JP2021148699A - プローブヘッド - Google Patents

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Abstract

【課題】基板のガイド穴の公差の影響を抑制してプローブを基板のパッドに接触させる。【解決手段】プローブヘッド10Aは、ガイドピン100を備え、ガイドピン100は、外側壁の直径がガイドピン100の一端側から他端側に向かうにつれて広がるテーパ部を有している。【選択図】図1

Description

本発明は、プローブヘッドに関する。
半導体デバイス等の基板を検査装置によって検査するため、例えば特許文献1に記載されているように、被検査装置と検査装置とを電気的に接続するためのプローブヘッドが用いられることがある。プローブヘッドは、ガイドピンを備えている。ガイドピンは、配線基板等、検査装置の基板に形成されたガイド穴に挿入される。これによって、プローブヘッドが検査装置の基板に対して位置決めされる。プローブヘッドが検査装置の基板に対して位置決めされることで、プローブヘッドのプローブが検査装置の基板のパッドに接触することができるようになる。
特開2006−250901号公報
検査装置の基板のガイド穴の直径には、公差によるばらつきが生じ得る。例えば特許文献1のガイドピンのようにガイドピンの外側壁の直径が一定であるとき、ガイドピンがガイド穴に挿入されても、プローブが基板のパッドに接触する位置からプローブヘッドがずれて配置される場合がある。この場合、プローブが基板のパッドに接触せず、検査装置が正確な検査を行えない可能性がある。
本発明の目的の一例は、基板のガイド穴の公差の影響を抑制してプローブを基板のパッドに接触させることにある。本発明の他の目的は、本明細書の記載から明らかになるであろう。
本発明の一態様は、
ガイドピンを備え、
前記ガイドピンは、外側壁の直径が前記ガイドピンの一端側から他端側に向かうにつれて広がるテーパ部を有する、プローブヘッドである。
上記態様によれば、テーパ部のうち基板のガイド穴の直径と略等しい直径及びガイド穴の直径より小さい直径を有する部分を基板のガイド穴の開口にはめ込むことができる。したがって、基板のガイド穴の公差の影響を抑制してプローブを基板のパッドに接触させることができる。
実施形態1に係るプローブヘッドを示す図である。 実施形態1に係るプローブヘッドのプローブを基板のパッドに接触させる方法を説明するための図である。 実施形態1に係るプローブヘッドのプローブを基板のパッドに接触させる方法を説明するための図である。 実施形態2に係るプローブヘッドを示す図である。 実施形態2に係るプローブヘッドのプローブを基板のパッドに接触させる方法を説明するための図である。 実施形態3に係るプローブヘッドを示す図である。 実施形態3に係るプローブヘッドのプローブを基板のパッドに接触させる方法を説明するための図である。 実施形態3に係るプローブヘッドのプローブを基板のパッドに接触させる方法を説明するための図である。 変形例1に係るプローブヘッドを示す図である。 変形例2に係るガイドピンの側面図である。 変形例3に係るガイドピンの断面図である。
以下、本発明の実施形態について、図面を用いて説明する。なお、すべての図面において、同様な構成要素には同様の符号を付し、適宜説明を省略する。
(実施形態1)
図1は、実施形態1に係るプローブヘッド10Aを示す図である。図1内において、後述する基板20については、後述するガイド穴22の中心を基板20の厚さ方向に沿って通過する断面が示されている。また、後述するソケット200については、後述する第1取付孔212及び第2取付孔222をソケット200の厚さ方向に沿って通過する断面が示されている。また、後述するガイドピン100及びプローブ300については、側面が示されている。
図1において、「+Z」は、プローブヘッド10Aの上方向を示しており、「−Z」は、プローブヘッド10Aの下方向を示している。図1以降の図についても同様である。
プローブヘッド10Aは、ガイドピン100、ソケット200及びプローブ300を備えている。ガイドピン100は、第1案内部110及び第2案内部120を有している。ソケット200は、ピンブロック210及びピンプレート220を有している。
ピンブロック210及びピンプレート220は、プローブヘッド10Aの上方から下方に向けてこの順に重なっている。プローブ300は、プローブヘッド10Aの上下方向に沿ってソケット200に挿入されている。
プローブヘッド10Aの使用に際しては、プローブヘッド10Aの上方には、後述する基板20を有する検査装置によって検査される半導体デバイス等の不図示の被検査装置の基板が配置される。一方、プローブヘッド10Aの下方には、検査装置の基板20が配置される。基板20は、例えば、PCB(Printed Circuit Board)である。基板20には、ガイド穴22が形成されている。基板20は、基板20の上面側に位置するパッド20aを有している。ガイドピン100の下端側は、基板20が位置する側となっている。被検査装置の基板と、検査装置の基板20と、は、プローブ300を介して電気的に接続される。
第1案内部110は、ピンブロック210に形成された第1取付孔212と、ピンプレート220に形成された第2取付孔222と、に挿入されている。第1取付孔212は、第1孔部212a及び第2孔部212bを有している。第1孔部212a及び第2孔部212bは、プローブヘッド10Aの上方から下方に向けてこの順に並んでいる。第1孔部212aの直径は、第1案内部110の外側壁に取り付けられたフランジ112の外縁の直径より小さくなっている。第2孔部212bの直径は、第1孔部212aの直径及び第2取付孔222の直径の各々より大きくなっており、第1案内部110のフランジ112の外縁の直径以上となっている。さらに、ガイドピン100の一部分、具体的にはフランジ112は、第1取付孔212及び第2取付孔222の一部分内、具体的には第2孔部212b内に位置しており、第1取付孔212及び第2取付孔222の他の部分の直径、具体的には第1孔部212aの直径及び第2取付孔222の直径の各々より大きい直径を有している。したがって、第1案内部110のフランジ112は、プローブヘッド10Aの上下方向に沿って第2孔部212b内に限って移動可能になっている。
第2案内部120は、第1案内部110の下端から下方にむけて突出している。第2案内部120の直径は、第1案内部110の直径より小さくなっている。また、第2案内部120の直径は、基板20のガイド穴22の直径よりも小さくなっている。本実施形態では、第2案内部120は、円柱形状を有している。この場合、第2案内部120が円錐形状を有する場合と比較して、第2案内部120が基板20のガイド穴22に挿入されたときガイドピン100が倒れにくくなる。しかしながら、第2案内部120は、円柱形状と異なる形状、例えば、円錐形状を有していてもよい。
ガイドピン100の少なくとも一部分の外側壁の直径は、ガイドピン100の一端側から他端側に向かうにつれて広がっている。具体的には、ガイドピン100の外側壁には、第1テーパ部132及び第2テーパ部134が設けられている。なお、ガイドピン100に第2テーパ部134が設けられていなくてもよい。
第1テーパ部132は、第1案内部110と第2案内部120との間に設けられている。第1テーパ部132におけるガイドピン100の外側壁は、ガイドピン100の下端側から上端側に向かうにつれて略線型に広がっている。しかしながら、第1テーパ部132におけるガイドピン100の外側壁は、湾曲しながら広がっていてもよい。
第1テーパ部132が設けられていることによって、第1テーパ部132のうちガイド穴22の直径と略等しい直径及びガイド穴22の直径より小さい直径を有する部分を基板20のガイド穴22の開口にはめ込むことができる。したがって、基板20のガイド穴22の公差の影響を抑制してプローブ300を基板20のパッド20aに接触させることができる。具体的には、第1テーパ部132におけるガイドピン100の外側壁の直径の最小値は、基板20のガイド穴22の直径より小さくなっている。本実施形態では、第1テーパ部132におけるガイドピン100の外側壁の直径は、第1テーパ部132の最下端において最小値をとる。これに対して、第1テーパ部132におけるガイドピン100の外側壁の直径の最大値は、基板20のガイド穴22の直径より大きくなっている。本実施形態では、第1テーパ部132におけるガイドピン100の外側壁の直径は、第1テーパ部132の最上端において最大値をとる。したがって、第1テーパ部132のいずれかの部分が、ガイド穴22の直径と略等しくなるようにすることができる。
第2テーパ部134は、第1案内部110の上端側に設けられている。第2テーパ部134におけるガイドピン100の外側壁は、ガイドピン100の上端側から下端側に向かうにつれて略線型に広がっている。しかしながら、第2テーパ部134におけるガイドピン100の外側壁は、湾曲しながら広がっていてもよい。
第2テーパ部134が設けられていることで、ガイドピン100の上端側から第1案内部110をソケット200の第1取付孔212に通すとき、ガイドピン100がソケット200の第1取付孔212に挿入されるように、第2テーパ部134によってソケット200を案内することができる。
次に、図1〜図3を用いて、プローブヘッド10Aのプローブ300を基板20のパッド20aに接触させる方法を説明する。図2及び図3は、実施形態1に係るプローブヘッド10Aのプローブ300を基板20のパッド20aに接触させる方法を説明するための図である。また、図2及び図3は、この方法における図1の後段を示している。
まず、図1に示すように、基板20の上方にプローブヘッド10Aを配置する。この時点において、プローブヘッド10Aの上下方向において、ガイドピン100の少なくとも一部分が基板20のガイド穴22と重なるようにする。
次いで、図2に示すように、ガイドピン100の下端側からガイドピン100の第2案内部120を基板20のガイド穴22に挿入する。本実施形態では、第1テーパ部132におけるガイドピン100の外側壁の直径の最小値が基板20のガイド穴22の直径より小さく、かつ第1テーパ部132におけるガイドピン100の外側壁の直径の最大値が基板20のガイド穴22の直径より大きくなっている。このため、ガイドピン100の第1テーパ部132は、第1テーパ部132が基板20のガイド穴22にはめ込まれるまで、基板20のガイド穴22の開口縁に対して滑らせることができる。これによって、ガイドピン100を、ガイド穴22の適切な位置、すなわち、プローブ300の下端の直下に基板20のパッド20aが位置する位置に合わせることができる。具体的には、ガイドピン100の中心をガイド穴22の中心に合わせることができる。この場合、基板20のガイド穴22の直径が公差によってばらついても、第1テーパ部132によって、プローブヘッド10Aを適切な位置に案内することができる。
次いで、図3に示すように、ソケット200を基板20に向けて押し込む。これにより、プローブ300の下端が基板20のパッド20aに接触する。
(実施形態2)
図4は、実施形態2に係るプローブヘッド10Bを示す図である。実施形態2に係るプローブヘッド10Bは、以下の点を除いて、実施形態1に係るプローブヘッド10Aと同様である。
ガイドピン100は、ソケット200から取り外し可能になっている。また、ガイドピン100の第1案内部110は、ガイドピン100の上端側からソケット200の第2取付孔222及び第1取付孔212に通すことが可能になっている。
図4及び図5を用いて、プローブヘッド10Bのプローブ300を基板20のパッド20aに接触させる方法を説明する。図5は、実施形態2に係るプローブヘッド10Bのプローブ300を基板20のパッド20aに接触させる方法を説明するための図である。また、図5は、この方法における図4の後段を示している。
まず、図4に示すように、ガイドピン100がソケット200から取り外された状態で、ガイドピン100の第2案内部120を基板20のガイド穴22に挿入する。本実施形態においても、第1テーパ部132におけるガイドピン100の外側壁の直径の最小値が基板20のガイド穴22の直径より小さく、かつ第1テーパ部132におけるガイドピン100の外側壁の直径の最大値が基板20のガイド穴22の直径より大きくなっている。このため、ガイドピン100の第1テーパ部132は、第1テーパ部132が基板20のガイド穴22にはめ込まれるまで、基板20のガイド穴22の開口縁に対して滑らせることができる。これによって、ガイドピン100を、ガイド穴22の適切な位置、すなわち、後述する図5に示すようにソケット200がガイドピン100に取り付けられたときにプローブ300の下端の直下に基板20のパッド20aが位置する位置に合わせることができる。
次いで、図5に示すように、ガイドピン100の上端側から、ガイドピン100の第1案内部110をソケット200の第2取付孔222及び第1取付孔212に通す。この場合、ガイドピン100がソケット200の第2取付孔222及び第1取付孔212に挿入されるように、第2テーパ部134によって、ソケット200を案内することができる。さらに、ソケット200を基板20に向けて押し込む。図4を用いて説明したように、本実施形態では、ガイドピン100は、ガイド穴22の適切な位置、すなわち、ソケット200がガイドピン100に取り付けられたときにプローブ300の下端の直下に基板20のパッド20aが位置する位置に合わせることができる。したがって、基板20のガイド穴22の公差の影響を抑制してプローブ300の下端を基板20のパッド20aに接触させることができる。
(実施形態3)
図6は、実施形態3に係るプローブヘッド10Cを示す図である。実施形態3に係るプローブヘッド10Cは、以下の点を除いて、実施形態1に係るプローブヘッド10Aと同様である。
ガイドピン100の第1テーパ部132は、図7及び図8を用いて後述するようにガイドピン100が基板20に向けて押し込まれる前は、ピンプレート220の下面から露出していない。
図6〜図8を用いて、プローブヘッド10Cのプローブ300を基板20のパッド20aに接触させる方法を説明する。図7及び図8は、実施形態3に係るプローブヘッド10Cのプローブ300を基板20のパッド20aに接触させる方法を説明するための図である。また、図7及び図8は、この方法における図6の後段を示している。
まず、図6に示すように、基板20の上方にプローブヘッド10Cを配置する。この時点において、プローブヘッド10Cの上下方向において、ガイドピン100の少なくとも一部分が基板20のガイド穴22と重なるようにする。
次いで、図7に示すように、第2案内部120の下端側からガイドピン100の第2案内部120を基板20のガイド穴22に挿入する。
次いで、図8に示すように、ガイドピン100の上端側からガイドピン100を基板20のガイド穴22に向けて押し込む。これによって、実施形態1と同様にして、ガイドピン100の第1テーパ部132は、ガイドピン100の第1テーパ部132が基板20のガイド穴22にはめ込まれるまで、基板20のガイド穴22の開口縁に対して滑らせることができる。このため、ガイドピン100を、ガイド穴22の適切な位置、すなわち、プローブ300の下端が基板20のパッド20aに接触する位置に合わせることができる。したがって、基板20のガイド穴22の公差の影響を抑制してプローブ300の下端を基板20のパッド20aに接触させることができる。
(変形例1)
図9は、変形例1に係るプローブヘッド10Dを示す図である。変形例1に係るプローブヘッド10Dは、以下の点を除いて、実施形態1に係るプローブヘッド10Aと同様である。
ガイドピン100は、基板20に向けて付勢されている。ガイドピン100の上端は、バネ等の弾性体140を介して、ソケット200に取り付けられている。具体的には、ピンブロック210の第1取付孔212の上端は、閉端となっている。弾性体140の上端は、ピンブロック210のこの閉端に取り付けられている。また、弾性体140の下端には、ガイドピン100の上端が取り付けられている。
本変形例では、ガイドピン100の第2案内部120を基板20のガイド穴22に通したとき、ガイドピン100を弾性体140によって基板20に向けて押し付けることができる。本変形例においても、第1テーパ部132におけるガイドピン100の外側壁の直径の最小値が基板20のガイド穴22の直径より小さく、かつ第1テーパ部132におけるガイドピン100の外側壁の直径の最大値が基板20のガイド穴22の直径より大きくなっている。このため、弾性体140による付勢によって、ガイドピン100の第1テーパ部132は、第1テーパ部132が基板20のガイド穴22にはめ込まれるまで、基板20のガイド穴22の開口縁に対して滑らせることができる。これによって、ガイドピン100を、ガイド穴22の適切な位置、すなわち、プローブ300の下端の直下に基板20のパッド20aが位置する位置に合わせることができる。この場合、基板20のガイド穴22の直径が公差によってばらついても、第1テーパ部132によって、プローブヘッド10Dを適切な位置に案内することができる。
(変形例2)
図10は、変形例2に係るガイドピン100Aの側面図である。変形例2に係るガイドピン100Aは、以下の点を除いて、実施形態1に係るガイドピン100と同様である。なお、変形例2の説明では、必要に応じて、図1〜図3に示した基板20を参照する。
ガイドピン100Aは、第1案内部110A及び第2案内部120Aを有している。第2案内部120Aは、互いに分岐された複数の先端部、すなわち、第1先端部122A及び第2先端部124Aを含んでいる。第1先端部122A及び第2先端部124Aは、ガイドピン100Aの幅方向、すなわち+Zと−Zとの間の方向に対して直交する方向に並んでいる。第1先端部122A及び第2先端部124Aを基板20のガイド穴22に挿入して、第1先端部122A及び第2先端部124Aをガイド穴22の内側壁に挟み込むことができる。したがって、基板20のガイド穴22の直径が公差によってばらついたとしても、プローブ300が基板20のパッド20aに接触するように、ガイドピン100Aをガイド穴22の適切な位置に合わせることができる。
第1先端部122A及び第2先端部124Aの先端、すなわち下端から、第1先端部122A及び第2先端部124Aの当該先端の反対側の少なくとも一部分まで、すなわち第1先端部122A及び第2先端部124Aのおおよそ中央部までにおける、当該先端と当該先端の当該反対側とを結ぶ方向に直交する方向の第1先端部122A及び第2先端部124Aの最外縁間の間隔は、第1先端部122A及び第2先端部124Aの先端から当該先端の反対側に向かうにつれて広がっている。図10に示す例において、第1先端部122A及び第2先端部124Aの最外縁間の間隔は、第1先端部122Aの左側外縁と、第2先端部124Aの右側外縁と、の間の間隔である。この場合、第1先端部122A及び第2先端部124Aをガイド穴22の開口縁に対して滑らせて第1先端部122A及び第2先端部124Aをガイド穴22に挿入することができる。したがって、第1先端部122A及び第2先端部124Aの最外縁間の間隔が一定である場合と比較して、第1先端部122A及び第2先端部124Aをガイド穴22に挿入しやすくなっている。また、図10に示す例において、第1先端部122A及び第2先端部124Aのおおよそ中央部から第1案内部110Aまでにおける、第1先端部122A及び第2先端部124Aの最外縁間の間隔は、第1先端部122A及び第2先端部124Aの先端から当該先端の反対側に向かうにつれて狭まっている。しかしながら、第1先端部122A及び第2先端部124Aの最外縁間の間隔は、一定であってもよい。
ガイドピン100Aの下端から上端側に向かうにつれて広がっている上記間隔の最小値は、ガイド穴22の直径より小さくなっている。したがって、第1先端部122A及び第2先端部124Aをガイド穴22に挿入することができる。
ガイドピン100Aの下端から上端側に向かうにつれて広がっている上記間隔の最大値は、ガイド穴22の直径より大きくなっている。したがって、第1先端部122A及び第2先端部124Aがガイド穴22に挿入されたとき、第1先端部122A及び第2先端部124Aがガイド穴22の内側壁に接触して、第1先端部122A及び第2先端部124Aをガイド穴22の内側壁に挟み込むことができる。
(変形例3)
図11は、変形例3に係るガイドピン100Bの断面図である。図11は、後述するねじ穴112B及び楔穴122Bをガイドピン100Bの上下方向に沿って通過する断面を示している。変形例3に係るガイドピン100Bは、以下の点を除いて、実施形態1に係るガイドピン100と同様である。
ガイドピン100Bは、第1案内部110Bの少なくとも一部分の外側壁をガイドピン100Bの内側から押し広げる部材、すなわち後述するねじ部114B及び楔部124Bを有している。具体的には、ガイドピン100Bは、第1案内部110B及び第2案内部120Bを有している。第1案内部110Bの内側には、ガイドピン100Bの上下方向に沿って伸びるねじ穴112Bが形成されている。ねじ穴112Bには、ねじ部114Bが挿入されている。第2案内部120Bの内側には、ガイドピン100Bの上下方向に沿って伸びる楔穴122Bが形成されている。楔穴122Bには、楔部124Bが挿入されている。楔穴122B及び楔部124Bの各々の幅は、第2案内部120Bの上端側から下端側に向かうにつれて狭まっている。この場合、ねじ部114Bを楔部124Bに押し込むことで、楔部124Bによって第2案内部120Bの外側壁を押し広げることができる。
本変形例に係るガイドピン100Bを備えるプローブヘッドのプローブを図1〜図3に示した基板20のパッド20aに接触させる方法を説明する。
まず、ガイドピン100Bの下端側からガイドピン100Bの第2案内部120Bを基板20のガイド穴22に挿入する。この時点、すなわち、ねじ部114B及び楔部124Bによってガイドピン100Bの外側壁が押し広げられる前において、第2案内部120Bの外側壁の直径は、基板20のガイド穴22の直径より小さくなっている。したがって、第2案内部120Bの外側面がガイド穴22の内側面に引っ掛かることなく、第2案内部120Bをガイド穴22に挿入することができる。
次いで、例えば、ドライバ等の工具をガイドピン100Bの上端側からねじ穴112Bに通してねじ部114Bを回転させることで、ねじ穴112Bに沿ってねじ部114Bをガイドピン100Bの下方に向けてねじ込む。ねじ部114Bが下方に向けてねじ込まれることで、楔部124Bがねじ部114Bによって下方に向けて押し込まれる。楔部124Bがねじ部114Bによって下方に押し込まれることで、楔部124Bが楔穴122Bを押し広げて第2案内部120Bの外側壁の直径が大きくなる。このため、ガイドピン100Bをガイド穴22の内側壁に挟み込むことができる。したがって、基板20のガイド穴22の直径が公差によってばらついても、プローブが基板20のパッド20aに接触するように、ガイドピン100Bをガイド穴22の適切な位置に合わせることができる。
以上、図面を参照して本発明の実施形態及び変形例について述べたが、これらは本発明の例示であり、上記以外の様々な構成を採用することもできる。
本明細書によれば、以下の態様が提供される。
(態様1−1)
態様1−1は、
ガイドピンを備え、
前記ガイドピンは、外側壁の直径が前記ガイドピンの一端側から他端側に向かうにつれて広がるテーパ部を有する、プローブヘッドである。
態様1−1によれば、テーパ部のうち基板のガイド穴の直径と略等しい直径及びガイド穴の直径より小さい直径を有する部分を基板のガイド穴の開口にはめ込むことができる。したがって、基板のガイド穴の公差の影響を抑制してプローブを基板のパッドに接触させることができる。また、態様1−1によれば、ガイドピンの一端側からガイドピンをソケットの取付孔に通すとき、ガイドピンがソケットの取付孔に挿入されるように、ソケットを案内することができる。
(態様1−2)
態様1−2は、
前記ガイドピンの前記一端側は、検査装置の基板が位置する側である、態様1−1に記載のプローブヘッドである。
態様1−2によれば、態様1−1と同様にして、基板のガイド穴の公差の影響を抑制してプローブを基板のパッドに接触させることができる。
(態様1−3)
態様1−3は、
前記テーパ部の前記直径の最小値が、前記ガイドピンが挿入される前記基板のガイド穴の直径より小さく、
前記テーパ部の前記直径の最大値が、前記ガイド穴の直径より大きい、態様1−2に記載のプローブヘッドである。
態様1−3によれば、テーパ部のいずれかの部分が、ガイド穴の直径と略等しくなるようにすることができる。
(態様1−4)
前記ガイドピンが挿入される取付孔を有するソケットをさらに備え、
前記取付孔の一部分の直径は、前記取付孔の他の部分の直径より広くなっており、
前記ガイドピンの一部分は、前記取付孔の前記一部分内に位置しており、前記取付孔の前記他の部分の直径より大きい直径を有する、態様1−1〜1−3のいずれか一に記載のプローブヘッドである。
態様1−4によれば、ガイドピンの当該一部分を、取付孔の当該一部分内に限って移動可能にすることができる。
(態様2−1)
態様2−1は、
ガイドピンを備え、
前記ガイドピンは、互いに分岐された複数の先端部を有する、プローブヘッドである。
態様2−1によれば、複数の先端部を基板のガイド穴に挿入して、複数の先端部をガイド穴の内側壁に挟み込むことができる。したがって、基板のガイド穴の直径が公差によってばらついていても、プローブが基板のパッドに接触するように、ガイドピンをガイド穴の適切な位置に合わせることができる。
(態様2−2)
態様2−2は、
前記複数の先端部の先端から前記複数の先端部の前記先端の反対側の少なくとも一部分までにおける、前記先端と前記先端の前記反対側とを結ぶ方向に直交する方向の前記複数の先端部の最外縁間の間隔が、前記複数の先端部の前記先端から前記先端の前記反対側に向かうにつれて広がっている、態様2−1に記載のプローブヘッドである。
態様2−2によれば、複数の先端部をガイド穴の開口縁に対して滑らせて複数の先端部をガイド穴に挿入することができる。したがって、複数の先端部の最外縁間の間隔が一定である場合と比較して、複数の先端部をガイド穴に挿入しやすくなっている。
(態様2−3)
態様2−3は、
前記複数の先端部の前記先端から前記先端の前記反対側に向かうにつれて広がっている前記間隔の最大値が、前記ガイドピンが挿入されるガイド穴の直径より大きい、態様2−2に記載のプローブヘッドである。
態様2−3によれば、複数の先端部がガイド穴に挿入されたとき、複数の先端部がガイド穴の内側壁に接触して、複数の先端部をガイド穴の内側壁に挟み込むことができる。
(態様3−1)
態様3−1は、
ガイドピンを備え、
前記ガイドピンは、前記ガイドピンの少なくとも一部分の外側壁を前記ガイドピンの内側から押し広げる部材を有する、プローブヘッドである。
態様3−1によれば、ガイドピンの外側壁を押し広げて、ガイドピンを基板のガイド穴の内側壁に挟み込むことができる。したがって、基板のガイド穴の直径が公差によってばらついていても、プローブが基板のパッドに接触するように、ガイドピンをガイド穴の適切な位置に合わせることができる。
(態様3−2)
態様3−2は、
前記ガイドピンの前記部材は、楔部と、前記楔部を押し込むねじ部と、を含む、態様3−1に記載のプローブヘッドである。
態様3−2によれば、ねじ部を楔部に押し込むことで、ガイドピンの外側壁を押し広げることができる。
(態様3−3)
態様3−3は、
前記部材によって前記ガイドピンの前記外側壁が押し広げられる前における前記ガイドピンの前記外側壁の直径が、前記ガイドピンが挿入されるガイド穴の直径より小さい、態様3−1又は3−2に記載のプローブヘッドである。
態様3−3によれば、ガイドピンをガイド穴に挿入した後、ガイドピンの外側壁を押し広げて、ガイドピンを基板のガイド穴の内側壁に挟み込むことができる。
10A プローブヘッド
10B プローブヘッド
10C プローブヘッド
10D プローブヘッド
20 基板
20a パッド
22 ガイド穴
100 ガイドピン
100A ガイドピン
100B ガイドピン
110 第1案内部
110A 第1案内部
110B 第1案内部
112 フランジ
112B ねじ穴
114B ねじ部
120 第2案内部
120A 第2案内部
120B 第2案内部
122A 第1先端部
122B 楔穴
124A 第2先端部
124B 楔部
132 第1テーパ部
134 第2テーパ部
140 弾性体
200 ソケット
210 ピンブロック
212 第1取付孔
212a 第1孔部
212b 第2孔部
220 ピンプレート
222 第2取付孔
300 プローブ

Claims (4)

  1. ガイドピンを備え、
    前記ガイドピンは、外側壁の直径が前記ガイドピンの一端側から他端側に向かうにつれて広がるテーパ部を有する、プローブヘッド。
  2. 前記ガイドピンの前記一端側は、検査装置の基板が位置する側である、請求項1に記載のプローブヘッド。
  3. 前記テーパ部の前記直径の最小値が、前記ガイドピンが挿入される前記基板のガイド穴の直径より小さく、
    前記テーパ部の前記直径の最大値が、前記ガイド穴の直径より大きい、請求項2に記載のプローブヘッド。
  4. 前記ガイドピンが挿入される取付孔を有するソケットをさらに備え、
    前記取付孔の一部分の直径は、前記取付孔の他の部分の直径より広くなっており、
    前記ガイドピンの一部分は、前記取付孔の前記一部分内に位置しており、前記取付孔の前記他の部分の直径より大きい直径を有する、請求項1〜3のいずれか一項に記載のプローブヘッド。
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