が行われ、減圧ポンプ３２の駆動および駆動停止が所定の回数だけ繰り返される。

ここで、図８および図９に示す例では、間欠減圧時における１回目の減圧休止時間ｔ１２およびｔ２２よりも２回目の減圧休止時間ｔ１３およびｔ２３の方が長い。すなわち、「ｔ１３＞ｔ１２」および「ｔ２３＞ｔ２２」となっている。また、この例では、間欠減圧時における１回目の減圧時間ｔ１４およびｔ２４よりも２回目の減圧時間ｔ１５およびｔ２５の方が短い。すなわち、「ｔ１４＞ｔ１５」および「ｔ２４＞ｔ２５」となっている。

間欠減圧時には、このように減圧ポンプ３２の駆動および駆動停止が制御されることにより、ドリップ容器２４からドリップが溢れることなく、容器４内の減圧沸騰状態を長時間維持することができる。

図１０は、本実施の形態１に係る制御装置による処理の流れの一例を示すフローチャートである。ここでは、制御装置５０が図８に示す第１調理モードによる調理を行う場合について説明する。

第１調理モードによる調理が行われる場合、制御装置５０の機器制御部５３は、ステップＳ１において、流路Ｃが遮断されるように電磁弁３４を制御するとともに、連通流路が流路Ｂとなるように三方向電磁弁３１を切り替える。また、機器制御部５３は、加熱手段５を駆動する。これにより、制御装置５０は、昇温工程を開始する。

ステップＳ２において、制御装置５０は、容器４の空間温度が設定調理温度Ｔ１まで昇温したか否かを判断する。空間温度が設定調理温度Ｔ１に到達した場合（ステップＳ２：Ｙｅｓ）には、処理がステップＳ３に移行する。一方、空間温度が設定調理温度Ｔ１に到達していない場合（ステップＳ２：Ｎｏ）には、処理がステップＳ２に戻り、空間温度が設定調理温度Ｔ１に到達するまでステップＳ２の処理が繰り返される。

ステップＳ３において、機器制御部５３は、連通流路が流路Ａとなるように三方向電磁弁３１を切り替えるとともに、減圧ポンプ３２を駆動し、容器４内の減圧を開始する。これにより、制御装置５０は、温調工程を開始する。

ステップＳ４において、制御装置５０は、容器４内の内容物の沸騰を検知したか否かを判断する。容器４内の内容物の沸騰を検知した場合（ステップＳ４：Ｙｅｓ）、制御装置５０は、ステップＳ５において、タイマ５４による減圧時間のカウントを開始する。一方、容器４内の内容物の沸騰を検知しない場合（ステップＳ４：Ｎｏ）には、処理がステップＳ４に戻り、沸騰が検知されるまでステップＳ４の処理が繰り返される。

ステップＳ６において、比較判断部５２は、タイマ５４でカウントされた値と、記憶部５５に記憶された減圧時間ｔ１１とを比較し、容器４内の内容物の沸騰を検知してから減圧時間ｔ１１が経過したか否かを判断する。減圧時間ｔ１１が経過した場合（ステップＳ６：Ｙｅｓ）、機器制御部５３は、ステップＳ７において、減圧ポンプ３２を停止させて容器４内の減圧を停止するとともに、連通流路が流路Ｂとなるように三方向電磁弁３１を切り替える。また、制御装置５０は、タイマ５４によるカウントをリセットし、タイマ５４による減圧休止時間のカウントを開始する。一方、減圧時間ｔ１１が経過していない場合（ステップＳ６：Ｎｏ）には、処理がステップＳ６に戻り、減圧時間ｔ１１が経過するまでステップＳ６の処理が繰り返される。

ステップＳ８において、比較判断部５２は、タイマ５４でカウントされた値と、記憶部５５に記憶された減圧休止時間ｔ１２とを比較し、容器４内の減圧を停止してから減圧休止時間ｔ１２が経過したか否かを判断する。減圧休止時間ｔ１２が経過した場合（ステップＳ８：Ｙｅｓ）、機器制御部５３は、ステップＳ９において、連通流路が流路Ａとなるように三方向電磁弁３１を切り替えるとともに、減圧ポンプ３２を駆動し、容器４内の減圧を再開する。また、制御装置５０は、タイマ５４によるカウントをリセットし、タイマ５４による減圧時間のカウントを開始する。一方、減圧休止時間ｔ１２が経過していない場合（ステップＳ８：Ｎｏ）には、処理がステップＳ８に戻り、減圧休止時間ｔ１２が経過するまでステップＳ８の処理が繰り返される。

ステップＳ１０において、比較判断部５２は、タイマ５４でカウントされた値と、記憶部５５に記憶された減圧時間ｔ１４とを比較し、容器４内の内容物の沸騰を検知してから減圧時間ｔ１４が経過したか否かを判断する。減圧時間ｔ１４が経過した場合（ステップＳ１０：Ｙｅｓ）、機器制御部５３は、ステップＳ１１において、減圧ポンプ３２を停止させて容器４内の減圧を停止するとともに、連通流路が流路Ｂとなるように三方向電磁弁３１を切り替える。また、制御装置５０は、タイマ５４によるカウントをリセットし、タイマ５４による減圧休止時間のカウントを開始する。一方、減圧時間ｔ１４が経過していない場合（ステップＳ１０：Ｎｏ）には、処理がステップＳ１０に戻り、減圧時間ｔ１４が経過するまでステップＳ１０の処理が繰り返される。

ステップＳ１２において、比較判断部５２は、タイマ５４でカウントされた値と、記憶部５５に記憶された減圧休止時間ｔ１３とを比較し、容器４内の減圧を停止してから減圧休止時間ｔ１３が経過したか否かを判断する。減圧休止時間ｔ１３が経過した場合（ステップＳ１２：Ｙｅｓ）、機器制御部５３は、ステップＳ１３において、連通流路が流路Ａとなるように三方向電磁弁３１を切り替えるとともに、減圧ポンプ３２を駆動し、容器４内の減圧を再開する。また、制御装置５０は、タイマ５４によるカウントをリセットし、タイマ５４による減圧時間のカウントを開始する。一方、減圧休止時間ｔ１３が経過していない場合（ステップＳ１２：Ｎｏ）には、処理がステップＳ１２に戻り、減圧休止時間ｔ１３が経過するまでステップＳ１２の処理が繰り返される。

ステップＳ１４において、比較判断部５２は、タイマ５４でカウントされた値と、記憶部５５に記憶された減圧時間ｔ１５とを比較し、容器４内の内容物の沸騰を検知してから減圧時間ｔ１５が経過したか否かを判断する。減圧時間ｔ１５が経過した場合（ステップＳ１４：Ｙｅｓ）、機器制御部５３は、ステップＳ１５において、減圧ポンプ３２を停止させて容器４内の減圧を停止するとともに、連通流路が流路Ｂとなるように三方向電磁弁３１を切り替える。また、制御装置５０は、タイマ５４によるカウントをリセットし、タイマ５４による減圧休止時間のカウントを開始する。一方、減圧時間ｔ１５が経過していない場合（ステップＳ１４：Ｎｏ）には、処理がステップＳ１４に戻り、減圧時間ｔ１５が経過するまでステップＳ１４の処理が繰り返される。

このようにして、本実施の形態１に係る加熱調理器１００では、設定調理温度Ｔに対して予め規定された回数だけ間欠減圧が繰り返される。これにより、容器４内の圧力が維持されるため、容器４内の内容物の沸騰を維持することができ、ユーザが所望する調理（仕上がり）を実現することができる。

ここで、間欠減圧における減圧の頻度を減らし始めるタイミングは、最初からでなくてもよい。例えば、容器４内の液体物量が固形物よりも少ない場合には、固形物に水蒸気の熱が奪われやすく、初期は水蒸気量が少ないため、頻繁に減圧ポンプ３２を駆動することでしっかりと強い沸騰を起こすことができ、内容物の攪拌を行うことができる。したがって、容器４の空間温度が十分に上昇するまでは、どのような設定調理温度Ｔであっても減圧の頻度を同一とし、空間温度が設定調理温度Ｔ付近の所定温度に到達してから減圧の頻度を減らし始めるとよい。

一方、非常に長い時間調理を続けると、いずれはドリップ容器２４が満水となり、ドリップが溢れてしまう。そこで、制御装置５０は、ある一定以上の減圧を実施した場合に、それ以降は減圧ポンプ３２を動作させないように制御する。

例えば、設定調理温度Ｔ１が６０［℃］である第１調理モードにおいて、減圧回数が１０回以上となった場合にドリップ容器２４が溢れる場合、制御装置５０は、間欠減圧を９回目以降に行わないようにする。上述したように、容器４が完全に密閉されていれば、間欠減圧を行わずに容器４内の沸騰を維持することは可能である。ただし、現実的に一般家庭においてスローリークを全く起こさないことは困難である。そのため、このような場合には、蓋温度センサ１７による空間温度の低下を検知した際に、ユーザに対してエラーを報知するなど、バックアップ対策を行うとよい。

また、設定調理温度Ｔ２が設定調理温度Ｔ１よりも高い８０［℃］である第２調理モードでは、沸騰後の吸引時間が同じである場合に、１回の減圧ポンプ３２の駆動によって吸引されるドリップ量が第１調理モードと比較して多い。そのため、この場合には、間欠減圧の回数を第１調理モードよりも少なくする。具体的には、例えば、制御装置５０は、間欠減圧を６回目以降に行わないようにする。ただし、設定調理温度Ｔが第１調理モードよりも高い分、沸騰検知以降の吸引時間を減らすなど、別の対策を行っている場合はこの限りではない。

以上のように、本実施の形態１に係る加熱調理器１００では、減圧沸騰状態を維持する際に、所定時間だけ間欠減圧が行われ、容器４内に発生する水蒸気の吸引が適切な量に抑制される。そのため、ドリップ容器２４からドリップが溢れることを防ぎつつ、長時間の減圧沸騰を維持することができる。

以上、本開示の実施の形態１について説明したが、本開示は、上述した実施の形態１に限定されるものではなく、本開示の要旨を逸脱しない範囲内で様々な変形または応用が可能である。本実施の形態１では、減圧ポンプ３２への水蒸気の吸引量を調整するための様々な対策をすべてまとめて搭載した場合について説明したが、これに限られず、それぞれの対策を個別に実施するようにしてもよい。

また、本実施の形態１では、減圧ポンプ３２によって吸引されたドリップをドリップ容器２４に貯留する場合について説明したが、これに限られず、例えば、ドリップをシンク等に流せるように、凝縮水回収口１５にホース等を設けてもよい。これにより、ドリップ容器２４からドリップが溢れることを確実に防ぐことができる。ただし、このようにしてドリップを外部に排出する場合には、加熱調理器１００の使用場所が限定されるため、実施の形態１で説明したように、加熱調理器１００にドリップ容器２４を設ける方が使い勝手がよい。

調理の際の容器４の温度変化は一例を示したものであり、所定の設定調理温度Ｔで温調する温調工程が調理制御に含まれていれば、温調工程の前後に如何なる制御を入れてもよい。

間欠減圧による減圧の回数および減圧によるドリップの吸引量等の検知方法としては、実施の形態１で説明した方法以外にも考えられる。例えば、制御装置５０は、間欠減圧時における沸騰検知後の容器４内の減圧（減圧ポンプ３２の駆動）を継続している時間を積算し、積算時間が予め設定された所定の時間以上に到達した場合に、それ以降の容器４内の減圧を行わないようにする。この場合、制御装置５０は、設定調理温度Ｔが高いほど所定の時間を短くする。

また、加熱調理器１００は、ドリップ容器２４に貯留されるドリップの量を検知するドリップ量センサ等を備えてもよい。例えば、重量センサまたは光学式の水位センサ等、従来から知られているセンサ類を設け、制御装置５０は、ドリップ容器２４の内容物量を検知する。そして、制御装置５０は、ドリップ容器２４に所定の量のドリップが貯留された場合に、間欠減圧を停止する。

このとき、ドリップ容器２４内のドリップ量に応じて、減圧ポンプ３２の駆動制御を変更するようにしてもよい。例えば、ドリップ容器２４の制限容量の５０％までドリップが貯まった場合、制御装置５０は、減圧休止時間をより長くしたり、減圧沸騰後の吸引時間（減圧時間）をより短くしたりするとよい。ドリップ量を検知することにより、より確実にドリップ容器２４からのドリップの溢れを防止できるとともに、ドリップ量に応じて、各設定調理温度Ｔでの最適な制御を実施することができる。

また、本実施の形態１では、減圧ポンプ３２を一定のトルクで駆動するものとして、減圧ポンプ３２による減圧時間を調整したが、これに限られず、減圧ポンプ３２のトルクを可変としてもよい。この場合、制御装置５０は、インバータ等により、減圧ポンプ３２への供給電流量を調整し、トルクを制御することで、減圧量を調整するようにしてもよい。

１ 本体、２ 外蓋、３ 容器収納部、４ 容器、４ａ フランジ部、５ 加熱手段、５ａ 加熱コイル、６ 鍋底温度センサ、７ 圧縮バネ、９ 内蓋、１０ 蓋パッキン、１１ 蒸気孔、１２ 蒸気排出弁、１３ カートリッジ、１４ 蒸気排出口、１５ 凝縮水回収口、１６ センサ孔、１７ 蓋温度センサ、１８ 蓋温度センサパッキン、１９ａ 第１の内蓋通気孔、１９ｂ 第２の内蓋通気孔、２０ 外蓋内通気孔、２１ａ、２１ｂ、２１ｃ、２１ｄ、２１ｅ、２１ｆ 連通管、２２ａ、２２ｂ 経路パッキン、２３ 蒸気孔パッキン、２４ ドリップ容器、３１ 三方向電磁弁、３２ 減圧ポンプ、３３ 圧力検知部、３４ 電磁弁、３５ 操作表示部、３６ インバータ部、４１ 処理回路、４２、４５ 入出力装置、４３ プロセッサ、４４ メモリ、５０ 制御装置、５１ 情報取得部、５２ 比較判断部、５３ 機器制御部、５４ タイマ、５５ 記憶部、１００ 加熱調理器。

Claims (10)

1. 内容物を収容する容器と、
   前記容器を収納する本体と、
   前記容器を覆う蓋体と、
   前記容器を加熱する加熱手段と、
   前記容器と前記蓋体とによって形成される前記容器内の空間の空気を吸引して前記容器内を減圧する減圧手段と、
   減圧沸騰状態を維持するように前記加熱手段および前記減圧手段を制御する制御装置と
   を備え、
   前記制御装置は、
   前記内容物の調理の際に、所定時間だけ、前記減圧手段を間欠的に駆動させる間欠減圧を行う
   加熱調理器。
2. 前記制御装置は、
   第１設定調理温度で前記内容物を減圧沸騰させる第１工程を含む第１調理モードと、
   前記第１設定調理温度よりも高い第２設定調理温度で前記内容物を減圧沸騰させる第２工程を含む第２調理モードと
   を少なくとも有し、
   前記第２調理モードにおいて、前記第２工程で行われる前記間欠減圧における減圧回数が前記第１工程で行われる前記間欠減圧における減圧回数よりも少なくなるように、前記減圧手段を制御する
   請求項１に記載の加熱調理器。
3. 前記制御装置は、
   前記間欠減圧における減圧回数が増えるにつれて前記間欠減圧による前記容器内の空気の吸引量が減るように、前記減圧手段を駆動する減圧時間を短くする
   請求項１または２に記載の加熱調理器。
4. 前記制御装置は、
   前記間欠減圧における減圧回数が増えるにつれて前記間欠減圧による前記容器内の空気の吸引量が減るように、前記減圧手段への供給電流を調整する
   請求項１または２に記載の加熱調理器。
5. 前記制御装置は、
   前記間欠減圧における減圧回数が増えるにつれて、前記減圧手段の駆動を停止する減圧休止時間を長くする
   請求項１～４のいずれか一項に記載の加熱調理器。
6. 前記調理の際に、ユーザによる調理温度または調理時間の操作指示が入力される操作表示部をさらに備える
   請求項１～５のいずれか一項に記載の加熱調理器。
7. 前記制御装置は、
   前記間欠減圧の回数が所定回数に到達した場合に、前記容器内の減圧を停止する
   請求項１～６のいずれか一項に記載の加熱調理器。
8. 前記制御装置は、
   前記容器内を減圧する累計減圧時間が所定時間に到達した場合に、前記容器内の減圧を停止する
   請求項１～６のいずれか一項に記載の加熱調理器。
9. 前記制御装置は、
   前記内容物の沸騰が検知されてからの前記容器内を減圧する累計減圧時間が所定時間に到達した場合に、前記容器内の減圧を停止する
   請求項１～６のいずれか一項に記載の加熱調理器。
10. 前記減圧手段によって吸引された前記空気による水蒸気が結露することによって生じるドリップを貯留するドリップ容器と、
    前記ドリップ容器に貯留された前記ドリップの貯留量を検知するドリップ量センサと
    をさらに備え、
    前記制御装置は、
    前記ドリップ容器への前記ドリップの貯留量が所定量となった場合に、前記容器内の減圧を停止する
    請求項１～６のいずれか一項に記載の加熱調理器。

Images