JP2022177625A - ドレッサーボード - Google Patents

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    • H01L21/67011Apparatus for manufacture or treatment
    • H01L21/67092Apparatus for mechanical treatment

Abstract

【課題】ドレッシングに供されるドレッサーボードの表面の領域の特定のための作業を簡便にすることができるドレッサーボードを提供する。【解決手段】ドレッサーボードの矩形状の表面の第1の辺からの距離の目安となるマークを第1の辺に垂直な第2の辺に沿った領域に表示する。これにより、このドレッサーボードにおいては、次回のドレッシングに利用できるドレッサーボードの表面の領域と第1の辺との間隔を容易に測定できる。その結果、ドレッシングに供されるドレッサーボードの表面の領域を特定するための作業を簡便にすることができる。【選択図】図1

Description

本発明は、ドレッサーボードに関する。
IC(Integrated Circuit)及びLSI(Large Scale Integration)等のデバイスのチップは、携帯電話及びパーソナルコンピュータ等の各種電子機器において不可欠の構成要素である。このようなチップは、例えば、表面に多数のデバイスが形成されたウェーハを個々のデバイスを含む領域毎に分割することで製造される。
ウェーハの分割に利用される装置としては、例えば、切削装置が挙げられる。この切削装置は、ウェーハを保持するチャックテーブルと、先端に切削ブレードが装着されるスピンドルを含む切削ユニットとを有する。さらに、この切削ブレードは、砥粒が分散された円環状の切刃を有する。そして、切削装置においては、この切削ブレードを回転させながら切刃の外周面をウェーハに接触させることによってウェーハが切削されて分割される。
ただし、未使用の切削ブレードにおいては、切刃の外周面が真円状になっていないこと及び/又は切刃の外周面に砥粒が十分に露出していないことがある。さらに、切削によって生じた切削屑が切刃の外周面に付着すると、この外周面に砥粒が十分に露出しない(目詰まりする)ことがある。また、切削を繰り返し行うことで切刃の外周面に露出した砥粒が摩耗する(目潰れする)こともある。
そのため、切削装置においては、適宜のタイミングで、切削ブレードの切刃の外周面側を削って切削に適した状態に整える処理(ドレッシング)が行われることが多い。このドレッシングは、例えば、以下の順序で行われる。まず、砥粒が分散された板状のドレッサーボード(ドレッシングボード)をチャックテーブルの近傍に設けられたサブチャックテーブル(ドレッシングボード支持テーブル)に保持させる。そして、回転する切削ブレードがドレッサーボードの表面側に切り込むように、サブチャックテーブルを直線的に移動させる(例えば、特許文献1参照)。
特開2011-16175号公報
上述のドレッシングが行われると、ドレッサーボードの表面側が削られる。そのため、このドレッシングは、削られていないドレッサーボードの領域に切削ブレードの切刃の外周面が接触するように、切削ブレードをドレッサーボードに切り込ませる度に切削ブレードの位置をずらしながら行われる。
例えば、ドレッサーボードの矩形状の表面の第1の辺に平行な領域がドレッシングに供される場合には、この第1の辺よりも僅かに内側の領域が最初のドレッシングに供される。そして、その後のドレッシングにおいては、直前のドレッシングに供された領域よりも更に内側の領域がドレッシングに供される。
ただし、このようなドレッシングは、未使用の切削ブレードの切刃、又は、多数のウェーハを切削することによって目詰まり及び/又は目潰れした切削ブレードの切刃に対して行われるものであって、連続して行われるものではない。そのため、ドレッシングを行う際には、ドレッサーボードの使用状況を踏まえてドレッシングに供されるドレッサーボードの領域を改めて特定する必要がある。
現状、この特定は、切削装置のオペレータによる手作業で行われている。具体的には、ドレッサーボードの表面の第1の辺と所望の領域との距離をオペレータがメジャー等を用いて測定し、測定された距離の値をオペレータが切削装置に入力することで、この領域がドレッシングに供されるドレッサーボードの領域として特定される。
しかしながら、この特定のためのメジャー等を用いた作業は煩雑である。この点に鑑み、本発明の目的は、ドレッシングに供されるドレッサーボードの領域の特定のための作業を簡便にすることができるドレッサーボードを提供することである。
本発明によれば、矩形状の表面を有するドレッサーボードであって、該表面の第1の辺からの距離の目安となるマークが該表面の該第1の辺に垂直な第2の辺に沿った領域に表示されている、ドレッサーボードが提供される。
本発明のドレッサーボードにおいては、その矩形状の表面の第1の辺からの距離の目安となるマークが第1の辺に垂直な第2の辺に沿った領域に表示されている。これにより、このドレッサーボードにおいては、次回のドレッシングに利用できるドレッサーボードの領域と第1の辺との間隔を容易に測定できる。その結果、ドレッシングに供されるドレッサーボードの領域を特定するための作業を簡便にすることができる。
図1は、ドレッサーボードの一例を模式的に示す斜視図である。 図2は、切削装置の一例を模式的に示す斜視図である。 図3(A)は、新品(未使用)のドレッサーボードを保持した状態のサブチャックテーブルを模式的に示す上面図であり、図3(B)は、新品(未使用)のドレッサーボードを保持した状態のサブチャックテーブルを模式的に示す正面図である。 図4(A)は、再利用可能な中古品(使用済み)のドレッサーボードを保持した状態のサブチャックテーブルを模式的に示す上面図であり、図4(B)は、再利用可能な中古品(使用済み)のドレッサーボードを保持した状態のサブチャックテーブルを模式的に示す正面図である。 図5は、ドレッサーボードの変形例を模式的に示す斜視図である。
添付図面を参照して、本発明の実施形態について説明する。図1は、ドレッサーボードの一例を模式的に示す斜視図である。図1に示されるドレッサーボード1は、幅及び長さが厚さの10倍以上である直方体状の形状を有する。
このドレッサーボード1は、例えば、炭化珪素(SiC)からなるグリーンカーボランダム(GC)砥粒又は酸化アルミニウム(Al)からなるホワイトアランダム(WA)砥粒を樹脂からなる結合材に混錬した後に焼成することによって製造される。
また、ドレッサーボード1の表面3は、第1の辺3aと第1の辺3aに垂直な第2の辺3bとを有する矩形状の形状を有する。そして、この表面3の第2の辺3bに沿った領域には、第1の辺3aからの距離を示す目盛りとして機能する複数のマーク5が表示されている。
具体的には、この複数のマーク5のそれぞれは、第1の辺3aに平行な方向に沿って、第2の辺3bから延在する線分である。また、複数のマーク5のそれぞれは、第1の辺3aからの距離が5×k(kは13以下の自然数)mmとなるように、第2の辺3bに平行な方向に沿って概ね等間隔に表示される。
さらに、複数のマーク5は、線分の長さ(ドレッサーボード1の幅方向における長さ)に応じて、2種類に分類される。具体的には、複数のマーク5のうち第1の辺3aからの距離が概ね5×l(lは12以下の正の偶数)mmとなるマーク(前者のマーク)は、第1の辺3aからの距離が概ね5×m(mは13以下の正の奇数)mmとなるマークよりも長い。
加えて、前者のマークからみて第2の辺3bと反対側に位置する表面3の領域には、第1の辺3aからの距離を示す数字7が表示されている。なお、複数のマーク5及び数字7は、例えば、レーザーマーキング等によってドレッサーボード1の表面3に施される。
図2は、ドレッサーボード1を用いたドレッシングが行われる切削装置の一例を模式的に示す斜視図である。なお、図2に示されるX軸方向(前後方向)及びY軸方向(左右方向)は、水平面上において互いに垂直な方向であり、また、Z軸方向(上下方向)は、X軸方向及びY軸方向に垂直な方向(鉛直方向)である。
図2に示される切削装置2は、各構造を支持する基台4を備える。基台4の前方の角部には、矩形の開口4aが形成されており、この開口4a内には、昇降するカセット支持台6が設けられている。カセット支持台6の上面には、複数のウェーハ11を収容するカセット8が載せられる。なお、図1では、説明の便宜上、カセット8の輪郭のみが示されている。
ウェーハ11は、例えば、シリコン等の半導体材料からなり、その表面側は、中央のデバイス領域と、デバイス領域を囲む外周余剰領域とに分けられる。このデバイス領域は、格子状に配列された分割予定ライン(ストリート)でさらに複数の領域に区画されており、各領域には、IC、LSI等のデバイス15が形成されている。
ウェーハ11の裏面側には、ウェーハ11よりも径の大きいダイシングテープ17が貼付されている。ダイシングテープ17の外周部分は、環状のフレーム19に固定されている。すなわち、ウェーハ11は、ダイシングテープ17を介してフレーム19に支持されている。
カセット支持台6の側方には、X軸方向に長い矩形の開口4bが形成されている。この開口4b内には、X軸移動テーブル10、X軸移動テーブル10をX軸方向に沿って移動させるX軸移動機構(不図示)及びX軸移動機構を覆う防塵防滴カバー12が設けられている。
X軸移動テーブル10の上方には、ウェーハ11を保持するためのチャックテーブル14が設けられている。チャックテーブル14の周囲には、ウェーハ11を支持する環状のフレーム19を四方から固定するための4個のクランプ16が配置されている。
チャックテーブル14は、モータ等の回転駆動源(不図示)に連結されており、Z軸方向に概ね平行な直線を回転軸として回転する。また、チャックテーブル14は、X軸移動テーブル10とともにX軸方向に沿って移動する。
チャックテーブル14の上面は、ウェーハ11を保持する保持面14aになっている。この保持面14aは、チャックテーブル14の内部に形成された吸引路等を通じて吸引源(不図示)に接続されている。
開口4bに近接する位置には、ウェーハ11をチャックテーブル14へと搬送する搬送ユニット(不図示)が設けられている。ウェーハ11は、例えば、表面側が上方に露出するように、搬送ユニットによってチャックテーブル14の保持面14aに搬入される。
基台4の上面には、2組の切削ユニット22を支持するための門型の支持構造24が、開口4bを跨ぐように配置されている。支持構造24の前面上部には、各切削ユニット22をY軸方向及びZ軸方向に沿って移動させる2組の切削ユニット移動機構26が設けられている。
各切削ユニット移動機構26は、支持構造24の前面に固定され、かつ、Y軸方向に沿って延在する一対のガイドレール28を共有する。一対のガイドレール28の前面側には、一対のガイドレール28に沿ってスライド可能な態様で移動プレート30が連結されている。
一対のガイドレール28の間には、Y軸方向に沿って延在するねじ軸32が配置されている。ねじ軸32の一端部には、ねじ軸32を回転させるためのモータ34が連結されている。また、ねじ軸32の螺旋状の溝が形成された表面には、回転するねじ軸32の表面を転がるボールを収容するナット部(不図示)が設けられ、ボールねじが構成されている。
すなわち、ねじ軸32が回転すると、ボールがナット部内を循環して、ナット部がY軸方向に沿って移動する。また、ナット部は、移動プレート30の後面側に固定されている。そのため、モータ34でねじ軸32を回転させれば、ナット部とともに移動プレート30がY軸方向に沿って移動する。
各移動プレート30の前面には、Z軸方向に沿って延在する一対のガイドレール36が固定されている。一対のガイドレール36の前面側には、一対のガイドレール36に沿ってスライド可能な態様で移動プレート38が連結されている。
一対のガイドレール36の間には、Z軸方向に沿って延在するねじ軸40が配置されている。ねじ軸40の一端部には、ねじ軸40を回転させるためのモータ42が連結されている。また、ねじ軸40の螺旋状の溝が形成された表面には、回転するねじ軸40の表面を転がるボールを収容するナット部(不図示)が設けられ、ボールねじが構成されている。
すなわち、ねじ軸40が回転すると、ボールがナット部内を循環して、ナット部がZ軸方向に沿って移動する。また、ナット部は、移動プレート38の後面側に固定されている。そのため、モータ42でねじ軸40を回転させれば、ナット部とともに移動プレート38がZ軸方向に沿って移動する。
各移動プレート38の下部には、ウェーハ11を切削する切削ユニット22が設けられている。切削ユニット22は、Y軸方向に沿って延在する筒状のスピンドルハウジングを有する。このスピンドルハウジングには、Y軸方向に延在するスピンドルが収容されている。このスピンドルは、回転可能な状態でスピンドルハウジングによって支持される。
また、このスピンドルの先端部は、スピンドルハウジングの外に露出し、この先端部には、円環状の切刃を有する切削ブレード44が装着されている。さらに、スピンドルハウジングには、スピンドルの基端部に連結されるモータ等の回転駆動源(不図示)が収容されている。そのため、この回転駆動源でスピンドルを回転させれば、Y軸方向に沿った直線を回転軸として切削ブレード44が回転する。
なお、切削ブレード44は、例えば、ハブタイプの切削ブレードである。ハブタイプの切削ブレードは、金属等でなる環状の基台と、基台の外周縁に沿って形成された円環状の切刃とによって構成される。この切削ブレードの切刃は、例えば、ダイヤモンド又は立方晶窒化ホウ素(cBN:cubic Boron Nitride)等でなる砥粒がニッケル等の結合材によって固定された電鋳砥石によって構成される。
あるいは、切削ブレード44は、ワッシャータイプの切削ブレードであってもよい。ワッシャータイプの切削ブレードは、金属、セラミックス又は樹脂等でなる結合材によって砥粒が固定された環状の切刃によって構成される。
切削ユニット22の前方には、撮像ユニット46が設けられている。撮像ユニット46は、例えば、LED(Light Emitting Diode)等の光源と、対物レンズと、CCD(Charge Coupled Device)イメージセンサ又はCMOS(Complementary Metal Oxide Semiconductor)イメージセンサ等の撮像素子とを有する。
開口4aが形成されている角部とは反対側の基台4の前方の角部には、円形の開口4cが形成されている。この開口4c内には、切削後のウェーハ11等を洗浄するための洗浄ユニット48が設けられている。
また、切削装置2のX軸移動テーブル10には、2つのサブチャックテーブル50が設けられている。このサブチャックテーブル50は、X軸移動テーブル10とともにX軸方向に沿って移動する。サブチャックテーブル50の上面は、ドレッサーボード1を保持する保持面になっている。
この保持面は、サブチャックテーブル50の内部に形成された吸引路等を通じて吸引源(不図示)に接続されている。図3(A)は、新品(未使用)のドレッサーボード1を保持した状態のサブチャックテーブル50を模式的に示す上面図であり、図3(B)は、新品(未使用)のドレッサーボード1を保持した状態のサブチャックテーブル50を模式的に示す正面図である。
サブチャックテーブル50は、その前面側の下端部に固定されている支柱52を介してX軸移動テーブル10に支持されている。また、サブチャックテーブル50の保持面50aは、長方形状であり、その一対の短辺がX軸方向に沿って延在し、かつ、その一対の長辺がY軸方向に沿って延在する。そして、この保持面50aの短辺の長さは、ドレッサーボード1の幅と概ね等しい。
さらに、この保持面50aの一対の短辺の一方に近接する領域には、X軸方向に沿って並ぶ一対のいもねじ54が挿入されている。そして、保持面50aの一対の短辺の他方と一対のいもねじ54との間隔は、ドレッサーボード1の長さと概ね等しい。
ドレッサーボード1は、第1の辺3aの反対に位置する表面3の辺が一対のいもねじ54に接触し、かつ、第2の辺3bがサブチャックテーブル50の保持面50aの長辺と重なるように、サブチャックテーブル50の保持面に置かれる。そして、この保持面50aに接続されている吸引源を動作させることによって、ドレッサーボード1がサブチャックテーブル50に吸引保持される。
切削装置2におけるドレッサーボード1を用いたドレッシングは、例えば、以下の順序で行われる。まず、上面視において、新品(未使用)のドレッサーボード1の表面3の第1の辺3aよりも僅かに内側の領域が、切削ブレード44の切刃からみて、X軸方向に位置付けられるように、切削ユニット移動機構26が切削ユニット22のY軸方向における位置を調整する。
次いで、ドレッサーボード1の表面3よりも低く、かつ、サブチャックテーブル50の保持面50aよりも高い位置に切削ブレード44の切刃の最下端を位置付けるように、切削ユニット移動機構26が切削ユニット22のZ軸方向における位置を調整する。次いで、切削ブレード44を回転させながら、切削ブレード44がドレッサーボード1にX軸方向における一端から他端までを通り過ぎるように、X軸移動機構がX軸移動テーブル10とともにサブチャックテーブル50を移動させる。
これにより、切削ブレード44の切刃の外周面側が削られて、この切刃を切削に適した状態(外周面が真円状になり、かつ/又は、外周面に砥粒が十分に露出した状態)にする処理(ドレッシング)が完了する。また、このドレッシングに伴って、ドレッサーボード1の表面3側も削られて、表面3の第1の辺3aよりも僅かに内側の領域にX軸方向に沿った溝が形成される。
さらに、必要に応じて、切削ブレード44をY軸方向における位置をずらした状態で同様の処理を繰り返してもよい。すなわち、1回のドレッシングによって、ドレッサーボード1の表面3に複数の溝が形成されてもよい。
図4(A)は、再利用可能な中古品(使用済み)のドレッサーボード1を保持した状態のサブチャックテーブル50を模式的に示す上面図であり、図4(B)は、再利用可能な中古品(使用済み)のドレッサーボード1を保持した状態のサブチャックテーブル50を模式的に示す正面図である。
具体的には、図4(A)及び図4(B)においては、Y軸方向に沿ってドレッシングに供される表面3の領域をずらしながら複数回のドレッシングが行われたドレッサーボード1が示されている。そして、このドレッサーボード1の表面3には、X軸方向に沿った複数の溝3cが形成されている。
図4(A)及び図4(B)に示されるドレッサーボード1においては、その表面3の第1の辺3aからの距離の目安となる複数のマーク5が第2の辺3bに沿った領域に表示されている。さらに、ドレッサーボード1の表面3には、第1の辺3aからの距離を示す数字が表示されている。
これにより、ドレッサーボード1においては、次回のドレッシングに利用できるドレッサーボード1の領域と第1の辺3aとの間隔(例えば、17.5mm)を容易に測定できる。その結果、ドレッシングに供されるドレッサーボード1の領域の特定するための作業を簡便にすることができる。
なお、上述したドレッサーボード1は本発明の一態様であって、ドレッサーボード1と異なる特徴を備えるドレッサーボードも本発明には含まれる。例えば、本発明のドレッサーボードの表面に表示されるマークは、その数が1つであってもよい。
また、本発明のドレッサーボードの表面に表示される複数のマークは、第1の辺からの距離の目安となればよく、この第1の辺に平行な線分に限定されない。図5は、ドレッサーボード1の表面3に表示される複数のマーク5とは異なる複数のマークが表示されるドレッサーボードの一例を模式的に示す斜視図である。
図5に示されるドレッサーボード21の表面23は、第1の辺23aと第1の辺23aに垂直な第2の辺23bとを有する長方形状の形状を有する。そして、この表面23の第2の辺23bに沿った領域には、第1の辺23aからの距離を示す目盛りとして機能する複数のマーク25が表示されている。具体的には、この複数のマーク25のそれぞれは、多角形であり、また、第2の辺23bに平行な方向に沿って概ね等間隔に表示される。
その他、上述した実施形態にかかる構造及び方法等は、本発明の目的の範囲を逸脱しない限りにおいて適宜変更して実施できる。
1 :ドレッサーボード
3 :表面(3a:第1の辺、3b:第2の辺)
5 :マーク
7 :数字
2 :切削装置
4 :基台(4a,4b,4c:開口)
6 :カセット支持台
8 :カセット
10 :X軸移動テーブル
11 :ウェーハ
12 :防塵防滴カバー
14 :チャックテーブル(14a:保持面)
15 :デバイス
16 :クランプ
17 :ダイシングテープ
19 :フレーム
22 :切削ユニット
24 :支持構造
26 :切削ユニット移動機構
28 :ガイドレール
30 :移動プレート
32 :ねじ軸
34 :モータ
36 :ガイドレール
38 :移動プレート
40 :ねじ軸
42 :モータ
44 :切削ブレード
46 :撮像ユニット
48 :洗浄ユニット
21 :ドレッサーボード
23 :表面(23a:第1の辺、23b:第2の辺)
25 :マーク

Claims (1)

  1. 矩形状の表面を有するドレッサーボードであって、
    該表面の第1の辺からの距離の目安となるマークが該表面の該第1の辺に垂直な第2の辺に沿った領域に表示されている、ドレッサーボード。
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