JP2022032022A - 透明導電膜及びその製造方法 - Google Patents

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Abstract

【課題】高い導電性と柔軟性を有するが、接着性が比較的弱い銀ナノワイヤのパターニングプロセス中に、銀ナノワイヤ端部が損傷したり不完全になったりせず、歩留まりが低下しない、タッチパネル作製用の透明導電膜、及びその製造方法を提供する。【解決手段】基板1と、基板1上に配置された第1の銀ナノワイヤ層21と、第1の銀ナノワイヤ層21上に配置された保護層3と、を備え、保護層3は、パターン化可能なフォトレジストであり、保護層3と第1の銀ナノワイヤ層21とは同一のパターンを有する透明導電膜1000。【選択図】図6

Description

本開示は、透明導電膜及びその製造方法に関する。より詳細には、本開示は、タッチパネルを作製するための透明導電膜及びその製造方法に関する。
近年、タッチパネルの適用が拡大している。電子製品をより使いやすくするために、タッチパネルを搭載し、直接操作やコマンド発行の機能を提供する電子製品が増えている。特に、フレキシブルなタッチパネルの需要が高まっている。そのため、従来のインジウムスズ酸化物(ITO)導電材料に代えて、導電性に優れた多数の可撓性導電材料が用いられている。
中国特許第103309510号明細書 中国特許出願公開第108641030号明細書
高い導電性と柔軟性を有する銀ナノワイヤは、タッチパネル用の優れた材料である。しかしながら、銀ナノワイヤの接着性は比較的弱く、銀ナノワイヤのパターニングプロセス中にフォトレジストを除去すると、パターニングされた銀ナノワイヤの端部が損傷したり不完全になったりすることがある。よって、歩留まりが低下し得、コストを上昇させ得る。
したがって、パターン化された銀ナノワイヤの歩留まりを改善するために、新規な透明導電膜及び製造方法が求められている。
したがって、本開示の主な目的は、基板と、基板上に配置された第1の銀ナノワイヤ層と、第1の銀ナノワイヤ層上に配置された保護層と、を含み、保護層は、パターン化可能なフォトレジスト材料を含み、第1の銀ナノワイヤ層及び保護層は、同一のパターンを有する、新規な透明導電膜を提供することである。
一実施形態では、パターン化可能なフォトレジスト材料は、ポジ型フォトレジスト材料又はネガ型フォトレジスト材料を含む。
一実施形態では、パターン化可能なフォトレジスト材料は、少なくとも、アクリル樹脂を15~30重量%、溶媒を65~80重量%、光開始剤を2~5重量%、及び添加剤を0~3重量%含む。
一実施形態では、アクリル樹脂は、モノマー、オリゴマー及びアルカリ可溶性樹脂を含み、モノマーは、脂肪族ポリオール化合物、アクリレートを有する不飽和カルボン酸、及びそれらの混合物からなる群から選択される少なくとも1つであり、オリゴマーは、ウレタンアクリレートオリゴマー、エポキシアクリレートオリゴマー、ポリエステルアクリレートオリゴマー及びそれらの混合物からなる群から選択される少なくとも1つであり、アルカリ可溶性樹脂は、不飽和置換基を有する樹脂、フェニル基を有する樹脂、カルボキシル基を有する樹脂及びそれらの混合物からなる群から選択される少なくとも1つである。
一実施形態では、溶媒は、アセトン、メチルエチルケトン、シクロヘキサン、プロピレングリコールメチルエーテルアセテート、プロピレングリコールメチルエーテル、酢酸エチル、エチレンジクロリド、テトラヒドロフラン、トルエン、及びエーテルからなる群から選択される少なくとも1つである。
一実施形態では、添加剤は、レベリング剤、着色剤、紫外線吸収剤、光増感剤、及びフォトルミネッセンス剤からなる群から選択される少なくとも1つである。
一実施形態では、保護層の厚さが0.2~2μmである。
一実施形態では、透明導電膜の可視光(例えば、約400nm~700nmの波長)に対する透過率は90%超である。
一実施形態では、透明導電膜の抵抗が5~100オームである。
一実施形態では、基板は、表示領域と非表示領域とを備え、第1の銀ナノワイヤ層は、表示領域に配置される。
一実施形態では、透明導電膜は、基板の非表示領域に配置された電気回路をさらに備え、電気回路は、第1の銀ナノワイヤ層に電気的に接続される。
一実施形態では、透明導電膜は、基板の非表示領域に配置された第2の銀ナノワイヤ層をさらに備え、電気回路及び第2の銀ナノワイヤ層は重なり合い、同一のパターンを有する。
一実施形態では、第2の銀ナノワイヤ層は、基板と電気回路との間に配置されるか、又は、電気回路上に配置される。
本開示はまた、以下の工程を含む透明導電膜の製造方法を提供する。基板の準備工程と、基板上への第1の銀ナノワイヤ層の形成工程と、第1の銀ナノワイヤ層上への保護層の形成工程と、保護層及び第1の銀ナノワイヤ層のパターニング工程と、を含み、保護層は、パターン化可能なフォトレジスト材料を含み、保護層及び第1の銀ナノワイヤ層は、同一のパターンを有する。
一実施形態では、パターニング工程は、露光処理及び現像処理による保護層のパターニング工程と、第1の銀ナノワイヤ層をパターニングするためのエッチング又は非エッチング方法による、第1の銀ナノワイヤ層の露出部分の除去工程と、を含む。
一実施形態では、パターニング工程は、露光処理及び現像処理によって、保護層及び第1の銀ナノワイヤ層を同時にパターニングすることを含む。
一実施形態では、パターン化可能なフォトレジスト材料は、ポジ型フォトレジスト材料又はネガ型フォトレジスト材料を含む。
一実施形態では、保護層が、少なくともアクリル樹脂を15~30重量%、溶媒を65~80重量%、光開始剤を2~5重量%、及び添加剤を0~3重量%含む。
透明導電膜及びその製造方法によれば、保護層は、銀ナノワイヤ層をエッチングして銀ナノワイヤ層をパターニングする際のフォトレジストとなる。その後、(フォトレジストとしての役割を果たした)保護層は、銀ナノワイヤ層を保護し、銀ナノワイヤ層の歩留まりを改善するために残される。
本明細書における「上(on)」という用語は、本明細書において、構成要素間の相対的な位置を記述するために使用され得ることに留意されたい。例えば、基板「上」に配置される第1の銀ナノワイヤ層は、2つの構成要素が直接接触して形成される実施形態を含み、また、第1の銀ナノワイヤ層と基板との間に追加の構成要素が形成され得る実施形態を含み得る。
本開示の製造方法における工程の順序は、必要に応じて変更することができる。製造方法の1つの工程は、同一の目的を達成できる限り、複数の工程を含むことができる。
また、本明細書において、「第1」、「第2」等の用語は、説明を容易にするために用いることができ、数字や順序には関係しない。例えば、「第1の銀ナノワイヤ層」と「第2の銀ナノワイヤ層」は、いずれも「銀ナノワイヤ層」として実現することができる。
本開示の第1の実施形態の透明導電膜の製造方法のフローチャートである。 本開示の第1の実施形態の基板の断面図である。 本開示の第1の実施形態の図2の基板上に第1の銀ナノワイヤ層を形成する断面図である。 本開示の第1の実施形態の図3の構造上に保護層を形成する断面図である。 本開示の第1の実施形態の図4の構造の保護層をパターニングする断面図である。 本開示の第1の実施形態の図5の構造の第1の銀ナノワイヤ層をエッチングする断面図である。 本開示の第2の実施形態の基板、第1の銀ナノワイヤ層、及び保護層の断面図である。 本開示の第2の実施形態の保護層及び第1の銀ナノワイヤ層をパターニングする断面図である。 本開示の第3の実施形態の基板の平面図である。 本開示の第3の実施形態の図9の構造上に銅層を形成する平面図である。 本開示の第3の実施形態の図9の構造上に銅層を形成する断面図である。 本開示の第3の実施形態の図11の構造上に第1及び第2の銀ナノワイヤ層を形成する断面図である。 本開示の第3の実施形態の図12の構造の保護層をパターニングする断面図である。 本開示の第3の実施形態の図13の構造上にフォトレジストを形成する断面図である。 本開示の第3の実施形態の透明導電膜の断面図である。 本開示の第3の実施形態の透明導電膜の平面図である。 本開示の第4の実施形態の基板、第1及び第2の銀ナノワイヤ層、及び保護層を含む構造の断面図である。 本開示の第4の実施形態の図17の構造の保護層及び銅層をパターニングする断面図である。 本開示の第4の実施形態の図18の構造上にフォトレジストを形成する断面図である。 本開示の第4の実施形態の透明導電膜の断面図である。 本開示の第5の実施形態の基板、パターン化された銅層、並びに第1及び第2の銀ナノワイヤ層を含む構造の断面図である。 本開示の第5の実施形態の図21の構造上に保護層を形成する断面図である。 本開示の第5の実施形態の透明導電膜の断面図である。
図1に示すフローチャートは、透明導電膜1000の製造方法を示しており、当該製造方法は、図1のフローチャート及び図2~図6の模式図に示されている工程を含む。
まず、工程(1):基板1を準備する。図2を参照する。基板1は、ガラス、サファイア、ポリメチルメタクリレート(PMMA)、ポリ塩化ビニル(PVC)、ポリプロピレン(PP)、ポリエチレンテレフタレート(PET)、シクロオレフィンポリマー(COP)、ポリエチレンナフタレート(PEN)、トリアセテートセルロース(TAC)、ポリカーボネート(PC)、ポリスチレン(PS)、ポリイミド(PI)等とすることができるが、これらに限定されるものではない。
図3に示す工程(2)は、第1の銀ナノワイヤ層21を基板1上に形成する工程を含む。第1の銀ナノワイヤ層21は、複数の銀ナノワイヤを含む。
図4に示す工程(3)は、第1の銀ナノワイヤ層21上に保護層3を形成する工程を含む。保護層3は、アクリル樹脂を20重量%、溶媒を77重量%、光開始剤を2.7重量%、添加剤を0.3重量%を含む。本実施形態において、アクリル樹脂は、モノマーを30重量%、オリゴマーを5重量%、アルカリ可溶性樹脂を65重量%を含む。
本開示の一実施形態では、アクリル樹脂に含まれるモノマーは、脂肪族ポリオール化合物、アクリレートを有する不飽和カルボン酸、及びそれらの混合物からなる群から選択される少なくとも1つであってもよく、アクリル樹脂に含まれるオリゴマーは、ウレタンアクリレートオリゴマー、エポキシアクリレートオリゴマー、ポリエステルアクリレートオリゴマー及びそれらの混合物からなる群から選択される少なくとも1つであってもよく、また、アルカリ可溶性樹脂は、不飽和置換基を有する樹脂、フェニル基を有する樹脂、カルボキシル基を有する樹脂及びそれらの混合物からなる群から選択される少なくとも1つであってもよい。さらに、光開始剤は、オキシム化合物、アセトフェノン化合物、ホスフィンオキシド、又はそれらの混合物から選択することができる。また、添加剤は、カチオン性界面活性剤、アニオン性界面活性剤、非イオン性界面活性剤、双性イオン性界面活性剤、ポリシロキサン界面活性剤、又はフルオロ界面活性剤のようなレベリング剤であってもよい。添加剤はまた、必要に応じて着色剤、紫外線吸収剤、光増感剤、又はフォトルミネセンス剤であってもよい。溶媒は、アセトン、メチルエチルケトン、シクロヘキサン、プロピレングリコールメチルエーテルアセテート、プロピレングリコールメチルエーテル、酢酸エチル、エチレンジクロリド、テトラヒドロフラン、トルエン、又はエーテルであってもよい。
本実施形態では、保護層3はネガ型フォトレジスト材料を含む。すなわち、保護層3は光硬化性材料を含む。他の実施形態では、保護層3は、ポジ型フォトレジスト材料を含むことができる。すなわち、保護層3は、光分解性材料を含む。
また、他の実施形態では、保護層3は、少なくともアクリル樹脂を15~30重量%、溶媒を65~80重量%、光開始剤を2~5重量%、添加剤を0~3重量%含む。
工程(4)は、保護層3と第1の銀ナノワイヤ層21とが同一のパターンを有するように、保護層3及び第1の銀ナノワイヤ層21をパターニングすることを含む。本実施形態では、工程(4)は、さらに工程(4-a)と工程(4-b)とを含む。工程(4-a)では、図5に示す電極パターンを形成するための露光処理及び現像処理により保護層3をパターニングする。工程(4-b)では、第1の銀ナノワイヤ層21をパターニングするためのエッチング法により、第1の銀ナノワイヤ層21の露出部分を除去する。得られた透明導電膜1000を図6に示す。
本実施形態では、工程(4-b)のエッチング方法は、ドライエッチング又はウェットエッチングである。また一方、他の実施形態では、第1の銀ナノワイヤ層21の露出部分は現像法又はリフトオフ法などの非エッチング法によって除去してもよい。
本実施形態で作製した保護層3と第1の銀ナノワイヤ層21とは、同一の電極パターンを有する。パターニングプロセスの後、保護層3は、第1の銀ナノワイヤ層21を保護するために、第1の銀ナノワイヤ層21上に残される。したがって、フォトレジスト層の除去に起因する、パターン化された第1の銀ナノワイヤ層21の損傷を回避することができる。
本開示の第2の実施形態の透明導電膜1000の製造方法は、本開示の第1の実施形態と同様である。異なるのは、工程(4)が工程(4-1)を含むことである。工程(4-1)では、保護層3と第1の銀ナノワイヤ層21とを、図7~図8に示す電極パターンを形成するための露光処理及び現像処理により同時にパターニングする。具体的には、第1の銀ナノワイヤ層21の一部は、露光された保護層3と共に洗浄された。これにより、電極パターンを有する保護層3と、電極パターンを有する第1の銀ナノワイヤ層21とが同時に形成された。
また、本開示は、本開示の第3の実施形態の透明導電膜2000の製造方法を提供する。製造プロセスを図9~図16に示す。本実施形態の透明導電膜2000の製造プロセスは、第1の実施形態の透明導電膜1000の製造工程と、他の追加工程とを含む。まず、図9に示すように、表示領域11及び非表示領域12を有する基板1を準備する(工程(1))。次に、図10及び図11に示すように、非表示領域12上に銅層4が形成される。図12を参照する。銀ナノワイヤは、基板1の表示領域11上及び銅層4上の基板1の非表示領域12上に噴霧される。第1の銀ナノワイヤ層21(工程(2))は、表示領域11上に形成され、第2の銀ナノワイヤ層22は、非表示領域12上に形成される銅層4上に形成される。図13を参照する。保護層3(工程(3))が、第1の銀ナノワイヤ層21及び第2の銀ナノワイヤ層22上に形成され、次に、保護層3が電極パターンを有するように、保護層3が露光処理及び現像処理によってパターン化される(工程(4-a))。図14を参照すると、フォトレジスト5が、第1の銀ナノワイヤ層21上、第2の銀ナノワイヤ層22上、及びパターン化された保護層3上に形成される。フォトレジスト5を形成した後、銅層4及び非表示領域12上の第2の銀ナノワイヤ層22を別の露光処理及び現像処理によりパターン化し、複数の電気回路41を形成する。第1の銀ナノワイヤ層21がパターン化され(工程(4-b))、保護層3と同一の電極パターンを有するように、露光処理及び現像処理の間、第1の銀ナノワイヤ層21の保護層3によって覆われていない露出部分が除去される。最後に、図15及び図16に示す透明導電膜2000を得る。
本開示は、本開示の第4の実施形態の透明導電膜3000の製造方法をさらに提供する。製造プロセスを図17~図20に示す。本実施形態は、第1の実施形態の透明導電膜1000の製造工程と、本実施形態の透明導電膜3000を形成する他の工程とを含む。まず、図17に示すように、基板1と、第1の銀ナノワイヤ層21と、第2の銀ナノワイヤ層22と、保護層3とを含む積層構造を準備する(工程(1)、工程(2)、及び工程(3)を含む)。第1の銀ナノワイヤ層21は、基板1の表示領域11上に形成され、第2の銀ナノワイヤ層22は、基板1の非表示領域12上に形成される。次に、図18に示すように、保護層3が電極パターンを有することができるように、保護層3をパターニングする露光処理及び現像処理を行う(工程(4-a))。次いで、銅層4が、第1の銀ナノワイヤ層21上、第2の銀ナノワイヤ層22上、及びパターン化された保護層3上に形成される。図19を参照する。銅層4上にフォトレジスト5を形成した後、銅層4及び非表示領域12上の第2の銀ナノワイヤ層22をパターン化して複数の電気回路41として機能させるように、別の露光処理及び現像処理を行う。そして、第1の銀ナノワイヤ層21の、保護層3に覆われていない露出部分が除去される(工程(4-b))。パターン化された第1の銀ナノワイヤ層21は、保護層3と同一の電極パターンを有する。図20に示す透明導電膜3000が得られる。
本開示は、本開示の第5の実施形態の透明導電膜4000の製造方法をさらに提供する。製造プロセスを図21~図23に示す。本実施形態は、第2の実施形態の透明導電膜1000の製造工程と、本実施形態の透明導電膜4000を形成する他の工程とを含む。まず、図21を参照する。表示領域11及び非表示領域12を有する基板1を準備する(工程(1))。露光処理及び現像処理を行い、非表示領域12上に複数の銅電気回路41を形成する。次に、基板1の表示領域11上及び電気回路41上に銀ナノワイヤを噴霧し、表示領域11上に第1の銀ナノワイヤ層21を形成し(工程(2))、電気回路41上に第2の銀ナノワイヤ層22を形成する。図22に示すように、保護層3が、第1の銀ナノワイヤ層21上及び第2の銀ナノワイヤ層22上に形成される(工程(3))。保護層3及び第1の銀ナノワイヤ層21が同一の電極パターンを有することができるように、保護層3及び第1の銀ナノワイヤ層21を同時にパターニングする別の露光処理及び現像処理を行う(工程(4-1))。一方、非表示領域12上の保護層3及び第2の銀ナノワイヤ層22は完全に除去され、電気回路41が露出される。これにより、図23に示す透明導電膜4000が得られた。
上記の開示はその詳細な技術的内容及び発明的特徴に関する。当業者は、その特徴から逸脱することなく、記載された開示及び提案に基づいて種々の改変及び置換を進めることができる。しかしながら、そのような改変及び置換は、上記の説明において完全には開示されていないが、添付の特許請求の範囲において実質的に包含されている。
1 基板
3 保護層
4 銅層
5 フォトレジスト
11 表示領域
12 非表示領域
21 第1の銀ナノワイヤ層
22 第2の銀ナノワイヤ層
41 電気回路
1000 透明導電膜
2000 透明導電膜
3000 透明導電膜
4000 透明導電膜

Claims (18)

  1. 基板と、
    前記基板上に配置された第1の銀ナノワイヤ層と、
    前記第1の銀ナノワイヤ層上に配置された保護層と、を備え、
    前記保護層は、パターン化可能なフォトレジスト材料を含み、前記第1の銀ナノワイヤ層及び前記保護層は、同一のパターンを有する、
    透明導電膜。
  2. 前記パターン化可能なフォトレジスト材料は、ポジ型フォトレジスト材料又はネガ型フォトレジスト材料である、請求項1に記載の透明導電膜。
  3. 前記パターン化可能なフォトレジスト材料は、アクリル樹脂を15~30重量%、溶媒を65~80重量%、光開始剤を2~5重量%及び添加剤を0~3重量%を含む、請求項1又は2に記載の透明導電膜。
  4. 前記アクリル樹脂は、モノマー、オリゴマー及びアルカリ可溶性樹脂を含み、前記モノマーは、脂肪族ポリオール化合物、アクリレートを有する不飽和カルボン酸、及びそれらの混合物からなる群から選択される少なくとも1つであり、前記オリゴマーは、ウレタンアクリレートオリゴマー、エポキシアクリレートオリゴマー、ポリエステルアクリレートオリゴマー及びそれらの混合物からなる群から選択される少なくとも1つであり、前記アルカリ可溶性樹脂は、不飽和置換基を有する樹脂、フェニル基を有する樹脂、カルボキシル基を有する樹脂及びそれらの混合物からなる群から選択される少なくとも1つである、請求項3に記載の透明導電膜。
  5. 前記溶媒は、アセトン、メチルエチルケトン、シクロヘキサン、プロピレングリコールメチルエーテルアセテート、プロピレングリコールメチルエーテル、酢酸エチル、エチレンジクロリド、テトラヒドロフラン、トルエン及びエーテルからなる群から選択される少なくとも1つである、請求項3又は4に記載の透明導電膜。
  6. 前記添加剤は、レベリング剤、着色剤、紫外線吸収剤、光増感剤及びフォトルミネッセンス剤からなる群から選択される少なくとも1つである、請求項3~5のいずれか一項に記載の透明導電膜。
  7. 前記保護層の厚さが0.2~2μmである、請求項1~6のいずれか一項に記載の透明導電膜。
  8. 前記透明導電膜の透過率が90%超である、請求項1~7のいずれか一項に記載の透明導電膜。
  9. 前記透明導電膜の抵抗値が5~100オームである、請求項1~8のいずれか一項に記載の透明導電膜。
  10. 前記基板は、表示領域と非表示領域とを備え、前記第1の銀ナノワイヤ層は、前記表示領域に配置される、請求項1~9のいずれか一項に記載の透明導電膜。
  11. 前記基板の前記非表示領域に配置された電気回路をさらに備え、前記電気回路は、前記第1の銀ナノワイヤ層に電気的に接続される、請求項10に記載の透明導電膜。
  12. 前記基板の前記非表示領域に配置された第2の銀ナノワイヤ層をさらに備え、前記電気回路及び前記第2の銀ナノワイヤ層は重なり合い、同一のパターンを有する、請求項11に記載の透明導電膜。
  13. 前記第2の銀ナノワイヤ層は、前記基板と前記電気回路との間に配置されるか、又は、前記電気回路上に配置される、請求項12に記載の透明導電膜。
  14. 基板の準備工程と、
    前記基板上への第1の銀ナノワイヤ層の形成工程と、
    前記第1の銀ナノワイヤ層上への保護層の形成工程と、
    前記保護層及び前記第1の銀ナノワイヤ層のパターニング工程と、を備え、
    前記保護層は、パターン化可能なフォトレジスト材料を含み、前記保護層及び前記第1の銀ナノワイヤ層は、同一のパターンを有する、
    透明導電膜の製造方法。
  15. 前記パターニング工程は、
    露光処理及び現像処理による前記保護層のパターニング工程と、
    前記第1の銀ナノワイヤ層をパターニングするためのエッチング又は非エッチング方法による、前記第1の銀ナノワイヤ層の露出部分の除去工程と、を備える、請求項14に記載の透明導電膜の製造方法。
  16. 前記パターニング工程は、露光処理及び現像処理によって、前記保護層及び前記第1の銀ナノワイヤ層を同時にパターニングすることを含む、請求項14又は15に記載の製造方法。
  17. 前記パターン化可能なフォトレジスト材料が、ポジ型フォトレジスト材料又はネガ型フォトレジスト材料を含む、請求項14~16のいずれか一項に記載の製造方法。
  18. 前記保護層が、アクリル樹脂を15~30重量%、溶媒を65~80重量%、光開始剤を2~5重量%及び添加剤を0~3重量%を少なくとも含む、請求項14~17のいずれか一項に記載の製造方法。
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