JP2022528154A - 発光ダイオード及びその製造方法 - Google Patents
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Abstract
Description
第1型の窒化ガリウムを含む第1型の層と、
前記第1型の層の上に位置し、量子ドットを含む発光層と、
前記発光層の上に位置し、第2型の窒化ガリウムを含む第2型の層と、
前記第2型の層の上に位置する電極層とを含む。
基板、及び第1型の窒化ガリウムを含む第1型の層、を含む第1型のベース板を提供することと、
前記第1型のベース板の第1型の層の上に量子ドットを含む発光層を形成することと、
前記発光層の上に第2型の窒化ガリウムを含む第2型の層を形成することと、
前記第2型の層の上に電極層を形成することとを含む。
ここで、発光層が単層量子ドット層を含む場合、発光層の発光色は量子ドット層によって決定され、単層量子ドット層は赤色光、緑色光及び青色光のうちの少なくとも1つの種類を発光する。ここで、単層量子ドット層が赤色の量子ドットのみを含む場合、発光層は赤色光を発光し、単層量子ドット層が緑色の量子ドットのみを含む場合、発光層は緑色光を発光し、単層量子ドット層が青色の量子ドットのみを含む場合、発光層は青色光を発光し、単層量子ドット層が混合された赤色の量子ドット、緑色の量子ドット及び青色の量子ドットを含む場合、発光層は白色光を発光する。
上述の各実施例に基づいて、本願の実施例は他の構造の発光ダイオードをさらに提供する。図3は本願の一実施例に係る他の1つの発光ダイオードの構成模式図である。図3に示すように、本願の1つの実施例において、発光ダイオードはブラックマトリクス1021及び絶縁層106をさらに含む。ブラックマトリクス1021は第1型の層101と第2型の層104との間に位置し、ブラックマトリクス1021は第1のウィンドウを含み、発光層は第1のウィンドウ内に位置し、絶縁層106は電極層105の上面、電極層105の側面及び第2型の層104の側面を被覆する。
ここで、発光層が形成される位置は第1のウィンドウ1022内であってもよく、このように、発光層の側面がブラックマトリクス1021に包まれ、発光層のシールに有利し、発光ダイオードのシール性能を向上させる。一実施例において、発光層の厚さはブラックマトリクス1021の厚さよりも小さく、発光層のシールに有利である。量子ドット1031の発光特性から分かるように、量子ドット1031の発光色は量子ドット1031の寸法によって決定される。例示的には、図6に示すように、発光層は単層量子ドット層を含み、発光層を形成するプロセスは例えば、赤色の量子ドット、緑色の量子ドット又は青色の量子ドットを提供し、少なくとも一回のスピンコートプロセス、印刷プロセス、転写プロセス又は物理気相堆積プロセスによって単層量子ドット層を第1型の層101の上に形成してもよい。このように形成された発光層は単色光を発光する。又は、発光層を形成するプロセスは例えば、赤色の量子ドット、緑色の量子ドット及び青色の量子ドットを混合してから、少なくとも一回のスピンコートプロセス、印刷プロセス、転写プロセス又は物理気相堆積プロセスによって単層量子ドット層を第1型の層101に形成してもよい。このように形成された発光層は白色光を発光する。
ここで、第2型の層104を形成するプロセスは低温堆積プロセスであってもよく、例示的にPAMBE(Plasma Assisted Molecular Beam Epitaxy,プラズマ支援の分子線エピタキシー)、RPCVD(Reduced Pressure Chemical Vapor Deposition,減圧化学気相堆積)、ALD(Atomic Layer Deposition,原子層堆積)、PEALD(Plasma Enhanced Atomic Layer Deposition,プラズマ増強原子層堆積)、Laser MBE(Molecular Beam Epitaxy Technology,レーザ分子線エピタキシー)、PEMOCVD(Plasma Enhanced Metal-Organic Chemical Vapour Deposition,プラズマ増強金属有機化学気相堆積)、ECR-PEMOCVD(Electron Cyclotron Resonance Plasma Enhanced Metal-Organic Chemical Vapour Deposition,電子サイクロトロン共鳴-プラズマ増強金属有機化学気相堆積)、又はPLD(Pulsed Laser Deposition,パルスレーザ堆積)などを含む。第2型の窒化ガリウムは低温堆積のプロセスを用いて形成してもよく、量子ドット1031で形成された発光層が高温で破壊されないことを保証することに有利である。
ここで、電極層105は例えばITO(Indium Tin Oxide,酸化インジウムスズ)を含んでもよく、ITOは透明な導電性材料であり、発光ダイオードの光出射率を確保することに有利である。例示的に、電極層105を形成するプロセスは低温堆積プロセスであってもよく、例示的にはマグネトロンスパッタリングプロセス等を含み、かつ高温焼鈍過程を経過する必要がない。このように、電極層105は低温堆積のプロセスを用いてもよく、量子ドット1031で形成された発光層が高温で破壊されないことを保証することに有利である。
ここで、保留された電極層105及び第2型の層104は発光層に対応し、つまり第2型の層104は発光層を被覆する。一部の電極層105を除去するプロセスは例えばウェットエッチングプロセスであってもよく、一部の第2型の層104を除去するプロセスは例えばドライエッチングプロセスであってもよい。
ここで、絶縁層106は電極層105の上面、電極層105の側面及び第2型の層104の側面を被覆することにより、発光層に対してシール及び絶縁を行う。絶縁層106は絶縁機能を有する膜層であってもよく、絶縁機能と反射機能を兼ね備える膜層であってもよく、例示的には、絶縁層106は単層反射層又は分布ブラッグ反射層を含む。例示的に、絶縁層106を形成するプロセスはスパッタリングプロセス、蒸着プロセス又はPECVDプロセスである。ウィンドウを開設して第2のウィンドウを形成するプロセスは例えばウェットエッチングプロセス又はドライエッチングプロセスであってもよく、電極層105を露出させ、ウィンドウを開設して第3のウィンドウを形成するプロセスは例えばウェットエッチングプロセス又はドライエッチングプロセスであってもよく、第1型の窒化ガリウムを露出させる。
ここで、第1の電極1071は陽極であってもよく、第2の電極1072は陰極であってもよく、第1の電極1071及び第2の電極1072は発光ダイオードに電圧及び電流を提供してもよく、2つの電極の材質及び構造は同じであってもよく、異なっていてもよい。例示的に、第1の電極1071と第2の電極1072は面一に配置され、つまり第1の電極1071と第2の電極1072の表面の高さが一致し、これにより発光ダイオードと駆動回路基板の溶接に有利で、これにより発光ダイオードの溶接難易度を低減させた。例示的に、第1の電極1071及び第2の電極1072を形成するプロセスは電子ビーム蒸着プロセス又は加熱蒸着プロセスを含む。
ここで、第1型の層の膜層の厚さが予め設定された値よりも大きい場合、第1型の層を薄くし、第1型の層の膜層の厚さが予め設定された値以下である場合、第1型のベース板における基板を除去し、基板を除去するプロセスは、レーザによる基板の剥離、溶解による基板の除去などを含む。例示的に、レーザ剥離プロセスによって、サファイア基板を除去してもよく、酸又はアルカリのエッチングによってシリコン基板を除去してもよく、研磨ポリシングプロセスによって、全てのタイプの基板を除去してもよく。アレイマザーボードを切断するプロセスはレーザ切断プロセス又はICP(Inductively Coupled Plasma Etching,誘導結合プラズマエッチング)プロセスを含み、独立した発光ダイオードを形成する。なお、本願の実施例は第1型の層を薄くするか又は第1型のベース板における基板を除去するステップと、アレイマザーボードを切断するステップとの実行の順序を限定しない。
ここで、ブロック構造に対応する位置はブラックマトリクス1021の第1のウィンドウ1022である。例示的に、ブラックマトリクス1021の厚さは超格子量子井戸層201の厚さよりも大きく、これにより第1のウィンドウ1022が量子ドット層を収容することに有利である。
ここで、量子ドット層を形成するプロセスはスピンコートプロセス、印刷プロセス、転写プロセス又は物理気相堆積プロセス等を含み、スピンコートプロセス、印刷プロセス、転写プロセス又は物理気相堆積プロセスの実行回数は少なくとも1回である。このように、ブラックマトリクス1021の第1のウィンドウ1022内に発光層が形成され、当該発光層は超格子量子井戸層201及び量子ドット層を含む。発光層の側面がブラックマトリクス1021に包まれ、発光層のシールに有利し、発光ダイオードのシール性能を向上させる。当該発光層の発光特性から分かるように、発光層の発光色は超格子量子井戸層201及び量子ドット層によって共同で決定される。例示的には、超格子量子井戸層201は青色光を発光し、量子ドット層は赤色光及び緑色光のうちの少なくとも1つの種類を発光する。超格子量子井戸層201は青色光を発光し、量子ドット層は混合された赤色の量子ドット及び緑色の量子ドットを含む場合、発光層は白色光を発光する。
Claims (20)
- 第1型の窒化ガリウムを含む第1型の層と、
前記第1型の層の上に位置し、量子ドットを含む発光層と、
前記発光層の上に位置し、第2型の窒化ガリウムを含む第2型の層と、
前記第2型の層の上に位置する電極層とを含む、
発光ダイオード。 - 前記第2型の層の厚さの範囲は、20nm~300nmである、
請求項1に記載の発光ダイオード。 - 前記発光層は、単層量子ドット層を含む、
請求項1に記載の発光ダイオード。 - 前記単層量子ドット層は、赤色光、緑色光及び青色光のうちの少なくとも1つの種類を発光する、
請求項3に記載の発光ダイオード。 - 前記発光層は、超格子量子井戸層及び量子ドット層の複合構造を含む、
請求項1に記載の発光ダイオード。 - 前記超格子量子井戸層は、青色光を発光し、前記量子ドット層は、赤色光及び緑色光のうちの少なくとも1つの種類を発光する、
請求項5に記載の発光ダイオード。 - 前記量子ドット層の厚さの範囲は、2nm~20μmである、
請求項3又は5に記載の発光ダイオード。 - 前記電極層は、酸化インジウムスズITOを含む、
請求項1に記載の発光ダイオード。 - 前記第1型の層と前記第2型の層との間に位置し、前記発光層を収容する第1のウィンドウを含むブラックマトリクスと、
前記電極層の上面、前記電極層の側面及び前記第2型の層の側面を被覆する絶縁層とをさらに含む、
請求項1に記載の発光ダイオード。 - 前記絶縁層は、第2のウィンドウを含み、前記ブラックマトリクスは、第3のウィンドウを含み、
前記発光ダイオードは、
前記第2のウィンドウ内に位置する第1の電極と、
前記第3のウィンドウ内に位置する第2の電極とをさらに含む、
請求項9に記載の発光ダイオード。 - 第1型の窒化ガリウムを含む第1型の層を含むか、又は基板及び前記第1型の層を含む、第1型のベース板を提供することと、
前記第1型のベース板の第1型の層の上に量子ドットを含む発光層を形成することと、
前記発光層の上に第2型の窒化ガリウムを含む第2型の層を形成することと、
前記第2型の層の上に電極層を形成することとを含む、
発光ダイオードの製造方法。 - 前記発光層は、単層量子ドット層を含み、前記第1型のベース板の第1型の層の上に発光層を形成するプロセスは、
スピンコートプロセス、印刷プロセス、転写プロセス又は物理気相堆積プロセスによって前記単層量子ドット層を前記第1型の層の上に形成することを含む、
請求項11に記載の発光ダイオードの製造方法。 - 前記発光層は、超格子量子井戸層及び量子ドット層の複合構造を含み、前記第1型のベース板の第1型の層の上に発光層を形成するプロセスは、
金属有機化合物化学気相堆積MOCVDプロセスによって、前記超格子量子井戸層を前記第1型の層の上に形成することと、
スピンコートプロセス、印刷プロセス、転写プロセス又は物理気相堆積プロセスによって前記量子ドット層を前記超格子量子井戸層に形成することとを含む、
請求項11に記載の発光ダイオードの製造方法。 - 前記スピンコートプロセス、印刷プロセス、転写プロセス又は物理気相堆積プロセスの実行回数は少なくとも1回である、
請求項12又は13に記載の発光ダイオードの製造方法。 - 前記第1型のベース板の第1型の層の上に発光層を形成する前に、
前記第1型のベース板の上にブラックマトリクスを形成することをさらに含み、前記ブラックマトリクスは、間隔を置いて配置された複数の第1のウィンドウを含み、前記発光層は、前記第1のウィンドウ内に形成される、
請求項11に記載の発光ダイオードの製造方法。 - 前記第1型のベース板の上にブラックマトリクスを形成するプロセスは、
プラズマ増強化学気相堆積PECVDプロセスによって、二酸化ケイ素又は窒化ケイ素を含む材料を前記第1型のベース板の上に形成し、ブラックマトリクス材料層を形成することと、
フォトリソグラフィプロセスによって前記ブラックマトリクス材料層をエッチングし、間隔を置いて配置された複数の第1のウィンドウを形成することにより、前記ブラックマトリクスを形成することとを含むか、又は、
スパッタリングプロセス又は蒸着プロセスによって単層Cr、Cr及びCrOxからなる多層構造、CrOxNy及びCrNyからなる多層構造又はSiとSiOxからなる多層構造を含む材料を前記第1型のベース板の上に形成し、ブラックマトリクス材料層を形成することと、
フォトリソグラフィプロセスによって前記ブラックマトリクス材料層をエッチングし、間隔を置いて配置された複数の第1のウィンドウを形成することにより、ブラックマトリクスを形成することとを含むか、又は、
スピンコートプロセス又はスプレーコートプロセスによって黒色樹脂を含む材料を前記第1型のベース板の上に形成し、ブラックマトリクス材料層を形成することと、
フォトリソグラフィプロセスによって前記ブラックマトリクス材料層をエッチングし、間隔を置いて配置された複数の第1のウィンドウを形成することにより、ブラックマトリクスを形成することとを含む、
請求項15に記載の発光ダイオードの製造方法。 - 前記発光層の上に第2型の層を形成するプロセスは、
プラズマ支援の分子線エピタキシーPAMBE、減圧化学気相堆積RPCVD、原子層堆積ALD、プラズマ増強原子層堆積PEALD、レーザ分子線エピタキシーLaser MBE、プラズマ増強金属有機化学気相堆積PEMOCVD、電子サイクロトロン共鳴-プラズマ増強金属有機化学気相堆積ECR-PEMOCVD、又はパルスレーザ堆積PLDを含む、
請求項11に記載の発光ダイオードの製造方法。 - 前記電極層は、酸化インジウムスズITOを含み、
前記第2型の層の上に電極層を形成するプロセスは、マグネトロンスパッタリングプロセスを含む、
請求項11に記載の発光ダイオードの製造方法。 - 前記第2型の層の上に電極層を形成した後、
前記電極層の上に前記電極層の上面、前記電極層の側面及び前記第2型の層の側面を被覆する絶縁層を形成することと、
前記絶縁層の前記電極層に対応する位置にウィンドウを開設し、第2のウィンドウを形成し、前記ブラックマトリクスの第1型の層に対応する位置にウィンドウを開設し、第3のウィンドウを形成することと、
前記第2のウィンドウ内に第1の電極を形成し、かつ前記第3のウィンドウ内に第2の電極を形成し、発光ダイオードアレイマザーボードを形成することとをさらに含む、
請求項11に記載の発光ダイオードの製造方法。 - 前記第2のウィンドウ内に第1の電極を形成し、かつ前記第3のウィンドウ内に第2の電極を形成した後、
第1型の層を薄くするか又は前記第1型のベース板における基板を除去し、前記アレイマザーボードを切断し、独立した発光ダイオードを形成することをさらに含む、
請求項19に記載の発光ダイオードの製造方法。
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